【課題】 波長可変フィルターが、所望波長帯域の全帯域をスキャンするのに要する時間を短縮すること。
【解決手段】 光フィルター３００は、第１波長可変バンドパスフィルター（ＢＰＦ（１））と、第２波長可変バンドパスフィルター（ＢＰＦ（２））と、駆動部１２０と、各光フィルターの各々の分光帯域を可変に制御する制御部６００と、を含み、第１波長可変バンドパスフィルターは、第１波長帯域の光を分光し、かつ、分光帯域として、第１分光帯域と、第２分光帯域と、を少なくとも有し、第２波長可変バンドパスフィルターは、第１波長帯域に隣接する第２波長帯域の光を分光し、かつ、分光帯域として、第３分光帯域と、第４分光帯域とを少なくとも有し、駆動部１２０は、各第１波長可変バンドパスフィルターおよび第２波長可変バンドパスフィルターの各々を共に駆動し、第１分光帯域と、第３分光帯域とにおける、光が分光される期間の少なくとも一部が重複し、かつ、第２分光帯域と、第４分光帯域とにおける、光が分光される期間の少なくとも一部が重複する。 （もっと読む）

【課題】高分解能で、かつ低コストで製造可能な干渉フィルターを提供する。
【解決手段】エタロン５は、下部基板５１と、下部基板５１に対向する上部基板５２と、下部基板５１に設けられる下部反射膜５６と、上部基板５２に設けられるとともに、下部反射膜５６に対してギャップを介して対向する上部反射膜５７と、を備え、下部基板５１の上部基板５２に対向する面のうち、少なくとも下部反射膜５６が設けられる下部反射膜形成面５１１Ａには、上部基板５２に対向する表面が平滑面となる平滑膜５１２が設けられ、下部反射膜５６は、平滑膜５１２の表面に設けられる。 （もっと読む）

【課題】リアルタイムで表示される測定曲線に対して必要な情報を提示し、分析装置の操作を視覚的に支援する測定支援システムを提供する。
【解決手段】測定曲線表示手段１２に表示される測定曲線の形状をリアルタイムで解析し、最適な測定曲線の描写を妨害する事象の存在を察知したときは、その事象に対応するヘルプ情報を検索し、測定曲線表示手段に表示する。また、設定変更を視覚的に支援するために変更すべきパラメータの位置や推奨するパラメータ値の範囲等を測定曲線表示手段に示す。 （もっと読む）

【課題】短時間に出力波長を切り替えることができる分光器を提供する。
【解決手段】分光器１Ａは、第１入射側光導波路１１、入射側光スイッチ１２、第２入射側光導波路１３_１〜１３_４、分光手段としての光フィルタ１４_１〜１４_４、第２出射側光導波路１５_１〜１５_４、出射側光スイッチ１６、第１出射側光導波路１７、光タップ２１、光検出器２２および切替回路２３を備える。切替回路２３の制御により、第１入射側光導波路１１の出射端から出射されて入射側光スイッチ１２に入射された光のうち選択された波長λ_ｎの光は、第２入射側光導波路１３_ｎ，光フィルタ１４_ｎ，第２出射側光導波路１５_ｎ，出射側光スイッチ１６および第１出射側光導波路１７を経て、第１出射側光導波路１７の出射端から出射される。 （もっと読む）

【課題】高分解能で、かつ低コストで製造可能な干渉フィルターを提供する。
【解決手段】エタロン５は、表面研磨された第一反射膜形成面５１３を有する第一基板５１と、第一基板５１に対向配置され、第一反射膜形成面５１３に対向する第二反射膜形成面５２３を有する第二基板５２と、第一反射膜形成面５１３に設けられた第一反射膜５６と、第二反射膜形成面５２３に設けられ、第一反射膜５６に対向する第二反射膜５７と、第一基板５１および第二基板５２を接合するプラズマ重合膜５３と、を具備した。 （もっと読む）

