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Fターム[5F045AF09]の内容

気相成長(金属層を除く) (114,827) | 被成膜面の組成、基板の特徴、ダミー基板、マスク (7,328) | 被成膜面が絶縁体であるもの (1,573) | アルミナ・サファイア・スピネル・ベリリア基板への成膜 (920)

Fターム[5F045AF09]に分類される特許

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【課題】本発明は、エピタキシャル構造体及びその製造方法に関する。
【解決手段】本発明のエピタキシャル構造体の製造方法は、少なくとも一つの結晶面を有する基板を提供する第一ステップと、前記基板の結晶面に複数の空隙を含むカーボンナノチューブ層を配置する第二ステップと、前記基板の結晶面にエピタキシャル層を成長させる第三ステップと、を含む。 (もっと読む)


【課題】中間層の一部が露出している支持基板であっても、それに適切な処理を加えることにより、半導体デバイスを歩留まりよく製造することができる半導体デバイスの製造方法およびエピタキシャル成長用の支持基板を提供する。
【解決手段】本半導体デバイスの製造方法は、少なくとも1層のIII族窒化物半導体層40をエピタキシャル成長させることができる下地基板10と、下地基板10上に全面的に配置された中間層20と、中間層20上に部分的に配置されたGaN層30aとを含み、GaN層30aと中間層20の一部とが露出している支持基板2を形成する工程と、支持基板2の中間層20が露出している部分20p,20q,20rを選択的に除去することにより、下地基板10の一部を露出させる工程と、GaN層30a上に、III族窒化物半導体層をエピタキシャル成長させる工程と、を備える。 (もっと読む)


【課題】Ga基板を有する発光素子の製造時におけるバッファ層の剥離の発生を抑制することができる発光素子の製造方法及び発光素子を提供する。
【解決手段】LED素子1を、MOCVD装置2内でGa基板10上にバッファ層11を形成し、その後、MOCVD装置2内を窒素雰囲気とし、700℃から1035℃の成長温度にてバッファ層11上にGaN層12aを形成して製造する。 (もっと読む)


【課題】ウェーハ支持部の面内の温度分布を適切にする処理装置を提供する。
【解決手段】処理装置は、処理室10と、該処理室内に設けられたウェーハWの支持部22と、該支持部を加熱するヒータhと、前記支持部に対向して設けられ、前記処理室に通じる複数のガス吹出孔14を有するシャワープレート12と、を備え、該シャワープレートにおける前記支持部に対向する表面は、前記支持部側からの輻射熱に対する反射率が相対的に異なる複数の領域を含む。 (もっと読む)


【課題】一度に処理する基板の枚数を増大させ、GaNのエピタキシャル膜の生産性を向上させることができる膜の形成方法及び基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板を処理室内に搬入する搬入工程と、前記処理室内にガリウム塩化物ガスを供給する第1ステップと、前記処理室から前記ガリウム塩化物ガスをパージする第1パージステップと、前記第1パージステップの後に前記処理室内にアンモニアガスを供給する第2ステップと、前記処理室から前記アンモニアガスをパージする第2パージステップとを有する初期膜形成工程と、前記初期膜形成工程の後に、前記処理室内に前記ガリウム塩化物ガスと前記アンモニアガスを同時に供給し、エピタキシャル膜を形成するエピ膜形成工程とによりGaN膜を形成する。 (もっと読む)


【課題】結晶成長の際に反応室内に付着した堆積物を効果的に洗浄する方法を含むIII族窒化物結晶の製造方法を提供する。
【解決手段】III族窒化物結晶11の成長方法は、反応室110にHClガス1を導入して反応室110内を洗浄する工程と、洗浄された反応室110内でSi原子をドーピングしながらIII族窒化物結晶11を気相成長させる工程と、を含む。または、反応室110にHClガスを導入して反応室110内を洗浄する工程と、洗浄された反応室110に取り付けられたトラップ装置116内に副生成物として生成した塩化アンモニア粉末をトラップしながらIII族窒化物結晶11を気相成長させる工程と、を含む。 (もっと読む)


【課題】種基板の両末端周辺部における窒化ガリウム結晶の異常成長を抑制する方法を提供する。
【解決手段】種基板14を固定するポケット部12と、サセプター11と種基板14との間に、種基板14と反応しないサブサセプター13とを備えてなり、かつ、種基板14とサブサセプター13との間に間隙を有してなる、サセプター11を用いる。なお、間隙の大きさと、窒化ガリウム自立基板の厚みは、それぞれ、0mm超過2mm以下である。 (もっと読む)


