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Fターム[2G051AB08]の内容

光学的手段による材料の調査の特殊な応用 (70,229) | 調査・分析パラメータ (9,064) | キズ、欠陥 (5,573) | 複数面の同時調査(例;端面と周面) (123)

Fターム[2G051AB08]に分類される特許

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【課題】被観察物の端面が,面取り加工された光沢性の強い端面であっても,その端面の広い範囲を一望できる撮像画像を得ること。
【解決手段】光を透過させて透過光を拡散させる拡散板が,被観察物1の端面からその端面に連なる表裏両側の面に渡る範囲に対して内側の面が対向する屈曲形状又は湾曲形状に形成され,その外側に配置されたカメラ30の位置から被観察物の端面1aが見える覗き窓14が設けられた光拡散部材11と,その光拡散部材11の外側に配列され,光拡散部材11を介して端面1aを照明する複数のLED12と,前記覗き窓14に向かうカメラ30の光軸方向に交差する方向へ光を照射するLED21及びレンズ22と,カメラ30と前記覗き窓14との間においてLED21からの光を反射して前記覗き窓14を通じて端面1aに照射するとともにその端面1aからの反射光をカメラ30側へ通過させるハーフミラー23とを備える。 (もっと読む)


【課題】適正な感度で異物を検出することが可能な異物検査装置及び方法を提供する。
【解決手段】異物検査装置は、所定の感度でフォトマスク上の異物を検出する異物検出部と、露光装置の使用条件に応じた検出感度情報を取得する検出感度情報取得部と、前記検出感度情報に基づいて前記異物検出部の前記感度を変更する感度変更部とを備える。 (もっと読む)


【課題】半導体ウエハ等の縁部における欠陥を検査する検査装置に関し、被検査物の縁部からの散乱光を確実に検出する装置の提供。
【解決手段】被検査物Wを移動可能に保持する回転テーブル11と、前記被検査物Wの縁部に光を照射する照明部13と、前記縁部で発生する散乱光を受光する受光部15と、前記被検査物Wの移動に対応して変動し前記縁部からの正反射光が前記受光部15に入射することを制限する遮光部33とを備える。 (もっと読む)


【課題】製品の二層が出来るだけ確実な形式で検査され得る前記種類の製品、特に箔を巻いた煙草包装箱の自動化光学的検査方法を与えること。
【解決手段】この発明は、製品の少なくとも一つの内部配置層−内部層が−少なくとも範囲領域で少なくとも一つの少なくとも部分的に透明な更に外部配置製品層−外部層により被覆されて、少なくとも二層を備える特に移動された製品、特に箔を巻かれた包装体、好ましくは煙草包装箱を検査する方法に関し、製品の外部層が入射角度、特にほぼ35°の下で好ましくは偏光されていない光を照明され、この外部層に反射された光が少なくとも70%、とりわけ少なくとも90%、特に好ましくは少なくとも95%に直線s−偏光された光から生じること、外部層或いは内部層の少なくとも一方により反射された光のs−偏光された成分或いは外部層或いは内部層の少なくとも一方により反射された光のp−偏光された成分の少なくとも一方がそれぞれに別々に少なくとも一つの適した電気光学的検出部材−カメラによって製品の画像或いは部分画像として検出されること、検出されたs−偏光された或いは検出されたp−偏光された光成分の少なくとも一方が外部層或いは内部層の少なくとも一方の特徴事項に関する推論をできるように評価される。
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【課題】小さい透明ディスクを備え、電子デバイスの底面を検査する機能を達成すると共に、該ディスクは、高硬度の性質を有し、検査すべき電子デバイスがディスクにぶつかって傷付けてしまうことを避け、画像取得する際の干渉現象を減少し、検査の正確度を向上させる検査システムを提供する。
【解決手段】複数の電子デバイス200を置くための第1の透明ディスク10と、第1の透明ディスク10の下方に設けられ、電子デバイス200の底面を検査するための第1の画像受取ユニット11と、第1の透明ディスク10に隣接する第2のディスク12と、第1の透明ディスク10と第2のディスク12の隣接位置に設けられ、第1の透明ディスク10上の電子デバイス200を案内し第2のディスク12に転送するガイドユニット13と、第2のディスク12の上方に設けられ、電子デバイス200の他の表面を検査するための複数の第2の画像受取ユニット14とを含む。 (もっと読む)


