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Fターム[2H052AC04]の内容

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Fターム[2H052AC04]に分類される特許

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【課題】標本上に照射する光の範囲およびスポットサイズを変更する。
【解決手段】光源11から発せられた照明光の偏向方向を変化させる光束偏向手段2と、該光束偏向手段2に対して光学的に共役な位置に配置され、照明光の波面を変調可能な波面変調素子4と、該波面変調素子4から射出された照明光を集光しフーリエ変換を施すフーリエ変換光学系5と、該フーリエ変換光学系5から射出された照明光に逆フーリエ変換を施して略平行光束にする逆フーリエ変換光学系7と、該逆フーリエ変換光学系7から射出された照明光を被写体Aに集光させる対物光学系8とを備え、フーリエ変換光学系5が、その逆フーリエ変換光学系7側の焦点位置を略一定位置に維持しつつ焦点距離を変更可能な可変機構5cを備える照明光学装置1を提供する。 (もっと読む)


【課題】対物レンズの設計に制約を設けることが無く、低倍率の顕微鏡でも中心部の光量の低下が少なく、フレアスポットを減少させることができる同軸落射照明装置を提供する。
【解決手段】顕微鏡システムで撮像される観察対象物に照明光を照射できる対物レンズ400を備える顕微鏡本体に組み込まれる同軸落射照明装置1であって、照射光を発生する光源100と、対物レンズ400の入射面側410に光源100の像を形成する照明レンズを含む照明光学系300とを有し、さらに光源100からの照明光を照明光学系300に向けて放出する円形の発光面210の中心部の発光を防ぐ遮断手段600を設ける。 (もっと読む)


【課題】複数波長の観察光を同時検出可能で省スペース化を図った共焦点顕微鏡。
【解決手段】照明光の一部を制限して複数のスリット光を形成する複数のスリットが形成された第1遮光部材10と、走査手段12と、走査手段12で走査された第1遮光部材10からの複数のスリット光を試料2に集光し、試料2上に前記複数のスリット光によるスリットパターンを投影する対物レンズ4と、第1遮光部材10と共役な位置に配置され、対物レンズ4で集光された試料2からの観察光束の一部を制限する複数のスリットが形成された第2遮光部材20と、第2遮光部材20の複数のスリットを通過した光を検出する検出器28aとを有し、前記第2遮光部材20の複数のスリットのうちの1つのスリットは、他のスリットと波長透過特性が異なる。 (もっと読む)


【課題】照明の高い均一性を維持しながら、照明範囲及びそれに付随する単位面積当たりの照明強度を調整し得る照明光学系の技術を提供する。
【解決手段】照明光学系1は、蛍光顕微鏡用照明光学系であって、光源11側から順に、照明光を射出する光源11と、複数の光源11の像を形成するオプティカルインテグレータ21と、リレーレンズ24と、変倍レンズ43と、対物レンズ30と、を含む。リレーレンズ24は、変倍レンズ43がない状態で、オプティカルインテグレータ21により形成される複数の光源11の像を対物レンズ30の瞳PLと共役とするように、構成されている。また、変倍レンズ43は、可変倍率を有するレンズ、または、異なる倍率を有するレンズと切り換え可能なレンズとして構成されている。 (もっと読む)


【課題】対物レンズ内の収差補正を行っても焦点が保たれる顕微鏡を提供する。
【解決手段】標本を載置するステージ502と、標本保持部材503Aの厚さ誤差を補正する収差補正レンズを有し、ステージに対峙している収差補正機能付対物レンズ506と、収差補正レンズを移動駆動させる電動移動手段509と、受光面に入射した光を検出する光検出手段535と、収差補正機能付対物レンズを通過した光を光検出手段の受光面に導く検出光学系534と、ステージと収差補正機能付対物レンズとの間隔を変化させる電動焦準手段501と、収差補正機能付対物レンズを通過した標本からの光を通過させ、標本の観察像を結像させる観察光学系533と、受光面での標本の像のコントラストを取得し、電動移動手段と電動焦準手段とを繰り返し制御し、観察像のピントを合わせ、観察像の収差の補正を行う処理手段540とを具備する。 (もっと読む)