【課題】反り量を低減できる窒化物半導体の積層体及びその製造方法を提供すること。
【解決手段】実施形態によれば、窒化物半導体の積層体は、主面に凸部を有する基板と、前記基板の前記主面上に直接設けられて前記凸部を覆う単結晶層と、前記単結晶層上に設けられた窒化物半導体層と、を備えている。前記基板は窒化物半導体を含まない。前記単結晶層はクラックを内在している。 (もっと読む)


【課題】ZnO系半導体層の新規な製造方法を提供する。
【解決手段】(a)基板上方に、(MgZn1−x(0≦x≦0.6)単結晶膜を成長させる工程と、(b)前記の(MgZn1−x(0≦x≦0.6)単結晶膜を、400℃以下で、活性酸素により酸化して、MgZn1−yO(0≦y≦0.6)単結晶膜を形成する工程と、(c)工程(a)及び(b)を繰り返して、MgZn1−yO(0≦y≦0.6)単結晶膜を積層する工程とを有するZnO系半導体層の製造方法とする。 (もっと読む)


【課題】厚膜層の成長過程で厚膜層にヒビやクラックが発生することを抑制可能な窒化物半導体基板の製造方法を提供する。
【解決手段】基材2上に窒化物半導体からなる下地層を設けて下地基板3を形成し、下地基板3の下地層上に金属膜を形成した後、水素ガスまたは水素含有化合物ガスを含む雰囲気中で下地基板3を熱処理することで、下地層中に空隙を形成すると共に金属膜に微細孔を形成し、その微細孔を形成した金属膜上に窒化物半導体を成長させて厚膜層5を形成した後、厚膜層5を下地基板3から剥離して窒化物半導体基板1を得る窒化物半導体基板の製造方法において、基材2として、窒化物半導体基板1の径よりも大きい径のものを用い、下地基板3の中央部で厚膜層5を成長させる。 (もっと読む)


【課題】駆動電圧が低い半導体発光素子を提供する。
【解決手段】実施形態によれば、n形半導体層と、電極と、p形半導体層と、発光層と、を備えた半導体発光素子が提供される。p形半導体層は、n形半導体層と電極との間に設けられる。p形半導体層は、電極に接するp側コンタクト層を含む。発光層は、n形半導体層とp形半導体層との間に設けられる。p形半導体層は、p側コンタクト層と発光層との間に設けられ、p形不純物濃度がp形コンタクト層のp形不純物濃度よりも低いp形層を含む。p側コンタクト層は、n形半導体層からp形半導体層に向かう第1方向に突出した複数の突起部を含む。複数の突起部の第1方向に対して垂直な平面内における密度は、5×10個/cm以上、2×10個/cm以下である。複数の突起部に含まれるMgの濃度は、突起部以外の部分に含まれるMgの濃度よりも高い。 (もっと読む)


【課題】 高品質なシリコン膜を高速で結晶成長させる技術を提供する。
【解決手段】 1200℃〜1400℃に加熱されているとともに1500rpm〜3500rpmで回転している基板6に向けて、基板の表面に直交する方向から、塩化シランガス18を供給する。このときの塩化シランガス18の供給量を、基板6の表面1cm当たり200μmol/分以上とする。 (もっと読む)


【課題】石英製の反応炉の損傷を抑制することができ、副生成物の生成を抑制できるIII族窒化物結晶の製造方法、III族窒化物テンプレートの製造方法、III族窒化物結晶及びIII族窒化物テンプレートを提供する。
【解決手段】本発明に係るIII族窒化物結晶は、III族窒化物結晶中に1×1016cm−3以上1×1020cm−3未満の炭素を含み、前記炭素がV族サイトを置換しており、かつ、前記III族窒化物結晶内でアクセプタとして働く他の不純物を含まないものである。 (もっと読む)


【課題】高効率の光半導体素子を提供する。
【解決手段】実施形態によれば、n形半導体層と、p形半導体層と、n形半導体層とp形半導体層との間に設けられた機能部と、を備えた光半導体素子が提供される。機能部は、n形半導体層からp形半導体層に向かう方向に積層された複数の活性層を含む。複数の活性層の少なくとも2つは、多層積層体と、n側障壁層と、井戸層と、p側障壁層と、を含む。多層積層体は、前記方向に交互に積層された複数の厚膜層と厚膜層よりも厚さが薄い複数の薄膜層とを含む。n側障壁層は、多層積層体とp形半導体層との間に設けられる。井戸層は、n側障壁層とp形半導体層との間に設けられる。p側障壁層は、井戸層とp形半導体層との間に設けられる。 (もっと読む)


