【課題】複数の抵抗変化型センサを備える装置において、入力端子の増加を抑制すること。
【解決手段】プリンタ１０では、第１出力端子ＰＯ１と第２出力端子ＰＯ２の間に直列に接続されるＴＨＭａ５６とＴＨＭｂ５８に対し、第１出力端子ＰＯ１と第２出力端子ＰＯ２から、共に、時間に対して電源電圧Ｖｃｃと接地電圧ＧＮＤが切り換わり、位相が反転した第１交流信号ＡＣ１と第２交流信号ＡＣ２を印加する。第１電圧検出回路７４は、第１入力端子ＰＩ１に入力される中間点ＳＰ１の電圧を測定しており、第１交流信号ＡＣ１が電源電圧Ｖｃｃを印加する際に検出された検出電圧と、第１交流信号ＡＣ１が接地電圧ＧＮＤを印加する際に検出された検出電圧と、に基づいてＴＨＭａ５６とＴＨＭｂ５８の抵抗値を算出する。 （もっと読む）

【課題】オフセット調整用キャパシタのダイナミックレンジを拡大することができる静電容量検出回路の提供。
【解決手段】この発明は、駆動回路１と、オフセット調整用キャパシタＣｃと、容量電圧変換回路２とを備えている。駆動回路１は、可変電圧源１５ａ、１５ｂ、１６ａ、１６ｂを含んでいる。オフセット調整用キャパシタＣｃは、駆動回路１の出力端子１４と容量電圧変換回路２の入力端子１との間に接続されている。被測定キャパシタＣｓは、駆動回路１の出力端子１３と容量電圧変換回路２の入力端子１との間に接続される。容量電圧変換回路２は、被測定キャパシタＣｓの静電容量と、オフセット調整用キャパシタＣｃの静電容量との差に応じた電圧を出力する。 （もっと読む）

【課題】
低抵抗体の良否を簡素な回路構成で高精度に判定可能な低抵抗体の良否検査装置を提供すること。
【解決手段】
被測定抵抗Rxの電圧降下を4端子法で計測し、それと時間順次に所定の一乃至複数の基準抵抗の電圧降下を独立に計測し、得られた複数の電圧降下の電圧増幅値を演算することにより、低抵抗値をもつ被測定抵抗の良否を判定する。 （もっと読む）

【課題】簡便且つ精度良く絶縁性材料の誘電率を測定する方法を提供すること。
【解決手段】本発明に係る誘電率の測定方法は、極性基の含有率と誘電率とが既知である標準材料を用いて作成された、極性基の含有率と誘電率との関係を示す検量線を準備する工程と、絶縁性材料の近赤外吸収スペクトルを用いて絶縁性材料における極性基の含有率を求める工程と、得られた絶縁性材料における極性基の含有率と検量線とを照合することにより絶縁性材料の誘電率を求める工程とを備えている。 （もっと読む）

【課題】精度良く二次電池の劣化状態を検知することができ、且つ経年劣化等の影響を回避できる二次電池の内部抵抗値算出装置及び内部抵抗算出方法を提供する。
【解決手段】バッテリ１と並列関係となるようにコンデンサ３３を接続し、第１抵抗３２及び第１スイッチ３１の直列回路を間に接続する。更に、第１抵抗３２とコンデンサ３３との間に第２スイッチ３４を介して第２抵抗３５の一端を接続し、第１スイッチ３１及び第２スイッチ３４を相補的に切り替える。第１スイッチ３１がオンのときはバッテリ１からコンデンサ３３へ充電がされ、時定数τ_chg はバッテリ１の内部抵抗値Ｒｂ、第１抵抗３２の抵抗値Ｒ１、コンデンサ３３の内部抵抗値Ｒｃ及び容量Ｃを用いてτ_chg ＝（Ｒｂ＋Ｒ１＋Ｒｃ）Ｃと表される。コンデンサ３３の放電時の時定数τ_dchg＝（Ｒ１＋Ｒｃ）Ｃとの演算に基づきバッテリ１の内部抵抗値Ｒｂが求まる。 （もっと読む）

【課題】同じ試料についての等価回路のパラメータを測定したときに他の測定装置と同じ値のパラメータ値を測定する。
【解決手段】処理部６は、試料８の各周波数でのインピーダンスＺ_ｂおよび位相θ_ｂを示す測定周波数特性データＤ_Ｆｂを取得する周波数特性データ取得処理と、取得した測定周波数特性データＤ_Ｆｂで示されるインピーダンスＺ_ｂにインピーダンス補正係数ｍを乗算して補正インピーダンスＺ_ｂ１に補正し、かつ測定周波数特性データＤ_Ｆｂで示される位相θ_ｂに位相補正値ｎを加算して補正位相θ_ｂ１に補正して補正周波数特性データＤ_Ｆｂ１を算出する周波数特性データ補正処理と、補正周波数特性データＤ_Ｆｂ１に基づいて試料８の等価回路の各パラメータのパラメータ値Ｄ_Ｌｂ１，Ｄ_Ｃｂ１，Ｄ_Ｒｂ１を算出し、パラメータ補正値ｋ_Ｌ，ｋ_Ｃ，ｋ_Ｒを乗算して補正するパラメータ補正処理とを実行する。 （もっと読む）

