説明

Fターム[2H097BB03]の内容

フォトレジスト感材への露光・位置合せ (19,491) | 露光部の制御 (1,168) | 感材に対する露光角度制御 (144)

Fターム[2H097BB03]に分類される特許

1 - 20 / 144


【課題】ステージの移動に伴って生じる振動に起因する処理精度の低下を適切に抑制できる技術を提供する。
【解決手段】描画装置1は、基板Wを水平姿勢で保持するステージ10と、ステージ10に保持された基板Wに対して光を照射して基板Wにパターンを描画する光学ユニット40と、ステージ10を光学ユニット40に対して相対移動させるステージ駆動部20と、移動されるステージ10の位置の変動を計測して位置変動情報を取得する位置変動情報取得部301と、ステージ10が移動される際に生じる振動成分のうち振動数が既知である対象振動成分の位相情報を、位置変動情報から特定する位相情報特定部302と、対象振動成分の位相情報に基づいてステージ10の振動状況を予測する振動予測部303と、予測された振動状況に基づいて、光学ユニット40による光の照射位置を補正する描画位置補正部304とを備える。 (もっと読む)


【課題】ディスク状磁気記録メディア用の微細パターンを回転ステージを回転させつつ電子ビーム走査により描画する際の周方向描画位置の精度を向上させる。
【解決手段】各半径位置の周方向の所定領域毎に、その所定領域が電子ビーム照射位置に位置する前に生じる所定のエンコーダパルスEnから所定時間Δtnの経過後(tn+Δtn)に、その所定領域の描画データ信号群に基づくパターン描画を開始することを原則とし、回転速度ムラに起因してある所定領域についての描画開始の基準となるエンコーダパルスEnから所定時間Δtnが経過する前に、その所定時間Δtnの経過後に生じるべきエンコーダパルスEn+1が生じた場合には、その発生時刻t'n+1にその領域のパターン描画を開始する。 (もっと読む)


【課題】単一の通過で高解像度、高速度の画像形成を可能にする、レーザベースの画像形成技法、及びリソグラフィ・マーキング装置を提供する。
【解決手段】所定のスキャン画像データに応じて2次元光場119を変調する光変調素子125−11〜125−43から成る2次元アレイを有する空間光変調器120を含み、画像形成面上に定められた細長画像形成領域167上へ、変調光をアナモフィックに画像形成して集光するために、アナモフィック光学システム130が用いられる。汚れを回避するために、画像形成面の移動は、画像位置コントローラ回路180によって、スキャン画像の画像特徴が画像形成面のスキャン間移動と同じ速度でスクロールされる(スキャン間方向に移動する)ように、光変調素子の変調状態と同期化され、それによって画像形成面の同一部分と一致した状態のままとなる。 (もっと読む)


【課題】第1に、マスクパターンのエッジ付近で生じる回折像の波形パターンのスイングを抑制し、露光対象基板上に形成されるパターンのエッジ形成位置のばらつきを低減することができ、第2に、マスクパターンのエッジ付近における回折像の波形パターンのスロープを急峻化することで、パターン線幅のばらつきを抑えることができるアライナ装置を提供する。
【解決手段】斜入射光学系40を駆動させて、少なくとも入射角度±θの2つの照明光で露光対象基板2を露光し、照明光の入射角度±θに応じて露光対象基板2上で略平行にシフトする2つの回折像を重複させ、これら回折像の回折によるスイングを抑制する構成としてある。また、偏光変換光学系20により、照明光の偏光方向を、マスクパターン1Aのエッジ1aと平行な方向に揃えて、露光対象基板2上に形成される回折像の回折によるスロープを急峻化する構成としてある。 (もっと読む)


【課題】露光装置より照射された平行光7を、被照射体6に傾斜させて出射するフォトマスク1であって、被照射体6を傾ける必要がなく、通常の密着露光装置で、1度の露光で多角度の斜め露光を、被写体6に対して行うことができるフォトマスク1を提供する。
【解決手段】透明基板の照射面側に、光透過部31のパターンが形成され、透明基板の出射面側の、パターンに対応した部位に斜面21、22が形成され、あるいは、さらに光透過部に、グレースケール膜が形成されていることを特徴とするフォトマスク。 (もっと読む)


