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Fターム[4K057DD04]の内容

エッチングと化学研磨(つや出し) (8,564) | ドライエッチング方式 (275) | イオンビームエッチング (49)

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【課題】チャンバ構成部品のような加工片の表面にテクスチャを設ける方法及びシステムを提供する。
【解決手段】本方法は、加工片をテクスチャ化チャンバへ供給するステップと、加工片の表面を横切って電磁エネルギのビームを走査させて該表面上に複数のフィーチャを形成させるステップとを含む。形成されたフィーチャは、一般的には凹み、突起、及びそれらの組合わせである。プロセスチャンバ内の汚染を減少させる方法も提供される。この方法は、1またはそれ以上のプロセスチャンバ構成部品の表面を横切って電磁エネルギのビームを走査させて該表面上に複数のフィーチャを形成させるステップと、1またはそれ以上のチャンバ構成部品をプロセスチャンバ内に位置決めするステップと、プロセスチャンバ内においてプロセスシーケンスを開始するステップとを含む。 (もっと読む)


【課題】優れた摺動特性と耐摩耗性の両立を図ることのできる摺動部材を提供する。
【解決手段】摺動面が、第1材料からなり複数の凹部が規則的に配列された基部1と、上記凹部を充填する第2材料からなる充填部2とを有し、前記第1材料は、金属材料、セラミックス材料、および炭素系材料よりなる群から選択される1種からなり、前記第2材料は、金属材料、セラミックス材料、および炭素系材料よりなる群から選択される1種以上からなり、前記第1材料と前記第2材料は、摩擦係数と硬度のうちの1以上が異なり、更には、前記基部1の表面と前記充填部2の表面が単一面を形成していることを特徴とする摺動部材。 (もっと読む)


【課題】 Taなどの高融点金属層とR−T−B系永久磁石が積層された高性能永久磁石薄膜を用いた、高加工精度の小型・高性能なマイクロデバイスを、低コストで大量に生産することができる、希土類永久磁石薄膜の製造方法の提供。
【解決手段】基板上に、厚さ500nm以下の希土類合金磁性層と、厚さ50nm以下の高融点金属層を含む多層構造を有する希土類永久磁石薄膜を形成し、前記希土類永久磁石薄膜上にフォトレジスト層を形成し、前記フォトレジスト層を露光、現像することによりパターニングし、前記パターニングされた前記フォトレジスト層をマスクとして、露出した前記希土類永久磁石薄膜をイオンミリングにより除去し、残存する前記希土類永久磁石薄膜上の前記フォトレジスト層を酸素プラズマアッシングにより除去する。 (もっと読む)


【課題】固体表面に存在する数10nm〜100μm程度の周期の表面粗さをガスクラスターイオンビームの照射によって低減する。
【解決手段】固体表面の法線とガスクラスターイオンビームとがなす角度を照射角度とし、固体とこの固体に衝突したクラスターとが相互作用する距離が飛躍的な増大に転じる照射角度を臨界角として、予め固体表面の形状データを取得する過程と、臨界角以上の照射角度で固体表面に対して、形状データに含まれる800nm以上1.1μm以下の範囲の周期をもつ表面の凹凸のうねりの方向と照射方向とを一致させてガスクラスターイオンビームを照射する照射過程とを有する固体表面の平坦化方法とする。この臨界角は70°である。 (もっと読む)


【課題】取付スペースが小さくて済み、かつ開閉動作時間も短いエッチング装置おけるシャッタ機構を提供する。
【解決手段】パレット22に複数のパーツを搭載し、パレット22の下方のイオンビーム発射装置から発射されたイオンビームIをパレット22の入射口23からパーツの底部に照射することによりエッチングを行うエッチング装置において、入射口23に配置されたシャッタ羽根14と、シャッタ羽根14が連結された回転アクチェータ12とを備え、回転アクチェータ12の回転によりシャッタ羽根14を、入射口23を開放する垂直位置と入射口23を閉鎖する水平位置とに回転駆動するようにした。 (もっと読む)


