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【課題】基準面と、基準面と同一の光路内にある対象面を良好に調整できる、光学系調整方法を提供する。
【解決手段】光学系調整方法は、観察対象の像を投影する投影面、パタンが形成されたマスク、及び、マスクと観察対象との間に設置され観察対象からの光を投影面に向けて反射するハーフミラーを有する光学系のマスクの表面を観察対象の方向から撮像する調整用カメラと、光学系に対する調整用カメラの位置を調整するステージと、投影面の位置を調整する調整手段とを有する調整装置における調整方法であって、投影面が取り付けられる前に、調整用カメラに撮像されたマスクの画像を基に調整用カメラの位置を調整するステップと、投影面が取り付けられた後に、調整用カメラに撮像された投影面の位置を調整するステップと、を有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】被検物を立体的に良好に観察する。
【解決手段】対物レンズ14を介して、それぞれ異なる方向から標本12を観察する一対の観察光学系13−1および13−2と、観察光学系13−1および13−2の光軸L1およびL2上にそれぞれ配置され、光軸L1およびL2を直交方向に移動させる円筒プリズム15−1および15−2と、円筒プリズム15−1および15−2による光軸L1およびL2の移動方向が互いに逆方向となるように、円筒プリズム15−1および15−2の傾斜角度を変更する傾斜機構とを備える。本発明は、例えば、実体顕微鏡に適用できる。 (もっと読む)


【課題】本発明では、タッチパネルを用いて電動ユニットの操作を行う場合のその操作性の向上させる顕微鏡コントローラを提供する。
【解決手段】顕微鏡コントローラは、タッチパネル部と、電動ユニットを操作するための操作機能をタッチパネル部の所定の表示領域に設定する機能設定部と、操作機能が設定された表示領域である操作表示領域に対して行われた物理的接触による入力を検出する入力検出部と、検出された入力結果に基づいて、操作表示領域への入力された位置を示す入力点の数及び該入力点の移動態様を判定し、判定された入力点の数に応じて、電動ユニットの動作態様を決定し、決定した移動態様に基づいて、電動ユニットの駆動を制御する指示を行うための制御指示信号を生成する制御部と、電動ユニットの動作を制御する外部装置に対して、制御指示信号を送信する通信制御部と、を備えることにより、上記課題の解決を図る。 (もっと読む)


【課題】ピンホールディスクを交換することなく、複数の対物レンズに対して最適なピンホール効果を得ることが可能な共焦点光スキャナを提供する。
【解決手段】複数のマイクロレンズが設けられたマイクロレンズディスク22と複数のピンホールが設けられピンホールディスク61を回転させ、前記ピンホールを通過した光を対物レンズ32を介して試料5に照射する共焦点光スキャナ6において、前記ピンホールは、前記ピンホールディスク61の厚み方向に応じて開口径が異なる。 (もっと読む)


【課題】 本発明は、顕微鏡の位置を容易に調節することができ、かつ収納することができる機構を備えた顕微鏡を提供することを目的とする。
【解決手段】 本発明は、顕微鏡本体と、前記顕微鏡本体を保持する顕微鏡保持部と、前記顕微鏡保持部に接続されたスライド収納機構とを備えた顕微鏡を提供する。また、本発明は、スライド収納機構が、該収納部の両側に設けられた固定レールと、該固定レールに沿ってスライド可能に支持される可動レールとから構成される、上記記載の顕微鏡を提供する。また、本発明は、スライド収納機構が多段階にスライド収納される、上記記載の顕微鏡を提供する。 (もっと読む)


【課題】対物レンズの退避作業を意識することなく、対物レンズの切り換えが容易に行える顕微鏡を提供すること。
【解決手段】対物レンズ切換機構部106と、ステージ103と、ダイヤル109と、ダイヤル109に連動し、対物レンズ切換機構部106をステージ103から離す退避動作と、離した状態を保持する保持動作と、相対距離を縮める復帰動作と、を行わせるカム機構部108と、保持動作の間に、ダイヤル109の回転に選択的に連動して、対物レンズ切換機構部106を回転駆動して、対物レンズ112の切り換え動作を行わせる順次動作機構部110とを備える。 (もっと読む)


