【課題】電極パッドの表面の突出部に起因する不具合が発生し難い半導体装置の製造方法及び半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置の製造方法は、表面の突出部に突出部、例えば、プロービング痕２１が存在する電極パッド２を備える基板１上に、電極パッド２の少なくとも一部を覆う第１の絶縁膜４を形成する第１の絶縁膜形成工程と、第１の絶縁膜４の表面から突起した部分２２を除去することができる処理を行う除去処理工程と、除去処理工程後に、第１の絶縁膜４上及び電極パッド２上に第２の絶縁膜５を形成する第２の絶縁膜形成工程とを有する。 （もっと読む）

【課題】電極パッドと貫通電極との接続面積を確保しつつ、下地膜が確実に形成される半導体装置、半導体装置の製造方法、回路基板および電子機器を提供する。
【解決手段】半導体基板１０の能動面１０ａ側に設けられた第一絶縁膜２２と、第一絶縁膜２２上に設けられた電極パッド１２と、電極パッド１２の形成位置に対応し、半導体基板１０および第一絶縁膜２２に形成された貫通孔Ｈ３と、貫通孔Ｈ３の少なくとも側面に設けられた第二絶縁膜２３と、第二絶縁膜２３と電極パッド１２とを覆うように設けられた下地膜２４と、下地膜２４の内側で、貫通孔Ｈ３に埋め込まれた導電材料からなる貫通電極３０と、を具備した半導体装置１００において、貫通孔Ｈ３の側面と電極パッド１２の裏面との角部２３ａに、第二絶縁膜２３がフィレット状に形成されている。 （もっと読む）

【課題】ウェハの周縁部で膜を正常に成長させることができるめっき装置を提供する。
【解決手段】めっき槽2内部に取り付けられた第１電極６と、めっき槽2の側壁5cにおいて、環状のフランジ7cを介してめっき槽2の内から外に向けて直径の小さい順に隣接する環状の第１、第２の開口部7a,7bと、第２の開口部7b内でフランジ7cの上に取り付けられるシールパッキン8と、シールパッキン8の上に、第２の開口部7bの内壁から離れて取り付けられる環状の第２の電極9と、第２の電極9に対向する位置に周縁を有するウェハ保持領域11xを有する第２の開口部7bよりも大きなウェハステージ11と、ウェハステージ11のウェハ保持領域11xの周囲の領域に形成され、シールパッキン8に一端が向けられる加圧用ホール11iと、ウェハステージ11を移動してめっき槽2の側壁5cに押し当てて前記第２の開口部7bを閉塞させる駆動部13とを有する。 （もっと読む）

【課題】配線幅若しくは配線間隔の縮小に伴い、加工限界の制約を受けるために微細な配線形成が困難になりつつある。
【解決手段】絶縁層（第１の絶縁層１２及び第２の絶縁層１３）に溝１５を形成し、導体膜（バリア膜１６及び金属膜１７）を溝１５を埋設しない膜厚で形成し、続いて導体膜をエッチバックすることで溝１５の側壁にサイドウォール状の配線１８を形成することで、配線幅は導体膜の膜厚で制御できるために加工限界の制約を受けず、配線抵抗は配線高さを高くすることにより所定の配線抵抗を維持することができる。 （もっと読む）

【課題】とりわけ表面マークの下部に配線タングステンパッドがある場合でも、表面マークのコントラスト低下を抑制する。
【解決手段】メモリチップ３１は、配線タングステン階層ＷＴＬ、第１、第２、第３アルミニウム配線階層１ＡｌＬ，２ＡｌＬ，３ＡｌＬを備える多層配線構造を備える。各配線層の間には、第１、第２、第３層間絶縁膜３１５，３１６，３１７がそれぞれ形成され、第３アルミニウム配線階層３ＡｌＬとポリイミド膜ＰＩとの間には、第４層間絶縁膜３１８が形成されている。第１のダミーパターンＤＰ１は、第１アルミニウム配線階層１ＡｌＬに形成され、第２層間絶縁膜３１６に覆われている。第２のダミーパターンＤＰ２は、第２アルミニウム配線階層２ＡｌＬに形成され、第３層間絶縁膜３１７に覆われている。第２ダミーパターンＤＰ２は、第１ダミーパターンＤＰ１よりも幅が長い。 （もっと読む）

【課題】配線間のピッチを縮小可能にした半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体基板に形成された複数のトランジスタと、第１の方向に延在する第１の配線を備えた第１の配線層と、第１の配線層よりも上層に設けられ、第１の方向と交差する第２の方向に延在し、第１の配線と電気的に接続された第２の配線を備えた第２の配線層と、半導体基板と第１の配線層との間に設けられ、複数のトランジスタに接続する第１の中継配線と、第１の中継配線が形成された第１の中継配線層と第１の配線層との間に設けられ、第１の配線と複数のトランジスタのうちの一つとを接続する第２の中継配線とを有する構成である。 （もっと読む）

