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Fターム[5F045AD09]の内容

気相成長(金属層を除く) (114,827) | 成膜条件−成膜温度 (8,040) | 500≦T<600℃ (779)

Fターム[5F045AD09]に分類される特許

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【課題】 加熱装置全体としての断熱性を維持しながら、昇温時、温度安定時間の短縮と急冷時間の短縮を図る加熱装置を提供すること。
【解決手段】筒状の側壁内に基板を処理する処理室を設け、この側壁に支持されると共に基板を加熱する発熱体20を備えた加熱装置である。側壁内層50、側壁中層60及び側壁外層70で区切られた二つの空間が形成される。発熱体20を取り付ける側壁内層50と側壁中層60との間の第一の空間S1には冷却媒体流通通路14が形成される。側壁中層60と側壁外層70との間の第二の空間S2には断熱材63が封入されている。 (もっと読む)


【課題】結晶性に優れたIII族窒化物の受光層を形成することのできる半導体積層構造、及びこれを用いた紫外線センサーを提供する。
【解決手段】所定の基材3上において、III族窒化物下地層4と、少なくともGaを含むIII族窒化物層5とを順次に積層し、その上にInおよびAl、あるいは一方を含むIII族窒化物からなるAlyInxGa1-x-yN受光層6を設けた半導体積層構造1、及びこれを用いて表面にショットキー電極7s、およびオーミック電極7oを形成させて紫外線センサー2を作製する。 (もっと読む)


【課題】ボイドの発生を抑制することができるシリコン膜の形成方法およびその形成装置を提供する。
【解決手段】シリコン膜の形成方法は、第1成膜工程と、エッチング工程と、第2成膜工程とを備えている。第1成膜工程では、被処理体の溝を埋め込むようにシリコン膜を成膜する。エッチング工程では、第1成膜工程で成膜されたシリコン膜をエッチングして前記溝の開口部を広げる。第2成膜工程では、エッチング工程で開口部が広げられた溝にシリコン膜を埋め込むように成膜する。これにより、表面に溝が形成された被処理体の溝にシリコン膜を形成する。 (もっと読む)


【課題】結晶性の良い半導体発光素子の製造方法を提供する。
【解決手段】実施形態によれば、半導体発光素子の製造方法は、加熱した基板上に、インジウムを含む活性層を形成する工程と、前記活性層を形成するときと実質的に同じ温度に前記基板を加熱した状態で、前記活性層上に、窒化物半導体からなる多層膜を形成する工程と、を備えた。 (もっと読む)


【課題】比較的低温でも埋め込み特性が良好なアモルファス状態の不純物含有のシリコン膜を形成することが可能な薄膜の形成方法を提供する。
【解決手段】真空排気が可能になされた処理容器14内で被処理体Wの表面に不純物含有のシリコン膜を形成する薄膜の形成方法において、処理容器内へシリコンと水素とよりなるシラン系ガスを該シラン系ガスが被処理体の表面に吸着するような状態で供給する第1のガス供給工程と処理容器内へ不純物含有ガスを供給する第2のガス供給工程とを交互に繰り返し行うことによりアモルファス状態で不純物含有のシリコン膜を形成する。これにより、比較的低温でも埋め込み特性が良好なアモルファス状態の不純物含有のシリコン膜を形成する。 (もっと読む)


【課題】ウエハの処理枚数が多く、また、ウエハへの膜の成膜後のウエハ良否の選別処理機能を有する常圧気相成長装置を提供する。
【解決手段】ウエハトレー1と、前記ウエハトレー1を水平方向に搬送するウエハトレー駆動装置と、ウエハ3に、原料ガスを吹き付けるガスヘッド6と、前記ウエハトレー1を加熱するヒーター7と、成膜前にウエハ上部を加熱しウエハ3の反りを矯正する機構71と、成膜後のウエハトレー1を垂直下降方向に移動させるDOWNリフトと、成膜前のウエハトレー1を、垂直上昇方向に移動させるUPリフトとで構成され、前記DOWNリフトの下端と、UPリフトの下端との間に、ウエハトレー反転機構4が配置されており、DOWNリフトから運搬された成膜後のウエハトレー1を設定した角度内で反転させて、成膜途中にて破損したウエハ3を、ウエハトレー1から脱落させる機能を有する常圧気相成長装置とする。 (もっと読む)


【課題】光電変換効率を向上させることが可能な光電変換素子及びその製造方法を提供する。
【解決手段】低温で成長させることにより作製した第1窒化ガリウム層と、該第1窒化ガリウム層の表面に形成された窒化インジウム量子ドットと、を有する光電変換素子、及び、低温で成長させることにより窒化ガリウム層を形成する第1工程と、該第1工程によって形成された窒化ガリウム層の表面に窒化インジウム量子ドットを形成する第2工程と、を有する、光電変換素子の製造方法とする。 (もっと読む)