【課題】 参照鏡面についたゴミなどが像面に映り込むのを防ぎ、良好な測定が可能な干渉対物レンズ及びこれを有する顕微鏡装置を提供する。
【解決手段】 対物レンズ系21と、対物レンズ系21と試料22との間の光路中に配置された光路分割プリズム23と、光路分割プリズム23によって分割された一方の分割光路中に配置される参照鏡24とを有し、光路分割プリズム23によって分割された他方の分割光路中に配置される試料22からの反射光と、参照鏡24からの反射光とを干渉させる干渉対物レンズ20において、参照鏡24は、透明の基板部材24aの裏面に反射膜24bが形成された裏面反射鏡であり、試料22と光路分割プリズム23との間に、裏面反射鏡の基板部材24aによって生じた光路差を補正する光路差補正部材25を有する。 (もっと読む)


【課題】反射光学系を併用した場合に撮像光学系のみを用いた場合と同じ像を得ることが可能なビデオマイクロスコープを提供する。
【解決手段】複数のレンズ21A〜21Eよりなる撮像光学系20の光軸OAを、載置面の上方斜めから載置面上の被写体に向ける。撮像光学系20の下端には、第1ミラー31および第2ミラー32よりなる反射光学系30を、反射光学系支持機構40により支持させると共に、撮像光学系20の光軸OAの回りに回転可能とする。撮像光学系20の上端には、CCDなどの撮像素子50を配置する。第1ミラー31の回転方向位置に応じて撮像素子50を撮像光学系20の光軸OAの回りに回転させることにより、反射光学系30の回転によって生じた被写体2の像の傾きを低減ないし解消させる。 (もっと読む)


【課題】歪のない画像を取得する。
【解決手段】レーザ光を走査する走査ミラーから試料に向かう光路に配置される集光レンズおよび対物レンズの間に形成される一次結像面に校正部材20を配置する。校正部材20は、レーザ光を観察視野内で走査する際に一次結像面をレーザ光が通過する通過範囲に対応して開口する開口部41と、開口部41の近傍に規定の間隔で複数のマークが印された校正用目盛り42−1乃至42−4とを有する。本発明は、例えば、走査型レーザ顕微鏡に適用できる。 (もっと読む)


【課題】目的とする蛍光を選択的に視野観察することが可能な蛍光顕微鏡装置を提供する。
【解決手段】磁気共鳴により蛍光強度が変動する蛍光体1を含む試料16に励起光を照射し、蛍光体1の蛍光を観察する光学顕微鏡3と、電子スピン磁気共鳴を発生させる高周波磁場を試料16に照射する高周波磁場発生部5と、高周波磁場を変調する変調信号を生成する変調部7と、高周波磁場を変調しながら光学顕微鏡3で観察した試料表面の光強度を複数の画素のそれぞれでサンプリング時間毎に検出する検出器9と、複数の画素の中から光強度の時系列変動が変調信号と互に相関している対象画素を抽出する処理ユニット10とを備える。 (もっと読む)


本発明は対象物を走査する装置に関し、この装置は、照明光ビーム(24)を解析対象となる対象物の領域に集束させる集束レンズ系(30)を備える。アクチュエータアセンブリが集束レンズ系(30)に連結され、所定の走査パターンにしたがって、前記集束レンズ系(30)を照明光ビーム(24)の基準位置における照明光ビーム(24)の中心軸に関して横方向に移動させる。前面ガラス(38)が、照明光ビーム(24)の方向に見た場合に集束レンズ系(30)の下流に配置される。内側浸漬剤(40)が集束レンズ系(30)と前面ガラス(38)との間に配される。外側浸漬剤(48)は、前面ガラス(38)と対象物との間に注入することができる。
(もっと読む)