【課題】正常に塗布されたインクと連結して塗布されたインクとを液状体のまま識別することが可能な検査装置、突状体の検査方法及び液滴吐出装置を提供する。
【解決手段】基板2の上面2aに形成されたのカラーインク5の輪郭形状を検査する検査装置にかかわり、上面2aと垂直な方向に対して斜めの方向から基板2に照射光58を照射する照明装置28と、上面2aと略垂直な方向からカラーインク5を撮像する撮像装置24と、撮像装置24により撮像された画像を用いて、画像の明部と暗部の形状からカラーインク5の輪郭形状を識別する識別演算部と、を有する。 (もっと読む)


【課題】被検面端面に存在する膜の境界や膜の屈曲部で発生する散乱光を効果的に除去することが可能な被検面端面検査装置を提供する。
【解決手段】 欠陥検出装置の前側に、膜位置モニター用光学系を設け、ウエハ10に形成された膜11の膜境界12、屈曲部13を検出する。この検出位置に基づいて、検査点では、膜11の膜境界12、屈曲部13を照明する照野35を照明する照明光が遮光されるように透過型液晶素子33の対応する素子33B、33Aを非透過状態とする。これにより膜境界12、ベベルの傾斜開始点13を照明する部分が遮光部38、39となり、膜境界12、ベベルの傾斜開始点13で発生する散乱光を防止でき、検査のS/Nを上げることができる。 (もっと読む)


【課題】形状の異なるモジュールであっても確実に欠陥部分を抽出する欠陥検査方法を提供する。
【解決手段】リング照明でモジュールMへ投光して撮像された第1の画像10Aの所定以上の輝度を有する領域を抽出する第1のステップを行い、抽出された所定以上の輝度を有する領域において所定の大きさ以上の面積を有する領域を第1の画像10Bより除去する第2のステップを行い、第1の画像10Cから直線または曲線形状で抽出された領域を除去する第3のステップを行い、モジュールMをリング照明により投光して撮像された第2の画像11Aにおける第2のステップと第3のステップとにより第1の画像10Aから除去された領域に対して、第1のステップ、第2のステップ、第3のステップを再び実施する第4のステップを行うことにより、不要な高輝度領域を削除して欠陥部分8、12のみを抽出することにより形状の異なるモジュールMでも検査が可能になる。 (もっと読む)


【課題】
誤検出を低減した異物検査装置を提供すること。
【解決手段】
被異物検査装置は、被検査物の表側の被検査面および裏側の被検査面それぞれに光束を照射する照射手段と、前記表側の被検査面からの散乱光を検出する第1検出手段と、前記裏側の被検査面からの散乱光を検出する第2検出手段と、前記第1検出手段および前記第2検出手段からの出力に基づいて前記表側の被検査面および前記裏側の被検査面それぞれの異物を検査する演算手段と、照射手段と第1検出手段と第2検出手段と演算手段とを制御する制御手段とを有する。照射手段は、表側の被検査面または前記裏側の被検査面へ光束の照射を選択的に行え、制御手段は、選択的な光束の照射を受けた被検査面に対応した第1検出手段および第2検出手段のうち少なくとも一方に関し、同時の光束の照射に応じた出力と選択的な光束の照射に応じた出力とに基づいて演算手段に異物を検査させる。 (もっと読む)


【課題】半導体ウエハの周縁部分を効率良く検査することが可能な外観検査装置および外観検査方法を提供すること。
【解決手段】半導体ウエハに処理を施すことにより半導体基板を製造するための各プロセスを実行する1つ以上の半導体製造装置とともに半導体製造システムを構成し、製造過程において半導体基板の外観を検査する。半導体製造装置が半導体ウエハを保持する際の半導体ウエハの保持位置に関するウエハ保持位置情報を、半導体製造装置を特定するための装置識別子と対応付けて取得する手段と、装置識別子と対応付けて取得されたウエハ保持位置情報に基づいて、半導体ウエハの周縁部分を検査するための検査レシピを作成する手段と、作成された検査レシピを格納する手段と、格納された検査レシピに基づいて、半導体ウエハの周縁部分を撮像する手段を備える。 (もっと読む)


