【課題】レイテンシを増加させることなくデータの信頼性を確保する。
【解決手段】この情報処理装置は、誤り訂正情報付加手段と、誤り訂正情報付加手段から誤り訂正情報付データを入力し、誤り訂正手段と、誤り訂正手段から訂正後データを入力する第１データ経路と、入力データを主記憶手段及び誤り訂正手段を介さずに直接入力する第２データ経路が接続された緩衝用バッファと、緩衝用バッファに第１データ経路を介して訂正後データを入力する第１動作、及び第２データ経路を介して入力データを入力する第２動作の実行及び停止を制御する緩衝用バッファ制御手段と、を備える。 （もっと読む）

【課題】モジュールと本体側コネクタ間の接続不良に起因してモジュールが動作不良と判断されてしまうおそれがある。
【解決手段】サーバー１００は、複数の接点を介してメモリ装置１０が接続され、複数の接点を介してメモリ装置１０から複数ビットのデータが入力するコネクタ２０と、コネクタ２０を介して入力する複数ビットのデータに含まれるビットにエラーが生じているか否かを判断するビットエラー検出部４１と、ビットエラー検出部４１によりエラーが検出されたビットに対応する接点を含む第１配線と、ビットエラー検出部４１によりエラーが検出されなかったビットに対応する接点を含む第２配線と、に対してテスト波形を入力し、このテスト波形に応じて第１及び第２配線夫々にて生じる反射波のレベル差を評価することで第１配線の状態を判定する接続確認回路５０と、を備える。 （もっと読む）

【課題】メモリモジュールの故障に対して早急な処置を行うことを可能とし、情報処理システムの信頼性を向上させることを可能にするメモリコントローラ及び情報処理システムを提供する。
【解決手段】メモリコントローラ及び情報処理システムにおいて、メモリモジュールから読出されたデータのエラー検出を行うエラー検出部と、メモリコントローラを通常モードから故障検査モードに切り替え、複数の単位メモリ領域におけるそれぞれの検査対象のデータ記録済アドレスからデータを読出し、該読出しデータのエラーを前記エラー検出部により検出させて、故障検査を実行させる故障検査制御部と、故障検査制御部による検査結果における各単位メモリ領域のエラー検出状況に基づいて、メモリモジュール内部の故障に起因するメモリ故障と、メモリモジュール外部のデータ伝送路の故障に起因する伝送路故障を判定する判定部を備える。 （もっと読む）

【課題】不揮発性メモリの初期化の手順の簡略化を図るとともに検査装置を検査に必要な最少限の構成とする。
【解決手段】予め不揮発性メモリの特定の値を書き換える信号を電子制御装置に入力し、電源投入により不揮発性メモリに対してイニシャル処理を行い、イニシャル処理で不揮発性メモリの初期化が必要と判断されたとき、前記書き換え信号により、不揮発性メモリに対して不揮発性メモリの特定の値を書き換える初期化処理を行う。 （もっと読む）

【課題】アドレスのセットアップ（Ｓｅｔｕｐ）違反とホールド（Ｈｏｌｄ）違反が同じクロックのイベントに対して発生した場合に、アドレスのタイミング違反が発生しても、仮想イベントを発生させることなく、対象の違反アドレスを正しく判定する。
【解決手段】イベントドリブン方式を用いた論理シミュレーションに適用される半導体装置内蔵ランダムアクセスメモリのタイミング検証装置において、クロック信号にイベントが発生した場合、当該ランダムアクセスメモリのアドレス違反処理用レジスタに現状のアドレス情報を格納する。また、アドレスのタイミング違反を確認する。また、タイミング違反を確認した結果に基づき、タイミング違反時にアドレス違反処理用レジスタの値を不定値にする。また、タイミング違反レジスタの値に基づき、違反アドレスをチェックする。 （もっと読む）

【課題】システム稼動時、システムに搭載されているメモリモジュールに対して、メモリテストを実施することにより、訂正不可能なメモリエラー発生によるシステム停止を軽減する。
【解決手段】システム稼動時、システムに搭載されているメモリモジュールに対し、定期的あるいは要求があったときにメモリテストを実施する。テスト対象の各ＤＩＭＭ１０１〜１０６毎にメモリテスト不可フラグを持つ。エラーが検出されたらそのメモリモジュールを使用不可とするＤＩＭＭ番号使用可否テーブルを持つ。 （もっと読む）

【課題】ＲＡＭ故障を確実にかつ早期に検出する。
【解決手段】安全関連アプリケーション処理１１による安全関連データ領域２１内の安全関連データへのアクセス時に、安全関連データアクセス関数１３によって当該安全関連データの格納領域に関してダブルＲＡＭ方式のＲＡＭ診断を行う。これに加えて、ＲＡＭテストパターン診断処理１２によって、定期的に、各安全関連データの格納領域等に対して、複数のテストパターンを用いたＲＡＭ診断を行う。 （もっと読む）

