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Fターム[5F045AF07]の内容

気相成長(金属層を除く) (114,827) | 被成膜面の組成、基板の特徴、ダミー基板、マスク (7,328) | 被成膜面が絶縁体であるもの (1,573)

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【課題】製膜される膜の高品質化を図るとともに、大面積化および製膜速度の高速化を図ることができる真空処理装置を提供する。
【解決手段】互いに対向して配置され、間にプラズマを生成するリッジ電極を有するリッジ導波管からなる放電室2と、放電室2に隣接して配置され、リッジ電極に向かってプラズマの形成に用いられる母ガスを供給するガス供給部10と、放電室2との間にガス供給部10を挟む位置に配置され、プラズマによる処理が施される基板Sと、少なくとも放電室2、ガス供給部10および基板Sを内部に収納する減圧容器7と、減圧容器7におけるガス供給部10との間に放電室2を挟む位置に連通され、減圧容器7内部の圧力を低減させる排気部9と、が設けられていることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】プラズマ処理を行うときにマスクとして使用するフィルムを搬送する時に、これに生じる張力を調整することで、フィルムの延びを防止することができるプラズマ処理装置を提供する。
【解決手段】処理ステージよりも上流側にあるダンサーローラ112aと、処理ステージよりも下流側でフィルムテープ101に搬送のための駆動力を与えるアクチュエータ117とをみ、ダンサーローラ112aは、一定の力に応じてフィルムテープ101に張力を与え、張力が増大すると一定の力とは反対の方向に移動してフィルムテープ101を送り出す。フィルムテープ101は、処理ステージでワークピース16のプラズマジェット5によって処理される部分上に開口部100が位置するように配置され、開口部100を介してプラズマジェット5による処理が行われる。 (もっと読む)


【課題】プラズマCVD処理装置において、カソード電極の反りや歪みを防止する。
【解決手段】処理ガスをプラズマ化して基板を処理するプラズマCVD装置100は、基板を収容する処理容器103と、処理容器103内に配置された複数組のカソード電極101およびアノード電極102とを備えている。カソード電極101は、バッキングプレート3およびシャワープレート2から構成される。シャワープレート2には、バッキングプレート3と接する中間締結部6が形成されている。このため、シャワープレート2に加えられたプラズマの熱は、中間締結部6を介してバッキングプレート3に伝達され、カソード電極101の温度の均一性は向上する。よって、カソード電極101の反りや歪みは防止される。 (もっと読む)


【課題】プロセス温度が室温程度の低い温度帯域でプラズマ処理する際に、そのプロセス温度を低く維持してプラズマ成膜処理等のプラズマ処理の再現性を向上させることが可能なプラズマ処理装置を提供する。
【解決手段】真空引き可能になされた筒体状の処理容器24と、被処理体Wを保持して処理容器内へ挿脱される保持手段28と、ガスを供給するガス供給手段46,48と、処理容器の長さ方向に沿って設けられてガスを高周波電力により発生したプラズマにより活性化する活性化手段58とを有して、被処理体に対してプラズマ処理を施すようになされたプラズマ処理装置において、高周波を遮断するために処理容器の周囲を囲むようにして設けられると共に接地された筒体状のシールド筐体72と、プラズマ処理中にシールド筐体と処理容器との間の空間部82に沿って冷却気体を流す冷却機構74とを備える。 (もっと読む)


【課題】メタルゲート電極の酸化を抑制しつつ、MOSFETの寄生容量の増大を抑制する。
【解決手段】半導体装置は、半導体基板10と、前記半導体基板上に形成されたシリコンと酸素とを含む第1絶縁膜12aと、前記第1絶縁膜上に形成された前記第1絶縁膜よりも誘電率が高く、高融点金属と酸素とを主成分とする第2絶縁膜12bと、で構成されるゲート絶縁膜12と、前記ゲート絶縁膜上に形成された金属層13を含むゲート電極15と、前記ゲート電極の前記金属層の側面、および前記ゲート絶縁膜の前記第2絶縁膜の側面に形成されたシリコンと窒素を含む第1側壁絶縁膜16と、前記第1側壁絶縁膜の側面、および前記第1絶縁膜の前記第1絶縁膜の側面に形成されたシリコンと酸素とを含む第2側壁絶縁膜17と、を具備する。 (もっと読む)


【課題】膜厚および膜質の面内分布に優れた高品質な薄膜を歩留まり良く製膜可能なプラズマCVD装置を提供する。
【解決手段】製膜室R内において被処理基板2が基板ステージ1上に保持され、前記被処理基板2の被製膜面に向けてシャワーヘッド4から原料ガス8を分散供給した状態で前記原料ガス8のプラズマ5を発生させて前記プラズマ5により前記原料ガス8を分解して前記被製膜面に堆積させることで薄膜を製膜するプラズマCVD装置であって、前記シャワーヘッド4は、前記基板ステージ1と対向する面に設けられて前記被製膜面に向けて原料ガス8を分散供給するガス供給部10と、前記基板ステージ1と対向する面の前記ガス供給部10の外周部であって前記被処理基板の面内方向における前記被処理基板の外周端部位置よりも外方の位置に、前記基板ステージ1の方向に突出した遮蔽部7と、を備える。 (もっと読む)