【課題】光毒性の問題を解消しながら試料の明るい観察像を取得可能な共焦点顕微鏡を提供する。
【解決手段】光源からの照明光を制限する第1遮光部材10と、第1遮光部材10で制限された照明光を走査する走査ミラー12と、走査ミラー12で走査された照明光を試料2に集光する対物レンズ4と、試料2からの観察光を制限する第2遮光部材20と、第2遮光部材20で制限された観察光を検出する検出器28a,28bとを有しており、第1遮光部材10は複数のスリットが並んで形成された遮光部材であり、第2遮光部材20は第1遮光部材10の複数のスリットに対応する複数のスリットが並んで形成された遮光部材であることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】顕微鏡に設けられたピエゾ素子を高速駆動する場合に、ピエゾ素子の駆動振幅の減少を低減させる。
【解決手段】直動機構としてのピエゾ素子を所定周期で往復駆動させる場合、曲線C12に示すように駆動信号を余弦波とすると、ピエゾ素子の応答遅れによりピエゾ素子の駆動振幅の最大値が減少する。そこで、駆動信号全体の周期は固定したまま、駆動信号としての余弦波成分の周期を短くし、その分だけ余弦波の変化率が0となる部分に、値が一定である休止区間を挿入して、曲線C13に示す駆動信号を得る。この駆動信号によりピエゾ素子を駆動すれば、高速駆動により減少するピエゾ素子の駆動振幅の最大値の減少率を低減させることができる。本発明は、走査型顕微鏡に適用することができる。 (もっと読む)


【課題】 赤外光線束をより効率よく利用することができる赤外顕微鏡、及び赤外顕微システムを提供する。
【解決手段】 本発明の赤外顕微システム1は、FT−IR2の干渉計部22から供給された赤外光線束を実質的に平行光とした状態で小径に絞ることで、当該赤外光線束の光線密度よりも高い光線密度とされた高密度の赤外光線束を形成して導入する光学ユニット50を備えている。 (もっと読む)


【課題】画像取得のタイミングが異なる複数の画像情報取得方法によって特定の時刻に取得された複数の画像情報を容易に比較して観察する。
【解決手段】観察時間を計数するタイマ8と、標本Aの画像情報を取得する取得タイミングが異なるPMT16およびCCD4と、PMT16およびCCD4により画像情報が取得されたときに、取得された画像情報とタイマ8により計数された観察情報とを対応づけて記憶する記憶部9と、記憶部9に記憶されている画像情報どうしを、これらの画像情報に対応づけられている観察時間によって関連づける表示基準を設定し、設定した表示基準に基づいて画像情報どうしを時間情報によって関連づける制御部5と、制御部5により関連づけられた画像情報を表示するモニタ7とを備える観察装置1を提供する。 (もっと読む)


【課題】顕微鏡対物レンズをサンプルに合焦させるための装置を提供する。
【解決手段】顕微鏡対物レンズ(26)をサンプル(18)に合焦させるための装置が開示される。この装置には、本体(22)と、本体上で移動可能に支持され、かつ顕微鏡対物レンズ(26)を保持するように構成された対物レンズホルダ(24)と、顕微鏡対物レンズの光軸(O)に沿って対物レンズホルダ(24)を移動させるためのアクチュエータ(27)と、を有する位置決めユニット(20)が含まれる。対物レンズホルダは、サンプル(18)に面する、顕微鏡対物レンズ(26)の前部を保持する。 (もっと読む)


【課題】標本面の測定領域に照射される単位面積当たり光強度を正確に算出する技術を提供する。
【解決手段】顕微鏡から射出される光の強度を測定する光強度測定ユニット1は、開口絞り3と、視野絞り5と、開口絞り3と視野絞り5の間に配置される少なくとも1枚の測定レンズ4と、顕微鏡に装着するためのインターフェース部2aとを含んで構成される。開口絞り3は、少なくとも1枚の測定レンズ4の後側焦点面近傍に位置することで、対物レンズの瞳と同様に作用する。視野絞り5は、少なくとも1枚の測定レンズ4の前側焦点面近傍に位置することで、単位面積当たり光強度の算出に用いられる面積を確定する。 (もっと読む)


【課題】照明光の標本への集光性能を変化させることなく照明光を2次元的に走査する。
【解決手段】照明光Lの波面を変調する空間光変調素子14と、ミラー7a,7bの揺動により空間光変調素子14からの照明光Lを走査するスキャナ7と、該スキャナ7における像を対物光学系9の瞳位置にリレーするリレー光学系8と、空間光変調素子14上の像を固定してミラー7a,7bを揺動させた場合のリレー光学系8により対物光学系9の瞳位置にリレーされる像の移動方向とは逆方向に、ミラー7a,7bを停止させた場合の対物光学系9の瞳位置の像が移動するように空間光変調素子14上の変調領域を移動させる変調領域調節部10と、変調領域と空間光変調素子14上の照明光による照明領域とが一致するように空間光変調素子14に入射される光線Lを移動させる光線シフト機構5,10とを備える顕微鏡装置1を提供する。 (もっと読む)


【課題】サンプル構造の顕微鏡結像用の方法および装置を提供する。
【解決手段】サンプル構造34は、光学顕微鏡によって結像できる状態にすることができるマーカーを備え、マーカーが、光学顕微鏡結像の解像限界によって予め決定された最小距離より大きい、所定の活性状態が存在する場合に、サンプル構造34は、画像信号をそれぞれ生成するセンサ素子の配列40上に結像され、これらの画像信号は、全体において、サンプル構造34の単一フレームをもたらす。さらに、所定の活性状態の存在は、少なくとも2つのテスト単一フレームが、間隔を置いて生成され、かつ少なくともセンサ素子の一部に対して、2つのテスト単一フレーム間の画像信号におけるそれぞれの変化が検出されることによって、チェックされる。所定の活性状態の存在は、画像信号の全体における検出された変化が、所定量を超える場合に決定される。 (もっと読む)


