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Fターム[5F049PA04]の内容

Fターム[5F049PA04]に分類される特許

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【課題】ギガビット応答特性・高信頼性で、ブレークダウン電圧特性の変動量が小さいメサ型のアバランシェフォトダイオードを提供すること。
【解決手段】基板11側から順に、電流信号を増幅する増倍層13、増倍層13内部の電界を緩和する電界緩和層14、上層のエッチングの際に電界緩和層14がエッチングされないようにするエッチングストップ層16、光信号を電流信号に変換する光吸収層17が積層し、光吸収層17は、エッチングストップ層16上にてメサ状に形成され、少なくとも光吸収層17の側壁面は、半導体よりなる半導体保護膜111で覆われ、エッチングストップ層16は、第1導電型半導体ないしノンドープ半導体よりなり、電界緩和層14は、第1導電型半導体とは逆導電型の第2導電型半導体よりなる。 (もっと読む)


【課題】超高速動作に適した、受光感度の高い「光通信用フォトダイオード」を提供する。
【解決手段】本発明に係るフォトダイオードは、半絶縁性基板1上に、p形電極層2、半導体光吸収層3、4、半導体光吸収層3、4よりも大きなバンドギャップエネルギーを有する電子走行層5、n形電極バッファ層6、及びn形電極層7が順次積層され、半導体光吸収層3、4及び電子走行層5が第1のメサ構造を形成し、n形電極バッファ層6及びn形電極層7が第2のメサ構造を形成し、p形電極8と、n形電極9とを有する。半導体光吸収層3、4は積層方向にドーピングプロファイルを有し、動作状態において、半導体光吸収層3、4にp形の中性を保つ領域が存在し、少なくとも電子走行層5とn形電極バッファ層6との両層が接する部分が空乏化し、第2のメサ構造の形状とドーピング構造で決まる電界分布により、第1のメサ構造内に活性領域が形成されることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】高強度の光が入力されても、応答性の低下が抑制できるようにする。
【解決手段】例えばInPからなる基板101と、基板101の上に形成された第1導電型の半導体からなる第1半導体層102と、第1半導体層102の上に形成された半導体からなる光吸収層103と、光吸収層103の上に形成された第2導電型の半導体からなる第2半導体層105と、第1半導体層102に形成された第1電極および第2半導体層105に形成された第2電極とを少なくとも備える。光吸収層103は、対象とする光の波長に対応するバンドギャップエネルギーを有して基板101とは格子定数が異なる半導体から構成されて歪みを有している。 (もっと読む)


【課題】サファイア基板上に高品質なIII族窒化物を結晶成長させ、高品質な半導体装置を得ることが可能な半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】直接窒化されたサファイア基板2上のAlN層にラジカル源5から窒素ラジカル又は窒素イオンを含む気体を所定時間照射する。その後、成長させるIII族窒化物の構成元素からなるターゲット3aに窒素雰囲気中でパルスレーザ光を照射するPLD(パルスレーザ堆積)法によってIII族窒化物を結晶成長させることにより、極めて高品質なN極性結晶を得ることができる。 (もっと読む)


【課題】フォトダイオードをより低いバイアス電圧で動作させても、より高い感度が得られるようにする。
【解決手段】電子走行層103の上に形成された第1導電型の半導体からなる電界制御層104を備える。第1半導体層102,電子走行層103、電界制御層104、および第2半導体層107は、光吸収層105を構成する半導体より大きなバンドギャップエネルギーを有する半導体から構成され、電子走行層103および光吸収層105は、第1半導体層102,電界制御層104、および第2半導体層107よりも不純物濃度が低い状態とされている。 (もっと読む)


【課題】 接合バンプで接続されたハイブリッド型撮像装置などの検出装置等において、画素不良をなくし、経済性に優れ、かつ受光素子アレイ等の本体にダメージが生じにくい、検出装置等を提供する。
【解決手段】受光素子が複数配列されたフォトダイオードアレイ50とCMOS70とを備え、フォトダイオードアレイの電極11とCMOSの電極71とが、接合バンプ9,79を介在させて接合され、接合バンプ9,79は、電極に接して位置する基部バンプ層9a,79aと、該基部バンプ層上に位置する、該基部バンプ層よりも、融点が低くかつ柔らかい金属からなる融合バンプ層9b,79bとを有し、該融合バンプ層が溶融して相手側と接合していることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】本発明は、結晶性が良く光吸収係数の高い光電変換膜を有することで、暗電流の発生を抑えて、感度を高めた固体撮像装置を可能にする。
【解決手段】シリコン基板11上に格子整合された銅−アルミニウム−ガリウム−インジウム−イオウ−セレン(CuAlGaInSSe)系混晶または銅−アルミニウム−ガリウム−インジウム−亜鉛−イオウ−セレン(CuAlGaInZnSSe)系混晶からなるカルコパイライト系化合物半導体からなる光電変換膜13を有する。 (もっと読む)


