【課題】金属又は半導体の原子又は分子１〜２層からなる量子構造を評価する方法、該評価方法を用いて量子構造を製造する方法、及び該製造方法によって製造される量子構造を提供する。
【解決手段】金属又は半導体が金属又は半導体の融点又は分解温度より高い温度の基板の表面に蒸着されることで形成された金属又は半導体の原子又は分子１〜２層からなる薄膜と基板とからなる積層体を高温に保持することで薄膜を構成する金属又は半導体を脱離させる過程において、波長及び偏光を制御した照射光を積層体の薄膜側の面に照射し、照射光が積層体で反射されることによって得られる反射光を検出することで求められる擬誘電関数の時間変化、及び照射光の波長から薄膜の量子構造を評価する、量子構造の評価方法、該評価による結果を製造工程にフィードバックして量子構造を製造する方法、及び該方法で製造される量子構造とする。 （もっと読む）

【課題】測定に際して身体当接部材を測定部位における所定の位置及び向きに配設でき、しかも常時設定押圧力で押圧して測定できる皮下脂肪厚測定装置の提供を目的とする。
【解決手段】装置本体２と、ベルト状の保持部材６とを備えている。装置本体２は、測定本体部３と、身体当接部材４と、エアバッグ５とを備えている。エアバッグ５は、エアが送り入れられて膨張する際に、身体当接部材４を測定部位に設定押圧力で押圧するように構成されている。 （もっと読む）

【課題】単一の光検出手段を回転させて測定する構成でありながらも、各測定角度位置での光量ばらつきを抑えることができ、Ｓ／Ｎ比を高く保って測定精度を担保できる粒子物性測定装置１を提供する。
【課題を解決するための手段】
照射光学系機構２として入射側偏光子２４及び入射側１／４波長板２５を有するとともに、受光光学系機構３としてセル４を中心に複数の角度位置に回転可能な出射側１／４波長板３３及び出射側偏光子３４を有する粒子物性測定装置１において、各測定角度位置での検出光強度の補正パラメータをそれぞれ記憶している補正パラメータ記憶部５５を設け、前記各測定角度位置での各偏光角度それぞれにおける検出光強度である試料検出光強度及び前記補正パラメータに基づいて前記粒子の形状に係る物性を算出するようにした。 （もっと読む）

【課題】小容積サンプルおよび大容積サンプルの双方の分光測光を可能にする。
【解決手段】容器（７２）内にサンプル（５）が含まれるモードまたは表面張力により２つの対向するペデスタル（Ａ’，Ａ’’）の間にサンプル（５）を保持するモードのいずれかでサンプル（５、５’）を選択的に測定するデュアルモードの方法および装置が提供される。いずれのコンフィギュレーションにおいても、かかるモードは光源システムから小容積または大容積サンプルを通り分光計に基づくシステムまでの光路を更に含む。かかるシステムは、所定の波長に対し、約０.００５〜約２.０の吸光度単位の範囲の吸光度を有するサンプルをユーザーが測定することを可能にする。 （もっと読む）

【課題】光検出手段が単一の構成でありながらも測定精度を担保でき、しかも光学素子の数を可及的に減少させてコストアップの抑制や調整箇所の低減を図ることが可能な粒子物性測定装置を提供する。
【解決手段】
照射光学系機構２として入射側偏光子２４及び入射側１／４波長板２５を有するとともに、受光光学系機構３としてセル４を中心に複数の角度位置に回転可能な出射側１／４波長板３３及び出射側偏光子３４を有する粒子物性測定装置１において、光路上に変更状態を変化さセル４ことのない減光手段２３を設け、各測定位置での検出光強度が光検出手段３１の測定レンジ内に収まるように、減光手段２３による減光率を制御するようにした。 （もっと読む）

【課題】 冷却機構なしで暗電流を減らし、受光感度を波長１．８μｍ以上に拡大したＩｎＰ系フォトダイオードを用いて、食品の品質を高感度で検査することができる食品品質検査装置等を提供する。
【解決手段】 受光層３がＩＩＩ−Ｖ族半導体の多重量子井戸構造を有し、ｐｎ接合１５は、不純物元素を受光層内に選択拡散して形成したものであり、受光層における不純物濃度が、５×１０^１６／ｃｍ^３以下であり、食品品質検査装置は、波長３μｍ以下の水の吸収帯に含まれる、少なくとも１つの波長の光を受光して、検査をすることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】対象の形状と光学成分とを同時に取得できるイメージ分光器において、センサ近接場光の制御を可能にする装置を提供する。
【解決手段】イメージ分光器は、対象からの光を受ける対物レンズからの光を二次元平面で多数の微小区域に分割するマイクロレンズアレイと、各マイクロレンズアレイを透過した光から近接場光を得るスリットアレイを配置してあり、顕微鏡下での細胞の蛍光局所やフォトルミネッセンス、ラマンなどへの応用される。 （もっと読む）

