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Fターム[5F033LL09]の内容

半導体集積回路装置の内部配線 (234,551) | 導電膜材料の特徴点 (1,721) | 組成比 (303)

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【課題】 優れた電気伝導性を示すと共に、大気中で繰り返し高温加熱処理が施された場合であっても、優れた耐凝集性を示すフラットパネルディスプレイ用Ag基合金配線電極膜を提供する。
【解決手段】 フラットパネルディスプレイ用の配線電極膜であって、Biを0.01〜1.5at%含有し(Cu、Au及びPdよりなる群から選択される1種以上を合計で0.1〜1.5at%含んでいてもよい)、残部実質的にAgからなることを特徴とするフラットパネルディスプレイ用Ag基合金配線電極膜。 (もっと読む)


【課題】低電気抵抗化および高信頼性化可能なコンタクトを備え、高速伝送が可能で信頼性の高い半導体装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】 コンタクト20、23を、CVD法を用いて、シリサイド膜19、22、シリコン窒化膜15aおよび第1層間絶縁膜15bの内壁に接する表面に、表面からコンタクト内部方向への距離に応じて窒素含有量が減少する組成勾配を有する窒化タングステン部24を形成し、その内側にタングステンが充填されたタングステン部25を形成する。窒化タングステン部24とタングステン部25との界面の酸化や汚染を防止する。 (もっと読む)


【課題】 液晶表示装置の薄膜トランジスタ基板及びその製造方法が開示されている。
【解決手段】 シリコン元素を含む基板、前記基板上に形成された拡散防止膜、及び前記拡散防止膜上に形成され、前記拡散防止膜形成物質が0.5〜15at%範囲で含まれた銅合金層を含んで形成される。前記拡散防止膜は、Zr、Ti、Hf、V、Ta、Ni、Cr、Nb、Co、Mn、Mo、W、Rh、Pd、Pt等のような化合物を50〜5000Å範囲で蒸着して熱処理して、シリサイド化合物に変換して製造する。銅合金配線を用いてトランジスタ基板を製造するので、低い抵抗と高い伝導度を具現することができる。又、薄い厚さの拡散防止膜と同じ元素を添加した銅合金と用いて銅配線を形成したので、同時エッチングが可能であり、後続工程で基板との相互拡散を防止することができる。
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【課題】炭化珪素層に対する良好なコンタクトを確保しつつ、炭化珪素層に接続された電極の剥離を抑制する。
【解決手段】炭化珪素層11を有する半導体装置の製造方法であって、(A)炭化珪素層11の上に導電層21を形成する工程と、(B)導電層21と炭化珪素層11を反応させて、炭化珪素層11に接する反応層12およびシリサイド層23からなる合金層を形成する工程と、(C)シリサイド層23の少なくとも一部を除去することにより、反応層12の表面の少なくとも一部を露出させる工程と、露出させた反応層12の表面上に電極層13を形成する工程とを含む。 (もっと読む)


【課題】銅を含む導電性コア領域と界面領域とを有する導電性材料及び該導電性材料の製造方法を提供すること。
【解決手段】銅と、0.001原子百分率から0.6原子百分率までの、イリジウム、オスミウム、及びレニウムから選択された1つ又はそれ以上の金属とを含む導電性コア領域、及び界面領域を備える導電性材料である。界面領域は、少なくとも80原子百分率又はそれ以上の1つ又はそれ以上の金属を含む。界面領域は、銅と、イリジウム、オスミウム、及びレニウムから選択された1つ又はそれ以上の金属とを含むシード層を形成し、その上に銅からなる導電性層を形成し、導電性層を研磨して、研磨された銅の表面材料を構成し、シード層から研磨された表面への1つ又はそれ以上の金属のマイグレーションを引き起こすのに十分な温度で該研磨された銅の表面材料をアニールして形成される。 (もっと読む)


【課題】低k材料上にタンタル−窒化物(TaN)拡散バリア領域を堆積する方法を提供する。
【解決手段】この方法は、チャンバにおいてタンタル系前駆物質および窒素プラズマからプラズマ増強原子層堆積(PE−ALD)を実行することによって、低k材料基板(102)上に保護層(104)を形成することを含む。保護層(104)は、そのタンタル含有量よりも大きい窒素含有量を有する。次いで、タンタル系前駆物質ならびに水素および窒素を含むプラズマからPE−ALDを実行することによって、次の実質的化学量論的タンタル−窒化物層を形成する。また、本発明は、このように形成したタンタル−窒化物拡散バリア領域(108)も含む。一実施形態において、金属前駆物質は、五塩化タンタル(TaCl5)を含む。本発明は、低k材料とライナ材料との間に鮮鋭な界面を生成する。 (もっと読む)


