【課題】電池用電極材に対して、簡便に評価を行うことができる厚さ測定装置、及び厚さ測定方法を提供する。
【解決手段】本発明の一態様にかかる測定装置は、太陽電池のセル２１の電極の抵抗分布を測定する測定装置であって、セル２１との間にエアギャップを形成するため、セル２１にエアを噴出する測定ヘッド３１と、測定ヘッド３１に設けられたコイル４１と、コイル４１に接続された発振器５０と、測定ヘッド３１とセル２１との相対位置を変化させる可動部１３と、を備えるものである。 （もっと読む）

【課題】簡便且つ精度良く絶縁性材料の誘電率を測定する方法を提供すること。
【解決手段】本発明に係る誘電率の測定方法は、極性基の含有率と誘電率とが既知である標準材料を用いて作成された、極性基の含有率と誘電率との関係を示す検量線を準備する工程と、絶縁性材料の近赤外吸収スペクトルを用いて絶縁性材料における極性基の含有率を求める工程と、得られた絶縁性材料における極性基の含有率と検量線とを照合することにより絶縁性材料の誘電率を求める工程とを備えている。 （もっと読む）

【課題】大きな電流を発生させる電源を不要として、装置の小型化および低コスト化を図る。
【解決手段】被覆電線１２の中心導体１２ａと容量結合する注入電極２と、中心導体１２ａと容量結合する検出電極３と、検査交流電圧Ｖ２を生成すると共に検査交流電圧Ｖ２を注入電極２を介して中心導体１２ａに非接触で注入する交流電圧生成部４と、検査交流電圧Ｖ２の注入に起因して被覆電線１２に発生する電流Ｉｄ２の一部を検出電極３を介して入力すると共に検出電圧Ｖｄに変換して出力する電流検出部５と、検査交流電圧Ｖ２の電圧値に対する検出電圧Ｖｄの電圧値の比率ｋを算出すると共に算出した比率ｋが予め決められた基準比率ｋｒｅｆ以上のときに、被覆電線１２の表面が汚れていると判別する処理部７とを備えている。 （もっと読む）

【課題】非接触型電気伝導度検出器は、これまでに応用例が紹介されてきたがその基本的な構造とパフォーマンスとの関係が明らかになっていなかった。そのため有効な測定可能範囲が不明であった。また、測定対象の溶液のインピーダンスが比較的小さい領域では溶液を経由して作用電極からの信号電流が検出電極側に伝わりにくく、受け信号を乱すという問題点もあった。
【解決手段】非接触型電気伝導度検出器の基本構造とパフォーマンスの関係を明らかにして、有効な測定範囲とそれを可能とする基本構造を示し、併せて電磁遮蔽された非接触型インピーダンスモニターとする。 （もっと読む）

【課題】２つ以上の鉄塔の基礎のアース接地抵抗を求める方法を提供する。
【解決手段】鉄塔の各基礎の選択的測定を連続的に実施するステップを含み、測定された各基礎の抵抗についての真の値が計算される。試験用手段は、鉄塔から所定の距離をおいて配置された２つの補助電極と、基礎に沿って流れる電流を測定するために鉄塔の基礎の周りに設置された電流測定手段とに直接接続される。 （もっと読む）

【課題】広い周波数で誘電体の誘電率を精度よく測定可能な、誘電率の測定方法および測定装置を提供する。
【解決手段】測定試料１は、誘電体試料１１および誘電体試料１１の主表面１３，１４に配置された導体板１２とを備える。測定試料１はフィルタとしての機能を有する。導体板１２により、透過率が極小値となる周波数を変更することができる。スペクトラムアナライザ４は、送信アンテナ２から測定試料１に照射される平面波の周波数を走査する。受信アンテナ３およびスペクトラムアナライザ４は、測定試料１を透過した平面波の電界強度を測定する。コンピュータ５は、コンピュータ５に入力されたパラメータおよびスペクトラムアナライザ４による測定結果を用いて、ＦＤＴＤ法に従う数値計算によって誘電体試料１１の誘電率を算出する。 （もっと読む）