【課題】伝送線路を接続するビア層の周囲のグラウンドを強化することができると共に、ビア部の特性インピーダンスを調整することが可能な半導体装置を提供する。
【解決手段】絶縁層１４を介して積層された第１の半導体基体１１及び第２の半導体基体２１と、第１の半導体基体１１に形成され、信号線１２とグラウンド１３とを含む第１の伝送線路と、第２の半導体基体２１に形成され、信号線２２とグラウンド２３とを含む第２の伝送線路と、第１の伝送線路の信号線１２及び第２の伝送線路の信号線２２に接続された信号線用のビア層と、第１の伝送線路のグラウンド１３及び第２の伝送線路のグラウンドに接続された、グラウンド用の第１のビア層と、第２の伝送線路のグラウンド２３に接続され、かつ、信号線用のビア層に対向して形成された帯状のビア層を含む、グラウンド用の第２のビア層１６を有する半導体装置を構成する。 （もっと読む）

【課題】金属原子の拡散に起因する素子特性の劣化を抑制する。
【解決手段】半導体チップは、半導体基板１０と、半導体基板１０を貫通する貫通電極２０と、半導体基板１０を貫通する金属柱４０と、アライメントマーク４７と、絶縁性を有する筒状の絶縁膜５０とを有する。アライメントマーク４０は、半導体基板１０の外部に露出した金属柱４０の端部によって形成されている。筒状の絶縁膜５０は、半導体基板１０に形成されており、金属柱４０を取り囲んでいる。 （もっと読む）

【課題】製造効率の向上、コストダウン、信頼性の向上を実現する。
【解決手段】第１導電型の第１電界効果トランジスタを第１基板に設ける。そして、第１導電型と異なる第２導電型の第２電界効果トランジスタを第２基板に設ける。そして、第１基板と第２基板とのそれぞれを対面させて貼り合わせる。そして、第１電界効果トランジスタと第２電界効果トランジスタとの間を電気的に接続させる。 （もっと読む）

【課題】多層配線を形成する際における配線の加工に要する工程を簡便にすることを課題
とする。また、開口径の比較的大きいコンタクトホールに液滴吐出技術やナノインプリン
ト技術を用いた場合、開口の形状に沿った配線となり、開口の部分は他の箇所より凹む形
状となりやすかった。
【解決手段】高強度、且つ、繰り返し周波数の高いパルスのレーザ光を透光性を有する絶
縁膜に照射して貫通した開口を形成する。大きな接触面積を有する１つの開口を形成する
のではなく、微小な接触面積を有する開口を複数設け、部分的な凹みを低減して配線の太
さを均一にし、且つ、接触抵抗も確保する。 （もっと読む）

【課題】基板及び／又は絶縁膜との高い密着性を有し、且つ、液晶表示装置などの製造過程で施される熱処理後も低い電気抵抗率を有する新規なＣｕ合金膜を提供する。
【解決手段】基板上にて、基板及び／又は絶縁膜と直接接触するＣｕ合金膜であって、前記Ｃｕ合金膜は基板側から順に、合金成分としてＸ（Ｘは、Ａｇ、Ａｕ、Ｃ、Ｗ、Ｃａ、Ｍｇ、Ａｌ、Ｓｎ、ＢおよびＮｉよりなる群から選択される少なくとも一種の元素）を含有するＣｕ−Ｍｎ−Ｘ合金層（第一層）と、純Ｃｕ、またはＣｕを主成分とするＣｕ合金であって前記第一層よりも電気抵抗率の低いＣｕ合金からなる層（第二層）で構成されたＣｕ合金膜である。 （もっと読む）

【課題】半導体基板と貫通電極との絶縁を確実とする半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置１０の一方の面１４から他方の面１６に形成された電極パッド２４の裏面に到達する貫通電極１３を形成した半導体装置１０であって、他方の面１６側には第１の絶縁膜２０を介して電極パッド２４が設けられ、貫通電極１３を構成する貫通孔２１と第１の絶縁膜２０との境界面に、一方の面１４側の開口よりも大きい開口を有し、貫通電極１３を形成する際、他方の面１６側の貫通孔２１開口部内周に貫通電極１３を構成する導電材料と電極パッド２４との間に第２の絶縁膜２３を備え、貫通孔２１内壁面および第２の絶縁膜上に第３の絶縁膜２２が設けられる。 （もっと読む）

【課題】微細な配線パターンを備えた発光装置の作製方法の提供。
【解決手段】Ｉｎと、Ｇａと、Ｚｎとを有する酸化物半導体層を形成し、酸化物半導体層上に第１の導体パターンを形成し、第１の導体パターンより微細な第２の導体パターンを形成し、前記第２の導体パターンと電気的に接続する発光素子を形成する発光装置の作製方法であって、第２の導体パターンは、酸化物半導体層を横断する。 （もっと読む）

