説明

Fターム[5F038EZ02]の内容

半導体集積回路 (75,215) | その他の技術 (17,984) | 材料 (927) | III族など (547)

Fターム[5F038EZ02]に分類される特許

121 - 140 / 547


【課題】MIMキャパシタの耐圧を高めることが可能な半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体基板上に形成される下部電極層と、この下部電極層上に積層される誘電体層22と、この誘電体層上に積層される上部電極層23とで構成されるMIMキャパシタと、このMIMキャパシタの上部電極層に対して、接続角度が90度より大きくなるように線幅を広くして接続される第1の配線層パターン12と、前記MIMキャパシタの下部電極層に対して、接続角度が90度より大きくなるように線幅を広くして接続される第2の配線層パターン13a、13bと、を有する。 (もっと読む)


【課題】本発明は、製造コストの増加を抑制可能な半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置1は、半導体基板部10、誘電体膜22、再配線24、上部電極25、絶縁膜26、及び外部接続端子28を有する。半導体基板部10は、回路が形成され、回路にそれぞれ接続される下部電極15、上部電極パッド16、接続パッド17、18を上面に有する。誘電体膜22は、下部電極15を被い、上部電極パッド16、接続パッド17、18の上面に達する開口部を有する。再配線24は、一部の接続パッド17、18に電気的に接続される。上部電極25は、誘電体膜22を介して下部電極15の上面に対向して配置され、上部電極パッド16に接続され、再配線24を含む。絶縁膜26は、誘電体膜22、再配線24、及び上部電極25を被う。外部接続端子28は、絶縁膜26を貫通し再配線24に接続され、絶縁膜26の上面から露出する。 (もっと読む)


【課題】高い入力電力耐性と、低い雑音指数の両者を達成する低雑音増幅器を提供すること。
【解決手段】低雑音増幅器は、第一のIII族窒化物系トランジスタと、第一のIII族窒化物系トランジスタに結合された第二のIII族窒化物系トランジスタとを含んでいる。第一のIII族窒化物系トランジスタは、入力信号に対する第一増幅段を提供するように構成され、第二のIII族窒化物系トランジスタは、入力信号に対する第二増幅段を提供するように構成される。 (もっと読む)


【課題】MOS型デバイスのゲート絶縁膜の破壊を防止すると共に、信頼性を向上させた、窒化物系半導体装置を提供することを目的とする。
【解決手段】ドレイン電極26とゲート電極28との間に設けられたSBD金属電極30がAlGaN層20とショットキー接合されている。また、SBD金属電極30とソース電極24とが接続されており、電気的に短絡している。これにより、ゲート電極28にオフ信号が入ると、MOSFET部32がオフ状態となり、MOSFET部32のドレイン側の電圧がドレイン電極26の電圧値と近くなる。ドレイン電極26の電圧が上昇すると、SBD金属電極30の電圧値が、MOSFET部32のドレイン側の電圧値よりも低くなるため、SBD金属電極30によってMOSFET部32のドレイン側とドレイン電極26とが電気的に切断される。 (もっと読む)


【課題】MMICの特性測定において,DCバイアス印加時の発振を抑制する。
【解決手段】この発明に係る高周波回路チップのMMIC60は、GaAs基板12上に所定の間隔をおいて並行して配設されたDCバイアス線路62が、その端部に互いに間隔をおいて隣接したDCパッド64を備えたもので、DCバイアス線路62の端部のDCパッド64に個別にDCバイアスを印加することができ、高周波信号の影響を少ない状態でチップの電気的特性を測定することができる。 (もっと読む)


【課題】主面をm面とするIII 族窒化物半導体で構成されたHFETにおいて、正のしきい値電圧を高めること。
【解決手段】HFET100は、凹凸加工されたa面サファイア基板101上に、m面を主面とするGaNからなるバッファ層102、ノンドープのGaNからなるチャネル層103、ノンドープのAlGaNからなる障壁層104、酸素ドープのn−AlGaNからなるキャリア供給層105を有している。キャリア供給層105は2つの領域に分離して形成されている。キャリア供給層105は、障壁層104上に選択的に再成長させて形成した層である。ゲート電極109にバイアスを印加しない状態では、ゲート電極109直下に2DEGが形成されないため、正のしきい値電圧を高めることができる。 (もっと読む)