【課題】誘電体の対象物に向けて電磁波を送信して反射波を受信することにより、対象物中の誘電率を算出するとき、対象物の反射特性から高速に行うことができ、かつ数値として得ることのできる装置及び方法を提供する。
【解決手段】対象物に電磁波を送信して得られる電磁波の反射波を受信する、複数の送信アンテナと複数の受信アンテナを備える。受信した反射波に基づいて、対象物表面に平面波の電磁波が入射したときの複素反射率を算出する。算出された複素反射率から、送信した電磁波の一部が対象物内へ入ることを想定した電磁波の伝播の式の満たすべき条件に基づいて、対象物の複素誘電率を算出する。複数の送信アンテナと複数の受信アンテナは一方向に列を成してリニアアレイアンテナを構成する。 （もっと読む）

【課題】電気絶縁体材料（静電気拡散性や導電性の表面処理がなされているものを含む）の表面抵抗値を非接触で測定する。
【解決手段】表面抵抗値測定装置１００は、測定対象物１０００の帯電領域１００１に非接触で電荷を与える帯電装置１１０と、測定領域１００２における電荷量を非接触で測定する電荷検出装置１２０と、からなる。帯電装置１１０が帯電領域１００１に電荷を与えながら、電荷検出装置１２０が帯電領域１００１から測定領域１００２に流入する電荷量を経時的に測定する。このようにして測定された電荷量に基づいて測定対象物１０００の表面抵抗値が算出される。 （もっと読む）

【課題】コストを低減して化合物半導体結晶の導電率を測定する、導電率測定方法および導電率測定装置を提供する。
【解決手段】円柱形状の化合物半導体結晶１０を準備する工程と、マイクロ波を用いて化合物半導体結晶１０の導電率を測定する工程とを備えている。化合物半導体結晶１０は、５０ｍｍ以上２００ｍｍ以下の直径を有し、５０ｍｍ以上５００ｍｍ以下の厚みを有することが好ましい。化合物半導体結晶１０は、側面に平坦面１１を有することが好ましい。 （もっと読む）

【課題】測定対象の電気機器や電源コンセント等を改造したり分解したりすることなく、簡単かつ即座に電気機器の接地不良を検出するための技術を提供する。
【解決手段】電気機器の接地の不良を検知するための接地不良検知器であって、前記電気機器から放射される、商用電源周波数を含む超低周波領域の電磁波を受信するアンテナと、前記アンテナで受信した電磁波の電界強度に基づいて前記電気機器の接地状態を評価する信号処理手段と、前記信号処理手段の評価結果に基づいて前記電気機器の接地状態を示す情報を出力する出力手段と、を備える。 （もっと読む）

本発明は、少なくとも１つの測定チャネル（１８，２０，２２，２４）と、少なくとも１つの測定チャネル（１８，２０，２２，２４）に電気的に接続され、電子回路内の電気測定対象物（４０，４２，４４，４６，４８）の電気信号線（５０）に非接触または接触接続するように設計された少なくとも１の測定プローブ（２８）とを有する測定装置（１０）を有する、基板（３８）上の電気測定対象物（４０，４２，４４，４６，４８）の散乱パラメータを決定する測定システムに関する。本発明によれば、第１の位置決め装置（３０）は、少なくとも１つの測定プローブ（２８）を備え、少なくとも１つのセンサ（３４）は、少なくとも１つの測定プローブ（２８）の位置を検出し、位置信号を出力する。
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【課題】測定の際に測定面と当接することによる微細軸の破損を確実に防止できる近接場プローブ、この近接場プローブを備えた電気的特性測定装置及び電気的特性測定方法を提供することを課題とする。
【解決手段】本発明は、一方向に延びる内部空間Ｓｐを囲み、先端に微細開孔３５が形成された外導体３０と内部空間Ｓｐ内で中心軸Ｃに沿って延びる内導体２０とを有する同軸共振器１２を備え、外導体３０は、微細開孔３５の周縁に位置する周縁面３６を含む先端面３１ａを有し、周縁面３６の径方向外側には保護部３７が設けられ、保護部３７は、周縁面３６よりも前方に位置する保護面３７ａを有し、内導体２０の先端には、微細開孔３５内に挿通される微細軸２１が設けられ、この微細軸２１の先端が前記中心軸Ｃ方向において周縁面３６よりも前方で且つ保護面３７ａよりも後方若しくはこれと同じ位置にあることを特徴とする。 （もっと読む）