【課題】ディスクの表面(記録面部分)及び端面(エッジ部)の同時検査や両面の同時検査に好適なディスク検査装置及び方法を提供する。
【解決手段】垂直姿勢で保持されたディスク12の面に対し、照明装置112,114,116,118からエッジを含んだ検査領域の形状と略同一形状の照射範囲となる照明光パターンの照明光を照射し、当該エッジを含んだ検査領域部分からの反射光をカメラ102,104によって撮像する。照明光は、光ファイバーなどのライトガイドを使用して照射パターン形状を整形し、ディスク12のテクスチャの接線方向に沿って照射する。カメラ102,104から得られる画像を解析し、ディスクの中心位置と半径を求めて自動的に各検査面のウインドウを形成する。また、検査画像からエッジ部分における反射形状を認識し、当該反射形状に基づき、塵埃と塵埃以外の要因によるものとを判別して塵埃の検出と測定を行う。 (もっと読む)


【課題】単一の撮像手段により検査対象物の複数箇所の外観検査が可能で、小型化が図れる外観検査装置を提供する。
【解決手段】外観検査装置1は、チャック手段10によりチャックされたコネクタ6を撮像手段18により撮像し、画像処理により得られた画像データに基づいてコネクタ6の良否判定を行う。外観検査装置1は、所定の軸心L回りに回動操作自在に支持された回動アーム手段11と、回動アーム手段11に備えられると共に、軸心L上にセットされたコネクタ6をその軸心L方向両側からチャックするチャック手段10と、軸心Lと直交する撮像方向Mからコネクタ6を撮像する撮像手段18と、回動アーム手段11を撮像方向Mと平行な方向に沿ってスライド操作自在な電動スライダ装置12とを備える。 (もっと読む)


【課題】ウエハの位置が変動した場合でも、受光光学系を高価にすることなく、小さな欠陥を検出可能なウエハ端面検査装置を提供する。
【解決手段】対物レンズ11の瞳位置に開口絞り12が設けられており、撮像面16は対物レンズ11の瞳位置と共役な位置に設けられている。欠陥C、Dから放出された光は、視野絞り上では、対応する異なった位置C’、D’に結像するが、第2リレーレンズ15により、それぞれ平行光とされ、撮像面16を照明する。撮像面16には、対物レンズ11の瞳像が結像する。よって、図に示すように、欠陥C、Dから放出された光は、撮像面16の同じ位置を照明する。すなわち、照明光が照明する位置が変わっても、その反射光が撮像面16を照明する位置は変わらない。すなわち、ウェハ1の反りや径方向のシフト等に起因して、照明光がウェハ1を照明する位置が異なっても、撮像面16で受光される位置は変わらない。 (もっと読む)


【課題】装置を小型化でき、かつミラーの調整作業の手間を軽減できる検査装置を提供する。
【解決手段】壜100の胴部101を撮像するカメラ20と、カメラ20により得られた画像に基づいて壜100の異常の有無を診断する診断装置30と、を備えた検査装置1において、壜100の胴部101のうちカメラ20に向いている正面部分Fがカメラ20に直接撮像されるように空間Sが設けられ、壜100の胴部101のうち各側面部分R、Lが映るように空間Sを避けて設けられる第1ミラー41、43と、第1ミラー41、43に映っている像がカメラ20にて撮像されるように空間Sを避けて設けられる第2ミラー42、44と、をさらに備え、診断装置30は、カメラ20にて撮像された正面部分Fの画像及び各側面部分R,Lの画像のそれぞれの大きさが同じになるように正面部分Fの画像を縮小補正する。 (もっと読む)


