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Fターム[5F045AC08]の内容

気相成長(金属層を除く) (114,827) | 導入ガス (14,721) | 有機化合物ガス (3,422) | メチル化合物 (1,539)

Fターム[5F045AC08]に分類される特許

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【課題】成長を繰り返しても、エピタキシャル層の面内不均一が生じにくい半導体ウェハの製造方法を提供する。
【解決手段】予め、成長炉1内をGaSeからなる層状構造結晶でコーティングして、成長炉1内にGaSeコーティング層5を形成しておき、成長炉1内で、GaAs基板2上に気相成長によりエピタキシャル層2aを形成する。 (もっと読む)


【課題】駆動電圧が低い半導体発光素子を提供する。
【解決手段】実施形態によれば、n形半導体層と、電極と、p形半導体層と、発光層と、を備えた半導体発光素子が提供される。前記p形半導体層は、前記n形半導体層と前記電極との間に設けられる。前記p形半導体層は、前記電極に接するp側コンタクト層を含む。発光層は、前記n形半導体層と前記p形半導体層との間に設けられる。前記p側コンタクト層は、前記n形半導体層から前記p形半導体層に向かう第1方向に対して垂直な平面を有する平坦部と、前記平坦部から前記電極に向かって突出した複数の突起部と、を含む。前記複数の突起部の前記第1方向に沿った高さは、前記発光層から放出される光の主波長の1/4の長さよりも小さい。前記複数の突起部の前記平面内における密度は、5×10個/cm以上、2×10個/cm以下である。 (もっと読む)


【課題】III 族窒化物半導体発光素子の光取り出し効率を向上させること。
【解決手段】実施例1のIII 族窒化物半導体発光素子は、凹凸形状が形成されたサファイア基板10と、サファイア基板10の凹凸形状側表面上に、バッファ層を介して順に積層された、III 族窒化物半導体からなるn型層、発光層、p型層と、を有している。凹凸形状は、サファイア基板10表面上にx軸方向をストライプ方向とする第1のストライプ形状100が形成され、その上にx軸方向と直交するy軸方向をストライプ方向とする第2のストライプ形状101が重ねて形成された形状である。このような凹凸形状とすることで、従来のIII 族窒化物半導体発光素子よりも光取り出し効率を向上させることができる。 (もっと読む)


【課題】石英製の反応炉の損傷を抑制することができ、副生成物の生成を抑制できるIII族窒化物結晶の製造方法、III族窒化物テンプレートの製造方法、III族窒化物結晶及びIII族窒化物テンプレートを提供する。
【解決手段】本発明に係るIII族窒化物結晶は、III族窒化物結晶中に1×1016cm−3以上1×1020cm−3未満の炭素を含み、前記炭素がV族サイトを置換しており、かつ、前記III族窒化物結晶内でアクセプタとして働く他の不純物を含まないものである。 (もっと読む)


【課題】シリコンおよび炭化ケイ素基板上に堆積されたGaNフィルムにおける応力の制御方法、およびこれによって生成されたGaNフィルムを提供する。
【解決手段】典型的な方法は、基板を供給すること、および供給の中断をまったく伴なわず、成長チャンバへの少なくとも1つの先駆物質の供給によって形成された、当初組成物から最終組成物までの実質的に連続したグレードの様々な組成物を有する基板上にグレーデッド窒化ガリウム層を堆積させることを含む。典型的な半導体フィルムは、基板と、供給の中断をまったく伴なわず、成長チャンバへの少なくとも1つの先駆物質の供給によって形成された、当初組成物から最終組成物までの実質的に連続したグレードの様々な組成物を有する基板上に堆積されたグレーデッド窒化ガリウム層とを含む。 (もっと読む)


【課題】GaN電子走行層の厚さを広い範囲で選択することができ、デバイス設計の自由度を高めることができる窒化物半導体素子、および耐圧および信頼性に優れる窒化物半導体素子パッケージを提供すること。
【解決手段】基板41上に、AlN層47、第1AlGaN層48(平均Al組成50%)および第2AlGaN層49(平均Al組成20%)からなるバッファ層44を形成する。バッファ層44上には、GaN電子走行層45およびAlGaN電子供給層46からなる素子動作層を形成する。これにより、HEMT素子3を構成する。 (もっと読む)


【課題】反応生成物や分解物がノズル内壁に堆積するのを抑えるとともに、異物が処理室内に飛散するのを抑える。
【解決手段】
処理室と、加熱ユニットと、原料ガス供給ユニットと、原料ガスノズルと、排気ユニットと、少なくとも加熱ユニット、原料ガス供給ユニット、排気ユニットを制御する制御部と、を有し、原料ガスノズルは、処理室内の温度が原料ガスの熱分解温度よりも高い場合であっても内部で原料ガスが分解しないような処理室内の所定位置に配設され、制御部は、異なる流速で互いに混合させないよう処理室内に原料ガスを供給する処理を含むサイクルを所定回数実施させる。 (もっと読む)