【課題】緻密で均一な膜厚であり、しかも所望の膜厚の炭化シリコン膜を得ることができ、かつ低コストや大口径化が可能な炭化シリコン膜の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の炭化シリコン膜13の製造方法は、基板11上にアモルファスシリコンとポリシリコンとの少なくとも一方を含むシリコン膜14を形成する工程と、シリコン膜14を炭化処理し、炭化された膜を含んだ炭化シリコン膜13を形成する工程と、を有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】良好な膜質であり所望の導電型や導電性に制御された炭化シリコン膜を低コストで効率よく製造する方法を提供する。
【解決手段】本発明の炭化シリコン膜の製造方法は、不純物領域を有する炭化シリコン膜の製造方法である。表層にシリコン膜16aを有する基板11のシリコン膜16aを炭化処理して、炭化された膜を含んだ炭化シリコン膜13を形成する工程を有する。不純物領域になる部分のシリコン膜を炭化処理する前に、この部分に不純物を注入する。 (もっと読む)


【課題】基板が破損する可能性を軽減しつつ、基板が載置台上に吸着しているか否かを検出し解消する吸着検知解消方法を提供すること。
【解決手段】載置台の載置面から被処理体の裏面に対して、所定の吸着判定圧力にて流体を供給する工程と(ステップ2)、吸着判定圧力にて流体を供給開始してから、所定の吸着判定時間が経過したときの流体の流量を検知する工程と、該工程において検知された流体の流量が、所定の吸着判定流量以下か否か、を判定する工程と(ステップ3)、該工程における判定の結果、流体の流量が吸着判定流量以下の場合、被処理体の裏面に対して流体を供給する圧力を吸着判定圧力よりも高圧の吸着解消圧力にする工程と(ステップ7)、を具備する。 (もっと読む)


【課題】基板を処理する処理容器内におけるガスの流れをコントロールすることにより、処理容器内の圧力を適切に制御し、所望の圧力状態にすることが可能な基板処理技術を提供する。
【解決手段】処理容器2内に処理ガスを導入するとともに排気して処理容器2内の載置台4上に置かれた基板Gを処理する基板処理装置1であって、処理容器2内において、載置台4の周囲を複数の領域15に仕切る仕切り部材6と、処理容器2の底面2aにおいて、仕切り部材6によって仕切られた複数の領域15にそれぞれ設けられた、処理ガスを排気する複数の排気口5と、複数の排気口5の各々に接続されて個別に作動可能な排気機構55と、各領域15の圧力を検出するセンサ47と、センサ47が検出した圧力に基づいて排気機構55を個別に制御する制御装置45を有する。 (もっと読む)


【課題】膜質の安定した微結晶シリコン膜を歩留まり良く形成可能な微結晶シリコン膜の製造装置および微結晶シリコン膜の製造方法を得ること。
【解決手段】透光性を有する被処理基板2が基板ステージ1上に保持され、前記被処理基板の被製膜面に向けて原料ガスを供給した状態で前記原料ガスのプラズマ6を発生させて前記プラズマ6により前記原料ガスを分解して前記被製膜面に堆積させることで微結晶シリコン膜7の製膜を行う製膜室Rと、前記微結晶シリコン膜7の結晶化率を、前記被処理基板2における前記被製膜面と反対側からラマン分光法により前記基板ステージ1および前記被処理基板2を通して測定する測定手段と、を備える。 (もっと読む)


【課題】プラズマ処理の時間効率を高めつつ、電極の変形を抑制することができるプラズマ処理方法を提供する。
【解決手段】電極対が放電を開始され(ST0)次に、電極対に一の値の交流電力P1を供給し続けながら第1のプラズマ処理が行なわれる(ST1)。次に、電極対に一の値よりも大きい値の交流電力P2を供給し続けながら第2のプラズマ処理が行なわれる(ST2)。最終的に、さらに大きい値の交流電力P3を供給し続けながら第3のプラズマ処理が行なわれる(ST3)。かくして、電極の変形を抑制しながら効率的にプラズマ処理が可能になる。 (もっと読む)


【課題】絶縁基板の温度調節をしつつ、絶縁基板を有する配線基板の静電気破壊の発生を低減することを目的とする。
【解決手段】第1方向D1に延びた配線Zが配置された絶縁基板10を有する配線基板30を配置可能なテーブル面40Sと、テーブル面40Sに形成されるとともに第1方向D1と交差する方向に延びた直線状の溝部41と、溝部41に形成されるとともにガスが注入される注入口42Aと、溝部41に形成されるとともに注入口42Aから注入されたガスを排出する排出口43Aと、を有するテーブル40を備えたことを特徴とする。 (もっと読む)