【課題】試料からの透過光又は反射光をアナログ信号として検出し、この検出信号をＡ／Ｄ変換器でデジタル信号に変換した後、該デジタル信号をフーリエ変換してスペクトルを得るものにおいて、Ａ／Ｄ変換器の入力レンジを有効に活用でき、且つＡ／Ｄ変換器の入力レンジを超過するオーバーフローを防止することができるフーリエ変換赤外分光光度計を提供する。
【解決手段】本発明は、今回の測定時におけるＡ／Ｄ変換器２８の出力信号の最大値と、前回の測定時におけるＡ／Ｄ変換器２８の出力信号の最大値の差分値から、次回の測定時におけるＡ／Ｄ変換器２８の出力信号の最大値を予測し、この予測値に基づき、次回の測定時におけるアンプ２６の増幅率を決定する制御／処理部３０を備える。 （もっと読む）

【課題】 測色器の測定精度の低下を抑制しつつ、光源の低消費電力化あるいは長寿命化を図る。また、分光分析器の測定精度の向上を図る。
【解決手段】 光源３０と、光源の駆動電力を制御するパワー制御部１２を含む光源駆動部１０と、光を波長に応じて分光する分光部３４を含む測定光学系４０と、測定光学系を通過した、測定対象であるサンプル３２，３２’からの反射光あるいは透過光を受光して電気信号に変換する受光部５０，５０’と、受光部から得られる電気信号に基づいて、光の波長に対応した受光強度を測定する測定部６０と、を含み、パワー制御部１２は、光源の分光特性、測定光学系の分光特性および受光部の受光感度特性の少なくとも一つに応じて、光源に印加する電力を、光の波長に対応させて変化させる。 （もっと読む）

【課題】 例えば、高価な光バンドパスフィルターを使用せずに、分光測定装置の測定精度を向上させること。
【解決手段】 分光帯域として、第１波長域〜第ｎ波長域（ｎは２以上の整数）を有する光バンドパスフィルター部３００と、受光部４００と、補正演算部５００と、信号処理部６００と、を含み、第ｍ波長域（１≦ｍ≦ｎ）を関心波長域とし、第ｍ波長域以外の第ｋ波長域（ｋ≠ｍかつ１≦ｋ≦ｎ）を非関心波長域とした場合、光バンドパスフィルター部は、第ｍ波長域に対応する第ｍバンドパスフィルターならびに第ｋ波長域に対応する第ｋバンドパスフィルターとして機能し、補正演算部５００は、第ｍ波長域に対応した第ｍバンドパスフィルターの透過光または反射光を、受光部によって受光して得られる関心受光信号に含まれる、第ｋ波長域の、各々の波長域毎のノイズ成分の量を推定するノイズ推定部５０８と、関心受光信号から、推定された波長域毎のノイズ成分の総量を減算する補正を行って、補正された補正受光信号を求めるノイズ除去補正部５１０と、を有する。 （もっと読む）

【課題】透明度の低い液体状・クリーム状・ゲル状の試料に光を透過させることなく非破壊・無処理で容易に円二色性分散測定する方法及び円二色性分散計を提供することにある。
【解決手段】左回り又は右回りの円偏光とした測定光２８をプリズム１６の入射面２０より入射させ、ゲル状の試料２６が載置されているプリズム１６の試料載置面２２に対して入射角を８０°として入射させ、試料載置面２２で全反射させた後、出射面２４より出射した測定光２８をそれぞれ検出してそれぞれの吸光度を測定することにより、円二色性分散測定をする。 （もっと読む）

【課題】簡単な構成でありながら分光特性の自由度が高い小型の分光光学装置と、それを備えた分光分析装置を提供する。
【解決手段】分光光学装置１０は、回折光学素子５と可動受光部６を有する。回折光学素子５は、光を収束させる正パワーの回折格子構造Ｄ１を光軸ＡＸから離れた軸外領域Ａ１の少なくとも一部にのみ有する。可動受光部６は、回折光学素子５から射出した光をその収束点近傍で通過させる開口７ｈを有する光束規制部材７と、開口７ｈを通過した光を検出する光センサー８とを有し、回折光学素子５に対する相対位置が光軸ＡＸ方向に可変であって、回折光学素子５から射出した光を軸外側から光束規制して受光する。 （もっと読む）

