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Fターム[5E343DD25]の内容

プリント配線の製造 (50,760) | 導体パターンの形成方法 (7,103) | メッキ (3,277) | 乾式メッキ (552) | 蒸着 (519) | スパッタリング (291)

Fターム[5E343DD25]に分類される特許

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【課題】 金属層表面に微小な凹みが無い銅被覆ポリイミドフィルム基板の製造方法を提供し、金属層表面の凹みや配線パターニング時に欠陥を減少させる。
【解決手段】 ポリイミドフィルムを1級アミド化合物及びポリアルキレングリコールを含有する水溶液に浸漬させて洗浄する。洗浄するタイミングは、導体となる銅層を形成する前であれば、乾式法で1次金属層を形成する前でも良く、後でも良い。乾式法で1次金属層を形成する前後の2回処理することも有効である。 (もっと読む)


【課題】樹脂層と導電層との接着力を強化可能な配線基板を提供する。
【解決手段】配線基板2は、第1樹脂層6eと第1樹脂層6e上に形成された第1導電層7aとを備える。第1導電層7aは、周期表第4族、5族又は6族である遷移金属の炭化物を含み、且つ、第1樹脂層6eに接着する金属炭化物層7axを有する。第1樹脂層6eは、金属炭化物層7axが接着した第1領域6ejと、第1領域6ejよりも第1樹脂層6eの内部に位置する第2領域6ekとを有する。第1領域6ejは、炭素原子数に対する窒素原子数の比率が第2領域6ekよりも大きい。 (もっと読む)


【課題】ポリイミド基板と導電性膜層との間の剥離が防止された積層板を提供する。
【解決手段】ポリイミド基板2の表面をアルカリ性水溶液に接触させることによって、ポリイミド基板表面にアルカリ処理層を形成するアルカリ処理工程と、前記アルカリ処理層を、金属触媒を含む水溶液に接触させ、前記アルカリ処理層に金属触媒を付与する触媒付与工程と、前記金属触媒が付与された前記アルカリ処理層を、還元処理溶液に接触させ、前記アルカリ処理層に付与された金属触媒を還元することによって、表面処理層3を形成する還元工程と、前記表面処理層上にニッケルを含むシード層4を積層するシード層形成工程と、前記シード層を大気中にて熱処理を行なう熱処理工程と、前記熱処理されたシード層上に金属層6を積層する金属層形成工程と、からなる積層板の製造方法、とすることにより、ポリイミド基板2とシード層4との間の剥離強度を強くする事ができる。 (もっと読む)


【課題】導体回路間の絶縁信頼性の優れた回路基板、回路基板の製造方法および半導体装置を提供すること。
【解決手段】基材105と、基材105の少なくとも一方の面側に金属層101が形成された積層板10を用意し、金属層101の表面に開口部を設けたレジスト層21を形成する工程と、レジスト層21の開口部にめっきにより導体部31を形成する工程と、レジスト層22を剥離液により除去する工程と、レジスト層を剥離液により除去することにより露出する金属層101をドライエッチングにより除去する工程と、を含むことを特徴とする回路基板の製造方法である。 (もっと読む)


【課題】トナー担持体とトナーが付着させられる記録紙との間に配置されたトナーが通過する穴を複数有する回路基板によって直接記録方式で画像を形成することのできる画像形成用回路基板およびその製造方法を提供する。
【解決手段】複数の開口部が列状に設けられた絶縁性基材と、該絶縁性基材に前記各開口部に対応して設けられた個別背面電極と、前記絶縁性基材の他面に制御電極と共通バイアス印加用の共通電極が設けられた、画像形成用回路基板の製造方法において、前記絶縁性基材に個別背面電極、制御電極、及び共通バイアス印加用の共通電極を形成する工程と、複数の開口部を形成する工程と、前記個別背面電極、制御電極、及び共通電極が設けられた画像形成用回路基板の開口部周辺を熱強圧する工程を含むことを特徴とする画像形成用回路基板の製造方法などによって提供する。 (もっと読む)


【課題】錫めっき皮膜のウィスカーの発生を防止する熱処理時間をより短縮し、製品の生産性を向上させることを目的とする。
【解決手段】可溶性錫塩と、錯化剤と、酸を含む無電解錫めっき液において、分子内に3つ以上のヒドロキシル基を有する水溶性の脂肪族アルコール(但し脂肪族基中にエーテル結合を含んでいてもよい)を含有することを特徴とする無電解錫めっき液。及び該無電解錫めっき液に少なくとも表面に銅を有する被めっき物浸漬した後、110〜130℃の条件下で40〜75分熱処理を行い、得られる錫めっき皮膜中の純錫層の厚さを0.100〜0.250μmとすることを特徴とする錫めっき皮膜を有するめっき物の製造方法。 (もっと読む)


