【課題】高精度かつ長寿命の波長可変干渉フィルター、光センサーおよび分析機器を提供する。
【解決手段】波長可変干渉フィルター５では、透光性を有する第一基板５１と、前記第一基板５１の一面側に対向して接合される第二基板５２と、前記第一基板５１の前記一面側に設けられる第一反射膜５６と、前記第二基板５２の前記第一基板５１に対向する第一面Ａに設けられ、ギャップＧを介して前記第一反射膜５６に対向する第二反射膜５７と、前記ギャップＧを可変する可変部５４と、を備えた波長可変干渉フィルター５であって、前記第二基板５２は、前記第一反射膜５６に対向する位置に設けられるとともに、前記第一面Ａから反対の第二面Ｂまでを貫通する光透過口５２１Ａと、前記第二基板５２の前記第一面Ａに設けられ、前記光透過口５２１Ａを閉塞する平板状の透光性部材５８と、を備える。 （もっと読む）

【課題】ハイパースペクトルイメージデータに基づく標的検出のためのシステム、回路、及び方法が開示される。
【解決手段】フィルタ係数は、修正済みの制約付きエネルギー最小化（ＣＥＭ）法を用いて決定される。修正済みＣＥＭ法は、制約付きリニアプログラミング最適化を実行するように動作可能な回路に使用することができる。フィルタ係数を含むフィルタを、ハイパースペクトルイメージデータの複数のピクセルに適用することにより、それらピクセルのＣＥＭ値が形成され、このＣＥＭ値に基づいて一又は複数の標的ピクセルが特定される。本プロセスを繰返すことにより、ハイパースペクトルイメージデータから前記特定された標的ピクセルを除外することによって決定されるフィルタ係数を使用して、標的認識を向上させることができる。 （もっと読む）

【課題】 テラヘルツ時間領域分光装置において光軸上に配置させた複数のレンズを用いて光路長を変化させる時間遅延機構を提供する。
【解決手段】
テラヘルツ時間領域分光装置の時間遅延ユニットにおいて、レーザー光の光軸を中心として、入射面が該光軸と垂直になるように配設した複数のレンズと、レンズの一つから入射したレーザー光を折り返し他のレンズより出射可能に配設したミラーと、レンズに対するレーザー光の入射位置を移動することによって光路長を可変とする手段と、を有することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】分光精度を維持することができる波長可変干渉フィルター、光センサー及び分析機器を提供すること
【解決手段】
本発明の波長可変干渉フィルター５では、第二基板５２は、第一反射膜５１に対向する位置で、基板厚み方向に沿って形成され、当該第二基板５２の第一面Ａから反対側の第二面Ｂまでを貫通する光透過口５２１Ａと、光透過口５２１Ａ内に設けられる透光性部材５８と、を備え、光透過口５２１Ａは、内周面の径寸法が、第一面Ａから第二面Ｂに向かうに従って増大するテーパー形状に形成され、透光性部材５８は、第一反射膜５６及び第二反射膜５７に平行する光入射面５８Ａ、第一反射膜５６及び第二反射膜５７に平行する光射出面５８Ｂ、及び第一面Ａから第二面Ｂに向かうに従って径寸法が増大するテーパー側面５８Ｃを有し、テーパー側面５８Ｃが光透過口５２１Ａの内周面に当接することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】分光蛍光光度計において、効率良く三次元傾向スペクトルを取得することによる測定時間の短縮と、試料劣化の低減と、取得データサイズの低減を実現する。
【解決手段】成分分析対象の試料を収納する試料セル、試料セルへ予め定められた波長の励起光を照射させる励起光側分光器、試料セルからの蛍光を予め定められた範囲の波長を走査して分光する蛍光側分光器、蛍光側分光器からの蛍光を検知する蛍光検知器、励起光側分光器で試料セルへ照射する励起光の波長を変えながら、蛍光検知器で検知された蛍光の波長と強度に基づいて、試料の蛍光強度の三次元蛍光スペクトルを得るコンピュータを備え、該コンピュータは、励起光側分光器で分光される励起光の波長の範囲と、蛍光側分光器で分光される蛍光の波長の範囲との組合せを複数種類設定する。 （もっと読む）

【課題】装置を大型化すること無く選択波長の可変範囲を容易に広げること。
【解決手段】この分光装置１は、光源３からの光Ｌ２を、光Ｌ２の入射角に応じた波長範囲で選択的に透過させる４枚のバンドパスフィルタ１１ａ〜１１ｄと、バンドパスフィルタ１１ａ〜１１ｄが主面１０ａ上に立設され、主面１０ａに沿って回転中心Ｃ_１の周りを回転可能にされた平板状の回転テーブル１０とを備える分光装置であって、４枚のバンドパスフィルタ１１ａ〜１１ｄは、それぞれ、光入射面１２或いは光出射面１３が、回転テーブル１０の主面１０ａ上の回転中心Ｃ_１と主面１０ａ上の該バンドパスフィルタ１１ａ〜１１ｄの中心点１５ａ〜１５ｄとを結ぶ線に対して傾斜するように配置されている。 （もっと読む）