【課題】低減された酸素濃度のp型窒化ガリウム系半導体層を有するIII族窒化物半導体素子を提供する。
【解決手段】III族窒化物半導体素子11は、基板13、n型III族窒化物半導体領域15、発光層17、及びp型III族窒化物半導体領域19を備える。基板13の主面13aは、該第1の窒化ガリウム系半導体のc軸に沿って延びる基準軸Cxに直交する面Scから50度以上130度未満の範囲の角度で傾斜する。p型III族窒化物半導体領域19は、第1のp型窒化ガリウム系半導体層21を含み、第1のp型窒化ガリウム系半導体層21の酸素濃度は5×1017cm−3以下である。第1のp型窒化ガリウム系半導体層21のp型ドーパント濃度Npdと酸素濃度Noxgとの濃度比(Noxg/Npd)が1/10以下である。 (もっと読む)


【課題】リーク電流が低減された、耐圧性が高い窒化物系化合物半導体素子の製造方法および窒化物系化合物半導体素子を提供すること。
【解決手段】基板上に少なくともガリウム原子を含むIII族原子と窒素原子とからなる窒化物系化合物半導体層をエピタキシャル成長する成長工程と、素子構造形成前に、前記窒化物系化合物半導体層にレーザ光または電離放射線を照射し、前記窒化物系化合物半導体層中のIII族空孔と水素原子との複合体を分解する分解工程と、を含む。 (もっと読む)


【課題】シャワーヘッドの反りを防止することが可能な結晶成長装置および結晶成長方法を提供する。
【解決手段】結晶成長装置1において、シャワーヘッド20は、前面部21と、冷却層23と、ガス供給層25とを含む。前面部21は、基板SUBに対向して設けられ、原料ガスを基板SUBに吐出する複数の吐出孔を有する。冷却層23は、前面部21の上に積層して設けられ、冷媒が流れる冷媒通路を有する。ガス供給層25は、冷却層23の上に積層して設けられ、導入された原料ガスを充満させるバッファ空間が形成される。バッファ空間は複数の吐出孔の各々と冷却層23を貫通するガス供給管を介して連通する。予熱器53は、結晶成長時にガス供給層25に供給する原料ガスを予熱する。 (もっと読む)


【課題】Inを含む窒化物化合物半導体結晶で、より容易にp型の電気的特性が得られるようにする。
【解決手段】まず、基板101を加熱する。次に、少なくともIn原料、アンモニア、窒素以外のV族の原料、およびp型ドーパントの原料を基板101の上に供給する。ただし、窒素以外のV族は、As,P,およびSbの中より選択したものである。なお、In原料の他に、Ga原料、Al原料などを加えるようにしてもよい。これにより、基板101の上に、Inを含むp型窒化物化合物半導体結晶の層102が形成できる。 (もっと読む)


【課題】再成長層表面の結晶性に起因する発光層およびp型半導体層の不良が生じにくく、かつ、高い出力の得られる半導体素子の製造方法を提供する。
【解決手段】第一有機金属化学気相成長装置において、基板上に第一n型半導体層を積層する第一工程と、第二有機金属化学気相成長装置において、前記第一n型半導体層上に前記第一n型半導体層の再成長層と第二n型半導体層と発光層とp型半導体層とを順次積層する第二工程とを具備し、前記第二工程において、前記再成長層を第一の成長温度T1で成長させた後に、前記第一の成長温度T1よりも高温の第二の成長温度T2に昇温して前記再成長層の成長を続けることを特徴とする半導体発光素子の製造方法を採用する。 (もっと読む)


【課題】十分なガスバリア性を有し耐屈曲性を有するガスバリア性積層フィルムを製造可能な成膜装置を提供する。
【解決手段】基材を収容する真空チャンバーと、真空チャンバー内に、有機金属化合物と該有機金属化合物と反応する反応ガスと、を含む成膜ガスを供給するガス供給装置と、上記真空チャンバー内に配置される一対の電極と、この一対の電極に交流電力を印加し、成膜ガスのプラズマを発生させるプラズマ発生用電源と、上記ガス供給装置または上記プラズマ発生用電源とのいずれか一方または両方を制御し、有機金属化合物と反応ガスとが反応して、有機金属化合物を形成していた金属元素または半金属元素を含み且つ炭素を含まない化合物を生じる第1の反応条件と、有機金属化合物と反応ガスとが反応して、有機金属化合物を形成していた炭素と金属元素または半金属元素とを含む含炭素化合物を生じる第2の反応条件と、を切り替える制御部と、を有する。 (もっと読む)