【課題】周辺露光幅の不均一を簡便に把握することを可能とする周辺露光装置及び周辺露光方法を提供する。
【解決手段】フォトレジスト膜が形成された基板を基板保持回転部により保持するステップと、前記フォトレジスト膜を露光可能な露光光が、前記基板の周辺部に照射されるとともに前記基板の周縁の外側を通過するように、前記基板保持回転部により前記基板を回転しながら前記基板に向けて前記露光光を放射するステップと、前記基板の周縁の外側を通過した前記露光光に基づいて前記周辺部に照射される前記露光光の幅を検出するステップとを含む周辺露光方法により上記課題が達成される。 (もっと読む)


【課題】水平方向のサイズがコンパクトで、かつ、高精度な位置合わせを可能とする露光マスク保持装置及びこれを用いる露光装置を提供する。
【解決手段】マスク保持装置21は、リニアガイド機構24aが設けられたフレーム23と、フレーム23に対し鉛直方向に上下移動するZ軸移動部25と、Z軸移動部25の鉛直下方に位置すると共にZ軸移動部25に支持され、Z軸移動部25に対して鉛直軸周りの回転位置が調整されるθ軸移動部27と、θ軸移動部27の鉛直下方に位置すると共にθ軸移動部27に支持され、θ軸移動部27に対して水平面に対する傾きが調整されるチルト軸移動部29と、チルト軸移動部29の鉛直下方に位置すると共にチルト軸移動部29に支持され、チルト軸移動部29に対しY軸方向での位置が調整されると共に、下面で露光マスクMを保持する水平方向移動部31と、を備える。 (もっと読む)


【課題】マスクを用いることなく、1つの基板上の配向膜に複数の異なる配向領域を形成する。
【解決手段】光ビーム照射装置(20)から斜めに照射された直線偏光の光ビームにより基板(1)を走査して、基板に塗布された配向膜に液晶の配列方向を整える配向特性を付与する。光ビーム照射装置に、それぞれ異なる入射角度の光ビームを空間的光変調器(25)へ供給する複数の照明光学系を設け、各照明光学系から供給した異なる入射角度の光ビームを空間的光変調器によりそれぞれ変調して、照射光学系(26a,26b)からチャックに支持された基板へ複数の異なる入射角度の光ビームを照射する。 (もっと読む)


【課題】基板表面に形成されたレジスト膜の周縁部を短時間にて除去可能にすることができる熱処理方法および熱処理装置を提供する。
【解決手段】冷却プレート81に保持された基板Wの表面の全面にはほぼ均一な厚さにてレジスト膜RFが形成されている。フラッシュ照射部60は、投光光学系61を備えており、フラッシュランプFLから出射されたフラッシュ光を集光してレジスト膜RFの周縁部RFEのみに一括照射する。フラッシュ光照射により周縁部RFEはガラス転移点Tg以上に加熱され、脱保護反応によって現像液に溶解可能となる。フラッシュ光照射によるレジスト膜RFの周縁部RFEの加熱処理は処理時間が1秒以下の極めて短時間の処理であり、しかも周縁部RFEの全体に一括してフラッシュ光が照射されるため、その周縁部RFEを短時間にて除去可能とすることができる。 (もっと読む)


【課題】半導体リソグラフィにおいて、シリコンウェハに同一パターンを複数形成するときに破断を起こしにくいパターン配置方法及びパターニングされたシリコンウェハを提供すること。また、そのパターン配置方法が用いられた半導体デバイスを提供すること。
【解決手段】本発明によると、シリコンウェハに、第1の方向及び前記第1の方向に直交する第2の方向に平行に配置された複数のチップパターンを有し、前記複数のチップパターンは、前記第1の方向及び前記第2の方向に配置され、直線状に配置された一つ以上のパターンを含み、前記シリコンウェハのへき開面と前記シリコンウェハの前記パターンを配置する面とが直交する軸と、前記第1の方向とが、異なるように前記複数のチップパターンを配置することを特徴とするシリコンウェハが提供される。 (もっと読む)


