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Fターム[5F033TT07]の内容

半導体集積回路装置の内部配線 (234,551) | 絶縁膜の構造、形状 (4,088) | 側壁絶縁膜 (2,038) | コンタクトホールの側壁 (799)

Fターム[5F033TT07]に分類される特許

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【課題】貫通電極を持つ半導体装置を提供する。
【解決手段】パッドと、パッドの下部に配される貫通電極と、を備える半導体装置。貫通電極は、円筒形の第1金属プラグと、第1金属プラグの外周を取り囲む第1半導体レイヤと、第1半導体レイヤの外周を取り囲む第2金属プラグと、第1金属プラグの外周を取り囲む第2半導体レイヤと、第1金属プラグの外周に、第1半導体レイヤ及び第2金属プラグの内周及び外周に、そして第2半導体レイヤの内周に形成される少なくとも一つの絶縁膜と、を備え、第1半導体レイヤ内に第1絶縁膜との界面から広がる空乏層が形成されるように、第1半導体レイヤに第1バイアス電圧を印加するが、第1バイアス電圧は、第2半導体レイヤに印加される第2バイアス電圧とは異なる。 (もっと読む)


【課題】短時間で、配線母体の内部に、種々のトポロジーの貫通配線や連結配線を埋め込むことが可能な配線構造物を提供する。
【解決手段】配線母体11と、配線母体11の内部に設けられた複数の穴部の内部にそれぞれ配置された、配線子連続体(Qi1,Qi2,Qi3,……,Qin-1,Qin;Qi+11,Qi+12,Qi+13,……,Qi+1n-1,Qi+1n)からなる複数の貫通配線部とを備える。複数の配線子連続体のそれぞれをなす複数の配線子Qi1,Qi2,Qi3,……,Qin-1,Qin;Qi+11,Qi+12,Qi+13,……,Qi+1n-1,Qi+1nのそれぞれは、コア部と、コア部を被覆し、コア部より融点の低い導電体からなるシェル部Qi,shell,Qi+1,shellを有する。複数の配線子は、それぞれのシェル部を互いに溶融することにより金属学的に接合される。 (もっと読む)


【課題】貫通電極を有する半導体装置及びその製造方法において、処理時間及び処理コストを大幅に低減できる半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】貫通電極19を有する半導体装置及びその製造方法において、半導体基板5の裏面の貫通電極19を含む再配線層18の周囲を囲むように配線同士を絶縁する絶縁部形成用ダミー溝穴部7bを有することにより、配線間を絶縁するためには絶縁部形成用ダミー溝穴部7bの底部に存在する金属層のみを除去すれば良く、大幅な処理時間及び処理コストの低減が実現できる。 (もっと読む)


【課題】チップ面積及びコストを増大させることなく、熱抵抗を低減できる半導体装置及び半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置100は、半導体層1aと配線層1bとを有する半導体基板1と、半導体層1aの中央部に半導体層1aの表面から所定の深さまで形成された活性領域3と、活性領域3及び活性領域3の周辺の配線層1bに形成され、半導体層1aと電気的に接続された接続用電極4と、半導体層1aから発生する熱を放熱する放熱部とを備え、放熱部は、半導体層1aの裏面から活性領域3の近傍まで凹状に形成された少なくとも1の第1の孔5に充填された放熱体7を有する。 (もっと読む)


【課題】貫通電極の形成に時間を要さず、貫通電極内でのボイドの発生を抑制できる半導体装置、およびこの半導体装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】半導体装置1は、孔111が形成された絶縁性あるいは半導体の層11と、層11の孔111内に設けられた貫通電極12と、を備える。貫通電極12は、シード層121と、めっき層122と、を備える。シード層121は、孔111の底面111Aを覆う。また、シード層121は、孔111の側面111Bのうち、孔111の開口から、孔111の開口と孔111の底面111Aとの間の所定の位置までの第1の領域を未被覆とし、この第1の領域(未被覆領域)111B1を除いた第二の領域を被覆している。めっき層122は、シード層121と、未被覆領域111B1の少なくとも一部を覆う。 (もっと読む)


【課題】3次元集積化技術を適用した場合にも十分な放熱効果が得られる、放熱効率の高い放熱構造を持つ半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板1の素子形成面の反対面1bには、貫通電極2の少なくとも端面を露出させる第1の凹部3と、貫通電極2を露出させない第2の凹部8とが形成されている。半導体基板1の反対面1b上には、第1の凹部3における貫通電極3の端面を除く内面及び第2の凹部8の内面を覆うように第1の絶縁膜4が形成されている。第1の絶縁膜4上には、貫通電極2の端面と接続し且つ第1の凹部3の外側まで延びる導電膜5が形成されている。 (もっと読む)