パターン化されたマスク層を有する基板を製造する方法が開示され、そのマスク層は、反復する縞などの微細な形体を備えたものである。その方法は、基板の第1の主表面上に所定のパターンを備えた転写層を有する基板を形成する工程と、第1の主表面上に転写層を有する基板を用意する工程と、本体と複数の接触部分とを有する構造化成形型を用意する工程であって、接触部分は、約0.5Gpa〜約30Gpaのヤング率を有する、工程と、構造化成形型か又は基板のいずれかを加熱する工程と、転写層を構造化成形型と接触させる工程と、転写層を冷却する工程と、転写層の各部分が、構造化成形型と共に分離するように、構造化成形型を転写層から引き離し、転写層を完全に貫いて基板まで延びる開口部を転写層内に開口部を残し、所定のパターンを備えた転写層を形成する工程とを含む。
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【課題】N、O、Taの元素組成プロファイルが安定し、抵抗膜中にNを安定して含有し、Oが少なく、化学量論的な組成に近いTaN膜が得られ、耐酸化性が優れていて信頼性が高いオーディオ用抵抗体の製造方法を提供する。
【解決手段】基板上に絶縁膜を形成し、前記絶縁膜上に、TaN膜を含む抵抗膜をパターン形成する。そして、前記抵抗膜上に層間絶縁膜を形成し、その後、前記抵抗膜を750乃至1100℃で焼鈍する。その後、前記層間絶縁膜上に、前記抵抗膜に接続された抵抗引き出し用の電極を形成する。 (もっと読む)


【課題】オーディオ信号処理回路に最適なTaN膜とTa膜との積層膜を使用して、TCR値が小さく、シート抵抗が大きく、実用上必要な膜厚を確保できる高抵抗の高音質抵抗膜及びその製造方法を提供する。
【解決手段】高音質抵抗膜は、窒化タンタル膜2aとタンタル膜2bとの積層膜2からなり、この積層膜全体として、抵抗値温度係数TCRが−50乃至+50ppm/℃であると共に、シート抵抗が100Ω/□以上であり、前記窒化タンタル膜は、半導体装置の製造工程で常温から400℃までの温度で、窒素分圧比を3乃至15%として、2.5kW以下の低パワーで、スパッタリングにより成膜されたものである。前記TaN膜のスパッタリング時の基板温度をTとし、窒素ガス分圧比をmとしたとき、前記基板温度T及び窒素ガス分圧比mは、(2/165)T+(91/33)≦m≦(1/66)T+(155/33)を満たすことが好ましい。 (もっと読む)


【課題】鉛フリーはんだを用い、下地のNi層によらずに充分な接合強度を得る。
【解決手段】この電極構造10においては、電極下地11上に、Niめっき層12が形成されており、Niめっき層12上にCo薄膜層13が形成される。はんだ層20は、Niめっき層12上ではなく、Co薄膜層13上に形成される。このはんだ層20によって被接合試料30は、この電極構造10に接合される。Co薄膜層13は、10nm〜800nm程度の厚さであり、この厚さのCo薄膜層13は、蒸着法、スパッタリング法によって形成することができる。 (もっと読む)


【課題】めっき焼けを防止しつつめっきの効率を向上させることが可能なめっき装置および配線回路基板の製造方法を提供する。
【解決手段】めっき装置100は、めっき槽102を備える。めっき槽102内には、めっき液が収容される。長尺状基板10がめっき槽102内を通過するように搬送ロール101a〜101dにより搬送される。めっき槽102内には、長尺状基板10に沿って並ぶように3つ以上の棒状のアノード電極1が設けられる。両端に配置されたアノード電極1の表面積は他のアノード電極1の表面積よりも小さい。 (もっと読む)


【課題】簡便な製造プロセスにより、被転写体である水晶基板の特性に影響を与えることなく、電極となる導電性膜を水晶基板へ形成することが可能な転写体を提供する。
【解決手段】転写体10は、基材11と、基材11の表面に形成され所定の形状にパターニング加工されて電極4となるべき導電性膜である金属膜14と、少なくとも金属膜14となる導電性膜の部分を覆うように形成されエネルギーを付与されると接着性を発現することが可能な接合膜3と、を備えている。このような構成の転写体10は、導電性膜14および接合膜3の形成された側が被転写体へ押し付けられると、接合膜3の膜面が被転写体へ接合する。そして、基材11を被転写体から離反する方向へ引き離すと、接合膜3が被転写体と強固に接合しているため、導電性膜14は、基材11から剥離し、接合膜3を介して被転写体へ転写される。 (もっと読む)


【課題】めっき加工後に独立回路を形成する場合にも、めっきレジストのはみ出しによるめっき断線、めっきかけ(めっき領域の欠落)を防ぐ。
【解決手段】そこで本発明の回路基板の製造方法は、絶縁性基材すなわち凹部をもつ絶縁性表面を具備した基板表面に下地層11aを形成する工程と、前記下地層11aのうち、回路部と、回路部の絶縁部となる非回路部の境界領域を選択的に除去し、輪郭12を形成する輪郭形成工程と、前記凹部に絶縁性の充填物30を充填する工程と、前記下地層11aを給電部としてめっきを行い、めっき層11bを形成するめっき工程と、前記充填物を除去し、全面エッチングにより、表面に露呈する前記下地層を除去する工程とを含む。 (もっと読む)