【課題】摺動部品表面への被加工材の凝着物が発生し難い摺動部品を提供する。
【解決手段】表面構造として、周期10〜100nm、深さ5〜50nmの第1周期構造と、周期100〜1000nm、深さ20〜500nmの第2周期構造と、周期1000〜10000nm、深さ100〜3000nmの第3周期構造のうち、少なくとも2種類の周期構造を有し、当該少なくとも2種類の周期構造のうち一方の周期構造上に他方の周期構造が形成されている表面構造を有する摺動部品である。 (もっと読む)


集積回路編集のための銅の集束イオンビームエッチング用のエッチング促進剤はイオンビームによる隣接する誘電体の損失を防ぎ、隣接面上のスパッタされ再堆積した銅を非導電性にして電気的短絡を回避する。促進剤は分子中にN−N結合を有し、約70〜220℃の沸点を有し、ヒドラジン及び水の溶液と、ヒドラジン誘導体と、メチル、エチル、プロピル及びブチルから選択された2つの炭化水素基によって飽和したニトロソアミン誘導体と、ニトロソアミン関連化合物と、四酸化窒素とを含み、好適にはヒドラジン一水和物(HMH)、ヒドロキシエチルヒドラジン(HEH)、CEH、BocMH、BocMEH、NDMA、NDEA、NMEA、NMPA、NEPA、NDPA、NMBA、NEBA、NPYR、NPIP、NMOR及びカルムスチン単独、又は四酸化窒素との組合せである。促進剤は高アスペクト比(深さ)の孔の銅をエッチングするのに有効である。
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【課題】密着性が充分な非晶質炭素被膜を被覆した非常に高い面圧下で使用される機械部品や、切削工具、金型を提供する。
【解決手段】非晶質炭素被覆部材の構造を、基材1上に周期律表第IVa 、Va、VIa 、IIIbおよびC以外のIVb 族元素のなかから選ばれた少なくとも1つの元素、またはこれらのなかから選ばれた少なくとも1つの元素の炭化物からなる中間層2が形成され、この中間層2上に非晶質炭素膜3が形成された構造とし、中間層2の厚さを0.5nm 以上10nm未満とする。 (もっと読む)


本発明は、無応力電気化学銅研磨(SFP)の処理、SFP処理の間に形成された酸化タンタル又は酸化チタンの除去、及び、XeFガス相エッチングバリア層Ta/TaN又はTi/TiN処理、からなる半導体処理の方法及び装置に関する。第1に、板状の銅フィルムの少なくとも一部がSFPにて研磨される。第2に、SFP処理の間に形成されたバリア金属酸化物がエッチング液によりエッチングされる。最後に、バリア層Ta/TaN又はTi/TiNがXeFガス相エッチングにより除去される。そのため装置は3つのサブ系からなり、それらは無応力銅電解研磨系、バリア層酸化物フィルム除去系、及び、バリア層Ta/TaN又はTi/TiNガス相エッチング系である。
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【課題】絶縁のために電圧等を印加する必要が無く、機械的強度の低下を抑えることができ、寄生容量を抑制可能な、互いに電気的に絶縁された複数の導電性領域を有する構造体及びその製法を提供する。
【解決手段】互いに電気的に絶縁された複数の導電性領域104を有する構造体は、導電性領域104の上面側に、可動に支持された可動子301が設けられ、可動子301は導電性領域104に対向する電極を有する。導電性領域104の下面を介して電気信号が授受可能に構成され、複数の導電性領域104間が、連続した酸化領域によって絶縁され、酸化領域は、複数の貫通孔103もしくは溝が形成された材料の酸化物102から成る。 (もっと読む)