底部電極(11)及び又はキャパシタ誘電体上に導電性平滑化層(16、19)を形成することにより、幾何学的に高くされた電場を低下させると共に、電極を平滑化することで、形成されるMIMキャパシタの信頼性を向上させることができる。一実施形態において、難溶性窒化物で形成された第1のキャッピング層(14)上には、難溶性金属又は難溶性金属リッチ窒化物を含む第1の層(16)が形成される。更に、キャパシタ誘電体上には、難溶性金属(18)又は難溶性金属リッチ窒化物を含む第2の層(19)が形成される。導電性平滑化層(16、19)は、例えば、ゲート電極とゲート誘電体との間のトランジスタ等の他の半導体装置にも使用される。
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本発明は、薄膜トランジスタ表示板とこれを含む液晶表示装置及びその製造方法に関し、薄膜トランジスタ表示板は液晶表示装置や有機EL(electro luminescence)表示装置などで、各画素を独立的に駆動するための回路基板において、画素電極またはゲート線及びデータ線の拡張部を外部回路と接続させるコンタクト補助部材を、IZO及びITOの2重層で形成することに対する発明であって、IZOで形成された下部層とITOで形成された上部層を有するように形成する。前記のように画素電極またはコンタクト補助部材を二重層で形成することによって、エッチング過程で下部配線が損傷されることを防止し、グロステストの際に探針とコンタクト補助部材とのコンタクト抵抗の均一性を良好に確保することができる。また、コンタクト補助部材のみをIZOとITO二重層で形成することによって、グロステストの際に探針とコンタクト補助部材とのコンタクト抵抗の均一性を確保することができ、ITOの使用を減らすことによって製造単価を下げることができる。
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【課題】バリアメタル膜の表面に形成される自然酸化膜の膜厚を薄くし、ボイドの発生を防止した多層配線構造の製造方法を提供する。
【解決手段】埋め込み型の多層配線構造の製造方法において、絶縁層に孔部4を形成する工程と、少なくとも孔部の内壁を覆うように、タンタルと窒素を主成分とするバリアメタル膜5を形成する工程と、バリアメタル膜の表面に形成された酸化膜6を除去する工程と、銅を含むめっき液にバリアメタル膜を浸漬してバリアメタル膜上に無電解銅めっき膜7を形成する工程とを含み、バリアメタル膜に含まれる窒素とタンタルの元素組成比(N/Ta)を、0.3以上で、かつ1.5以下とする。 (もっと読む)


【課題】 低コストにて歩留まり,信頼性,電気的特性の高い半導体装置を作製する。
【解決手段】 絶縁膜60上の下層絶縁膜61に銅の下層配線62を形成(S61)した後、プラズマCVD法により層間絶縁膜63,ストッパ膜64を順次形成し、ストッパ膜64における下層配線62上に孔64aを形成してから、ドライエッチングして層間絶縁膜63にコンタクトホール63aを形成する(S62)。その後、上層絶縁膜65を形成しマスク66を介してドライエッチングすることにより、上層絶縁膜65に溝部65aを形成すると共に、コンタクトホール63a中の上層絶縁膜65を除去する(S63)。そして、バリア膜67を形成(S64)した後、Cu−Ni膜,Cu−Zn膜,Cu−Zn−Ni膜のうち何れかを堆積してシード膜68を形成する(S65)。 (もっと読む)


【課題】 物理的に接着力が向上し、電気的には接触抵抗が良好な特性を有する表示素子用配線及びこれを利用した薄膜トランジスタ基板並びにその製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】 表示素子用配線を、低融点金属の合金元素が少なくとも一つ以上合金されているAg合金で形成する。液晶表示パネルにおいて、このような表示素子用配線を用いてゲート配線22,24,26及びデータ配線65,66,68を形成すれば、接触部で他の導電物質と連結される過程で腐食が発生して素子の特性を低下させるのを防止できる。 (もっと読む)


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