【課題】サーボ領域を半径によらず一定の角度のパターンで形成することを可能にするとともに、データ領域を半径によらず一定の間隔のパターンで形成することを可能にする。
【解決手段】基板を回転させる回転機構と、移動機構と、電子銃と、電子線をブランキング制御信号に基づいてブランキングもしくは偏向制御信号に基づいて偏向、またはブランキング制御信号および偏向制御信号に基づいてブランキングおよび偏向させる偏向器と、ステージにおける描画半径位置に応じて変化する周期を有する第1基準クロック信号を発生する第1クロック信号発生回路と、第1基準クロック信号と独立な周期を有する第2基準クロック信号を発生する第2クロック信号発生回路と、第1基準クロック信号および第2基準クロック信号に基づいて、ブランキング制御信号および偏向制御信号のうちの少なくとも一方の制御信号を発生する制御信号発生回路と、を備えている。 (もっと読む)


【課題】回転傾斜露光装置において、液体槽に溜められた液体にレジストが浸されることなく、液体を介してレジストに露光光を照射することができるようにすること。
【解決手段】光出射部100からの光が液体槽40を通過して、液体中に浸されたレジスト防液構造体10の開口31aからマスクMを介してレジストRに照射される。レジスト防液構造体10は、防液部材30、回転モータ22等から構成され、防液部材30内に液体が浸入しないように、マスクMの透明基板が防液部材30の開口31aを覆い開口31aを密封する。回転モータ22が回転すると、ステージ部21は防液部材30と共に回転し、ステージ21上に載置されたマスクMとレジストRからなる被照射物Wが回転する。マスクMが開口31aを密封しているので、液体中にレジストRを浸すことなく大気中で露光するよりレジストRの表面に緩やかな斜面を形成することができる。 (もっと読む)


【課題】マイクロレンズアレイを使用した露光装置において、露光装置特性及び温度条件等の製造条件の変動に起因して、被露光基板の大きさの変動が生じても、マスクパターンの像を所定位置に合わせることができるマイクロレンズアレイを使用したスキャン露光装置を提供する。
【解決手段】スキャン露光装置は、複数個のマイクロレンズアレイ2が、露光すべき基板1の上方に、スキャン方向に垂直の方向に配列して支持基板に支持されている。そして、各マイクロレンズアレイは、その配列方向に対し、露光基板に平行の方向から傾斜することができるように支持基板に支持されている。これらのマイクロレンズアレイの傾斜角度は前記配列方向に関し、徐々に大きく又は小さくなるように構成されている。 (もっと読む)


【課題】被照射物やステージを液体に浸すことなく、レジストRへの光の入射角度を大きくすることが可能な回転傾斜露光装置を提供すること。
【解決手段】液体容器30に光入射窓31と光出射窓32を設け、光出射窓面を光入射窓面に対して傾斜させる。この光出射窓32に、マスクMをレジストRに密着させた被照射物Wを間に空気が介在しないように取り付ける。光出射窓32は液体容器30に回転ベアリング32aを介して回転可能に取り付けられており、液体容器30の光入射窓31に光照射部10からの光を入射させ、光出射窓32から光を出射させて被照射物Wに照射するとともに、被照射物Wを光出射窓32とともに回転させる。被照射物Wが光出射窓32に密着しているので、液体中に被照射物を浸すことなく、大気中で露光するよりレジストRの表面に緩やかな斜面を形成することができる。 (もっと読む)