【課題】アイレベルを低く抑えつつ、小型軽量化を図る。
【解決手段】対物光学系3により集光された無限遠光束Cの少なくとも一部を2回反射させる2つの反射面を備える反射部材7と、該反射部材7により2回反射された無限遠光束Cを集光する結像光学系9と、該結像光学系9により結像される被写体Aの像を拡大する接眼光学系11とを備え、反射部材7が、対物光学系3からの無限遠光束Cの少なくとも一部を反射させずに通過可能に設けられている接眼光学ユニット1を提供する。 (もっと読む)


【課題】焦点面上に所望の形状のビームスポットを形成できる顕微鏡を提供する。
【解決手段】照明光を空間変調する複数の領域を有する変調光学素子38と、変調光学素子38により変調される照明光の光学特性を調整する調整素子37とを備え、前記調整素子は、前記変調光学素子を透過した前記照明光が、前記変調光学素子の前記複数の領域間で、前記照明光の光軸を中心として透過率および位相の少なくとも一つの非対称成分が相殺されるように調整される。 (もっと読む)


【課題】短時間で蛍光観察が可能な手術顕微鏡を提供する。
【解決手段】手術顕微鏡3は、観察対象Tからの光を接眼部15に導く通常光路Aと、通常光路Aから分岐する第1の副光路Rと、通常光路Aに合流する第2の副光路B1(B2)と、第1の副光路Rからの光を用いて観察対象Tを撮影する撮影部16と、撮影部16の映像信号に基づいた画像を第2の副光路B1(B2)に向かって表示する表示部21と、通常光路Aと第1の副光路B1(B2)の分岐点Gから退避可能に設けられ、反射により通常光路Aを屈曲させる反射手段11とを備える。第1の副光路B1(B2)は分岐点Gにおいて、反射前の前記通常光路A1の延長線上に位置する。 (もっと読む)


【課題】STED光シートを用いるSPIM顕微鏡を提供する。
【解決手段】y方向の照明光源とz方向検出光カメラとを有するSPIM顕微鏡(選択的面結像顕微鏡)が開示される。xスキャナは、x方向に照明光線を走査することによって、連続的な光シートを生成する。STED失活光線を選択的にオンにすることによって、光シートを選択的に、より薄くすることができ、したがって、光学解像度を改善することができる。 (もっと読む)


【課題】液浸媒体の不足を検出する技術を提供することを課題とする。
【解決手段】合焦手段は標本Sを含む標本ユニットSUに液浸対物レンズ10bを合焦する。エンコーダ21及び座標検出部25は合焦された液浸対物レンズ10bの標本Sに対する光軸方向の相対的な座標である合焦座標を検出し、合焦座標記録部41は検出された合焦座標を記録する。液浸媒体充填判定部42は合焦座標記録部41に記録された合焦座標に基づいて標本ユニットSUと液浸対物レンズ10bの間が液浸媒体で満たされているか否かを判定する。これにより、顕微鏡システム1は液浸媒体の不足を検出することができる。 (もっと読む)


【課題】AF光の反射光量が小さい場合あっても、焦点位置誤差を検出してAF制御を行うことができるAF装置と、これを有する顕微鏡装置を提供すること。
【解決手段】被検物体からのAF光を検出するAF光検出装置と、前記AF光検出装置の信号に基づき焦点位置誤差を検出する焦点位置検出手段と、前記焦点位置誤差信号に基づき前記被検物体の所定位置に対物レンズの焦点位置を合焦させる合焦動作手段と、前記AF光の像が有する空間周波数成分を通過するフィルタ手段を有することを特徴とするAF装置。 (もっと読む)


【課題】テレセントリック光学系顕微鏡システムを用いながらも、観察対象物に対する焦点合わせを容易に実施できるような観察点焦点合わせ支援機能付きの工作機械を提供すること。
【解決手段】落射照明用の光源と光路とが設けられたテレセントリック光学系顕微鏡システムと、前記テレセントリック光学系顕微鏡システムの画像を撮影するCCDカメラと、前記落射照明用の光路に対して斜め方向から第1スポット光を投影させる第1スポット光源と、前記落射照明用の光路に対して斜め方向から第2スポット光を投影させる第2スポット光源と、を備える。第1スポット光も第2スポット光も、テレセントリック光学系顕微鏡システムの焦点レベルにおいて、テレセントリック光学系顕微鏡システムの画像内に入るようになっている。第1スポット光と第2スポット光とは、テレセントリック光学系顕微鏡システムの焦点レベルにおいて、互いに交差するようになっている。 (もっと読む)


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