一実施形態では、シャワーヘッドを備えた有機金属化学気相堆積(MOCVD)チャンバの処理領域内のサセプタ上に1枚または複数の基板を設置するステップと、MOCVDチャンバ中へとシャワーヘッドを通して第1のガリウム含有前駆物質および第1の窒素含有前駆物質を流すことによって、MOCVDチャンバ内部で熱化学気相堆積プロセスを用いて基板の上方に窒化ガリウム層を堆積するステップと、大気に1枚または複数の基板を曝すことなくMOCVDチャンバから1枚または複数の基板を取り除くステップと、シャワーヘッドから汚染物を除去するために、処理チャンバ中へと塩素ガスを流すステップと、シャワーヘッドから汚染物を除去するステップの後で、MOCVDチャンバ中へと1枚または複数の基板を搬送するステップと、MOCVDチャンバ内部で熱化学気相堆積プロセスを用いてGaN層の上方にInGaN層を堆積するステップとを備えた、化合物窒化物半導体デバイスを製造するための方法を提供する。
(もっと読む)


【課題】電圧印加電極をシールドする金属製支持枠と枠体との間のインダクタンス成分を低減する。
【解決手段】電圧印加電極8の背面に金属製支持枠21を配置するとともに、電圧印加電極8の前方に突き出すようにして電圧印加電極8の周囲に枠体22を配置し、枠体22の外周面を覆うように配置された金属板27にて金属製支持枠21と枠体22とを電気的に接続する。 (もっと読む)


【課題】アーク放電を連続して行った際の、着火不良を大幅に向上できる成膜方法、成膜装置、及び半導体装置の製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】
第1の電極14をカソード12の所定位置に接触させ、前記カソード12とアノード13との間にアーク放電が発生したかどうかを検出する。前記検出結果に応じて、第2の電極15を前記所定位置とは異なる位置に接触させ、前記アーク放電を発生させてプラズマを生成し、前記プラズマに含まれる導電材料を、基板51の上方に堆積させる。成膜時の電極の着火確率を大幅に向上させることができ、ひいては、半導体装置の製造効率や製造歩留まりの改善を図ることができる。 (もっと読む)


【課題】基板の搬送系を高温環境、ダスト環境から隔離でき、それらの環境に起因するトラブルを回避可能な真空装置を提供する。
【解決手段】第1及び第2の凸部を上部に有し、真空排気可能なチャンバ1と、複数の被処理基板10a〜10c,20a〜20cをそれぞれ載置し加熱する第1及び第2のサセプタ11,21を搬送する搬送部8とを備え、第1の凸部がなす領域の直下を第1及び第2のサセプタ11,21のいずれかが仕切り第1の凸部に処理室4を定義し、第2の凸部がなす領域の直下を、第1及び第2のサセプタ11,21の他のいずれかが仕切り第2の凸部にロードロック室7を定義し、第1及び第2のサセプタ11,21をロードロック室7と処理室4との間を交互に搬送する。 (もっと読む)


【課題】均一な成膜を行うことができるDCアークプラズマCVD装置を提供する。
【解決手段】DCアークプラズマCVD装置1は、プラズマガン4及び陽極部5と、反応容器3と、を備え、プラズマガン4及び陽極部5は、プラズマPを発生させ、反応容器3は、プラズマガン4及び陽極部5が互いに対向するように取り付けられると共に発生させたプラズマPをその内部で囲うように設けられた反応室6と、反応室6に隣接しその内部に基板2が配置される成膜室7と、を含んでいる。反応室6と成膜室7との間の対向壁部8cには、プラズマPによって活性化させた原料ガスが通過する孔が複数形成され、反応室6の壁部8は、絶縁体で構成されている。このDCアークプラズマCVD装置1によれば、反応室6の壁部8に電流が流れ込んで放電空間内の電流密度が不均一になるのを抑制でき、成膜速度のばらつきを防止できる。 (もっと読む)


【課題】形成される膜の膜質及び膜厚が均一となる太陽電池の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の太陽電池の製造方法は、真空チャンバ2内に設けられた上部電極3と、この上部電極3の一方の面に対向し、基板10を保持できる下部電極5と、この真空チャンバ2内にガスを供給するガス供給手段と、を備えたプラズマ処理装置を用いて基板10上に光電変換層30を形成するものであって、この上部電極3の他方の面には、底部が曲面状の凹部4aが設けられ、更にこの凹部4aの底部に複数の貫通孔4bが設けられる。 (もっと読む)


真性型の微結晶シリコン層向けの方法が提供される。一実施形態では、微結晶シリコン層は、加工チャンバ内へ基板を提供し、加工チャンバ内へガス混合物を供給し、ガス混合物内に第1のモードでRF電力を印加し、加工チャンバ内へガス混合物をパルシングし、パルシングされたガス混合物内に第2のモードでRF電力を印加することによって製作される。
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