【課題】 ウエーハの表面から補強プレートを容易に剥離可能なウエーハの加工方法を提供することである。
【解決手段】 表面に複数のデバイスが形成されたデバイス領域と該デバイス領域を囲繞する外周余剰領域とを有するウエーハの加工方法であって、ウエーハの表面に耐熱性ボンド剤を塗布するとともに外周余剰領域に対応する補強リングを該外周余剰領域に貼着して該耐熱性ボンド剤を固化させて、該耐熱性ボンド剤と該補強リングとで補強プレートを形成する補強プレート形成工程と、該補強プレートをチャックテーブルで保持してウエーハの裏面を研削砥石で研削する裏面研削工程と、該補強プレートに配設されたウエーハの裏面からウエーハの表面に形成されたデバイスの電極に接続する貫通電極を形成する貫通電極形成工程と、該補強プレートに該耐熱性ボンド剤を溶融する溶剤を供給して該補強プレートを溶融するとともに該補強リングを除去する補強プレート除去工程と、を具備したことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】高速動作に有利な固体撮像装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】固体撮像装置は、多層配線層73と、前記多層配線層上に設けられ、貫通トレンチを有する半導体層64と、前記貫通トレンチ内部に埋め込まれた第1導電層69と、前記第1導電層の周囲に形成された第1絶縁膜32と、前記第1絶縁膜の周囲に形成された第1導電型の第1不純物拡散層36とを備える。 (もっと読む)


【課題】 信頼性が向上する半導体素子、及びその形成方法を提供する。
【解決手段】 半導体素子の形成方法は、半導体基板100の上にゲート電極120及びゲート電極120の両側にスペーサー110を形成する段階、ゲート電極120の上にキャッピングパターン170を形成する段階、ゲート電極120の間にメタルコンタクト195を形成する段階を含み、キャッピングパターン170の幅はゲート電極120の幅より大きく形成される。これにより、形成された半導体素子は、メタルコンタクト195とゲート電極120との間での電気的な短絡を效果的に防止することができる。 (もっと読む)


【課題】ウエーハの表面から補強プレートが容易に剥離可能なウエーハの加工方法を提供する。
【解決手段】表面に格子状に形成された複数の分割予定ラインで区画された各領域にデバイスを有するウエーハの加工方法で、ウエーハの表面に耐熱性ボンド剤で補強プレートを配設して、該補強プレートをチャックテーブルで保持してウエーハの裏面を研削し、該補強プレートに配設されたウエーハの裏面からウエーハの表面に形成されたデバイスの電極に接続する貫通電極を形成する。ウエーハの裏面をチャックテーブルで保持し該補強プレートを切削して耐熱性ボンド剤に至る深さの複数の溝を形成し、該補強プレートを複数のペレットに分割して、該補強プレート側から該耐熱性ボンド剤を溶融する溶剤を供給して該溝内に浸透させて、該耐熱性ボンド剤を溶融するようにしたので、ウエーハの表面からペレットに分割された該補強プレートを容易に除去することができる。 (もっと読む)


【課題】積層チップパッケージを、低コストで短時間に大量生産できるようにする。
【解決手段】積層チップパッケージ1は、本体2と複数の貫通電極21とを備えている。本体2は、積層された複数の階層部分10と、それぞれ複数の階層部分10の全てを貫通する複数の貫通孔とを含んでいる。複数の貫通電極21は、本体2における複数の貫通孔内に設けられて複数の階層部分10の全てを貫通している。複数の階層部分10の各々は半導体チップを含んでいる。複数の階層部分10のうちの少なくとも1つは、半導体チップと複数の貫通電極21とを電気的に接続する配線31を含んでいる。配線31は、それぞれ複数の貫通孔のいずれかの壁面において露出してその貫通孔を通過する貫通電極21に接触する複数の導体32を含んでいる。 (もっと読む)


【課題】吸湿性の高い絶縁膜を使用してもコンタクト又は配線の劣化を抑制することができる半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置の製造方法は、基板10上に第1の絶縁膜15を形成する工程(a)と、第1の絶縁膜15にホール24を形成する工程(b)と、ホール24の側壁上に、第1の絶縁膜15よりも水分を通しにくい第2の絶縁膜17を形成する工程(c)と、工程(c)の後、ホール24に導電体30を埋め込むことにより、プラグ19を形成する工程(d)とを備えている。 (もっと読む)


