【課題】電線異常検出の高精度化及び異常点検における検査員の労力を軽減する。
【解決手段】 対象画像中で、光ファイバの横断が撮影されている横断部分と、撮影されていない非横断部分とに分けて、それぞれに異なる異常検出処理を行う。最も代表値が低い値となる水平方向の画素位置を中心として横断部分の左右の端を探索し、横断部分と非横断部分の境界とする。更に、横断部分での異常検出では、単調増加または単調減少しない水平方向の画素位置を、異常箇所として検出する。 （もっと読む）

【課題】被測定材を破壊することなく、その表面の損傷度合を客観的に測定することができる損傷度合測定装置および損傷度合測定方法を提供すること。
【解決手段】建築用シーリング材１の表面の対象範囲Ｒにおける損傷度合を測定するための装置であって、対象範囲Ｒに生じたひび割れ２の深さの平均値（ａ）、幅の平均値（ｂ）および総面積値（Ｓ）を予め格納された式（１）に代入する結果、ひび割れ２により応力が解放された部分の体積（Ｖｅ）を算出することにより、建築用シーリング材１の表面の損傷度合を測定するものである。
式（１） Ｖｅ＝（πａ²／２）Ｓ／ｂ
この式（１）において、Ｖｅは、対象範囲Ｒにおけるひび割れ２により応力が解放された部分の体積、ａは、対象範囲Ｒにおけるひび割れ２の深さの平均値、ｂは、対象範囲Ｒにおけるひび割れ２の深さの平均値、Ｓは、対象範囲Ｒにおけるひび割れ２の総面積値である。 （もっと読む）

【課題】ガラスのような透明材料で作られた大面積のパネル内での、特に屈折力における光学的なエラーを、観察された画像の評価によって検出するための方法に関する。
【解決手段】本発明の方法は規則的なシーケンスから成る所定のモデルを投射する工程を包含し、このシーケンスは２つの異なる光の強度を有し、さらにこのパネルを投射の光学的通路内に配置する工程を包含している。本発明の方法は、参照スクリーンを使用せず、そのモデルをカメラ上に投射することにより、パネルの少なくとも１つの寸法における光学的エラーを検出することを可能にし、モデルシーケンスはそれぞれある数の隣接するカメラのピクセル上に表現され、この数は前記シーケンスの整数倍である。 （もっと読む）

【課題】被検査物の傷、異物混入、クラックなどの不具合に関する検査を精度よく自動検査することができる画像検査方法およびその方法を用いた検査装置を提供する。
【解決手段】透過画像を得る第１ステップと、前記透過画像に２次微分フィルタを適用し、２次微分フィルタ画像として輝度変化の大きい部分を強調させる第２ステップと、前記２次微分フィルタ画像を所定のしきい値で２値化し、記憶させる第３ステップと、前記透過画像を別の所定のしきい値で２値化し、記憶させる第４ステップと、前記第３ステップで記憶された２値化した画像及び前記第４ステップで記憶された２値化した画像に対して２値特徴量計測を行う第５ステップと、前記２値特徴量から、被検査物２の良否判定を行う第６ステップとを備えた構成とする。 （もっと読む）

【課題】透明な部分を含む印刷物を検査すると共に汎用性を高める印刷物の品質検査装置及びその品質検査方法を提供する。
【解決手段】印刷物１ａを搬送する搬送手段２２と、照明手段２３と、照明手段２３の照射光により印刷物１ａの画像情報を取り込む撮影手段２４とを備え、画像情報に基づいて印刷物１ａの異常を検査する印刷物１ａの品質検査装置２１であって、搬送手段２２の搬送面側に、印刷物１ａの紙面と同色にみなす同色材２５を備え、撮影手段２４により、透明な部分を含む印刷物１ａを同色材２５の位置で撮影するように構成する。 （もっと読む）