【課題】可変ゲート電界効果トランジスタ(FET)及びこのFETを備える電気電子装置を提供する。
【解決手段】熱によるFETのソース及びドレイン間の電流減少の問題を効果的に解決し、またFETの温度を低めることができる可変ゲートFET及びこのFETを備える電気電子装置を提供し、可変ゲートFETは、FETと、FETの表面または発熱部分に取り付けられ、回路的には、FETのゲート端子に連結されておりゲート端子の電圧を変化させるゲート制御素子と、を備え、FETの温度が所定温度以上に上昇しているときに、ゲート制御素子が、ゲート端子の電圧を変化させて、FETのソース及びドレイン間のチャンネル電流を制御する。 (もっと読む)


【課題】MIMキャパシタの耐圧低下や耐湿劣化を防ぐことができる半導体装置及びその製造方法を得る。
【解決手段】半導体基板1上にベース電極4を形成する。ベース電極4を覆うようにレジスト膜5を形成する。レジスト膜5をマスクとした等方性エッチングにより、ベース電極4の周辺の半導体基板1を掘り込んでベースメサ溝6を形成する。ベース電極4上に絶縁膜7を形成する。絶縁膜7上に配線電極8を形成する。レジスト膜5の外周とベース電極4の外周との最小幅wは、ベースメサ溝6がベース電極4の下に入り込まないような値に設定されている。 (もっと読む)


【課題】安定に動作する双方向スイッチ素子を実現できるようにする。
【解決手段】双方向スイッチ素子は、窒化物半導体からなる半導体層積層体203と、半導体層積層体203の上に形成された第1のオーミック電極211及び第2のオーミック電極212と、第1のゲート電極217及び第2のゲート電極218とを備えている。第1のゲート電極217は、第1のオーミック電極211と電位が実質的に等しい第1のシールド電極221に覆われている。第2のゲート電極218は、第2のオーミック電極212と電位が実質的に等しい第2のシールド電極222に覆われている。第1のシールド電極221の端部は、第1のゲート電極217よりも第2のゲート電極218側に位置し、第2のシールド電極222の端部は、第2のゲート電極218よりも第1のゲート電極217側に位置している。 (もっと読む)


【課題】信頼性と性能に優れた電子デバイスを提供する。
【解決手段】表面がシリコン結晶であるベース基板と、シリコン結晶上の一部の領域に形成された3−5族化合物半導体結晶と、3−5族化合物半導体結晶の一部を活性層として含む電子素子と、ベース基板上に形成され、当該電子素子を覆う絶縁膜と、絶縁膜上に形成された電極と、絶縁膜を貫通し、少なくとも一部が絶縁膜上に形成され、電子素子と電極とを電気的に結合する第1の結合配線と、絶縁膜上に形成された受動素子と、絶縁膜を貫通し、少なくとも一部が絶縁膜上に形成され、電子素子と受動素子とを電気的に結合する第2の結合配線とを備える電子デバイスを提供する。 (もっと読む)


【課題】半導体装置の小型化を図ることを課題とする。
【解決手段】炭化珪素基体1と、炭化珪素基体1上に形成された第1導電型のドリフト領域2と、ドリフト領域2の主面に接するようにドリフト領域2内に形成された第2導電型のウェル領域3と、ドリフト領域2の主面に接するようにウェル領域3内に形成された第1導電型のソース領域4と、ドリフト領域2とソース領域4に挟まれたウェル領域3上にゲート絶縁膜5を介して形成されたゲート電極6と、ウェル領域3とソース領域4に接続されたソース電極7と、炭化珪素基体1に接続されたドレイン電極9とを備えたトランジスタと、ドリフト領域2に形成された第2導電型の拡散領域10からなるアノードと、第2導電型の拡散領域10内に形成された第1導電型の拡散領域11からなるカソードとを備え、カソードはゲート電極6に接続されて構成されたダイオード12とを有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】スイッチング素子による高温の悪影響を回避して、誤点弧を防止する回路をスイッチング素子と同一の基板上に配置した半導体装置を提供する。
【解決手段】基板5上の導電体パターン51,52上にNチャネル型のMOSFET10、及びNチャネル型で半導体材料が炭化珪素からなるJFET30を各別に近接して配置し、MOSFET10のゲート電極13とJFET30のドレイン電極31とをリード線61で接続する。MOSFET10をオン/オフに制御する外部からの駆動信号がJFET30のソース電極32及びドレイン電極31間を伝播するときに、ソース電極32及びゲート電極33間のゲート電圧の低/高に応じてJFET30のチャネル抵抗を大/小に変更することにより、MOSFET10のドレイン電極11及びソース電極12間のスイッチング波形の前縁を、後縁に比較して緩やかな傾斜にする。 (もっと読む)