【課題】基板上に化合物半導体層を厚く形成することができ、バッファ領域内に生じる寄生容量を低減することができる半導体ウエーハを提供する。
【解決手段】基板2と、バッファ領域3と、主半導体領域4とを有する半導体ウエーハであって、前記バッファ領域は、第1の層6と第2の層7とが交互に複数配置された複数の多層構造バッファ領域5と、該複数の多層構造バッファ領域の相互間に配置された中間バッファ領域8とから成り、前記第1の層は、前記基板を構成する材料の格子定数よりも小さい格子定数を有する化合物半導体から成り、前記第2の層は、前記基板を構成する材料の格子定数と前記第1の層の格子定数との間の格子定数を有する化合物半導体から成り、前記中間バッファ領域は、前記第1及び第2の層よりも厚く形成され、且つ前記第1の層を構成する材料の格子定数と前記第2の層の格子定数との間の格子定数を有する。 (もっと読む)


【課題】信頼性を向上させた発光素子用エピタキシャルウェハ、及び発光素子を提供する。
【解決手段】発光素子用エピタキシャルウェハは、n型基板1上に、少なくともP(燐)系結晶のn型クラッド層3、AlGa(1−x)As、又はGaAsなどのAs(砒素)系結晶で形成した量子井戸構造を有する発光層5、及びp型クラッド層7が順次積層された化合物半導体と、n型クラッド層3と発光層5との間に、発光層5を構成するAlGa(1−x)As層とは異なるAlGa(1−x)As層4とを有している。 (もっと読む)


【課題】化合物半導体上のp型チャネルFETにおいてオン抵抗を低くすることの可能な半導体装置を提供する。
【解決手段】化合物半導体からなる基板10上に、n型チャネルFET領域2とp型チャネルFET領域3とが併設されている。p型チャネルFET領域3において、チャネル層16の下面に接するバッファ層15が、チャネル層16よりも広いバンドギャップを有する第2バッファ層15Bだけで構成された単層構造となっている。さらに、第2バッファ層15Bは、チャネル層16と電子走行層13との間に設けられている。 (もっと読む)


【課題】p型III族窒化物半導体の電気特性を向上できるIII族窒化物半導体光素子を提供する。
【解決手段】窒化ガリウム系半導体領域15及び窒化ガリウム系半導体領域19は、基板13の主面13a上に設けられる。窒化ガリウム系半導体領域19は、p型ドーパントとしてマグネシウムを含むIII族窒化物半導体膜21を有しており、III族窒化物半導体膜21は、III族構成元素としてアルミニウムを含む。III族窒化物半導体膜21の酸素濃度は、1.0×1017cm−3以上の範囲にあり、III族窒化物半導体膜21の酸素濃度は、1.5×1018cm−3以下の範囲にある。また、III族窒化物半導体膜21の水素濃度は1.0×1017cm−3以上の範囲にあり、III族窒化物半導体膜21の水素濃度は1.5×1018cm−3以下の範囲にある。 (もっと読む)


【課題】多種類の半導体ガスの貯蔵、供給装置を低圧で小型化する。
【解決手段】直方体形状の流体貯蔵・計量分配容器50,52を含む流体貯蔵・計量分配装置及び、こうした流体貯蔵・計量分配装置および/または使用時換気ガス清浄器61を、換気されたガスキャビネット20内に含む一体型ガスキャビネットアセンブリを開示する。たとえば、ガスキャビネット20から供給された処理ガスが、有毒又は有害な特性のものである場合、ガスキャビネット20は、物理的吸着剤及び化学吸着媒体の使用によって、運転の安全面で強化されることが可能である。 (もっと読む)


【課題】Inを含む化合物半導体とInを含まない化合物半導体とのへテロ界面におけるInの拡散/偏析による変成層を少なくする。
【解決手段】この発明に係るLD40は、n−半導体基板12と、このn−半導体基板12上に配設され、n−AlGaInPまたはn−GaInPで形成された第1n−クラッド層42aと、この第1n−クラッド層42aの上に配設された、n−AlGaAsの第2n−クラッド層42bと、この第2n−クラッド層42bと第1n−クラッド層42aとの間に介在し、第1n−クラッド層42aに対応してn−AlGaAsPで形成され、III属元素のAl、Gaは第2n−クラッド層42bと同じ組成で、V属元素のAsとPの組成はPよりもAsを多くした挿入層42cと、を備えたものである。 (もっと読む)


【課題】耐蝕性の高い材料で作製され、真空容器内に配置されるインナーが真空容器内でずれたり破損したりするのを低減することが可能な原子層(分子層)成膜装置を提供する。
【解決手段】容器内に配置され基板が載置される回転テーブルと、回転テーブルに対して第1の反応ガスを供給する第1の反応ガス供給部と、回転テーブルに対して第2の反応ガスを供給する第2の反応ガス供給部とを含む成膜空間を画成する、容器を構成する材料よりも耐食性に優れる材料で作製される区画部材が容器内に設けられる成膜装置が開示される。この成膜装置は、成膜空間の圧力を測定する圧力測定部と、成膜空間の外側の空間の圧力を測定する圧力測定部と、を備え、これらの測定を通して、成膜空間の外側の空間の圧力が成膜空間の圧力よりも僅かに高い圧力に維持される。 (もっと読む)


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