【課題】絶縁膜に形成されるヴィアホールの直径を縮小化することが可能で、高密度化に寄与することのできる回路基板の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の回路基板の製造方法は、基板１０上に第１導電体を形成する第１導電体形成工程と、第１導電体を被覆する様にゲート絶縁膜２１を成膜する第１絶縁膜成膜工程と、第１導電体上のゲート絶縁膜２１に貫通孔３２を開口して、当該貫通孔３２を介して第１導電体の表面および基板の表面を部分的に露出させる貫通孔形成工程と、貫通孔３２内に露出する第１導電体の表面を撥液化させる撥液化工程と、貫通孔３２内に露出する第１導電体以外の領域に第２絶縁膜を形成する第２絶縁膜形成工程と、を含むことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】デバイスの損傷を防ぎ、保護することができる半導体装置及びその製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】基板１上に配線層３が形成された第１の積層体１０と、第１の積層体１０の主面上にその主面を重ねて配設され、基板上１１に配線層１３が形成された第２の積層体２０と、第１の積層体１０または第２の積層体２０の少なくとも一方の基板上に形成された機能素子とによって構成された半導体装置１００に対して、第１の積層体１０及び第２の積層体２０の主面に垂直な方向から見て、機能素子２，１２の周囲に配設され、第１の積層体１０と第２の積層体２０の界面を貫通する貫通金属部材２９を設ける。また、この貫通金属部材２９は、第１の積層体１０と第２の積層体２０を接合した後に、第１の積層体１０と第２の積層体２０を貫通する貫通孔を設け、貫通孔内に金属を埋め込むことで形成できる。 （もっと読む）

【課題】絶縁膜に形成されるヴィアホールの直径を縮小化することが可能で、高密度化に寄与することのできる回路基板の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の回路基板の製造方法は、基板１０上に第１導電体を形成する第１導電体形成工程と、第１導電体を被覆する様にゲート絶縁膜２１を成膜する第１絶縁膜成膜工程と、第１導電体上のゲート絶縁膜２１に貫通孔３２を開口して、当該貫通孔３２を介して第１導電体の表面および基板の表面を部分的に露出させる貫通孔形成工程と、貫通孔３２内に露出する第１導電体の表面を撥液化させる撥液化工程と、貫通孔３２内に露出する第１導電体以外の領域に第２絶縁膜を形成する第２絶縁膜形成工程と、を含むことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】ダイシング面からチップ領域への水分の浸入を抑制しつつ、スクライブ領域とチップ領域とを配線により接続する。
【解決手段】半導体装置は、チップ領域１６と、スクライブ領域１５と、２重に配置された第１シールリング１８及び第２シールリング１７と、チップ領域１６からスクライブ領域１５まで延伸する配線６０と、を有する。半導体装置は、２重に配置された第１シールリング１８及び第２シールリング１７のうちの一方のシールリングが配線６０を通すためにシールしていない層を、他方のシールリングでシールする構造となっている。 （もっと読む）

【課題】カーボンナノチューブを用いた特性が良好な半導体基板、その製造方法、および電子装置を提供することにある。
【解決手段】
本発明の一態様による半導体基板は、一主面に下部電極を有する基板と、前記基板上の前記下部電極以外の部分に設けられた層間絶縁膜と、前記下部電極の上に設けられた触媒層と、前記触媒層上に設けられ、前記下部電極の一主面に垂直な方向に延伸する複数のカーボンナノチューブと、前記カーボンナノチューブ上に設けられ、前記下部電極と対向する上部電極と、前記触媒層および前記カーボンナノチューブの前記触媒層側の端部を覆う第１の埋め込み膜と、前記カーボンナノチューブの他端部の間に満たされ、前記第１の埋め込み膜よりも高密度のである第２の埋め込み膜と、を有する。 （もっと読む）

【課題】半導体装置の信頼性を向上する。
【解決手段】一つの実施形態によれば、半導体装置は、電極、メッキ膜、半田、及びコネクタが設けられる。電極は、半導体チップ表面に設けられた第一の電極部と、第一の電極部上に設けられた絶縁膜の開口部を覆うように設けられ、第一の電極部に接続された突起状の第二の電極部とから構成される。メッキ膜は、第二の電極部上に設けられる。半田は、絶縁膜及びメッキ膜上に設けられる。コネクタは、一端の第一の構成部が半田上に設けられ、他端の第二の構造部が端子に接続され、電極と電極端子の間を接続する。 （もっと読む）

【課題】積層ハードマスクを部分的に残存させつつ、配線層用のビアプラグのアスペクト比を低減することが可能な半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】基板上に第１の配線層１０２を形成し、第１の配線層１０２上に、半導体素子材料１０３、第１の絶縁膜１０４、及び第２の絶縁膜１０５を順に形成し、半導体素子材料１０３、第１の絶縁膜１０４、及び第２の絶縁膜１０５を含むピラー状の構造体を形成する。第１の配線層１０２上に、構造体の上面及び側面を覆うように、第３及び第４の絶縁膜１０９，１０６を形成し、第４の絶縁膜１０６を、第２の絶縁膜１０５が露出するように、部分的に除去する。第１及び第２の絶縁膜内に、半導体素子材料に接続された第１のビアプラグ１０７を形成し、第３及び第４の絶縁膜内に、第１の配線層１０２に接続された第２のビアプラグ１０８を形成し、第１及び第２のビアプラグ上に第２の配線層１１１を形成する。 （もっと読む）