【課題】高価な検出器を用いなくとも測定の精度が低下するおそれのない干渉計及びそれを備えた分光装置を提供する。
【解決手段】干渉計２は、光源１１と、該光源１１からの光を平行光に変換するコリメータ光学系１２と、該平行光を透過光Ｔと反射光Ｒに分離して偶数個の固定鏡Ｍ１、Ｍ２に導くとともに、偶数個の固定鏡Ｍ１、Ｍ２にて互いに逆方向の光路に反射された透過光Ｔと反射光Ｒとを合成して出射するビームスプリッタＢＳと、該ビームスプリッタＢＳにて合成され出射された光を集光する集光光学系１６と、該集光光学系１６にて集光された光を受光する検出器１７とを備える。ビームスプリッタＢＳは、ビームスプリッタＢＳから離間した回転軸Ｘの回りに回転する。 （もっと読む）

【課題】精度の高い分光測定が可能な光測定装置を提供するを提供する。
【解決手段】 分光測定装置１は、第一測定波長域内の第一波長の光を取り出す短波長域用エタロン２Ａと、第一測定波長域よりも波長が長い第二測定波長域内の第二波長の光を取り出す長波長域用エタロン２Ｂと、短波長域用エタロン２Ａに入射される測定対象光の光量を調整する短波長域用アパーチャー４Ａと、長波長域用エタロン２Ｂに入射される前記測定対象光の光量を調整する長波長域用アパーチャー４Ｂと、第一波長光を受光して検出信号を出力する短波長域用光検出器３Ａと、第二波長光を受光して検出信号を出力する長波長域用光検出器３Ｂと、を具備し、短波長域用アパーチャー４Ａを通過する光の光量は、長波長域用アパーチャー４Ｂを通過する光の光量よりも大きい。 （もっと読む）

【課題】リフレクタにより十分な光量を確保して良好な測定が可能でありながら、白色光源の交換の際のコストが低く、交換作業が容易な分光反射率測定機を提供する。
【解決手段】ハロゲンランプ１２と、ハロゲンランプからの光を反射するリフレクタ１５と、反射光が通過するピンホール２ａを有するピンホール部材２と、ピンホールを通過した反射光を略平行な光束とするコリメータレンズ３とを有する光源部１０１を備えた分光反射率測定機において、光源部は、接触面１６ｂを有しリフレクタが取り付けられた第１基体１６と、当て付け面１４ａを有しハロゲンランプが着脱可能に取り付けられて第１基体に装着される光源着脱部１４とを備え、当て付け面および接触面は、光源着脱部を第１基体に装着し、当て付け面と接触面とが接触したときに、ハロゲンランプの発光点１２ｂがリフレクタの第１焦点１５ｂと略一致する所定の精度に加工されている。 （もっと読む）

【課題】前分光方式の分光イメージングにおいて、所定の波長毎に得られる分光画像に含まれるノイズを除去する。
【解決手段】照射領域Ｐ内に基準白色部５及び基準黒色部６が配置されており、撮像部３が、照射領域Ｐの被写体Ｗ、基準白色部５及び基準黒色部６を同一画像に撮像するものであり、画像処理部４が、所定の波長域毎に得られた分光画像ｉを取得し、各分光画像ｉに含まれる基準白色部５の白色成分又は基準黒色部６の黒色成分を比較して、それらの白色成分又は黒色成分が同一となるように分光画像ｉを補正して、補正後の分光画像ｉを合成してカラー画像又は疑似カラー画像Ｉを生成する。 （もっと読む）

【課題】微小な傾斜構造体を製造することを課題とする。
【解決手段】傾斜構造体の製造方法は、基板部１３ａの上に軸部１３ｂを形成し、軸部の上面が露出し、且つ軸部の上面と接続する上面を有する犠牲膜を基板部１３ａの上に形成し、軸部の上面及び犠牲膜の上面に傾斜構造体膜７を形成し、軸部の上面と軸部の側面によって構成される角部の上に位置する傾斜構造体膜７の膜厚を薄く加工することにより、傾斜構造体膜に前記角部の上に位置する薄膜部１１を形成し、傾斜構造体膜７と基板部１３ａとの間の犠牲膜を除去し、傾斜構造体膜と基板部との間に液体１８を供給し、液体１８を除去することにより、ステッキングを発生させ、傾斜構造体膜を薄膜部１１で曲げ、傾斜構造体膜の端部を基板部に接合することで、基板部と傾斜構造体膜によって鋭角を構成する。 （もっと読む）