【課題】本発明の目的は、最終回目の回折光で波長選択を行う最終回目のスリットを移動するスリット移動手段を追加することによって、装置の大型化やコストの増加を抑えながら、精度の高い光スペクトラム波形を取得することのできるマルチパスモノクロメータを実現することにある。
【解決手段】本発明は、被測定光を回折格子によって少なくとも２回回折し、各回の回折光でそれぞれ波長選択を行うスリットを備えたマルチパスモノクロメータにおいて、
最終回目の回折光で波長選択を行う最終回目のスリットの位置を移動させるスリット移動手段と、移動したスリットを用いて測定した光スペクトラムを合成し、前記被測定光の光スペクトラム波形を生成する波形合成手段と、を備えたことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】入射光の方向と射出光の基準方向を平行に維持しつつ、コンパクトな構成で高い分散角と高い光の利用効率を実現する技術を提供することを課題とする。
【解決手段】分光器１１は、直視プリズム１５で屈折により波長毎に光を分散させて、分散した光を反射部材（１６、１７）で反射して、再度、直視プリズム１５で屈折させる。 （もっと読む）

【課題】本発明は、分光フィルタ光学系は、分光特性を正確に検出することができ、小型化が可能である分光フィルタ光学系を提供する。
【解決手段】 分光フィルタ光学系は、複数個の光学系により構成されるアレイ光学系（４０）と、透過位置により透過する光束の波長領域が異なるリニア波長可変フィルタ（１３）と、を備え、光学系は、正パワーを有する正レンズ（１２２）と、正レンズ（１２２）を透過したまたは透過する光束を他の光束と交わらないように限定する遮光部（２３）と、を有し、アレイ光学系（４０）の複数個の光学系はリニア波長可変フィルタ（１３）に対してそれぞれ異なる位置に配置される。 （もっと読む）

【課題】対向する基板の接合強度を向上するとともにミラーに対するダメージを防止することができる波長可変フィルター、その製造方法、測色センサーおよび測色モジュールを提供すること。
【解決手段】第一基板５１には、エッチングにより電極形成用溝５１１、ミラー固定部５１２および溝部としての接着剤用溝５１３が形成される。接着剤用溝５１３は、第一基板５１の四隅にそれぞれ凹状に形成される。また、接着剤用溝５１３は、平面略三角形状に形成され、隣接する２辺（第一形成辺５１３Ａ、第二形成辺５１３Ｂ）が第一基板５１の隣接する２辺に沿って略直角に形成されるとともに、これら２辺に対向する内周縁部５１３Ｃはギャップ形成部５５の外縁に平行な円弧状に形成される。接着剤用溝５１３の内部には接着剤５３が配置される。 （もっと読む）

【課題】正確な分光特性を測定可能な分光測定装置、および分析装置を提供する。
【解決手段】分光測定装置３は、互いに対向する固定基板および可動基板と、可動基板に設けられる変位部と、変位部を初期位置に向かって付勢する連結保持部と、変位部および固定基板にギャップを介して対向配置される反射膜と、ギャップを調整する静電アクチュエーターと、ギャップ間隔を演算するギャップ演算手段８２３と、反射膜を透過した光の受光量を測定する受光部６と、変位部を予め設定された第一変位位置まで変位させるギャップ制御手段８２１と、変位部が初期位置に戻る復元過程で、透過光の光量測定、およびギャップの間隔の演算を同時に実施させる測定制御手段８２５と、を具備した。 （もっと読む）

【課題】干渉性の高い基準光源を用いずに移動鏡１５の位置を求めることができ、これによって、小型で高分解能のフーリエ変換型の分光器１を実現する。
【解決手段】駆動機構２１は、共振によって移動鏡１５を移動させ、時間経過とともに移動鏡１５の位置を周期的に変化させる。この構成において、移動鏡位置算出機構２３は、移動鏡１５の基準位置Ｘ０と変位が最大の位置Ｘｍとの間の位置Ｘｐを検出し、位置Ｘｐよりも変位が大きい位置Ｘｅを外挿法によって算出し、算出した位置Ｘｅを干渉強度測定点に対応する移動鏡１５の位置とする。外挿法によって干渉強度測定点に対応する移動鏡１５の位置Ｘｅを算出するので、移動鏡１５の変位量を大きくして、高分解能の分光器１を実現する場合でも、干渉性の高い基準光源（例えば大型のＨｅ−Ｎｅレーザ）を用いることなく、干渉強度測定点に対応する移動鏡１５の位置Ｘｅを求めることができる。 （もっと読む）

【課題】ラインセンサ上の各センサのうち、斜めに入射された光を受光したセンサにおいて波長分解能の悪化を抑えること。
【解決手段】フィルタが形成される面内の第１の方向に沿って透過波長が異なる透過波長可変フィルタであって、所定位置から第１の方向の両端へ向かってそれぞれ透過波長が短く変化する透過波長可変フィルタ、および該透過波長可変フィルタと、複数のセンサが配列されたセンサアレイであって、該透過波長可変フィルタを透過した光を受光するセンサアレイと、を備える分光測光装置。 （もっと読む）