本発明による回路配置は電気的接続を測定する測定装置、および１つまたは複数の導体パターンを備える。導体パターンは、導体パターンによって生成されたインピーダンスを測定装置に適するように適合させるアダプタ・コンポーネントを使用して測定装置に接続されている。
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本発明は、信号導波路（２６）上を進む信号を非接触式に減結合するための結合構造の一部分を形成する少なくとも１つの試験プローブ（２８）を備える、非接触測定システムにおいて、信号導波路（２６）が、導体トラック、及び電気回路（５２）の回路基板（２４）上の電気回路の導体として設計される非接触測定システムに関する。このために、少なくとも１つの接触構造（１８；４４）が、上記信号導波路（２６）から直流的に分離され、上記結合構造の一部分を形成し、上記信号導波路（２６）の近接場の範囲内に全体が配置され、試験プローブ（２８）の接点が電気的に接触できる少なくとも１つの接点（４２）を備えるように構成され、上記回路基板（２４）に配置される。
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本発明は、表面に配置された少なくとも１つのｐｎ接合部を含む半導体構造体の電気的および／または物理的パラメータを非接触で測定するための接合光起電力法と装置に関し、本方法は、半導体構造体のｐｎ接合部を有する表面を第１の波長の光ビームで照射して表面に過剰キャリアを生成する工程と、光ビームの光強度を単一の予め定義された周波数で変調する工程と、照射エリアの内側における第１の位置で第１の光起電力を測定し、かつ照射エリアの外側における少なくとも１つの第２の位置で第２の光起電力を測定する工程と、第１の光起電力および第２の光起電力に基づいて半導体構造体の電気的および／または物理的パラメータを計算する工程とを含む。この方法で、半導体構造体の電気的および／または物理的パラメータを非接触で測定する高速で正確かつ使用が容易な可能性を提供する。
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【課題】回転数に影響されず精度良く静電容量を算出可能な電子写真用感光体の静電容量算出方法及び該特性評価方法を用いた電子写真用感光体の特性評価装置を提供する。
【解決手段】感光体ドラム１である試料を回転させる工程と、コロナ帯電器６からの放電により試料の感光面を帯電させる静電気帯電工程と、帯電後の前記試料の感光面を露光により光放電させる光放電工程と、前記試料の表面電位及び充電電荷量の検出結果に基づいて、該試料の静電容量を求める静電容量算出工程とを有する電子写真用感光体の静電容量算出方法であって、コロナ帯電器６の放電電流Ｉを以下の式を満足するものとすることを特徴とする。
｜Ｉ｜ ≧ １４８．５／ｒ［ｎＡ／ｃｍ^２］（ｒ：前記試料のドラム半径（単位：ｃｍ）） （もっと読む）