【課題】ウェハ上の回折構造体の格子型パラメータを決める。
【解決手段】半導体ウェハ１２上の回折構造体１２ｃからの回折の前に、必要な場合は、分光反射率計６０または分光エリプソメータを使って構造体の下に位置する膜１２ｂの膜厚と屈折率とをまず測定する。そして、厳密なモデルを使って回折構造体の強度またはエリプソメトリックな署名を計算する。次に、偏光放射線および広帯域放射線を用いた分光散乱計を使って回折構造体を測定して回折構造体の強度またはエリプソメトリックな署名を得る。この署名をデータベース内の署名と適合させて構造体の格子型パラメータを判定する。 （もっと読む）

【課題】少ない情報で波形ライブラリの作成を可能にし、かつ、小さな波形ライブラリで高い計測分解能を達成する。
【解決手段】プロセスパラメータを変化させてパターンの断面形状をシミュレーションにて予測し、予測した断面形状から分光波形をシミュレーションにて算出し、各プロセスパラメータに対応づけることにより波形ライブラリを形成する。該波形ライブラリを参照することにより、所望の形状が得られるように設定されたプロセスパラメータを用いて実際に作成された計測対象としてのパターンから実際に取得した分光波形に対応する最適なプロセスパラメータを算出し、得られた最適なプロセスパラメータに対応する最適なパターン断面形状を生成して計測を行う。 （もっと読む）

【課題】 簡易な構成により、光源の光量変動や輝度ムラによる影響を取り除いて、検出された測定対象を透過する光の透過率を高精度に求める。
【解決手段】 シート材９の幅方向に沿って、シート材９の一方の端縁から他方の端縁に至るまでの範囲に光を照射する面光源部３と、シート材９を介して面光源部３からの出射光を受光できる位置に設置されて、シート材９を透過する光を検出する検出用撮像部１と、シート材９を介さずに面光源部３からの出射光を受光できる位置に設置され、面光源部３の出射面４の光量を測定する補正用撮像部２とを備える。 （もっと読む）

【課題】非破壊、非接触で効率的にかつ高精度で透明導電膜の抵抗率を計測すること。
【解決手段】事前に行われた検査条件選定方法により選定された波長を有するＰ偏光の照明光を該方法により選定された入射角で、製造ラインを搬送される透光性基板上に製膜された透明導電膜に膜面側から照射する光照射装置３と、透明導電膜において反射された反射光を検出する光検出装置２と、検出した光の強度に基づいて該波長についての反射光の光量に係る評価値を算出し、評価値と抵抗率とが予め関連付けられている相関特性を用いて、算出した評価値から抵抗率を求める情報処理装置７とを具備する抵抗率検査装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】試料容器にシール性で問題を生じる窓を設けることなく、メニスカスの消滅と光散乱現象を定量的に正確に判断でき、光の外乱がない状態において臨界点を測定する。
【解決手段】試料容器１内の第１端面１３に光ファイバーからなる発光器３を設け、試料容器１内の第１端面１３と対向する第２端面１４に、高さの異なる位置に図中第１受光器５と第２受光器７と第３受光器９を互いに間隔を有して配置する。そのうちの第２受光器７は容器室内の高さ方向中間位置に配置する。試料容器１内の試料の温度及び圧力を任意に変化させ、各受光器の位置にメニスカスが存在するときに受光器は発光器の光を検出せず、また臨界点の時試料が散乱状態となって発光器の光を検出しないことを利用し、また、臨界点の密度より小さいときメニスカスが下方に移動し、大きいときに上方に移動し、臨界点密度のとき容器の中間位置において移動しないことを利用して臨界点を検出する。 （もっと読む）

【課題】部分的に活性化されたドープ半導体領域の活性化の程度および活性ドーピングプロファイルを非破壊的手法で決定するための方法及び／又は手順を提供する。
【解決手段】ほぼ同じ既知の注入されたままの濃度および、既知の変化する接合深さを有する少なくとも２つの半導体領域のセットを用意する工程１０、これらの領域のうち少なくとも１つについて、注入されたままの濃度の決定工程２０、前記セットのうち少なくとも２つの半導体領域をＰＭＯＲ技術により部分的に活性化させる工程３０、反射プローブ信号の符号付き振幅を接合深さの関数として、少なくとも２つのレーザ間隔値について測定および／またはＤＣプローブ反射率を接合深さの関数として測定する工程４０、これらの測定値から活性ドーピング濃度を抽出する工程８０、全体の注入されたままの濃度および活性ドーピング濃度を用いて、不活性ドーピング濃度を計算する工程９０を含む。 （もっと読む）

【課題】粉粒体を空隙部が存在しない状態で収納部に収納し得る品質計測用の粉粒体収納容器を提供する。
【解決手段】上方が開口されかつ底壁５３ｂ及び側周壁５３ｃを備える収納部５３を有する容器本体５１と、収納部５３における開口５３ａを開閉自在でかつ閉じ姿勢にて容器本体５１に固定装着自在な蓋体５２とが設けられ、容器本体５１が、収納部５３に測定対象としての粉粒体を収納しかつ蓋体５２を閉じ姿勢にて固定装着した状態において、品質計測装置における装填箇所に着脱されるように構成された品質計測用の粉粒体収納容器であって、収納部５３の側周壁５３ｃにおける周方向の少なくとも一部が、後退弾性変位自在な後退変位壁部５３Ｆに構成されている。 （もっと読む）