【課題】システムプログラムの起動処理の完了までに掛かる時間を短縮し、画像処理装置を早く使用可能にすることができるメモリチェック方法および画像処理装置を提供する。
【解決手段】第１ステップＳ１として、メモリチェック回路により、ワーク領域についてメモリチェックを行うとともに、プロセッサにより、システムプログラムデータを第１バッファメモリに書き込む。第２ステップＳ２として、メモリチェック回路により、格納領域について、第１バッファメモリに書き込まれたシステムプログラムデータを用いてメモリチェックを行う。第３ステップＳ３として、メモリチェック回路により、イメージ領域についてメモリチェックを行うとともに、プロセッサにより、格納領域に書き込まれたシステムプログラムデータに基づいて、システムプログラムの起動処理を行う。 （もっと読む）

【課題】アドレスバスおよびデータバスの故障を検出する電子装置において、故障検出に係る処理負荷を低減し処理速度を向上する。
【解決手段】電子装置は、ＣＰＵとＲＯＭとを接続しアドレスを伝送する４つ以上のバスラインからなるアドレスバス２１を備える。電子装置は、アドレスバス検査用アドレスＡｄによって指定されるＲＯＭ領域１３ａから値を読み出し、読み出した値から計算した判定値Ｖｊと予め計算されたアドレスバス検査用正解値Ｖｔとを比較し、一致しない場合、アドレスバス２１が故障していると判定する。アドレスバス検査用アドレスＡｄは、４つ以上のバスラインに対応する４ビット以上の値であって、２ビット以上の０の値と２ビット以上の１の値とを有する値を含み、複数のバスライン間の短絡故障を同時に検出可能である。これにより、故障検出に必要な検査用アドレスＡｄの数を低減することができる。 （もっと読む）

【課題】本発明は、ＮＡＮＤ型フラッシュメモリの寿命管理を適切に行う画像処理装置、画像処理装置のメモリ管理方法、画像処理装置のメモリ管理プログラム及び記録媒体に関する。
【解決手段】画像処理装置１は、少なくともデータの書き込み及び読み出しの行われるＮＡＮＤ型フラッシュメモリ１７へのデータの書き込みにおいてＢＡＤ ＢＬＯＣＫが発生すると、ＣＰＵ１１が、該ＢＡＤ ＢＬＯＣＫの発生に関するＢＡＤ ＢＬＯＣＫ発生関連情報であるＢＡＤ ＢＬＯＣＫ発生回数とＢＡＤ ＢＬＯＣＫ発生間隔のうち少なくともいずれかを取得して、ＮＶＲＡＭ１４に記憶する。 （もっと読む）

【課題】半導体メモリに擬似的にエラーを発生させる擬似エラー発生装置を提供する。
【解決手段】乱数によって決定されるメモリのアドレスのデータの情報ビットと冗長ビットの両方を、エラー検出やエラー訂正しないで読み取り、同じく乱数によって決定されるビット位置のビットを反転させ、同じメモリの同じアドレスにビット反転させたデータを書き込む。反転させるビット数は、どのようなエラーを擬似的に発生させたいかによって、１ビット、２ビット以上など、適切に設定する。 （もっと読む）

【課題】起動時間を短縮しながら、チェック対象メモリにチェックされない領域が生じることを抑制する画像処理装置を提供する。
【解決手段】画像処理装置１０は、メモリのエラーをチェックする制御部８と、制御部８によりエラーがチェックされるチェック対象メモリ７とを備える。制御部８は、起動処理が実行されるときに、チェック対象メモリ７の一定領域をチェックし、起動処理が実行された後に予め設定された停止要因が発生した場合に、チェック対象メモリ７の一定領域以外の領域をチェックする。 （もっと読む）

【課題】起動時間を短縮しながら、チェック対象メモリのチェックを効率的に行う画像処理装置を提供する。
【解決手段】画像処理装置１０は、メモリのエラーをチェックする制御部８と、制御部８によりエラーがチェックされるチェック対象メモリ７とを備える。制御部８は、起動した後に、予め設定されたタイミングでチェック対象メモリ７のチェックを行い、チェック対象メモリ７の全領域がチェックされた場合は、次回起動時にチェック対象メモリ７のチェックを行わず、チェック対象メモリ７の全領域がチェックされていない場合は、次回起動時にチェック対象メモリ７の未チェックの領域をチェックする。 （もっと読む）

【課題】シリアルパラレル変換システムにおけるシリアル信号の変換処理に影響を与えることなく短時間で確実にＲＡＭの異常を検出する。
【解決手段】シリアル信号をパラレル信号に変換するシリアルパラレル変換回路１０１とＲＡＭ１２２の異常を検出する自己診断回路１０５と前記自己診断回路１０５で検出されたエラー情報が入力されるエラー制御部１０９とを備えたシリアルパラレル変換部１００と、前記シリアルパラレル変換回路１０１で変換されたパラレル信号が書き込まれるＲＡＭ１２２とを有するシリアルパラレル変換システムの異常検出装置において、前記自己診断回路１０５は前記シリアルパラレル変換回路１０１におけるシリアルパラレル変換処理期間にＲＡＭ１２２の異常診断をおこなう。 （もっと読む）