【課題】微視的電気特性の測定で得られた知見に基づき開発される、濃度ムラや白抜けを発生しない、放電あるいは放電による帯電現象を利用する部材を得ることができるための放電ムラ観察方法を提供する。
【解決手段】ローラ部材１に対し、表面に半透明、もしくは透明な電極２を有し、電極面が前記ローラ部材表面に接触又は非接触となるように配設される透明電極基板７を備え、前記透明電極基板７と前記ローラの芯金との間に電位差を設け、前記透明電極基板７と前記ローラ部材１との間に設けられた電位差によって発生する放電光を、前記透明電極基板の背面に配設される撮影装置３によって撮影し、前記ローラ部材に発生する放電ムラを観察することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】電子材料のマイクロ波帯における誘電率測定を、広い温度範囲で効率的に行えるようにする。
【解決手段】加熱冷却装置１８で温度調整した不凍液を液圧循環管路２４を通して恒温槽７へ供給し、またドライエア発生手段からのドライエアを管路１８ｂを通して不凍液と熱交換し、それを恒温槽７に収容された空洞共振器４内へ供給することで、空洞共振器４内の温度制御を行う。不凍液は循環利用でき、またドライエアはそのガス源が大気であるので、ランニングコストが低くかつ安全な環境での測定ができる。また空洞共振器を銀媒体で包んでその中にドライエア導入路を設け、ドライエアが空洞共振器内で均一に流れるようにして空洞共振器内の温度分布の均一化を図る。これは温度制御時間の短縮化及び測定精度向上に寄与する。 （もっと読む）

（図１とともに公開する）
本発明は、ｎポート測定（ここでｎは整数≧１）を用いて測定対象の散乱パラメータを決定するための、Ｎ個の測定ポート（ここでＮは整数≧１）を含む高周波測定デバイス（ＨＦ測定デバイス）、特に、ベクトル・ネットワーク・アナライザを較正する方法に関し、測定対象に接続された、または測定対象を含む回路に接続された第１の電気導線に高周波試験信号（ＨＦ試験信号）を供給し、各ポートに対して、第１の結合位置で、および第１の結合位置から所定の距離をおいて配設された第２の結合位置で、測定対象に接続された第２の電気導線上を伝わる、特に平面導線上を伝わるＨＦ信号を第２の電気導線からカップリング・アウトし、２つの結合位置でカップリング・アウトされた２つのＨＦ信号から、各ポートにおいて、各測定位置または結合位置に対して、測定対象の方向に向かって第２の電気導線上を伝わるＨＦ信号の、および測定対象から離れる方向に第２の電気導線上を伝わるＨＦ信号の、ＨＦ試験信号に対する振幅および／または位相を決定し、それから、測定対象の散乱パラメータを計算する。ここで、ＨＦ測定デバイスのポートの少なくとも１つに対して、互いに所定の距離をおいて配設された少なくとも３つの結合位置で、第２の電気導線上を伝わるＨＦ信号をカップリング・アウトし、少なくとも３つの結合位置のそれぞれの対をなす組み合わせに対して、少なくとも１つの較正標準を散乱パラメータが既知である測定対象として使用する所定の較正方法を用いて、ＨＦ試験信号の少なくとも１つの周波数に対する少なくとも１つの散乱パラメータを決定し、ＨＦ試験信号の１つの周波数におけるすべての対をなす組み合わせに対して決定された少なくとも１つの散乱パラメータの値と、較正標準を測定対象として使用することで得られた、この少なくとも１つの散乱パラメータの既知の値とを比較して、決定された散乱パラメータの値と、較正標準を測定対象として使用することで得られた、散乱パラメータの既知の値との間の差が最小となる結合位置の対をなす組み合わせを、未知の測定対象の測定におけるこの周波数に対する好ましい第１および第２の結合位置として保存する。
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【課題】高電圧線路を活性化状態のままで、高電圧線路に電気部品を接続することなく、高電圧系システムの絶縁抵抗を測定できる絶縁抵抗測定装置を提供する。
【解決手段】発振器１１で出力された交流電流は、電流制限抵抗Ｒｃを介して、電極１２に出力され、電極１２から高電圧線路２３に伝達される。電流制限抵抗Ｒｃの他端における電流をバッファアンプ１３と、積分器１４とを介し、ＣＰＵ１５のＡ／Ｄ端子から取り込み、ＣＰＵ１５内のＡ／Ｄ変換器で取り込んだ電圧値を読み込む。取り込んだ電圧値から、ＣＰＵ１５が絶縁抵抗Ｒｄの算出のための演算を行う。 （もっと読む）