【課題】安価で、測定が簡便なすす濃度測定装置を提供する。
【解決手段】試料ガスＧに測定光Ｉを入射させる光源２と、試料ガスＧで生じた第１の角度θ１における散乱光の強度を検出する第１散乱光受光器３θ１と、試料ガスＧで生じた第２の角度θ２における散乱光の強度を検出する第２散乱光受光器３θ２と、第２散乱光強度に対する第１散乱光強度の比からすす寸法を求める寸法比例式に第１散乱光受光器３θ１と第２散乱光受光器３θ２が検出した第１散乱光強度及び第２散乱光強度を代入して試料ガスＧ中のすす寸法を演算すると共に、第１散乱光強度又は第２散乱光強度からすす濃度を求める濃度比例式に当該受光器が検出した当該散乱光強度を代入して試料ガスＧのすす濃度を演算する演算器４とを備える。 （もっと読む）

【課題】多相システムの性質を決定するための方法及び装置を提供する。
【解決手段】多相システムに関する性質を決定するための方法及び装置が提供される。方法では、それぞれが多相システムのサンプルを含むサンプルチューブのアレイが形成される。反復過程が、それぞれのサンプルに対する透過及び／後方散乱した値の少なくとも２つのデータセットを生成するために用いられ、それぞれのサンプルに対するデータセットが、サンプルの少なくとも１つの性質を決定するために処理される。装置は、サンプルチューブのアレイがその上で組み立てられるサポートと、波ソース及びそれぞれのサンプルに対する透過及び／又は後方散乱した値のデータセットを生成する少なくとも１つの波検出器と、波ソースを反復して操作して、それぞれのサンプルに対するデータセットを処理してサンプルの少なくとも１つの性質を決定するコンピュータ手段とを備える。 （もっと読む）

【課題】超音波変調光断層画像化装置において、装置を低コスト化する。
【解決手段】被検部に測定光を照射する測定光照射手段と、前記被検部に超音波を照射する超音波照射手段とを有し、測定光と超音波との被検部内における相互作用により変調された超音波変調光の検出信号に基づいて、被検部の断層画像を取得する超音波変調光断層画像化装置において、測定光の変調と超音波の変調によるヘテロダイン信号を検出し、ヘテロダイン信号の周波数解析を行うことにより断層情報を取得する。 （もっと読む）

【課題】生体分子とセラミックス材料との微視的な生体適合性を高精度に評価できる評価方法及び評価装置を安価に提供する。
【解決手段】判定装置１は、光学プリズム２の一面に金属薄膜３及びセラミックス薄膜４が配置されたＳＰＲ素子５を備える。セラミックス薄膜４上には、緩衝液７及び生体分子溶液８を注入又は排出させるための注入口６ａ又は排出口６ｂを備えたセル６が配置される。光源１０から発生させられる入射光１３は絞り１１及び偏光子１２によってｐ偏光の光波とする。生体分子８と薄膜４との相互作用が起こり、被分析対象の屈折率等が変化した場合には、表面プラズモン波が励起される入射角度が変化するため、生体分子８が薄膜４上に吸着したかどうかを確認できる。反射光１４は光検出器１５に入射され、入射角度の変化に対応する反射光１４の反射光強度が測定される。 （もっと読む）

血液サンプルを溶血させその少なくとも１つのパラメータを測定する装置（１００）は、血液サンプルを収容するサンプルチャンバ（１０２）を備える。サンプルチャンバは、第１の側壁（１０４）および反対にある第２の側壁（１０６）を有する。装置は、第１の側壁と第２の側壁の間にもたらされる血液サンプルを溶血させるように第１の側壁および第２の側壁に超音波を発生させる超音波手段（１２０、１２２）をさらに備える。さらに、装置は、溶血された血液サンプルが第１の側壁と第２の側壁の間にもたらされるとき、その溶血された血液サンプルの少なくとも１つのパラメータを測定する、光学測定手段（１４２、１４４）を備える。装置の超音波手段は、第１の側壁に超音波を発生させる第１の超音波手段（１２０）、および第２の側壁に超音波を発生させる第２の超音波手段（１２２）を備える
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【課題】周囲の環境の変化により水分を含有しうる量が変化する毛髪などの対象物質の保湿力、すなわち該対象物質の含有する水分量を保つ力を簡易に測定する方法を提供する。
【解決手段】測定対象物質に対して少なくとも２水準の絶対温度Ｔ（Ｋ）における基準水分データを求める段階、得られた各基準水分データの水分量ｗ（ｍｏｌ／ｋｇ）の対数
ｌｎｗ（ｍｏｌ／ｋｇ）を、１／Ｔ（Ｋ^-1）に対してプロットした直線の傾きを求めることを特徴とするによる保湿力測定方法。 （もっと読む）