【課題】信号の位相差の調整又はテストを高精度且つ簡略に行える半導体集積回路を提供する。
【解決手段】半導体集積回路は、書き込みストローブ生成回路、書き込みストローブ遅延回路、書き込み用遅延回路、出力データ生成回路、データ入力回路、及び、入力データ比較回路を備える。前記書き込み用遅延回路は複数の書き込みテストクロック信号を生成する。前記出力データ生成回路は、対応する前記書き込みテストクロック信号にそれぞれ同期した複数のテスト出力データを生成する。前記データ入力回路は、前記複数のテスト出力データと前記テスト書き込み用ストローブ信号とに基づいて前記メモリに書き込まれた複数のテスト書き込みデータを並列に入力する。前記入力データ比較回路は、入力された前記複数のテスト書き込みデータと前記複数のテスト出力データとの対応するもの同士を比較して、一致した前記テスト出力データを特定する。 （もっと読む）

【課題】ホスト装置における外部記憶装置に対する故障例外処理プログラムの動作検証を容易化する。
【解決手段】外部記憶装置２は、ホスト装置１から送信されたコマンドに応じた制御処理を実行し、そのコマンドに対する応答データをホスト装置に送信するＣＰＵ２０と、そのコマンドに対する応答処理モードを指示するデータを記憶する応答処理モード記憶部２６と、応答処理モード記憶部２６により擬似故障応答モード設定されているときに、コマンドに対する応答データとして用いられる擬似故障応答データを記憶する擬似故障応答データ記憶部２５２と、を備え、ＣＰＵ２０は、ホスト装置１からのコマンドを受信したとき、応答処理モード記憶部２６により擬似故障応答モードが設定されていた場合には、コマンドに対する応答データとして、擬似故障応答データ記憶部２５２に記憶されている擬似故障応答データをホスト装置１に送信する。 （もっと読む）

【課題】正確なデータエラーに基づいてテストを実行することができるエラー訂正試験方法を提供する。
【解決手段】サーバ１が、特定のビットに第１の値が設定された第１のデータと、特定のビットに第１の値とは異なる第２の値が設定された第２のデータをＤＩＭＭ４に書き込む。疑似故障ツール３が、特定のビットに対応するＤＩＭＭ４の電極を第２の値を示すようにクランプする。サーバ１が、ＤＩＭＭ４から、第１のデータと第２のデータを読み出す。サーバ１が、エラー訂正回路が第１のデータのエラーを訂正することを確認する。 （もっと読む）

【課題】 システムメモリのメモリチェックとシステムプログラムの起動処理とを並列に行うことができるメモリチェック方法および画像処理装置を提供する。
【解決手段】 第１ステップＳ１として、メモリチェック回路２により、格納領域４１のメモリセルについてメモリチェックを行う。そして、第２ステップＳ２として、メモリチェック回路２により、ワーク領域４２のメモリセルについてメモリチェックを行うとともに、プロセッサ１により、第２不揮発性メモリ６内のシステムプログラムデータの、格納領域４１への転送を開始する。最後に、第３ステップＳ３として、メモリチェック回路２により、イメージ領域４３のメモリセルについてメモリチェックを行うとともに、プロセッサ１により、格納領域４１に転送、格納されたシステムプログラムデータに基づいて、システムプログラムの起動処理を行う。 （もっと読む）

【課題】ソフトエラー等による一時的な論理アドレスと物理アドレスとの誤変換によるデータの位置誤算出を防ぐことができて信頼性を保てるストレージ制御装置を提供する。
【解決手段】ストレージシステムは、記憶装置と、ストレージ制御装置を備え、ストレージ制御装置が、ホストから書き込み指示を受け取ったとき、ホストからの書き込み指示に含まれる論理アドレスを含む読み込み指示を記憶装置へ送るデータ読み込み指示手段と、データ読み込み指示手段からの読み込み指示に基づき、記憶装置が読み取った該当位置のデータに論理アドレスが含まれている場合に、ホストから受け取った書き込み指示に含まれる論理アドレスと読み取ったデータに含まれた論理アドレスとが異なるとき、システム領域からアドレス変換情報を読み出し、読み出したアドレス変換情報をメモリに書き込むアドレス変換情報訂正手段とを有する。 （もっと読む）

【課題】画像形成装置に搭載されるメモリのチェックについて、メモリの信頼性を確保しつつチェック時間を短縮すること。
【解決手段】画像形成装置１の不揮発性メモリ１３には、ＲＡＭ１４をチェックする処理の強度を示すチェックモードが記憶され、ＲＡＭチェック処理部１６はチェックモードに従ってＲＡＭ１４をチェックする。ＲＡＭチェックモード設定部１５は、メモリエラーが検出されたときには、不揮発性メモリ１３内に現在記憶されているチェックモードよりも強度の高いチェックモードを、不揮発性メモリ１３に書き出し、メモリエラーが検出されないときには、不揮発性メモリ１３内に現在記憶されているチェックモードよりも強度の低いチェックモードを、不揮発性メモリ１３に書き出す。 （もっと読む）