【課題】基板の表面に形成されている層が様々に変化した場合であっても、これに対応して、発生したムラを鮮明に撮像する。
【解決手段】検査対象の基板９０の表面に沿って検査基準軸Ｐを設定する。Ｘ軸方向に沿って延びる支持部材１４０，１５０によって光源１７およびカメラ１８をそれぞれ支持する。支持部材１４０，１５０の端部にアーム部材１４２，１５２をそれぞれ取り付け、光源１７と検査基準軸Ｐとの距離、およびカメラ１８と検査基準軸Ｐとの距離をそれぞれ固定する。検査対象の基板９０の表面状態に応じて、アーム部材１４２およびアーム部材１５２を検査基準軸Ｐを中心に回動させ、表面状態に適した角度となるように検査光の入射角を調整するとともに、カメラ１８の撮像位置および撮像姿勢を調整する。 （もっと読む）

【課題】ピクセル単位の位置合わせを行う必要がなく、また、光学的なずれや機械的なずれが存在していても虚報を生じさせないような検査方法において、検査対象物の各部位毎に正確な検査を行えるようにする。
【解決手段】あらかじめ基準対象物となるピクセルの位置毎に、輝度と、許容輝度幅α₁と当該ピクセル位置(x,y)を基準として検査対象物の対応するピクセルを探索するための探索距離d₁をテーブル化して記憶しておく。そして、検査対象物１１を検査する場合、基準対象物１０のピクセル位置(x,y)での輝度を読み出し、許容輝度幅テーブルや探索距離テーブルを参照して許容輝度幅や探索距離を抽出し、検査対象物１１における位置(x,y)からの探索距離d₁内に許容輝度幅α₁内のピクセルが存在するか否かを判定する。 （もっと読む）

【課題】パターン付きマスクの欠陥検査において、スキャッタリングバーなどのＯＰＣパターンに由来する微小な無視したい欠陥を除去する検査装置及び検査方法とその検査装置及び検査方法を用いたパターン基板の製造方法を提供する。
【解決手段】第１の像と第２の像とを用いて、ＯＰＣパターンに対応するＯＰＣ領域をマスクするＯＰＣフィルタを生成するフィルタ作成部と、前記第１の像と、前記第２の像との比較結果に対して、高感度で欠陥候補を検出する高感度欠陥候補検出部と、前記第１の像と、前記第２の像との比較結果に対して、低感度で欠陥候補を検出する低感度欠陥候補検出部と、前記ＯＰＣフィルタを用いることによって、前記ＯＰＣ領域では、前記低感度欠陥候補検出部で検出された低感度欠陥候補を欠陥として判定する欠陥判定部とを備える検査装置。 （もっと読む）

【課題】断面円形で周面が螺旋状に研磨などされた被検査材における各種の表面疵を確実に検出できる探傷方法、およびこれに用いる探傷装置を提供する。
【解決手段】断面円形で表面（周面）が螺旋状に研磨または研削された被検査材Ｗの探傷方法であって、係る被検査材Ｗの検査ラインＬにおいて、法超音波探傷法、渦流探傷法、および光学式撮像手段を用いる表面疵探傷を連続して行う、探傷方法。また、上記被検査材Ｗの検査ラインＬに沿って隣接して配置した、超音波探傷装置２、渦流探傷装置１０、およびＣＣＤカメラ（光学式撮像手段）２２を用いる表面疵探傷装置２０と、係る３つの探傷装置２，１０，２０と接続されたシーケンサ（信号処理手段）３０と、を含む、探傷装置１も含まれる。 （もっと読む）

【課題】 繰り返しパターンの方向が事前に分からなくても高感度な欠陥検査を行う。
【解決手段】 被検基板の表面に形成された繰り返しパターンを直線偏光により照明する手段と、直線偏光の振動面の表面における方向と繰り返しパターンの繰り返し方向との成す角度を複数の異なる角度に設定する手段（Ｓ１,Ｓ７）と、斜めの角度に設定された各状態で、繰り返しパターンから発生した正反射光のうち直線偏光の振動面に交差する偏光成分の光強度を測定する手段（Ｓ２,Ｓ３）と、各状態で測定された光強度のうち最大値に基づいて、繰り返しパターンの欠陥を検出する手段（Ｓ５,Ｓ６）とを備える。 （もっと読む）