【課題】安価で簡素な電気回路であると共に、広範囲のレンジにおいて、可変抵抗の電気抵抗値を高精度に計測できる電気抵抗の計測装置を提供する。
【解決手段】定電流を供給する定電流回路１と、定電流回路１に接続された計測対象の可変抵抗２と、可変抵抗２に並列接続されたシャント抵抗３と、可変抵抗２に直列接続されたキャリブレーション用スイッチ４を備える。このキャリブレーション用スイッチ４が接続状態の場合には可変抵抗２とシャント抵抗３とによる並列回路を形成し、遮断状態の場合には可変抵抗２に電流が供給されずシャント抵抗３に電流が供給される非並列回路を形成する。そして、抵抗値算出部７において、非並列回路においてキャリブレーションを行うと共に、並列回路において可変抵抗２の電気抵抗値Raを計測する。 （もっと読む）

【課題】２端子インピーダンス部品について、補正の対象となる測定系が実測時と同じ状態のままで校正作業を行うことができる、電子部品の高周波特性誤差補正方法を提供する。
【解決手段】高周波特性の異なる少なくとも３つの補正データ取得用試料を、基準測定系と実測測定系で測定し、実測測定系で測定した測定値と基準測定系で測定した測定値とを、伝送路の誤差補正係数を用いて関連付ける数式を決定する。任意の電子部品２を実測測定系で測定し、決定した数式を用いて、電子部品を基準測定系で測定したならば得られるであろう電子部品の高周波特性の推定値を算出する。 （もっと読む）

【課題】検査精度を向上させつつ検査効率を向上させる。
【解決手段】検査対象の抵抗器１００に交流定電流Ｉｍを供給して抵抗器１００の抵抗値Ｒｍを測定する測定処理を実行する測定部１４と、上下限値Ｒａ，Ｒｂと抵抗値Ｒｍとを比較して抵抗器１００に対する良否検査を実行する制御部１９とを備え、制御部１９は、測定部１４によって測定処理が実行される測定レンジの上限値が規定値Ｒｒ３以下のときには、良品サンプル１００ａが回路基板に搭載されている状態において測定されるべき第１抵抗値Ｒｒ１と測定部１４によって測定された良品サンプル１００ａの第２抵抗値Ｒｒ２との差分値を補正値Ｒｃとして求め、抵抗器１００の抵抗値Ｒｍを補正値Ｒｃで補正する補正処理を実行し、補正後の抵抗値Ｒｍを用いて良否検査を実行する。 （もっと読む）

【課題】２端子インピーダンス部品について、補正の対象となる測定系が実測時と同じ状態のままで校正作業を行うことができる、電子部品の高周波特性誤差補正方法を提供する。
【解決手段】高周波特性の異なる少なくとも３つの補正データ取得用試料を、基準測定系と実測測定系で測定し、実測測定系で測定した測定値と基準測定系で測定した測定値とを、伝送路の誤差補正係数を用いて関連付ける数式を決定する。任意の電子部品２を実測測定系で測定し、決定した数式を用いて、電子部品を基準測定系で測定したならば得られるであろう電子部品の高周波特性の推定値を算出する。 （もっと読む）

【課題】２端子インピーダンス部品について、補正の対象となる測定系が実測時と同じ状態のままで校正作業を行うことができる、電子部品の高周波特性誤差補正方法を提供する。
【解決手段】高周波特性の異なる少なくとも３つの補正データ取得用試料を、基準測定系と実測測定系で測定し、実測測定系で測定した測定値と基準測定系で測定した測定値とを、伝送路の誤差補正係数を用いて関連付ける数式を決定する。任意の電子部品２を実測測定系で測定し、決定した数式を用いて、電子部品を基準測定系で測定したならば得られるであろう電子部品の高周波特性の推定値を算出する。 （もっと読む）

【課題】 基準抵抗器のみを用いて内部抵抗計測器を校正する場合と比較して、交流結合素子への電位印加に起因する校正誤差を極めて少なく出来る計測値校正回路を提供する。
【解決手段】 基準抵抗器５を用いた内部抵抗計測器３の校正時、基準抵抗器５および交流電圧計２間に接続されたコンデンサ６に、蓄電素子が有する電位と同等の電位ｖ１が直流電圧源７によって与えられる。従って、内部抵抗計測器３を用いた蓄電素子の内部抵抗計測時にコンデンサ６に印加される電位と同等の電位ｖ１が、計測値校正回路におけるコンデンサ６に与えられた状態で、基準抵抗器５を用いた内部抵抗計測器３の校正が行われる。このため、基準抵抗器５を用いた内部抵抗計測器３の校正時、コンデンサ６への印加電位による静電容量変化は、内部抵抗計測器３を用いた蓄電素子の実際の内部抵抗計測時の計測条件と同等となる。 （もっと読む）