【課題】ガスクラスターイオンビーム加工において、被加工物における目的の品質を確実に得る。
【解決手段】ガスクラスターイオンビーム9を被加工物11に照射して加工を行うガスクラスターイオンビーム加工装置Mにおいて、相対走査速度と照射ドーズ量との関係f1、被加工物11の回転軸からの距離と照射ドーズ量との関係f2、表面粗さや形状精度等の品質に影響するパラメータと照射ドーズ量との関係f3,f4,f5,f6を予め測定して記憶しておき、被加工物11に要求される品質と、関係f1から関係f6とに基づいて被加工物11に対するガスクラスターイオンビーム9の相対走査速度を決定し、この相対走査速度によるガスクラスターイオンビーム9の照射によって被加工物11の加工を行うことで、被加工物11に目的の品質を実現する。 (もっと読む)


【課題】被加工物の表面を粗面化することなく、ガスクラスターイオンビームの照射による所望の照射痕を得る。
【解決手段】ソース部1およびフィラメント6で生成されたガスクラスターイオンビーム8を加速電極7で加速して被加工物9に照射するガスクラスターイオンビーム加工装置Mにおいて、加速電極7の出射口と被加工物9との間に荷電粒子レンズ11を配置し、この荷電粒子レンズ11に設けられ、ガスクラスターイオンビーム8が通過する開口部の形状、および荷電粒子レンズ11と被加工物9との距離の少なくとも一方を制御することで、荷電粒子レンズ11の開口部を通過したガスクラスターイオンビーム8を選択的に被加工物9に照射して、被加工物9を粗面化することなく、所望の形状の照射痕を形成する。 (もっと読む)


【課題】 効率的で安定したイオンビームを用いた圧電振動子の周波数調整装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 周波数調整装置は、真空室1と、真空室内に設けられた斜めに配置されたイオンガン2と、水晶振動子3と、水晶振動子を搭載するパレット4と、パレット4を搬送する搬送機構と、捕捉体24を有し、真空室外部には周波数測定部6や真空ポンプ7あるいは不活性ガス供給部23等を有する構成である。イオンガンの複数のグリッド開口20aは全体として略菱形状に配置された構成で、各グリッド開口20aはその平面形状が楕円形状となっている。 (もっと読む)


【課題】高精度・高性能・高額な処理装置を用いないで、また精細で複雑な処理工程を必要としないで、簡素な手法で再現性良く微細な凹凸構造を形成する方法、及び前記方法によって形成された基板を提供する。
【解決手段】エッチング処理によって基板表面に凹凸構造を形成する方法であって、前記基板上に膜を成膜する工程、前記膜をエッチング処理することにより前記膜に微細な凹凸構造を形成する工程、及び前記膜に生じた微細な凹凸構造をエッチングマスクとして前記基板のエッチング処理を行う工程からなることを特徴とする基板表面に凹凸構造を形成する方法、並びに前記方法によって得られた凹凸構造を有する基板。 (もっと読む)


【課題】被加工物に対するガスクラスターイオンビームの照射位置を相対的に変化させながら加工する際における被加工物の加工精度を向上させる。
【解決手段】ノズル5から噴出するガス流から、タングステンフィラメント7、引出し電極8、加速電極9を用いてガスクラスターイオンビーム10形成し、アパーチャ22を介して姿勢制御装置13に保持された被加工物21に照射して微細加工を行うガスクラスターイオンビーム加工装置100において、加工中に、ガスクラスターイオンビーム10が出射される加速電極9から被加工物21の加工点に至る距離L(ガスクラスターイオンビーム10の飛程)を一定の距離L0に制御して、ガスクラスターイオンビーム10の飛程のばらつきに起因する加工量のばらつきを抑止し、被加工物21の高精度の加工を実現する。 (もっと読む)