【課題】AlGaInP系半導体発光素子用エピタキシャルウェハ表面平坦度およびダイオードチップを製造する際の発光強度の歩留まりを向上できるAlGaInP系半導体発光素子用エピタキシャルウェハを提供する。
【解決手段】N型GaAs基板2上に、N型AlGaInP系クラッド層4、AlGaInP系活性層5、P型AlGaInP系クラッド層6、及びGaPからなる電流拡散層7を有するAlGaInP系半導体発光素子用エピタキシャルウェハ1において、電流拡散層7が、P型AlGaInP系クラッド層6上に形成されたV/III比が1以上100以下の低V/III比部分8と、低V/III比部分上に形成されたV/III比が100以上500以下の高V/III比部分9とからなるものである。 (もっと読む)


【課題】均一性の高いSi又はSiGeを基板表面上に堆積する方法を提供する。
【解決手段】化学気相成長プロセスにおいて、輸送量制限領域又はその近傍で、薄膜の堆積を行うことを可能にする化学前駆体を利用する。このプロセスによれば、堆積速度が大きく、さらに組成的にも厚み的にも、通常の化学前駆体を用いて調整した膜より均一な膜を生成することができる。好ましい実施の形態では、トリシランを使用して、トランジスタゲート電極などの様々な用途で半導体産業において有用なSi含有薄膜を堆積する。 (もっと読む)


【課題】InAlN/GaNヘテロ構造を有し、かつオーミックコンタクト特性の優れた半導体素子用のエピタキシャル基板を提供する。
【解決手段】半導体素子用エピタキシャル基板10Aが、下地基板1と、GaNからなるチャネル層3と、AlNからなるスペーサ層4と、III族元素としてInとAlとGaとを含む障壁層5と、を備え、障壁層が、InxAl1-xN(0<x<1)からなるマトリックス層にGa原子がドープされ、障壁層のGa原子の濃度が1.2×1020cm-3以下であるようにする。 (もっと読む)


【課題】被処理基板が反っていても水平に保持することができ、被処理基板の位置ずれや反り量のばらつきを吸収することができるようにすることである。
【解決手段】左右一対の前側支柱26と、左右一対の後側支柱27とを有し、これら前側支柱26および後側支柱27に被処理基板wを前方から挿入可能で且つ上下方向に所定の間隔で保持可能な複数の溝28,29を形成してなる基板保持具9において、前側支柱26の前記溝28上の支持面28aを前後方向の中心線c1に対して接近すべく斜め前方に延長させ、互いに接近した前側支柱26の支持面28aの先端における被処理基板wの支持点30,30間の寸法X2を、前記後側支柱27の支持面29aの先端における被処理基板wの支持点31,31間の寸法Y2と同じにした。 (もっと読む)


【課題】基板上に成長結晶層の膜厚均一性を向上させることができ、歩留まりが高い気相成長装置を提供する。
【解決手段】基板15を支持する底面サセプタ部14aと、サセプタ14a,bの上面に沿って流れる材料ガス流を供給するノズル11と、を含む。サセプタ14a,bは、それぞれが基板と同一材料からなる、底面サセプタ部14aの上面に基板に嵌合する凹状の基板保持部を画定する外周サセプタ部14bとサセプタ14a,bの裏面を画定する底面サセプタ部14aとから構成されていること、外周サセプタ部14bは、基板15の上面と同一平面となる基板保持部を囲む上面を有しかつ、基板保持部を囲む上面が基板の上面の結晶面方位と同一の結晶面方位を有する。 (もっと読む)


【課題】電気伝導性及び光特性に優れたシリコンナノワイヤを提供することを目的とする。
【解決手段】本発明のシリコンナノワイヤは、金属ナノクラスターが、シリコンナノ構造体の表面上に形成されてなる点に特徴を有する。金属ナノクラスターは、シリコンナノワイヤの電気的特性及び光学的特性を向上させる役割を果たす。よって、本発明のシリコンナノワイヤは、リチウム電池、太陽電池、バイオセンサー、メモリ素子などの多様な電気素子に有効に使用できる。 (もっと読む)


【課題】本発明は、Ge含有ガスを供給してEpi−SiGe等の成膜処理をする場合に、基板界面の酸素濃度上昇を抑え、良好な膜を形成することができる基板処理装置を提供することを課題としている。
【解決手段】基板に成膜処理をする際に、ステップS18においてEpi−SiGe成膜処理を行う前に、ステップS13においてSiコーティング処理を行う。 これにより基板支持体に付着したGeO等の酸化物をコーティングで封じ込めることができ、GeOから脱離した酸素がEpi−SiGe膜のSi基板との界面に取り込まれるのを防止することができる。 (もっと読む)