【課題】III 族窒化物半導体発光素子の光取り出し効率を向上させること。
【解決手段】実施例1のIII 族窒化物半導体発光素子は、凹凸形状が形成されたサファイア基板10と、サファイア基板10の凹凸形状側表面上に、バッファ層を介して順に積層された、III 族窒化物半導体からなるn型層、発光層、p型層と、を有している。凹凸形状は、サファイア基板10表面上にx軸方向をストライプ方向とする第1のストライプ形状100が形成され、その上にx軸方向と直交するy軸方向をストライプ方向とする第2のストライプ形状101が重ねて形成された形状である。このような凹凸形状とすることで、従来のIII 族窒化物半導体発光素子よりも光取り出し効率を向上させることができる。 (もっと読む)


【課題】駆動電圧が低い半導体発光素子を提供する。
【解決手段】実施形態によれば、n形半導体層と、電極と、p形半導体層と、発光層と、を備えた半導体発光素子が提供される。前記p形半導体層は、前記n形半導体層と前記電極との間に設けられる。前記p形半導体層は、前記電極に接するp側コンタクト層を含む。発光層は、前記n形半導体層と前記p形半導体層との間に設けられる。前記p側コンタクト層は、前記n形半導体層から前記p形半導体層に向かう第1方向に対して垂直な平面を有する平坦部と、前記平坦部から前記電極に向かって突出した複数の突起部と、を含む。前記複数の突起部の前記第1方向に沿った高さは、前記発光層から放出される光の主波長の1/4の長さよりも小さい。前記複数の突起部の前記平面内における密度は、5×10個/cm以上、2×10個/cm以下である。 (もっと読む)


【課題】異種基板上に高品質半導体結晶からなる島状のGaN系半導体層を基板の湾曲を抑えて成長させることができ、しかもGaN系半導体層が極めて厚くてもクラックなどの発生を抑えることができ、大面積の半導体素子を容易に実現することができる半導体素子およびその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体素子は、GaN系半導体と異なる物質からなる基板11と、基板11上に直接または間接的に設けられ、一つまたは複数のストライプ状の開口12aを有する成長マスク12と、成長マスク12を用いて基板11上に(0001)面方位に成長された一つまたは複数の島状のGaN系半導体層13とを有する。成長マスク12のストライプ状の開口12aはGaN系半導体層13の〈1−100〉方向に平行な方向に延在している。 (もっと読む)


【課題】窒化物半導体単結晶の反り(面方位分布)を抑制するとともに、均質な結晶成長を行うことができる窒化物半導体基板の製造方法及び窒化物半導体自立基板の製造方法を提供する。
【解決手段】窒化物半導体基板の製造方法は、HVPE炉20において、石英リアクタ7内の結晶成長領域の温度分布を略均一に保持してGaN薄膜2及びストライプマスク4を有する基板1上にGaN厚膜5を成長させるとともに、成長中のGaN厚膜5の反りが予め定めた範囲内になるように当該HVPE炉20を加熱するヒータ8の制御温度を変化させる。 (もっと読む)


【課題】再成長層表面の結晶性に起因する発光層およびp型半導体層の不良が生じにくく、かつ、高い出力の得られる半導体素子の製造方法を提供する。
【解決手段】第一有機金属化学気相成長装置において、基板上に第一n型半導体層を積層する第一工程と、第二有機金属化学気相成長装置において、前記第一n型半導体層上に前記第一n型半導体層の再成長層と第二n型半導体層と発光層とp型半導体層とを順次積層する第二工程とを具備し、前記第二工程において、前記再成長層を第一の成長温度T1で成長させた後に、前記第一の成長温度T1よりも高温の第二の成長温度T2に昇温して前記再成長層の成長を続けることを特徴とする半導体発光素子の製造方法を採用する。 (もっと読む)


【課題】結晶性の高いバッファ層を有する半導体発光素子を形成することができるスパッタ成膜装置、並びに半導体発光素子の製造方法を提供する。
【解決手段】スパッタ成膜装置40を用いて、スパッタ法により基板11上に薄膜を成膜する工程を含む、半導体発光素子の製造方法であって、前記スパッタ法で成膜される薄膜の材料からなるコーティング原料粒子又は前記材料の構成元素からなるコーティング原料粒子を未溶融状態で、ガスの流れを用いて前記スパッタ成膜装置40内の成長室41aの内壁に吹き付けて、前記成長室41aの内壁に前記コーティング原料粒子からなるコーティング膜100を形成する工程と、前記コーティング膜100を形成する工程の後に、前記基板11上に前記薄膜を成膜する工程、を有することを特徴とする半導体発光素子の製造方法を採用する。 (もっと読む)


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