【課題】検出対象となる光の検出量の低下を抑制し、且つ、特定波長の光を十分に排除する技術を提供することを課題とする。
【解決手段】入射光２０ａを波長分散素子２１により波長毎に分散させる。そして、波長分散素子２２と光検出器２６の間であって、特定波長の成分光２０ｄを含む、分散光２０ｂの一部が入射する領域に、波長に依存する光学特性を有する波長制限素子２５を配置する。これにより、特定波長の成分光２０ｄの光検出器２６へ入射が制限される。 （もっと読む）

【課題】射出光の波長を可変させた場合でも、高透過率および高分解能を実現可能な波長可変干渉フィルター、測色センサー、および測色モジュールを提供する。
【解決手段】エタロン５は、第一基板５１と、第一基板５１に接合され、可動部５２２、およびこの可動部５２２を基板対向方向に移動可能に保持する連結保持部５２３を有する変位部５２１を備えた第二基板５２と、第一基板５１に固定される固定ミラー５６と、可動面５２２Ａに固定される可動ミラー５７と、固定ミラー５６および前記可動ミラー５７を囲う位置に設けられ、静電引力により可動部５２２を基板対向方向に変位させる第一静電アクチュエーター５４と、第一静電アクチュエーター５４の内側で、固定ミラー５６および可動ミラー５７を囲う位置に設けられ、可動部５２２に変位方向と逆方向に応力を付与する第二静電アクチュエーター５５と、を具備した。 （もっと読む）

【課題】信号光の波長と局発光の波長との相対値を安定的に制御する。
【解決手段】入力した信号光を透過させる第１共振器と、信号光を入力した方向と直交する方向に入力した局部発振光を透過させる第２共振器とが同一のバルクで構成される。フィルタ調整部は、第１基準強度と第１共振器を透過した信号光の強度との相対値および第１共振器の透過特性に基づいて、第１共振器の透過特性を調整するためのフィルタ調整信号を生成する。外部調整部は、第２基準強度と第２共振器を透過した局部発振光の強度との相対値および第２共振器の透過特性に基づいて、外部制御信号を外部へ出力する。変更部は、フィルタ調整信号に応じて、第１共振器の透過特性および第２共振器の透過特性を変更する。 （もっと読む）

【課題】波長領域毎に異なるスペクトル形状を示す測光値データにおいて、リアルタイムに波長領域毎のピーク検知パラメータの決定し、そのピークパラメータ値によるピーク検知処理の結果を提供する。
【解決手段】試料に対して測定光を照射する発光手段と、測定光を任意の波長に分光する分光手段と、分光手段により分光された波長について光度検出を行う検出手段と、測定すべき波長走査範囲と波長走査速度を入力する入力手段２１と、測定を実行する測定手段２３と、得られたデータを処理するデータ処理手段２４と、を有する分光分析装置において、データ処理手段２４は、測定手段２３から得られた測定データと前記パラメータとからピークを検知し、該ピーク検知の際に波長領域毎の感度を決定する。 （もっと読む）

【課題】ステージの上下動に頼ることなく、１つの試料保持装置で大きさ形状の異なる複数の試料に対して、測定光が中心に位置する試料保持装置を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明の試料保持装置は、回転しながら上下動する第２のベース１２と、試料を両側から挟み持つ試料押え１９とを有し、第２のベース１２の上下動と連動して試料押え１９がスライドして試料を保持する保持間隔が変化し、試料が小さいほど回転台が上方へ移動し、試料が小さいほど試料を保持する保持間隔が小さくなる。 （もっと読む）

【課題】従来のスペクトラムアナライザは高いＱのフィルタを使用していないので、極短の電磁パルスの周波数スペクトラムは測定できなかった。
【解決手段】高いＱ値のファブリペロー共振器を用いることによって、１波長のＱ倍の波長まで信号が持続することを利用して、極短パルスの周波数スペクトラムが測定できる。 （もっと読む）

【課題】低コスト化及び高感度化が同時に可能な分光蛍光光度計及び反射型試料セルを提供する。
【解決手段】試料流路１１を備えた試料セル１と、励起光を発生する励起光用光源２と、励起光を分光する励起光側回析格子４と、励起光側回析格子４からの光が照射されて試料から発生した蛍光を分光する蛍光側回析格子５と、蛍光側回析格子５からの光を検出する第１の光学検知器７と、波長校正のための光を発生する波長校正用光源８とを有する分光蛍光光度計において、試料セル１は、試料流路１１内の試料からの蛍光を蛍光側回析格子５に入射するための入射スリット１９と、入射スリット１９が形成された側面に対向する側面に形成され、試料流路１１内の試料からの蛍光の一部を入射スリット１９側に反射し、波長校正用光源８からの光の一部を入射スリット１９側へ透過する細孔付き第１反射ミラー１２を一体的に備える。 （もっと読む）