説明

Fターム[5F038CD13]の内容

半導体集積回路 (75,215) | 配電、布線 (8,653) | 配線容量(寄生容量) (860)

Fターム[5F038CD13]の下位に属するFターム

Fターム[5F038CD13]に分類される特許

121 - 140 / 506


【課題】少ない工数の追加でロジック回路とメタル容量素子とを混載し、かつ、ロジック動作特性の劣化を生じることがない半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】基板11上に第1層間絶縁膜13を形成し、第1層間絶縁膜13に導電体柱14A、14Bを形成する。第1層間絶縁膜13の上面に溝配線部絶縁膜15を形成する。導電体柱14Bの上方において溝配線部絶縁膜15を除去して容量用開口部151を形成し、第1層間絶縁膜15の上面に容量素子用絶縁膜16を形成する。導電体柱14Aの上方において容量素子用絶縁膜16および第1層間絶縁膜15を除去して配線用溝152を形成する。容量用開口部151および配線用溝152に金属体17A、17Bを埋め込む。容量用開口部152の金属体17Aを容量素子の上部電極とし、配線溝152の金属体17Bをロジック配線とする。 (もっと読む)


【課題】迅速かつ精度よくパルス幅エラーを解消することが可能な半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置の設計工程において、クロック信号の立ち上がり及び立ち下がりの遅延量を別々に調整することでクロック信号のパルス幅を調整するパルス幅調整回路を含む回路ブロックを配置し(ステップS2)、パルス幅を検査し(ステップS7,S8)、パルス幅に異常が検出された場合、パルス幅調整回路によりパルス幅を調整する(ステップS9)。 (もっと読む)


【課題】放熱性に優れ、高周波高出力で使用可能な、化合物半導体高電子移動度トランジスタを提供する。
【解決手段】支持基板20の第1の主表面20a上に、チャネル層40及びバリア層50が積層されて構成される、化合物半導体高電子移動度トランジスタであって、ソース電極62が形成された領域を含む、支持基板の領域部分が金属部22であり、ドレイン電極64が形成された領域を含む、支持基板の他の領域部分がシリコン部24で構成される。 (もっと読む)


【課題】WCSPの再配線を用いて、回路から発生するノイズが他の回路ブロックへ干渉することを防ぎ、特性劣化を防止できる半導体装置を提供する。
【解決手段】2以上の回路ブロック1、2が形成される半導体基板と、前記半導体基板の回路形成面上に配置され外部端子3a〜3e、4a〜4eが先端に設けられるポストと、該ポストの基端と前記半導体基板の回路形成面における前記回路ブロック1、2の電極端子とを接続する再配線12a、12b、16a、16bとが樹脂封止された封止樹脂層とを備える半導体装置において、前記2以上の回路ブロック1、2のうち少なくとも1つの回路ブロック1、2では、接地用の前記電極端子と接地用の前記外部端子3a〜3e、4a〜4eとを接続する前記再配線12a、12b、16a、16bが自回路ブロック1、2の形成領域の全部または一部を覆うように設けられている。 (もっと読む)


【課題】物理長の異なる複数の伝送線路において、電気長を等しくする。
【解決手段】半導体基板1上の薄膜絶縁体上に形成された物理長の異なる複数の伝送線路A、Bのうち、物理長の長いほうの伝送線路において、伝送線路を構成する信号線メタルと半導体基板1との間に低誘電率絶縁膜3を挟むことによって信号伝搬速度を速くした領域を設け、この低誘電率絶縁膜3を挟んだ領域の長さを伝送線路Aの物理長に応じて調整することによって、すべての伝送線路の電気長を等しくする。 (もっと読む)


【課題】製造工程数や面積の増大を招くことなく、金属薄膜抵抗の抵抗率を異ならせる素子構造を提案する。
【解決手段】基板に形成された積層構造における絶縁層間の導電膜配置階層の1つに、抵抗素子の抵抗値を規定する抵抗膜5が配置されている。また、抵抗膜5の厚さ方向の少なくとも一方の他の導電膜配置階層に、水素吸蔵金属3が、抵抗膜5と絶縁された状態で、かつ金属抵抗膜の少なくともコンタクトエッジ間の領域の全域と平面視で重なる位置と大きさで配置されている。 (もっと読む)


【課題】スキャンシフト動作とスキャンキャプチャ動作によって、スキャンチェインに接続されたフリップフロップの機能テストを、複数のスキャンチェインに対して並行に行なうスキャンテスト回路において、過度のIRドロップの発生を防ぐ。
【解決手段】スキャンチェインに並列接続される複数のフリップフロップと、フリップフロップに供給するクロックを発生するクロック発生回路と、第1のフリップフロップに供給するクロックを入力し、第2のフリップフロップに供給するクロックを出力する位相遅延バッファとを備えたスキャンテスト回路。 (もっと読む)