【課題】少なくとも2つの交互材料の層を有する多層系を備えた反射面を基板上に含む紫外から極紫外までの波長範囲の反射光学要素、及び投影露光装置を提供する。
【解決手段】作動波長で屈折率の異なる実数部を有する少なくとも2つの交互材料の層(41,42)を有する多層系を備えた反射光学要素を提案し、作動波長である一定の入射角帯域幅分布を有する放射線は、反射光学要素上に入射することができ、反射面は、層(41,42)が第1の周期の厚み(P1)の交互材料を有する1つ又はそれよりも多くの第1の部分(A1)と、交互材料の層(41,42)が第1(P1)及び少なくとも1つの更に別の周期の厚み(P2)を有する1つ又はそれよりも多くの更に別の部分(A2)とを含み、反射面にわたる第1(A1)及び更に別の部分(A2)の配列は、入射角帯域幅分布に適応される。 (もっと読む)


【課題】複数の光学式変位計を用い、チャックのθ方向の傾きを精度良く検出して、基板のθ方向の位置決めを精度良く行う。
【解決手段】チャック10a,10bを、XY方向へ移動及びθ方向へ回転する移動ステージに搭載する。複数の光学式変位計(レーザー変位計42)によりチャック10a,10bの変位を複数箇所で測定し、移動ステージのθ方向の角度に応じて、光学式変位計毎に予め決定した補正値により、各光学式変位計の測定値を補正する。補正した測定値から、チャック10a,10bのθ方向の傾きを検出し、検出したチャック10a,10bのθ方向の傾きに応じて、移動ステージによりチャック10a,10bをθ方向へ回転して、基板1のθ方向の位置決めを行う。 (もっと読む)


【課題】フォトリソグラフィー法により、微細性、アスペクト比に優れ、且つ、外形形状となるフォトレジスト部に傾斜部が形成された電鋳型とその製造方法を提供する。
【解決手段】電鋳型1は、紫外線に対して透過性を有する基板2と、前記基板の表面に導電性を有し、かつ紫外線に対して透過性を有する導電膜3と、前記導電膜の上面に形成され、前記導電膜の上面から前記第1のフォトレジスト層4の上面に向かって傾斜する第1の貫通孔を有する第1のフォトレジスト層と、を備えることを特徴とする。 (もっと読む)


パターン発生器は、書込ツールと校正システムとを有する。書込ツールは、ステージ上に配列されたワークピース上にパターンを発生させるように構成される。校正システムは、書込ツールの座標系と、ステージおよびワークピースのうちの1つ上の校正プレートの座標系との間の相関を決定するように構成される。校正システムはまた、校正プレートの表面上の少なくとも1つの反射パターンから反射した少なくとも1つの光ビーム状の光相関信号、またはパターンに少なくとも部分的に基づき相関を決定するように構成される。
(もっと読む)


【課題】配向膜の光配向処理を効率的に行うことができる近接走査露光装置及び基板の製造方法を提供する。
【解決手段】近接走査露光装置1の照射部14は、光源41から照射された露光用光ELを反射部46、47で2方向に分岐させ、それぞれ異なる2方向から、1枚のマスクMに形成された第1のパターンP1、及び第2のパターンP2に照射して基板Wを露光する。 (もっと読む)


【課題】ワークがひずんでいる場合でもワークの被露光領域に応じてマスクのパターンを精度良く露光転写することができる露光装置及び露光方法を提供する。
【解決手段】ワーク12とマスク21の両アライメントマークをアライメント検出系52で検出する工程と、両アライメントマークのずれ量に基づいて、マスク21とワーク12の位置ずれ量とワーク12のひずみ量とを算出し、算出された位置ずれ量に基づいて、アライメントを調整する工程と、算出されたひずみ量に基づいて、光源61からの露光光の光束を反射する平面ミラー66の曲率を補正する工程と、を備える。曲率補正工程は、露光光束の光路ELにおいて平面ミラー66より露光面側からレーザー光Lを照射し、カメラ93によって撮像する工程と、平面ミラー66の曲率を補正した際に撮像されるレーザー光L、L´の変位量S1,S2を検出する工程によりひずみ量α、βと対応するように曲率補正する。 (もっと読む)


1 - 20 / 144