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Fターム[5F045AD09]の内容

気相成長(金属層を除く) (114,827) | 成膜条件−成膜温度 (8,040) | 500≦T<600℃ (779)

Fターム[5F045AD09]に分類される特許

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【課題】温度むらを生じることなく材料ガスの冷却を行うことができる冷却機構を備えた材料ガス供給用ノズル、該ノズルを備えた気相成長装置および該気相成長装置を用いた半導体膜の製造方法を提供する。
【解決手段】
材料ガス流通層は、材料ガスの吹き出し口と、吹き出し口に連通するガス流通通路とを有する。冷却媒体循環層は、ガス流通通路を覆う冷却媒体の循環通路を有する。材料ガス流通層は、吹き出し口側の端部において材料ガス流の上流側に凹んだ第1の凹部を有し、吹き出し口は、第1の凹部の端面に沿って設けられている。冷却媒体循環層は、第1の凹部と外縁が重なる第2の凹部と、第2の凹部を挟む両側の第2の凹部の周辺部にガス流通通路よりも外側に張り出した拡張部と、を有する。冷却媒体の循環通路は、第2の凹部の材料ガス流の上流側端部よりも下流側であって拡張部内に冷却媒体の循環の折り返し点を有する。 (もっと読む)


【課題】本発明は、発光ダイオードの製造方法に関する。
【解決手段】本発明の発光ダイオードの製造方法は、結晶成長のための前記結晶面を有する前記基板を提供する第一ステップと、前記基板の前記結晶面にカーボンナノチューブ層を設置する第二ステップと、前記基板の前記結晶面に第一半導体層、活性層及び第二半導体層を順に成長させる第三ステップと、前記第二半導体層の表面に第二電極を設置する第四ステップと、前記基板を除去する第五ステップと、前記第一半導体層の表面に第一電極を設置する第六ステップと、を含む。 (もっと読む)


【課題】格子欠陥が発生することを防止した発光ダイオードを提供する。
【解決手段】発光ダイオード10は、基板100と、第一半導体層120と、第二半導体層140と、活性層130と、第一電極150と、第二電極160と、を含む。第一半導体層、活性層、及び第二半導体層は、基板から離れる方向に沿って、基板に順次的に積層され、第一電極は、第一半導体層に電気的に接続され、第二電極は、第二半導体層に電気的に接続され、第一半導体層の基板と隣接する表面は、複数の空隙を含むパターン化されたカーボンナノチューブ層102である。第一半導体層のパターン化された表面が基板に接続することによって複数のキャビティが形成される。 (もっと読む)


【課題】 暗電流を増大させることなく、近赤外の長波長側に受光感度を拡大することができる、受光素子等を提供する。
【解決手段】本発明の受光素子は、InP基板1の上に位置し、InGaAs層3aとGaAsSb層3bとが交互に積層されたタイプ2の多重量子井戸構造の受光層3を備え、InGaAs層またはGaAsSb層の層内において上面または下面へと、そのInGaAsまたはGaAsSbのバンドギャップエネルギが小さくなるように、厚み方向に組成の勾配が付いていることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】簡単な構成でプラズマの分布を均一化する。
【解決手段】プラズマ処理装置1は、処理容器2内にマイクロ波を導入するマイクロ波導入装置5を備えている。マイクロ波導入装置5は、天井部11の複数の開口部に嵌合する複数のマイクロ波透過板73を含んでいる。複数のマイクロ波透過板73は、天井部11の複数の開口部に嵌合した状態で、載置台21の載置面21aに平行な1つの仮想の平面上に配置されている。複数のマイクロ波透過板73は、マイクロ波透過板73A〜73Gを含んでいる。マイクロ波透過板73G,73Aの中心点P,P間距離とマイクロ波透過板73G,73Bの中心点P,P間距離は、互いに等しいかほぼ等しくなるように設定される。 (もっと読む)


【課題】 STIプロセスにおけるシリコンのトレンチの内壁面に沿って、酸素の拡散に対するバリア性を有する数nm程度の厚みの薄膜を形成する方法を提供する。
【解決手段】 プラズマ処理装置100では、平面アンテナ31からマイクロ波透過板28を経て処理容器1内に放射されたマイクロ波により、処理容器1内で電磁界が形成され、ArガスおよびNガスがそれぞれプラズマ化する。プラズマ中の活性種の作用によりウエハWのトレンチの内壁面が極薄く窒化されることにより、緻密なライナーSiN膜が形成される。 (もっと読む)