【課題】簡易な構成でありながら測定対象のスペクトルに含まれる環境光の影響の除去もしくは低減を可能として、測定対象の認識精度をより高めることのできるスペクトル測定装置を提供する。
【解決手段】スペクトル測定装置１１は、波長情報と光強度情報とを測定可能なスペクトルセンサ１４にて検出される観測光のスペクトルデータＳ０に基づいて測定対象を認識する。このスペクトル測定装置１１は、第１の認識部３０にてスペクトルセンサ１４にて検出される異なる２つの位置のスペクトルデータの一方から他方を除算もしくは減算してそれぞれ元の２つのスペクトルデータに相関する１つの相関スペクトルデータを算出し、この算出した相関スペクトルデータに基づいて前記異なる２つの位置に対応する測定対象を同時に同定する。 （もっと読む）

【課題】量子効率の測定時における再励起（二次励起）に起因する誤差を低減できる量子効率測定方法、量子効率測定装置、およびそれに向けられた積分器を提供する。
【解決手段】本実施の形態に従う光学測定装置は、分光測定器５０と、測定対象の光を伝搬するための入射側ファイバ２０と、内壁に光拡散反射層１ａを有する半球部１と、半球部１の開口部を塞ぐように配置された、半球部１の内壁側に鏡面反射層２ａを有する平面部２とを含む。平面部２は、入射側ファイバ２０を通じて射出される光を半球部１と平面部２とにより形成される積分空間内へ導くための入射窓５と、出射窓６を通じて積分空間内の光を分光測定器５０へ伝搬するための出射側ファイバ３０を含む。 （もっと読む）

【課題】小型化可能な分光センサー及び電子機器等を提供すること。
【解決手段】分光センサー装置は、光源部１１０と、光源部１１０からの光を観察対象に照射することで得られる光が入射される分光センサー１００を含む。分光センサー１００は、透過波長が異なる複数の光バンドパスフィルター６１〜６４と、複数のフォトセンサー部３１〜３４を有する。第１の光バンドパスフィルター６１は、第１の特定波長を透過する波長特性を有し、第２の光バンドパスフィルター６２は、第１の特定波長とは異なる第２の特定波長を透過する波長特性を有する。第１のフォトセンサー３１は、第１の光バンドパスフィルターを透過した第１の特定波長の光をセンシングし、第２のフォトセンサーは、第２の光バンドパスフィルターを透過した第２の特定波長の光をセンシングする。 （もっと読む）

【課題】ハイパースペクトルイメージデータに基づく標的検出のためのシステム、回路、及び方法が開示される。
【解決手段】フィルタ係数は、修正済みの制約付きエネルギー最小化（ＣＥＭ）法を用いて決定される。修正済みＣＥＭ法は、制約付きリニアプログラミング最適化を実行するように動作可能な回路に使用することができる。フィルタ係数を含むフィルタを、ハイパースペクトルイメージデータの複数のピクセルに適用することにより、それらピクセルのＣＥＭ値が形成され、このＣＥＭ値に基づいて一又は複数の標的ピクセルが特定される。本プロセスを繰返すことにより、ハイパースペクトルイメージデータから前記特定された標的ピクセルを除外することによって決定されるフィルタ係数を使用して、標的認識を向上させることができる。 （もっと読む）

【課題】分光精度を維持することができる波長可変干渉フィルター、光センサー及び分析機器を提供すること
【解決手段】
本発明の波長可変干渉フィルター５では、第二基板５２は、第一反射膜５１に対向する位置で、基板厚み方向に沿って形成され、当該第二基板５２の第一面Ａから反対側の第二面Ｂまでを貫通する光透過口５２１Ａと、光透過口５２１Ａ内に設けられる透光性部材５８と、を備え、光透過口５２１Ａは、内周面の径寸法が、第一面Ａから第二面Ｂに向かうに従って増大するテーパー形状に形成され、透光性部材５８は、第一反射膜５６及び第二反射膜５７に平行する光入射面５８Ａ、第一反射膜５６及び第二反射膜５７に平行する光射出面５８Ｂ、及び第一面Ａから第二面Ｂに向かうに従って径寸法が増大するテーパー側面５８Ｃを有し、テーパー側面５８Ｃが光透過口５２１Ａの内周面に当接することを特徴とする。 （もっと読む）