【課題】コストの増大や取り扱いの煩雑化を招来することなく、操作部を顕微鏡本体から取り外した状態での操作性を向上させる。
【解決手段】ステージ15に対する対物レンズ20の対向位置及び対物レンズ20までの距離が変更可能となる状態でステージ15及び対物レンズ20を相対移動可能に支持する顕微鏡本体10と、XYハンドル600が操作された場合にステージ15に対する対物レンズ20の対向位置を変更する第1電動アクチュエータ101,102と、Zハンドル700が操作された場合にステージ15及び対物レンズ20の相互間距離を変更する第2電動アクチュエータ103とを備えた顕微鏡において、顕微鏡本体10に対して個別に着脱可能、かつ顕微鏡本体10から取り外した状態で相互に連結可能となるXYベース部材60及びZベース部材70を設け、XYハンドル600をXYベース部材60に設け、Zハンドル700をZベース部材70に設けた。 (もっと読む)


【課題】観察者が煩わしい確認作業を行うことなく、全反射照明観察と透過光観察とを容易に切り替える。
【解決手段】標本Aに対向して配置される対物レンズ35と、その入射瞳位置に、略平行光からなる照明光を入射させかつ対物レンズ35によって標本A上に集光して走査させる走査照明光学系6と、標本Aにエバネッセント光を入射させる全反射照明光学系5と、いずれかの光学系5,6を介した照明光の対物レンズ35への入射を切り替える入射切替手段7と、走査照明光学系6により走査され標本Aを透過した照明光を検出する透過用検出光学系37と、標本Aを挟んで対物レンズ35とは反対側に配置された開閉可能なカバー部材43と、その開閉を検出する開閉センサ44,45と、カバー部材43の開状態が検出されたときに、全反射照明光学系5を介した照明光の対物レンズ35への入射を遮断するシャッタ8とを備える顕微鏡装置1を提供する。 (もっと読む)


【課題】環境温度の変化に伴う誤検出を防止した対物レンズの調整方法を提供する。
【解決手段】結晶質の材料を用いたレンズを含む複数のレンズからなる対物レンズの調整方法であって、環境温度の変化によって対物レンズに生じる熱応力を求め、求めた熱応力から、当該熱応力により生じる対物レンズを通る光の状態変化を求める変化量算出ステップ(ステップS101〜S103)と、対物レンズを通る光の状態が環境温度の変化に拘わらず一定となるように、求めた光の状態変化を打ち消すような結晶質の材料を用いたレンズ(第9レンズ)の結晶方位を算出する調整量算出ステップ(ステップS104)と、算出した結晶方位が得られるように結晶質の材料を用いたレンズ(第9レンズ)を光軸回りに回転させる調整ステップ(ステップS105)とを有している。 (もっと読む)


【課題】光量を低下させることなく、均一化された照明光を照射することができる顕微鏡を提供する。
【解決手段】インコヒーレント光Iを発するインコヒーレント光源31と、インコヒーレント光Iを入射させ、入射させたインコヒーレント光Iを繰り返し全反射させて導光する光ファイバ35と、導光されたインコヒーレント光Iを反射又は透過する微小可動ミラーが複数配列されたDMD37と、DMD37により反射又は透過されたインコヒーレント光Iを標本19に照射する一方、標本19からの蛍光Fを集光する対物レンズ18と、集光された標本19からの蛍光Fとインコヒーレント光Iとを分岐するダイクロイックミラー17と、DMD37と共役な位置に配置され、ダイクロイックミラー17により分岐された標本19からの蛍光Fを検出するCCDカメラ13とを備える顕微鏡1を採用する。 (もっと読む)