【課題】異なる材料から成る被加工物の表面を平準化するミリング装置及びミリング方法の提供。
【解決手段】基板Sには、基板Sの加工面に対して略直交する方向に沿って、ラジカル源3からラジカルが供給され、基板Sの加工面に対して略並行な方向に沿って、中性粒子ビーム源4から中性粒子ビームNBが照射される。これにより、複数の材料から構成されている基板Sを加工する際に、基板Sのうち物理エッチングに対する耐性が低い材料が用いられている箇所を、ラジカルによって基板Sの加工面から略直交する方向に削りすぎることなく、物理エッチングに対する耐性が高い材料を削ることができる。さらに、化学的に安定した材料が用いられている箇所を中性粒子ビームNBによる物理エッチングによって補助的に加工することができる。よって、ラジカルによる加工量の偏りを中性ネオンビームNBによって補完し、基板Sの加工面を平らにすることができる。 (もっと読む)


【課題】光取り出し効率に優れた光学シート又はその原版として好適な凹凸パターンシート、及びその製造方法、光学シートの製造方法、並びに光学装置を提供する。
【解決手段】一方の面が、下記条件を満たす凹凸構造Xと凹凸構造Yが重畳した凹凸構造Zとされていることを特徴とする凹凸パターンシート。
凹凸構造X:凹凸の最頻ピッチPが2〜200μmであり、前記最頻ピッチPに対する最頻高さHの比Rが0.350〜0.714である1次元又は2次元の凹凸構造。
凹凸構造Y:凹凸の最頻ピッチPが3〜380nmであり、前記最頻ピッチPに対する最頻高さHの比Rが0.5〜10である2次元凹凸構造。 (もっと読む)


【課題】搬送ミスが少なくイオンビームによるエッチング処理時に被加工物の冷却を充分に行うことができるミリング装置の提供。
【解決手段】真空チャンバ20の外部にはロードロック扉41が設けられており、ロードロック扉41の開口部を、真空チャンバ20を画成する壁部20Aに密着当接させて密閉することで、当該壁部20Aの部分とロードロック扉41とでロードロック室40を画成する。当該壁部20Aの部分には開口20aが形成されている。開口20aは真空チャンバ20とロードロック室40とを連通するように壁部20Aを貫通して形成されている。開口20aに基板保持端部60Aを挿入し、鍔部65が開口20aを画成する壁部20Aの部分に密着当接することにより、真空チャンバ20内とロードロック室40内との連通が遮断される。 (もっと読む)


【課題】切削加工された被加工物の加工面に発生した虹目等の凹凸を、切削加工で創成した形状の悪化や損傷を生じることなく、一様に除去できる固体除去技術を提供する。
【解決手段】ガスクラスターイオンビーム10の照射経路上に、被加工物11が載置される回転ステージ12、この回転ステージ12が載置されたX軸ステージ13およびY軸ステージ14、Y軸ステージ14が載置されるブラケット15、ブラケット15が載置される揺動ステージ16、揺動ステージ16を支持するベース17を備える加工ステージ30を設け、被加工物11の加工面の加工後の表面荒さを加工前の表面粗さよりも悪化させない範囲に、被加工物11の加工面に対するガスクラスターイオンビーム10の照射角度が保たれるように被加工物11の姿勢を制御しつつ、被加工物11の加工面に存在する条痕による虹目を除去する。 (もっと読む)


【解決課題】従来以上の配向性を有し、かつ、高強度のエピタキシャル薄膜形成用の配向基板及びその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明は、金属層と、前記金属層の少なくとも一方の面に接合されたニッケル層とからなるエピタキシャル薄膜形成用のクラッド配向金属基板であって、前記ニッケル層は、結晶軸のずれ角Δφが、Δφ≦7°である{100}〈001〉立方体集合組織を有し、かつ、前記ニッケル層のニッケル純度が99.9%以上であるエピタキシャル薄膜形成用のクラッド配向金属基板である。この配向金属基板は、純度99.9%以上のニッケル板を冷間加工、熱処理して配向化熱処理を行った後、金属板と配向化処理したニッケル板とを表面活性化接合で接合することにより製造される。 (もっと読む)


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