【課題】TSVを形成した後の工程においては、Cuの拡散防止膜である絶縁膜形成後に、当該絶縁膜に割れが発生し、その後のエッチングやアッシングなどのパターン加工を行う工程において、露出したCuが変色する問題が発生する場合がある。これは、拡散防止膜の成膜工程における熱履歴によりCuが体積膨張したことが問題の要因と考えられる。このような、膜割れが発生した場合には、Cu拡散防止膜の機能破壊、TSV上部のCuの酸化による上部配線との導通不良等の種々の問題を誘発する。
【解決手段】本願の一つの発明は、貫通電極を有する半導体集積回路装置において、プリメタル配線層形成よりも後に貫通ビアを形成する場合において、貫通電極の上端に当たる層間絶縁膜の界面に、メタル拡散防止絶縁膜として、窒化シリコン系絶縁膜を使用し、それ以外の層間絶縁膜の界面に、メタル拡散防止絶縁膜として、炭化シリコン系の絶縁膜を使用するものである。 (もっと読む)


【課題】貫通電極を有する半導体装置において、貫通電極によって被覆された貫通孔の内部を充填する保護層にクラック等が発生する不具合を防止する。
【解決手段】
貫通電極9を被覆するとともに、貫通孔6内を充填する保護層10を備える半導体装置1において、保護層10が複数層11、12からなり、複数層の保護層のうち最も半導体基板2の一面2aに近い層が、少なくとも貫通電極の底面9aと側面9bの交差部を被覆し、かつ、ポジ型感光性樹脂を用いて形成されることを特徴とする半導体装置を提供する。 (もっと読む)



【課題】半導体デバイスの薄型化工程および分割工程における半導体デバイスの歩留まり低下を抑制し、基板両面に配線層を有する半導体デバイスの製造方法を提供する。
【解決手段】半導体デバイス110の製造方法は、基板101の一方の面に第1の半導体素子102を形成する工程と、第1の半導体素子102上に第1の配線層104を形成する工程と、支持基板上に保護樹脂層を形成する工程と、第1の配線層104と保護樹脂層とが接触するように、支持基板を基板101に支柱を介して固定する工程と、基板101の他方の面側に第2の配線層404を形成する工程と、基板101の一部及び支柱の一部又は全部を除去して基板101と支持基板とを分離する工程と、を含むことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】積層される半導体ウェハのそれぞれの性能を十分に発揮して高性能化を図り、且つ量産性、コスト低減を図った、固体撮像装置等の半導体装置とその製造方法を提供する。また、固体撮像装置を備えたカメラ等の電子機器を提供する。
【解決手段】第1の半導体ウェハ31と、第2の半導体ウェハ45とを、基板間配線68で接続する構成とする。基板間配線は、第1の半導体ウェハ31表面の第1の多層配線層に形成される接続孔66と、第2の半導体ウェハ45表面の第2の多層配線層に形成された貫通接続孔65とに、導電材料が埋め込まれて形成されている。そして、貫通接続孔65は接続孔66の直径よりも大きく形成されている。これにより、貫通接続孔65の構内に導電材料を埋め込む際のボイドの発生を防ぐ。 (もっと読む)


【課題】深さの異なるコンタクトホールを同時に形成することを可能とした半導体装置を提供する。
【解決手段】第1の溝部7内に形成された第1の埋め込み配線11と、第2の溝部12内に形成された第2の埋め込み配線14と、第1の埋め込み配線11上に第1のコンタクトプラグ24が形成される第1のコンタクト形成領域23と、第2の埋め込み配線14上に第2のコンタクトプラグ26が形成される第2のコンタクト形成領域25とを備え、第1のコンタクト形成領域23の上面23aが第1の埋め込み配線11の上面11aよりも高い位置にあり、第2のコンタクト形成領域25の上面25aが第2の埋め込み配線14の上面14aと同じかそれよりも高い位置にあり、第1のコンタクト形成領域23の上面23aが第2のコンタクト形成領域25の上面25aと同じかそれよりも高い位置にある。 (もっと読む)


【課題】高周波領域における高周波伝送特性に優れ、コストが安価で、しかも、化学的安定性、電気絶縁性、耐熱衝撃性及び耐熱変形性に優れた絶縁構造を有する電子デバイス用基板及び電子デバイスを提供すること。
【解決手段】環状絶縁部3は、ガラスを主成分とする無機絶縁層33を含み、無機絶縁層33は、縦導体2を取り囲んで、半導体基板1に設けられた環状溝30の内部に充填されている。 (もっと読む)



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