【課題】複数の負荷装置に電力を供給する給電システムにおけるＹコンデンサの合計容量を容易に把握する。
【解決手段】給電線の分岐によって負荷装置群へ電源から電力を供給する給電システムに接続され、負荷装置内で正極線及び負極線とアースとの間に接続されたコンデンサの容量の負荷装置群としての合計容量を算出して外部に通知する容量算出装置であって、交流電源と交流電源に直列に接続された抵抗とを備え、一端が、給電線が分岐される位置よりも電源側で正極線または負極線に接続され、他端がアースに接続された交流電源部と、抵抗の両端間の電圧値を検出する電圧値検出部と、周波数を変化させながら所定の電圧値で交流電源から電流を出力させ、検出された電圧値と所定の電圧値との比が所定の値になったときの周波数と抵抗の抵抗値とを用いて合計容量を算出する制御部と、算出された合計容量を外部に通知するための出力を行う出力部とを有する。 （もっと読む）

【課題】静電容量式センサ素子のキャパシタンスおよび／またはキャパシタンスの変化を決定するための方法を提供する。
【解決手段】ａ）平均値コンデンサＣ３を放電するステップと、ｂ１）静電容量式センサ素子Ｃ２を放電するステップ、およびｃ１）運転コンデンサＣ１を充電電圧ＶＤＤに充電するステップ、またはｂ２）運転コンデンサＣ１を放電するステップ、およびｃ２）静電容量式センサ素子Ｃ２を充電電圧に充電するステップのいずれかと、ｄ）運転コンデンサＣ１を静電容量式センサ素子Ｃ２に接続するステップと、ｅ）運転コンデンサＣ１を平均値コンデンサＣ３に接続するステップと、ｆ）キャパシタンスおよび／またはキャパシタンスの変化を決定するために、運転コンデンサＣ１または平均値コンデンサＣ３に確立される電圧を評価するステップとを含む。 （もっと読む）

【課題】高周波測定装置によって検出された電圧と電流を高い精度で校正する方法、および、当該校正を行うことができる高周波測定装置を提供する。
【解決手段】低精度だが広いインピーダンスの範囲で校正可能な基本校正パラメータと、スミスチャート上の範囲を４つに分割した各象限でそれぞれ高精度に校正可能な各象限別校正パラメータとを、それぞれ、３つの基準負荷を測定した値とそれらの真値とに基づいて算出しておく。第１校正部３８２は、検出された電圧と電流とを基本校正パラメータで校正する。象限判定部３８５は、この校正された電圧と電流とから算出されたインピーダンスがどの象限に位置するかを判定する。第２校正部３８６は、象限判定部３８５から入力される判定結果に対応する象限別校正パラメータでさらに校正を行う。 （もっと読む）

【課題】 本発明は、通電自己加熱により急速昇温中のオーミックな導電性物質の電気抵抗を４端子法の原理により測定する方法において、広い温度範囲における電気抵抗率を正確かつ効率的に導出できる電気抵抗の測定方法を提供することを課題とする。
【解決手段】 通電自己加熱により急速昇温中のオーミックな導電性物質の電気抵抗を４端子法の原理により測定する方法であって、同一試料の昇温速度を変化させて行った複数回の測定から得られる電圧―電流プロット一次近似直線の傾きから試料の電気抵抗を導出することを特徴とする電気抵抗の測定方法。 （もっと読む）

【課題】電気回路の抵抗値を非接触で簡単に得ることができる抵抗用測定回路を提供する。

【解決手段】 被測定抵抗Ｒ_Lの値を求めるための電気特性を得る抵抗用測定回路は、被測定抵抗に並列接続され，所定の周波数ｆで並列共振する第１コイル及び第１コンデンサと、第１コイルと電磁結合される第２コイルと、第１コイルと第２コイルとが電磁結合されていない状態で第２コイルのみの周波数ｆでのインダクタンス成分L₂₀及び抵抗成分R₂₀とからなる電気特性を検出し，第２コイルが前記第１コイルと電磁結合した状態で前記周波数ｆでの第２コイルのインダクタンス成分L_2a及び抵抗成分R_2aとからなる電気特性を検出する検出回路と、を備える。 （もっと読む）

【課題】ＴＲＬ校正の精度を向上することができるＴＲＬ校正標準器およびそれを備えた校正装置を提供する。
【解決手段】ＴＲＬ校正標準器１は、スルー標準器１Ｔと、リフレクト標準器１Ｒと、ライン標準器１Ｌとを備えている。スルー標準器１Ｔ、リフレクト標準器１Ｒおよびライン標準器１Ｌのそれぞれは、一方面２ａから他方面２ｂを貫通するように２つの貫通孔４が設けられた保持部材２と、両端のそれぞれにプローブ１２と電気的に接触するための外部端子３ａが設けられた同軸ケーブル３とを含み、同軸ケーブル３の外部端子３ａのそれぞれは保持部材２の一方面２ａ側から２つの貫通孔４のそれぞれに挿入されており、スルー標準器１Ｔ、リフレクト標準器１Ｒおよびライン標準器１Ｌのそれぞれにおいて、２つの貫通孔４のそれぞれに挿入された外部端子３ａ同士は同じ間隔Ｌとなるように配置されている。 （もっと読む）