【課題】選択的に窒化物膜を形成する。
【解決手段】処理容器2内に窒素含有ガスを供給し、処理容器2内の圧力を133Pa以上1333Pa以下の範囲内に設定して、処理容器2内に窒素含有プラズマを生成し、該窒素含有プラズマによって、シリコンを含有する第2の部分100Bの表面100Baを窒化させずに、タングステンを含有する第1の部分100Aの表面100Aaを選択的に窒化して、第1の部分100Aの表面100Aaに窒化タングステン膜107を形成する。 (もっと読む)


【課題】ポリイミドの炭化を防止でき、成膜容器内にパーティクルが残ることなくポリイミドを除去することができるクリーニング方法を提供する。
【解決手段】酸二無水物よりなる第1の原料を気化させた第1の原料ガスと、ジアミンよりなる第2の原料を気化させた第2の原料ガスとを成膜容器60内に供給することによって、成膜容器60内に搬入している基板にポリイミド膜を成膜する成膜装置10におけるクリーニング方法であって、成膜容器60内を酸素雰囲気にした状態で、成膜容器60を加熱機構62により360〜540℃の温度に加熱することによって、成膜容器60内に残留しているポリイミドを酸化して除去する。 (もっと読む)


【課題】平坦度や膜厚均一性が向上した不純物ドープトシリコン膜を成膜できる基板処理技術を提供する。
【解決手段】金属膜と該金属膜の表面の少なくとも一部に金属酸化膜が形成された基板を処理室内へ搬入する工程と、前記基板を収容した処理室内へ不純物含有ガスを供給し、前記金属酸化膜を除去する酸化膜除去工程と、前記処理室内に前記不純物含有ガスおよびシリコン含有ガスを供給し、前記金属膜上に不純物が添加されたシリコン含有膜を形成するシリコン含有膜形成工程と、前記シリコン含有膜が形成された基板を処理室内から搬出する工程とから、半導体装置の製造方法を構成する。 (もっと読む)


【課題】強い酸化力で基板上に均一な酸化膜を形成することができる。
【解決手段】基板に酸素含有ガスを供給する工程と、前記酸素含有ガスに対して触媒作用を有する反応促進ガスを供給する工程と、を交互に複数回繰り返して、基板を酸化することにより基板に酸化膜を形成する。 (もっと読む)


【課題】 歩留まりを向上させることができる半導体素子の製造方法を提供する。
【解決手段】 半導体素子の製造方法は、(a)成長基板を準備する工程と、(b)前記成長基板上に半導体層を形成する工程と、(c)前記半導体層を複数の素子部に分割するとともに、各素子部間の半導体層の少なくとも一部を犠牲層として残す工程と、(d)前記半導体層上に金属層を形成する工程と、(e)前記半導体層に、前記金属層を介して支持基板を設ける工程と、(f)前記成長基板に、前記素子部の全部を覆い、かつ前記犠牲層の外縁内に収まるようにレーザーを照射することにより、前記成長基板を前記半導体層から剥離する工程とを含む。 (もっと読む)


【課題】一度に処理する基板の枚数を増大させ、GaNのエピタキシャル膜の生産性を向上させることができる膜の形成方法及び基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板を処理室内に搬入する搬入工程と、ガリウム原子を含有する有機金属化合物ガスとアンモニアガスとを前記処理室内に供給し、初期膜を形成する初期膜形成工程と、前記初期膜形成工程の後に、前記処理室内にガリウム塩化物ガスと前記アンモニアガスを同時に供給し、エピタキシャル膜を形成するエピ膜形成工程とによりGaN膜を形成する。 (もっと読む)


【課題】 低温領域において、膜中の塩素濃度が低く、フッ化水素に対する耐性の高いシリコン窒化膜を形成する。
【解決手段】 処理室内の基板に対してモノクロロシランガスを供給する工程と、処理室内の基板に対してプラズマ励起させた水素含有ガスを供給する工程と、処理室内の基板に対してプラズマ励起または熱励起させた窒素含有ガスを供給する工程と、処理室内の基板に対してプラズマ励起させた窒素ガスおよびプラズマ励起させた希ガスのうち少なくともいずれかを供給する工程と、を含むサイクルを所定回数行うことで、基板上にシリコン窒化膜を形成する工程を有する。 (もっと読む)