【課題】 経済性に優れ、かつ高い製造歩留りを可能にしながら、画素に短絡や接続不良(オープン)を生じない、検出装置等を提供する。
【解決手段】受光素子アレイ50と、CMOS70と、これらの間に介在する接合バンプ9と、受光素子アレイおよびCMOSのグランド電極12,72どうしを接続する接続部材21とを備え、受光素子アレイのグランド電極12は、画素領域45の外側47において、段の底面をなす化合物半導体層2にオーミック接触しており、接続部材21は、受光素子アレイのグランド電極12とCMOSのグランド電極72とに対して直立していることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 赤外検出器は、様々なノイズ源によって望ましくない影響を受ける。しかも一部の赤外検出器は、たとえば熱的に励起された電流キャリアによって発生するノイズを減少させるため、液化窒素温度(77K)以下の温度で動作するように冷却される。
【解決手段】 広帯域放射線検出器は第1型の電気伝導を有する第1層を有する。第2層は、第2型の電気伝導及び第1スペクトル領域内の放射線に応答するエネルギーバンドギャップを有する。第3層は、ほぼ前記第2型の電気伝導、及び、前記第1スペクトル領域の波長よりも長い波長を有する第2スペクトル領域内の放射線に応答するエネルギーバンドギャップを有する。当該広帯域放射線検出器は複数の内部領域をさらに有する。各内部領域は少なくとも部分的に前記第3層内部に設けられて良い。各内部領域は、前記第3層の屈折率とは異なる屈折率を有して良い。前記複数の内部領域は規則的に繰り返されるパターンに従って配置されて良い。 (もっと読む)


【課題】優れた発電効率を備える太陽電池素子を提供する。
【解決手段】太陽電池素子100は、基板110と、マスクパターン120と、半導体ナノロッド130と、第1の電極150と、第2の電極160とを有する。半導体ナノロッド130は、基板110上に平面視三角格子状に配置されており、相隣り合う半導体ナノロッド130同士の中心間距離pと、半導体ナノロッド130の最小径dとの比p/dが1〜7の範囲にある。半導体ナノロッド130は、第1の導電型の半導体からなる中心ナノロッド131と、真性半導体からなり中心ナノロッド131を被覆する第1の被覆層132と、第2の導電型の半導体からなり第1の被覆層132を被覆する第2の被覆層138とを有する。 (もっと読む)


【課題】 窒化物半導体を用いて良好な量子効率(電子取り出し効率)の受光素子を得ることを目的とする。
【解決手段】 それぞれが窒化物半導体からなるn型層、活性層及びp型層を順に有する受光素子であって、n型層と活性層との間には、n型層から順に、n型層のn型不純物濃度よりも小さいn型不純物濃度の第1層と、第1層の格子定数よりも大きい格子定数の第2層と、を有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】有機金属気相成長法を利用して製造可能で、隣接層へのZn拡散の少ない変調ドープ構造を有するエピタキシャル結晶及び受光素子を提供する。
【解決手段】第1化合物半導体層12と、第1化合物半導体層上に形成され、Znドープによりp型に制御された第2化合物半導体層13と、この第2化合物半導体層上に形成された第3化合物半導体層14とからなるエピタキシャル結晶において、第1化合物半導体層と第2化合物半導体層の界面、及び、第3化合物半導体層と第2化合物半導体層の界面が、タイプIIまたは価電子帯のみが不連続となるようなヘテロ接合構造をなすようにする。また、第2化合物半導体層の価電子帯の不連続量が、第1化合物半導体層及び第3化合物半導体層に対して、0.1eV以上となるようにする。 (もっと読む)


【課題】V族構成元素としてSbを含むIII−V化合物半導体層を有する受光層とn型InP窓層とを有しており暗電流を低減可能なIII−V族化合物半導体受光素子を提供する。
【解決手段】受光層21のGaAsSb層の成長の際に供給されたアンチモンのメモリ効果により、受光層23上に成長されるInP層23に、不純物としてアンチモンが含まれる。III−V族化合物半導体受光素子11では、InP層23は不純物としてアンチモンを含むと共に、InP層23にはn型ドーパントとしてシリコンが添加されている。InP層23中のアンチモン不純物は正孔を生成するように作用するけれども、この生成キャリアをInP層23中に添加されたシリコンが補償して、InP層23の第2の部分23dは十分なn導電性を示す。 (もっと読む)