【課題】量産部品の完成検査は、従来、目視によることを基本とし、検査員の育成・配備や検査時間が多大であると同時に、判別に対する個人差や誤認或いは見落としが避けられないため、判別検査を自動的に処理する画像処理システムを提供する。
【解決手段】被検査部品の各面に対応してカメラを設置し、照明板、コントロ−ラ、パ−ソナルコンピュ−タ−及びこれらをコントロ−ルするコンソ−ル並びにコントロ−ルマウスによって画像処理システムを構成し、適合の見本とする部品の各撮像面について、カメラの角度、照明の色調及び照明の明るさをプログラミングしたモデル画像による計測値9をメモリ−する。同時に、これを基準にして曖昧さの領域について上限レベル及び下限レベルを設定する。以上にもとづいて、被検査部品の画像をモデル画像及びその計測値9と対比し、被検査部品の適合又は不適合を自動的に判別する。 (もっと読む)


本発明は、リング(30)を部分的にカメラ(50a)とカメラ(50a)に向けられた光源(51a)との間に配置するステップを有しており、この場合、カメラ(50a)の観点から光源(51a)が部分的に見えかつ部分的にリング(30)によって妨げられ、これにより、リングの軸方向に面した側面(43)の輪郭の少なくとも部分を見せるようになっており、リング(30)、すなわち前記輪郭の部分の画像を撮影するためにカメラを使用するステップと、このように撮影された画像を分析することによって、特に理論的に所望の形状からの実際の形状のずれを検出することによって、前記輪郭の部分の形状にリング(30)の品質を関連づけるステップとを有する、駆動ベルト(3)製造プロセスにおいて又は駆動ベルト(3)製造プロセスのために製造されたリングコンポーネント(30)の品質を検査するための方法を提供する。
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【課題】装置の冗長性及び長期安定性を確保しつつ、基板表面Wa上又は裏面Wb上の欠陥を区別することができる。
【解決手段】基板表面Waに検査光L1を照射した場合の光検出信号から表面照射検出欠陥の位置、基板裏面Wbに検査光を照射した場合の光検出信号から裏面照射検出欠陥の位置を算出し、その表面照射検出欠陥の位置及び裏面照射検出欠陥の位置の位置関係をパラメータとして、表面照射検出欠陥及び裏面照射検出欠陥が前記各測定系により共通して検出された同一欠陥であるか否かを判断する。 (もっと読む)


【課題】基板の欠陥が表面の欠陥なのか裏面の欠陥なのかを区別できる検査装置を提供することにある。
【解決手段】 反射光の偏光依存性の最も大きくなるブリュースター角に近くなるよう設置した光源と、その反射光を撮影する偏光カメラを用いて、表面の欠陥なのか裏面の欠陥なのかを判別する。 (もっと読む)


【課題】ほこりと傷とを区別して検査することができる技術を提供することを課題とする。
【解決手段】金属ベルトの検査装置20は、ベルト走行機構21と、走行中の金属ベルト30を囲うように配置されている4個のカメラ(第1ランプ付きカメラ40、第2ランプ付きカメラ45、第3ランプ付きカメラ50、第4ランプ付きカメラ)とからなる。
【効果】第1〜第3ランプは互いに異なる色の光を発射し、第1〜第3カメラはカラーカメラである。金属ベルトに付着したほこりは、無彩色の凸像となって現れ、金属ベルトに付いた傷は、有彩色の暗い像となって現れる。画像処理装置で、ほこりと傷とを識別させる。 (もっと読む)


【課題】部品の表裏二面あるいは両端面の形状異常あるいは傷の有無を簡単に検出する部品検査装置の提供。
【解決手段】本発明は、保持穴8aが周縁に複数個設けられた回転ディスク8を直立するように配置する一方、この保持穴8aに両端面が検査対象面となるスタッドピン1aを供給する部品案内シュート5を配置するとともに、保持穴8aの通過位置の2個所に回転ディスク8を挟むように第1カメラ12および第2カメラ14を配置し、これらカメラ12,14で取り込んだ画像データによりスタッドピン1aの両端面を検査するように構成されている。そのため、スタッドピンがカメラの前方を通過する際に、スタッドピン1aの両端面を露出させることができ、スタッドピン1aの両端面の状態を画像データとして取り込み、この画像データからスタッドピンの両端面の形状異常あるいは傷の有無を未検査部分なく確実に検出することができる。 (もっと読む)


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