【課題】試料表面を正確に検出することができるレーザ共焦点顕微鏡及び表面検出方法を提供する。
【解決手段】照明光を射出するレーザ光源2と、試料11に照明光を照射する対物レンズ10と、対物レンズ10の焦点位置と試料11の間の距離を変化させるステージ17と、レーザ光源2と対物レンズ10の間に配置され光を偏光特性で分離する偏光ビームスプリッタ3と、偏光ビームスプリッタ3と対物レンズ10の間に固定されたλ/4板7と、偏光ビームスプリッタ3と対物レンズ10の間で挿脱可能なλ/4板8と、焦点位置と光学的に共役な位置に配置された共焦点絞り13と、共焦点絞り13を通過した試料11からの検出光の強度に応じた信号を出力する光検出器14と、を含んでレーザ共焦点顕微鏡を構成する。多重反射試料を観察する場合にλ/4板8を偏光ビームスプリッタ3と対物レンズ10の間に挿入して観察する。 (もっと読む)


【課題】遮光または試料環境を維持することが可能な光学顕微鏡の小型化および低コスト化を図る。
【解決手段】試料Aを載置するステージ4と透過照明光学系6と結像光学系7とを有する顕微鏡2と、該顕微鏡2を取り囲むハウジング3とを備え、ハウジング3が、固定ハウジング24と、可動ハウジング25とを備え、透過照明光学系6または結像光学系7を構成する光学部品のうち、ステージ4の上方に配される少なくとも一部の光学部品が移動可能に設けられ、可動ハウジング25が固定ハウジング24に対して開かれた位置に配置されたときに一部の光学部品をステージ4の上方から退避させ、閉じられた位置に配置されたときに両光学系の光軸を略一致させる切替機構を備える光学顕微鏡装置1を提供する。 (もっと読む)


【課題】測定結果の個人差を低減し、測定作業の負荷を低減することが可能な視準板、及び、この視準板を用いた顕微鏡装置を提供する。
【解決手段】測定顕微鏡装置100は、被測定物体Sからの光を対物レンズ31を介して集光して当該被測定物体Sの光学像(拡大像)S′を結像する結像光学系と、拡大像S′と略一致するように配置され、視準線34aが形成された第1の面(視準面)34並びに平面部35a及び少なくとも1つのレンズ部35bが形成された第2の面(拡大面)35を有する視準板33と、光学像S′を観察する接眼レンズ36と、を有する。 (もっと読む)


【課題】縮めた場合に遮光部材の相互の壁が接し、屈曲部の位置がずれて醜く歪むことのない蛇腹形式の遮光部材を有する顕微鏡および顕微鏡鏡筒を提供する。
【解決手段】リフト固定部材17と、リフト固定部材17に対して移動可能なリフト移動部材16と、リフト固定部材17とリフト移動部材16との間に設けられ、蛇腹状の伸縮自在な遮光部材18を備えており、遮光部材18の屈曲部18aが壁部18bよりも肉薄であり、この肉薄の屈曲部18aで折り畳まれる。 (もっと読む)


【課題】標本へのダメージおよび蛍光の退色を抑制しつつ、環境光による影響を排除して安定した観察を行うことができるレーザ走査型顕微鏡を提供する。
【解決手段】標本Aを収容し、内部の温度および湿度を維持可能な培養容器6と、培養容器6に隣接して配置され、培養容器6と光学的に接続された光学系空間5とを備え、光学系空間5に、極短パルスレーザ光を標本A上で2次元的に走査するスキャナ22と、走査された極短パルスレーザ光を標本Aに集光させる一方、標本Aからの光を集光する対物レンズ15と、スキャナ22と対物レンズ15との間に設けられ、標本Aからの光とレーザ光とを分岐するダイクロイックミラー53と、分岐された標本Aからの光を検出する光検出器55と、光学系空間5を囲うように設けられ、光学系空間5の外部からの光を遮断する外装カバー2とが備えられているレーザ走査型顕微鏡1を採用する。 (もっと読む)


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