【課題】低誘電率膜への付着性が高く、低誘電率膜中への銅の拡散を効果的に防止できるバリア膜の成膜方法を提供する。
【解決手段】 成膜方法は、成膜装置100の処理容器1内に、絶縁膜が設けられたウエハWを配置する工程と、処理容器1内にTEOSなどのシリコン原子を含む化合物のガスと水蒸気などのOH基供与性ガスを供給し、絶縁膜の表面にSi−OH基を形成させる表面改質工程と、処理容器1内にマンガン含有材料を含む成膜ガスを供給し、CVD法によりSi−OH基が形成された絶縁膜の表面にマンガン含有膜を成膜する成膜工程と、を備えている。 (もっと読む)


【課題】所望の比抵抗を有する導電性III族窒化物単結晶基板を低コストで製造することができる導電性III族窒化物単結晶基板の製造方法を提供する。
【解決手段】導電性III族窒化物単結晶基板の製造方法は、GaClガス、NHガス、及びN又はArにより所定の濃度に希釈されたSiHClガスをGaN単結晶基板に供給し、450μm/hourより大きく2mm/hour以下の範囲の成長速度でGaN単結晶基板上にGaN単結晶を成長させると共に、SiHClガスが所定の濃度に希釈されたことによるNHガスとの反応の抑制により、GaN単結晶の比抵抗が1×10−3Ωcm以上1×10−2Ωcm以下となるようにSiHClガスに含まれるSiがGaN単結晶にドーピングされることを含む。 (もっと読む)


【課題】薄膜を成膜するときの膜厚の均一性を良好にする。
【解決手段】基板処理装置は、反応管6と、反応管6内で基板を回転させる回転機構20と、処理ガスを反応管6に供給するガス供給系と、反応管6内の雰囲気を排気する排気系と、制御部60と、を備える。ガス供給系は、ガス供給配管51と、ガス供給配管51を開閉するバルブ2と、を有し、排気系は、排気管40と、排気管40を開閉する排気バルブと、を有する。制御部60が排気バルブを閉じるとともにバルブ2を開くことで、反応管6内の排気を止めた状態でガス供給配管51から処理ガスを反応管6に供給する。処理ガスを周期的に反応管6に供給する際、制御部60がガス供給系の供給周期及び回転機構20の回転周期を制御し、処理ガスが基板に対して先に供給される時の基板の周縁箇所と、その次に供給される時の基板の周縁箇所とが異なる。 (もっと読む)


【課題】比較的小さい膜厚で結晶性の良いIII族窒化物半導体の結晶を成長させることができるIII族窒化物半導体の成長方法を提供する。
【解決手段】本発明のIII族窒化物半導体の成長方法は、基板(10)上に、III族窒化物半導体の結晶核(40)を島状に形成する第1の工程と、窒素源ガスを供給しながら珪素源ガスとIII族源ガスを交互に供給することにより、前記結晶核(40)を島状に成長させる第2の工程と、該第2の工程後、窒素源ガスとIII族源ガスを供給し、前記島状の結晶核(40)からIII族窒化物半導体を各々成長させ、層状のIII族窒化物半導体(45)を形成する第3の工程と、を具備することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】量産性に優れた薄膜トランジスタを提供する。また半導体装置の作製において有
用な半導体薄膜を提供する。
【解決手段】プラズマCVD法により作製された希ガス元素を1×1020/cm〜1
×1021/cmで含む半導体膜を形成し、前記半導体膜の一部を除去して、活性層を
形成し、トップゲート型薄膜トランジスタまたはボトムゲート型薄膜トランジスタを作製
する。また、プラズマCVD法により作製された希ガス元素を1×1020/cm〜1
×1021/cmで含む半導体膜を剥離層として用いた半導体装置を作製する。また、
プラズマCVD法により作製された希ガス元素を1×1020/cm〜1×1021
cmで含む半導体膜をゲッタリングサイトとして用いた半導体装置を作製する。 (もっと読む)


【課題】ウェーハ面内全域にて凹凸加工された構造を埋め込み成長可能であり、かつ、凹凸形状によらない安定した埋め込み平坦化が可能なIII−V族化合物半導体の気相成長方法を提供する。
【解決手段】III−V族化合物半導体基板の表面に形成された規則的な凹凸を有する四元系III−V族化合物半導体層の上に、有機金属気相成長法を用いて、上記凹凸の熱変形を抑制する保護膜となるIII−V族化合物半導体層を、第一の成長温度で所定の膜厚となるまでエピタキシャル成長させた後、上記第一の成長温度よりも高い第二の成長温度で連続して同一組成の半導体層を、トータルの厚さが上記凹凸の高さよりも大きくなるまで成長させるようにした。 (もっと読む)


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