【課題】GaN等の窒化物半導体薄膜を作製する基板として、非単結晶基板であるグラファイトを基板として使用するとGaN薄膜が多結晶となり結晶中の欠陥が多くなる為、フォトダイオードに使用することが出来なかった。
【解決手段】グラファイト基板上にアモルファスカーボン層を設け、アモルファスカーボン層上にMOCVD法によってAlNのc軸配向膜を成長させた後、AlN層上にGaNの低温成長バッファ層を形成し、低温成長バッファ層上にn型GaN層を形成し、n型GaN層上にInxGa1-xNあるいはAlyGa1-yNからなる光吸収層を形成し、光吸収層上にp型GaN層を形成し、p型GaN層上にp型GaNコンタクト層を形成することが可能となり、グラファイト基板上に直接フォトダイオードを作製することで低コストで優れた特性を有するフォトダイオードを実現できる。 (もっと読む)


【課題】 電子機器類において、その電極/接合バンプの接触抵抗を低くし、かつ接合強度を高くすることができる、電子機器、バンプ接合された複合型電子機器、検出装置、受光素子アレイ、および、これらの製造方法を提供する。
【解決手段】 接合バンプ9に接合される電極を有する電子機器50,70であって、電極11,71,12,72に、凹部Kが、該凹部の底部と該凹部以外の電極の面である頂部との平均垂直距離が100nm以上となるように、該電極の面にわたって形成されており、かつ、凹部がエッチングにより付されたものであることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 昼夜によらずノイズや暗電流を抑制して鮮明な画像を得ることができる撮像装置、視界支援装置、暗視装置、航海支援装置および監視装置を提供する。
【解決手段】 多重量子井戸構造の受光層3と、拡散濃度分布調整層4とを備え、受光層のバンドギャップ波長が1.65μm〜3μmであり、拡散濃度分布調整層のバンドギャップエネルギがInPよりも小さく、不純物元素の選択拡散によって受光素子ごとにpn接合を形成し、受光層における不純物濃度が、5×1016/cm以下であり、拡散濃度分布調整層の拡散前のn型不純物濃度が2×1015/cm以下であって受光層側の厚み範囲に低い不純物濃度範囲を有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】III−V族半導体基板上に形成される受光層の結晶品質を保ち良好な特性を得ることができ、且つ窓層表面の結晶性を良好にできる受光素子アレイ及びその製造方法、並びに該受光素子アレイの製造に用いられるエピタキシャルウェハ及びその製造方法を提供する。
【解決手段】複数の受光領域21を備える受光素子アレイ1を製造する方法であって、n型InP基板3上に受光層7を成長させる工程と、受光層7上にInP窓層11を成長させる工程と、窓層11における複数の受光領域21に相当する領域にp型不純物を拡散させる工程とを含む。窓層11を全有機MOVPE法によって成長させ、窓層11の成長温度を受光層7の成長温度以下とする。 (もっと読む)


【課題】 経済性に優れ、かつ高い製造歩留りを可能にしながら、隣接画素間に短絡を生じない、検出装置、センサ、および、これらの製造方法を提供する。
【解決手段】 波長1μm〜3μmに受光感度を持つ化合物半導体において受光素子Pが複数配列された受光素子アレイ50と、画素ごとに光電荷を読み出すCMOS70と、受光素子アレイとCMOSとの間に介在する接合バンプ9と、接合バンプ9と導電接続する、筒体である筒状金属Gとを備え、筒状金属Gは、受光素子アレイ側およびCMOS側のいずれか一方に設けられ、筒状金属Gは、接合バンプ9を収容するように位置することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 結晶性が良好な素子窒化物光半導体素子を提供することを目的とする。
【解決手段】 この窒化物光半導体素子は、A面サファイア基板1と、基板1上に設けられた厚さが1μmを超えるC面AlN層2と、AlN層2上に形成されたn型のIII族窒化物系半導体層4と、n型のIII族窒化物系半導体層4上に形成されたp型のIII族窒化物系半導体層9とを備えている。A面サファイア基板1上に、1μmを超えるC面AlN層を成長することによって、これにクラックが発生せず、平坦性と結晶性に優れたC面AlN層が得られる。 (もっと読む)


【課題】高い感度を得ることができる光検知器及びその製造方法を提供する。
【解決手段】下部電極1と、下部電極1上方に形成された活性層9と、活性層9上方に形成された上部電極4と、が設けられている。活性層9には、障壁層2と、障壁層2と格子整合する量子井戸層3と、が設けられている。障壁層2及び量子井戸層3は、タイプII型の超格子を構成している。量子井戸層3には、第1の化合物半導体層3a及び3cと、第1の化合物半導体層3a及び3cの結晶に格子歪を生じさせる第2の化合物半導体層3bと、が設けられている。 (もっと読む)


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