【課題】一定の静電容量を確保すると同時に、小型化を図ることが可能なキャパシタを備える半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置は、金属膜を含むキャパシタ下部電極3aと、キャパシタ下部電極3aの上部表面上に配置され、キャパシタ下部電極3aの厚みより薄い厚みを有する誘電体膜4aと、誘電体膜4a上に配置され、金属膜を含むキャパシタ上部電極6aと、キャパシタ上部電極6aと同一レベルの層により構成される下部配線部分6bと、下部配線部分6b上に配置される層間絶縁膜8と、層間絶縁膜8上に配置される上部配線部分12bとを備える。 (もっと読む)


【課題】 相互かみ合い型導電線を有するキャパシタ構造体ならびにそれを製造する方法を提供する。
【解決手段】 相互かみ合い型構造体は、少なくとも1つの第1の金属線と、少なくとも1つの第1の金属線に平行で、しかも少なくとも1つの第1の金属線から分離されている少なくとも1つの第2の金属線と、少なくとも1つの第1の金属線の端部に接触し、しかも少なくとも1つの第2の金属線から分離されている第3の金属線とを含むことができる。少なくとも1つの第1の金属線はいずれの金属ビアにも垂直に接触しないが、少なくとも1つの第2の金属線は少なくとも1つの金属ビアに垂直に接触することができる。相互かみ合い型構造体の複数の層を垂直に積み重ねることができる。代わって、相互かみ合い型構造体は、複数の第1の金属線と複数の第2の金属線を含むことができ、それぞれの金属線はいずれの金属ビアにも垂直に接触しない。キャパシタを形成するために、回転の有無を問わず、相互かみ合い型構造体の複数の実例を横方向に複製し接合するか、あるいは垂直に積み重ねるか、またはその両方を行うことができる。 (もっと読む)


【課題】溝内に配線を埋め込む際に層間絶縁膜の表面に深い凹部が生じるのを防止し得る半導体装置の設計方法等を提供する。
【解決手段】単位面積当たりの配線パターンの周囲長の総和を各々の単位領域毎に算出するステップS6と、単位領域内における配線パターンの周囲長の総和が第1の値以上である第1の領域と第2の値以下である第2の領域とを抽出するステップS7,S8と、第1の領域に隣接する第3の領域内に単位面積当たりの周囲長の総和が第3の値である第1のダミーパターンを配置し、第2の領域に隣接する第4の領域内に単位面積当たりの周囲長の総和が第4の値である第2のダミーパターンを配置するステップS9,S10と、第3の領域と第4の領域との間の第5の領域内に単位面積当たりの周囲長の総和が第3の値より小さく、第4の値より大きい第5の値である第3のダミーパターンを配置するステップS11とを有している。 (もっと読む)


【課題】ESDサージ印加時にサージ電流を流すための専用の素子を設けることなく、プリバッファなどの前段回路を良好に保護することができる出力バッファを利用したESD保護回路を提供する。
【解決手段】入力信号INに応じて動作するプリバッファ10と、プリバッファ10と電源を共有しており、プリバッファ10の出力に基づいて動作することにより負荷を駆動する出力バッファ20と、電源に対してESDサージが印加された時に動作し、出力バッファ20をオンさせることによりサージ電流を出力バッファに吸収させる保護機能有効化回路30とを備える構成である。 (もっと読む)


【課題】動作速度を高速化できる SiC MISFETで構成された論理ゲート回路デバイスを得る。
【解決手段】nチャネルエンハンスメント型SiC MISFET(22)と、nチャネルデプリーション型SiC MISFET(22、22b)とでインバータ、NAND/NOR論理ゲート回路を構成する。 (もっと読む)


【課題】ESD放電経路におけるメタル配線の電流密度の許容値を高くとることが可能であり、また、配線抵抗を小さくすることが可能である半導体装置を提供する。
【解決手段】信号パッド(101)と、電源線(103)と、接地線(104)と、一端が信号パッド(101)と接続されたインダクタ(111)と、インダクタ(111)の他端と電源線(103)または接地線(104)との間に設けられた終端抵抗(112)と、インダクタ(111)の中間の第1位置(Aa)に接続された第1ESD保護素子(ESD_G)と、インダクタ(111)の中間の第1位置(Aa)とは異なる第2位置(Ab)に接続された第2ESD保護素子(ESD_V)とを備える。 (もっと読む)


【課題】ロジックセルを配置するためのスペースを十分に確保することのできる、半導体集積回路、半導体集積回路のレイアウト方法、半導体集積回路のレイアウトプログラム、及び半導体集積回路のレイアウト装置を提供する。
【解決手段】自動配置配線ツールにより、ロジックセル、及び前記ロジックセルに接続される信号配線をレイアウトし、ロジックセルレイアウトデータを生成するステップと、前記自動配置配線ツールにより、可変容量セル及び前記可変容量セルの容量を制御する制御配線をレイアウトし、可変容量セルレイアウトデータを生成するステップと、前記ロジックセルレイアウトデータ及び前記可変容量セルレイアウトデータに基づいて、半導体集積回路のレイアウトデータを生成するステップとを具備する。前記可変容量セルレイアウトデータを生成するステップは、前記制御配線を、同一配線層内で単位長あたりの抵抗が前記信号配線のそれと同じになるように、レイアウトするステップを含んでいる。 (もっと読む)