窓ガラスによって発生した一次像と二次像との間の逸脱角の決定方法を開示する。第１方法においては、窓ガラスを光源で照射し、画像取込装置を用いて、窓ガラスによって発生した光源の一次像と二次像を取り込む。一次像と二次像との間の距離を決定し、この距離から逸脱角を決定する。第２方法においては、一次像および二次像を、逸脱角を示す目盛りで表示したターゲット上に映す。逸脱角を、一次像と二次像の目盛りおよび位置から読み取る。この第２方法において、光源をターゲットの中心に設置する。両方の方法において、光源は少なくとも１個の発光ダイオードを備える。かかる方法を用いて窓ガラスのエッジ領域を検査するのが好ましい。
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【課題】材料の表面粗さ、色相などにより生じる縞模様や加工後のバリを外観不良として誤検出しない生産性の高い外観検査方法を提供する。
【解決手段】予め登録しておいた基準画像（ｓ−１）と、ｎ回目の検査対象物２の検査画像（ｎ）との差異を比較して良否の判定を行う電子部品の外観検査方法であって、良品と判定された前記検査画像（ｎ）のみを新たに基準画像（ｓ）として順次更新登録するプレス加工品２の外観検査方法であり、良品の検査画像（ｎ）を常に最新の基準画像（ｓ）として次の検査画像（ｎ＋１）とを比較判定を行うため、同一ロット内で生じる経時的な緩やかな揺らぎを外観不良として誤検出しない。 （もっと読む）

【課題】マップを効率よく編集することができる検査用マップ生成装置および外観検査装置を提供する。
【解決手段】制御部６は、所定のパターンが形成された検査対象物上の複数の領域の位置関係を示すマップを、予め設定された条件に従って生成する。表示部８はマップを表示する。画像処理部２は、検査対象物の撮像により生成された画像データを処理し、マップ上の領域と対応する検査対象物上の領域が存在するか否かを判断する。制御部６は、画像処理部２の判断結果に基づいてマップを編集する。 （もっと読む）

【課題】せん断加工面の照明の仕方を工夫して圧延スジを撮影しないようにする。
【解決手段】圧延鋼板のせん断加工面の欠陥を検査する欠陥検査装置（１０）において、前記せん断加工面を直接光（Ｆａ）により照明する第１照明手段（１８）と、前記直接光を反射させた反射光（Ｆｂ）により前記せん断加工面を照明する第２照明手段（１９）と、前記直接光と反射光によって照明された前記せん断加工面の画像を撮影する撮影手段（１７）と、前記撮影手段によって撮影された画像に基づいて前記せん断加工面の欠陥の有無を判定する判定手段（２０）とを備える。 （もっと読む）

【課題】 繰り返しパターンの方向が分からなくても高感度な欠陥検査を行う。
【解決手段】 被検基板の表面に形成された繰り返しパターンを直線偏光により照明する手段と、直線偏光の振動面の方向と繰り返しパターンの方向との成す角度を任意の角度φに設定して、繰り返しパターンから発生した正反射光のうち直線偏光の振動面に垂直な偏光成分の光強度を測定する手段（Ｓ１,Ｓ２）と、上記の成す角度を、角度φとは異なる φ＋４５度 , φ−４５度 , φ＋１３５度 , φ−１３５度 の何れかの角度に設定して、繰り返しパターンから発生した正反射光のうち直線偏光の振動面に垂直な偏光成分の光強度を測定する手段（Ｓ３,Ｓ４）と、測定された各々の光強度を加算して、加算後の光強度に基づいて、繰り返しパターンの欠陥を検出する検出手段（Ｓ５,Ｓ６）とを備える。 （もっと読む）