【課題】 半導体素子を歩留まりよく製造する。
【解決手段】 (a)成長基板上に、III族窒化物系化合物半導体から構成され、空洞を備える空洞含有層を形成する。(b)空洞含有層上に、n型のIII族窒化物系化合物半導体から構成され、空洞を閉じるn層を形成する。(c)n層上に、III族窒化物系化合物半導体から構成される活性層を形成する。(d)活性層上に、p型のIII族窒化物系化合物半導体から構成されるp層を形成する。(e)p層上方に、支持基板を接着する。(f)空洞が形成されている位置を境界として、成長基板を剥離する。工程(a)または(b)において、空洞を閉じる前に、加熱を行いながら、層を構成する材料の少なくとも一部の供給を減少させる。 (もっと読む)


【課題】 基板表面や対向面の状態によらず、形成するシリコン膜の表面の平坦性を向上させる。
【解決手段】 基板が収容される処理室と、処理室内に少なくともシリコン含有ガスを供給するシリコン含有ガス供給系と、処理室内に少なくともホウ素含有ガスを供給するホウ素含有ガス供給系と、基板が収容された処理室内にホウ素含有ガス供給系からホウ素含有ガスを供給させ、基板の表面を、ホウ素元素が堆積された表面或いはホウ素元素により終端された表面に改質させた後、シリコン含有ガス供給系からシリコン含有ガスを供給させると共に、ホウ素含有ガス供給系からホウ素含有ガスを供給させ、改質された基板の表面上にシリコン膜を形成するよう制御する制御部と、を備える。 (もっと読む)


【課題】シリコン基板上にIII族窒化物材料を成長させるための新規な方法を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明は、ポーラス状の最上層を有するシリコン基板を含む基板と、
上記最上層上の、Ge材料からなる第2層と、
上記第2層上の、III族窒化物材料からなる別の層とを有する装置に関する。
さらに、本発明は、高品質のIII族窒化物層のエピタキシャル成長に非常に適した方法、中間層若しくはテンプレートデバイスに関する。 (もっと読む)


【課題】成長する金属薄膜の成膜速度や膜質のバラツキが生じるとの課題があった。
【解決手段】液体原料又は固体原料を貯留する液体原料タンク315と、液体原料又は固体原料をガス状態にするガス化機構315、310と、ガス化機構315、310と処理室201との間に設けられたMFC318とを有し、コントローラ280は、液体原料又は固体原料をガス状態にして供給する際、ガス化機構315、310及びMFC318を制御して原料ガスの流量を制御する。 (もっと読む)


【課題】簡便な方法で形成することが可能な高抵抗のバッファ層を備えた窒化物半導体装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】基板上に、原料ガスとして有機金属ガリウムを供給しながら、エピタキシャル成長温度とn型不純物のドーピングガスの供給量を制御することにより、有機金属ガリウムに起因する炭素がドーピングされて所望の抵抗率となる窒化ガリウム層をバッファ層としてエピタキシャル成長する。 (もっと読む)


【課題】シリコンやゲルマニウムのようなIV族半導体材料を、半導体表面上に、絶縁表面上への堆積無しに選択的に堆積する方法を提供する。
【解決手段】半導体プロセスで半導体材料の選択成長を行う方法が、第1領域11と第2領域12とを含むパターニングされた基板10を提供する工程を含み、第1領域11は露出した第1半導体材料を含み、第2領域12は露出した絶縁材料を含む。この方法は、更に、第2半導体材料の前駆体、Cl化合物とは応性しないキャリアガス、および錫テトラクロライド(SnCl)を供給することにより、第1領域の第1半導体材料の上に第2半導体材料の膜を選択的に形成する工程を含む。錫テトラクロライドは、第2領域の絶縁材料上への第2半導体材料の堆積を阻害する。 (もっと読む)


【課題】低温で高品質な生成膜の生成を可能とし、デバイスの性能の向上を図ると共に歩留りの向上を図る半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】処理室に基板を搬入する工程と、処理室及び基板を所定の温度に加熱する工程と、処理室に所定のガスを給排するガス給排工程とを含み、ガス給排工程は、シラン系のガスと水素ガスとを処理室に供給する第1の供給工程と、少なくともシラン系のガスを処理室から除去する第1の除去工程と、塩素ガスと水素ガスとを処理室に供給する第2の供給工程と、少なくとも塩素ガスを処理室から除去する第2の除去工程とを、所定回数繰返して実行させる。 (もっと読む)


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