【課題】配線パターンと絶縁層との密着性を向上することが可能な配線回路基板およびその製造方法を提供する。
【解決手段】配線回路基板70は、絶縁層1を備える。絶縁層1上に、複数の配線パターン7が形成される。各配線パターン7は、界面層2、第1のシード層3、第2のシード層4および配線層6を含む。界面層2、第1のシード層3、第2のシード層4および配線層6は、この順で絶縁層1上に積層される。界面層2は、硫酸を18%の濃度(体積濃度)で含むとともに塩酸を10%の濃度で含む混合水溶液中における飽和カロメル電極に対する電極電位が−0.3V以上0.01V以下となるように形成される。 (もっと読む)


【課題】エッチング液を用いないことにより、人体に悪影響を及ぼしたり、環境を汚染したりすることを防ぐセラミック基板の製造方法を提供する。
【解決手段】セラミック基板上にドライフィルムを貼リ付ける工程100と、ドライフィルムに対して露光および現像加工を行い、ドライフィルム上に所定の配線パターンを形成する工程101と、セラミック基板およびドライフィルム上に第1の金属層をコーティングする工程102と、第1の金属層上に銅層を電気メッキする工程103と、セラミック基板上のドライフィルム、第1の金属層および銅層に切断および研磨を行なった後、ドライフィルムを前記セラミック基板上から除去する工程104と、セラミック基板上に適切な厚さを有する銅層を形成する工程105と、セラミック基板の銅層の表面に第2の金属層を電気メッキする工程106と、を含む。 (もっと読む)


【課題】金属薄膜と基板との密着性が高く、密着強度の経時熱劣化が改善された積層体およびその製造方法を提供すること。
【解決手段】本発明の積層体10は、絶縁基板11と、絶縁基板11上に形成された絶縁性樹脂層12と、絶縁性樹脂層12上に形成され、少なくとも当該絶縁基板11との接触界面に金属酸化物14を含有する金属薄膜層13と、を備え、絶縁性樹脂層12がビフェニル骨格を有するジアミン成分を含有した熱可塑性ポリイミドを含むことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 金属層表面に微小な凹みが無い銅被覆ポリイミドフィルム基板の製造方法を提供し、金属層表面の凹みや配線パターニング時に欠陥を減少させる。
【解決手段】 ポリイミドフィルムを有機アミン化合物およびポリアルキレングリコールを含有する水溶液に浸漬させて洗浄する。洗浄するタイミングは、導体となる銅層を形成する前であれば、乾式法で1次金属層を形成する前でも良く、後でも良い。乾式法で1次金属層を形成する前後の2回処理することも有効である。 (もっと読む)


【課題】基板自体の厚みを薄くできる利点を有する2層フレキシブル基板において、課題となっている耐熱環境や高温高湿環境における信頼性に関わる密着性を、従来の3層フレキシブル基板と同等以上とした2層フレキシブル基板の提供。
【解決手段】絶縁体フィルムの少なくとも片面に接着剤を介さずに下地金属層を形成し、次いで前記下地金属層上に銅被膜層が形成される2層フレキシブル基板において、前記下地金属層が接する側の前記絶縁体フィルムの表面に、層厚2〜10nmの改質層が設けられていることを特徴とする2層フレキシブル基板。 (もっと読む)


【課題】回路基板のパターン形成を合理化する。
【解決手段】少なくとも、金属基板表面に蒸着により絶縁膜を形成する工程と、該絶縁膜上にシードメタルとしてTi系合金薄膜とAu薄膜をスパッタリングにより積層する工程と、前記Au薄膜上にフィルム状ネガティブ型レジスト膜を形成する工程と、前記フィルム状ネガティブ型レジスト膜にフォトリソグラフにより回路パターンを形成する工程と、該回路パターンのシードメタル上に電解メッキによりNi/Cu/Ni/Au膜を形成する工程と、Au膜上に保護膜としてTi系合金薄膜を形成する工程と、前記回路パターン以外のフィルム状ネガティブ型レジスト膜を除去する工程と、前記回路パターン以外のシードメタルのAu薄膜をエッチングで除去する工程と、シードメタルのTi系合金薄膜と保護膜のTi系合金薄膜を同時にエッチングで除去する工程とを具備する回路基板の製造方法とする。 (もっと読む)


【課題】追加絶縁層を薄く形成できるとともに、追加絶縁層の金属支持基板からの剥離を防止することのできる配線回路基板の製造方法を提供すること。
【解決手段】
金属支持基板2の上にベース絶縁層3を部分的に形成し、ベース絶縁層3およびベース絶縁層3から露出する金属支持基板2の上にクロム薄膜20および銅薄膜21を順次形成し、銅薄膜21の上に導体パターン4を形成し、導体パターン4から露出する銅薄膜21を除去し、導体パターン4およびクロム薄膜20の表面にパラジウム触媒22を付着させ、導体パターン4から露出するクロム薄膜20をその表面に付着するパラジウム触媒22とともに除去し、パラジウム触媒が付着する導体パターンの表面にニッケルめっき層を形成し、ベース絶縁層3の上に導体パターン4を被覆するようにカバー絶縁層5を形成するとともに、ベース絶縁層3から露出する金属支持基板2の上に台座13を形成する。 (もっと読む)


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