【課題】金属化フィルムコンデンサ用の金属化フィルムに形成された電極パターンの検査が困難という課題を解決し、電極パターンを高精度に検査できる金属化フィルムの製造装置を提供することを目的とする。
【解決手段】誘電体フィルム１ａを供給する巻き出し部２と、誘電体フィルム１ａの表面に金属蒸着電極を形成する蒸着部と、作製された金属化フィルム１を巻き取る巻き取り部７を有し、直流電源で点灯する蛍光灯９により金属化フィルム１の裏面側から照射する発光部と、この透過光により金属化フィルム１の表面側から金属蒸着電極を撮影するカメラ１１と、この画像を取り込んで認識する判定部を設けた構成により、金属化フィルム１に均一な光を照射し、この透過光により高速で連続搬送される金属化フィルム１に形成された電極パターンを常時高精度に撮影して判定できる。 （もっと読む）

【課題】装置の大型化を回避しつつ検出精度を向上させることができるとともに、電子機器系統の防塵性を向上させることができる蛍光磁粉探傷方法および蛍光磁粉探傷装置を提供する。
【解決手段】本発明の蛍光磁粉探傷方法は、鋼材Ｗ表面における照明強度を４０００μＷ／ｃｍ^２以上として疵輝度の信号レベルをカメラ光学部１１の暗時電流の４倍ないし１６倍とし、地肌輝度の信号レベルを暗時電流の１．２倍ないし１．８倍とするものである。本発明の蛍光磁粉探傷装置Ｕは、ＣＣＤカメラ２が、カメラ光学部１１とカメラ本体１４とに分離されてカメラボックス１６に収納されてなるものである。 （もっと読む）

【課題】本発明は、確実に良好な検査を行うことのできる表面検査方法、及びそれに好適な表面検査装置を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明の表面検査方法は、被検基板上のパターンを偏光した照明光で照明すると共に、そこで生じた正反射光の偏光状態を示す反射信号を取得し、その反射信号に基づき前記被検基板の検査を行う表面検査方法であって、前記被検基板の検査に先立ち、前記照明光の波長を切り替えながら（Ｓ１，Ｓ３，Ｓ４）、予め用意されたテスト基板の前記反射信号を繰り返し取得し（Ｓ２）、取得された複数の反射信号に基づき前記被検基板の検査用の波長を決定する（Ｓ５）ことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】熟練者でなくとも物品の外観検査用の感度ファイルが作成できる感度ファイル自動設定装置及びそれを備えた物品の外観検査装置の提供にある。
【解決手段】物品の外観検査のため予め熟練者により設定された感度基準ファイルが記憶された記憶装置１３と、入力された物品の外観情報に基づき前記記憶装置から最も近い感度基準ファイルを選択する選択手段１２ａと、該選択手段により選択された感度基準ファイルにより検査して搬入された物品が予め設定された良品率又は不良品率になるように前記感度基準ファイルのパラメータを自動感度微調整する自動感度微調整手段１２ｃとを備えた。 （もっと読む）

【課題】 繰り返しパターンの複数種類の欠陥に対して十分な検出感度を確保できる表面検査装置を提供する。
【解決手段】 被検物体２０の表面に形成された繰り返しパターンを照明し、繰り返しパターンの形状変化による正反射光Ｌ２の強度の変化を測定する第１測定手段(１３〜１５)と、繰り返しパターンを直線偏光により照明し、繰り返しパターンの繰り返し方向と直線偏光の振動面の方向との成す角度を斜めの角度に設定し、繰り返しパターンの形状変化による正反射光Ｌ２の偏光状態の変化を測定する第２測定手段(１３〜１５)と、第１測定手段と第２測定手段との各々が繰り返しパターンを照明する際に用いる光Ｌ１の波長を異なる波長に設定する設定手段(４４〜４６)とを備える。 （もっと読む）