【課題】高い絶縁破壊耐圧のMIMキャパシタを提供する。
【解決手段】半導体基板上に形成された下部電極12と、前記下部電極上に形成された第1の絶縁体膜13と、前記第1の絶縁体膜上に形成される第2の絶縁体膜14と、前記第2の絶縁体膜上に形成される第3の絶縁体膜15と、前記第3の絶縁体膜上に形成される上部電極16と、を有し、前記第1の絶縁体膜における密度は、前記第2の絶縁体膜における密度よりも高く、前記第3の絶縁体膜における密度は、前記第2の絶縁体膜における密度よりも高いことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】GaN系HEMT及びMIMキャパシタを同一基板上に設ける場合でも小型化することができる半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】基板1の表面上に下部電極11を形成し、下部電極11上に誘電体膜12を形成し、誘電体膜12上に基板1の表面に接する上部電極14aを形成する。また、基板1の裏面から基板1をエッチングすることにより、上部電極14aの基板1の表面に接する部分に達するビアホール1aを基板1に形成し、基板1の裏面上にビアホール1aを介して上部電極14aに接するビア配線36を形成する。 (もっと読む)



【課題】 本発明の目的は、半導体装置単体で負電源を必要とせずにスイッチングが可能な素子を提供することである。
【解決手段】 この発明の半導体装置は、ノーマリオンFETと、一方の電極を前記FETのゲートに、他方の電極を入力端子に電気的に接続されたキャパシタと、アノード電極が前記FETのゲートに、カソード電極が前記FETのソースに電気的に接続されたダイオードと、を前記FETと同一チップ上に形成したことを特徴としており、さらに、前記キャパシタが、前記FETのゲート引き出し電極上に誘電体などの絶縁膜を形成し、形成した前記絶縁膜に金属膜を形成することにより形成されたことが好ましい。 (もっと読む)


【課題】配線の表皮効果の抑制と低抵抗化を図る。
【解決手段】第1配線部41と、その第1配線部41の周りを被覆する、高融点金属窒化物を含む第2配線部42とを含む配線40aを形成する。このような配線40aにおける第2配線部42は、第1配線部41側から外周に向かって窒素含有率が高くなる部分を有するように形成する。これにより、配線40aにおける表皮効果が抑制されると共に、配線40aの低抵抗化が図られるようになる。 (もっと読む)


【課題】電流駆動型の半導体装置のゲートへの寄生インダクタンスによる外乱ノイズを低減し、ゲート駆動を高精度化及び安定化させる。
【解決手段】半導体装置100であって、電流駆動型の半導体素子3と、半導体素子3を制御するゲート駆動回路11と、接続端子部とを備え、半導体素子3は、窒化物半導体層の積層体の上に形成されたゲート電極パッド1と、オーミック電極パッド2及び5とを有し、接続端子部は、オーミック電極パッド2と接続されたオーミック電極端子6と、オーミック電極パッド5と接続されたオーミック電極端子10と、オーミック電極パッド2と接続されたゲート駆動用端子7と、ゲート電極パッド1と接続されたゲート端子8とを有し、ゲート駆動回路11の入力端子はゲート駆動用端子7に接続され、ゲート駆動回路11の出力端子はゲート端子8に接続され、ゲート駆動回路11の基準電位をオーミック電極パッド2の電位とする。 (もっと読む)


【課題】集積回路をDCおよびRF遮蔽する方法と構造を提供すること。
【解決手段】組み合わせられて集積回路デバイスを形成する回路を電磁気的に遮蔽するための方法であって、導電性材料によって横方向および下方を囲まれた隔離型のシリコン・アイランドを供給する。 (もっと読む)


【課題】トランジスタにおけるオフ電流を低減し、電圧調整回路における出力電圧の変換効率を向上させる。
【解決手段】ゲート、ソース、及びドレインを有し、ソース及びドレインの一方に第1の信号が入力され、ゲートにクロック信号である第2の信号が入力され、チャネル形成層として酸化物半導体層を有し、オフ電流が10aA/μm以下であるトランジスタと、第1の電極及び第2の電極を有し、第1の電極がトランジスタのソース及びドレインの他方に電気的に接続され、第2の電極に高電源電圧及び低電源電圧が交互に与えられる容量素子と、を有し、第1の信号の電圧を昇圧又は降圧し、昇圧又は降圧した電圧である第3の信号を出力信号としてトランジスタのソース及びドレインの他方を介して出力する構成とする。 (もっと読む)


121 - 140 / 547