【課題】専有面積の小さいトランス素子を提供すること。
【解決手段】トランス素子1は、半導体基板上において上下方向に平行な第1及び第2の配線層を使って形成され、第1のインダクタンス2及び第2のインダクタンス3を備える。第1及び第2のインダクタンス2及び3は、鉛直上方向及び鉛直下方向の一方から第1の配線層及び第2の配線層の一方に投影した時に、投影された外形線が予め定められた基準面を基準として対称な形状を有し、かつ投影された外形線が第1の配線層及び第2の配線層の一方上で交差し合う部分については、第1の配線層及び第2の配線層を使って交差しないよう構成される。 (もっと読む)


【課題】オッドモード発振を抑制し、またガン発振に伴う負性抵抗を抑制し、安定的かつ高効率の電力増幅を得るための安定化回路を備える半導体装置を提供する。
【解決手段】第1の能動素子FET1と、第1の能動素子FET1に並列接続される第2の能動素子FET2と、第1の能動素子FET1のゲートG1と第2の能動素子FET2のゲートG2間に接続され、ゲートバイパス抵抗Rg0、ゲートバイパスキャパシタCg0、およびゲートバイパスインダクタンスLg0の並列回路からなる第1の安定化回路120とを備え、第1の安定化回路120の共振周波数は、オッドモード共振周波数に等しいことを特徴とする半導体装置。 (もっと読む)


【課題】微細加工技術の進展に対応可能であって、設計自由度が高く、かつ効率よく容量素子を形成することが可能な半導体装置を提供すること。
【解決手段】本発明に係る半導体装置1は、半導体基板2の上方に形成された配線層M1と、平面視上の形状が粒状に配設され、上方側において配線層M1と接続されるように当該配線層M1から下層方向に延在し、かつ第1電極からなるコンタクトプラグ10(A)と第2電極からなるコンタクトプラグ10(B)とを備え、隣接する第1電極からなるコンタクトプラグ10(A)と、第2電極からなるコンタクトプラグ10(B)間において、容量を形成するようにした容量素子領域Rbを具備する。また、容量電極の取り出し口となる配線層を、異なる配線層により構成する。 (もっと読む)


【課題】チャネル形成領域が素子分離領域から受けるストレスを、チャネル幅方向において均一化させる。
【解決手段】素子分離領域2と、素子分離領域2によって囲まれる、素子形成領域3とを具備する。素子形成領域3の外周形状は、第1方向に沿って延びる第1辺を有する。素子形成領域3は、第1トランジスタ領域6−1と、2方向において第1辺と第1トランジスタ領域6−1との間にあたる位置に配置された、第2トランジスタ領域6−2と、第1方向における第2トランジスタ領域6−2の側方に配置された、ダミー領域7とを備える。第1トランジスタ領域6−1は、第1チャネル形成領域4−1を有する。第2トランジスタ領域6−2は、第2チャネル形成領域4−2を有する。第1チャネル形成領域4−1は、第2チャネル形成領域4−2と非対向である非対向領域14を有する。ダミー領域7は、第2方向において非対向領域14と対向する。 (もっと読む)


【課題】SSOノイズの解析精度を落とさずにパッケージモデルの回路規模を削減できるSSOノイズ解析方法及び装置を提供する。
【解決手段】複数の信号駆動回路と、複数の信号駆動回路に第1の電源電圧を供給する第1の配線と、複数の信号駆動回路に第2の電源電圧を供給する第2の配線と、複数の信号駆動回路により駆動される信号を伝搬する複数の第3の配線とを含んだモデルを用いる電源ノイズ解析方法は、レイアウト情報から第1乃至第3の配線の自己インダクタンス及び相互インダクタンスを抽出し、信号の駆動時に流れる電流経路を特定し、特定された電流経路の情報に基づいて自己インダクタンスと相互インダクタンスとを合成することにより第1乃至第3の配線の各々の実効インダクタンスを求め、実効インダクタンスを含めたモデルを用いて回路シミュレータを実行する各段階を含む。 (もっと読む)


【課題】スルーシリコンビアから形成されるグリッドマトリクスを用いて電力供給される集積回路を提供する。
【解決手段】集積回路構造は、基板を有するチップと、配電回路網とを含む。配電回路網は、基板を貫通し、グリッドを形成する複数の電力スルーシリコンビア(TSV)と、底部金属化層(M1)中に位置し、複数の電力TSVを、基板上の集積回路装置に結合する複数の金属線とを含む。 (もっと読む)


121 - 140 / 506