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Fターム[5F058BF05]の内容

絶縁膜の形成 (41,121) | 無機絶縁膜の形成法 (10,542) | 気相堆積 (7,977) | 化学気相堆積 (2,639) | 光CVD (42)

Fターム[5F058BF05]に分類される特許

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【課題】膜応力の小さい低誘電率の絶縁膜を形成できる基板処理装置を提供する。
【解決手段】処理室内へ無機シリコンガスと酸素含有ガスを供給している状態で、励起エネルギーを処理室内へ供給して、基板表面にシリコン酸化膜を形成するシリコン酸化膜形成工程と、処理室内へ有機シリコンガスを供給している状態で、励起エネルギーを処理室内へ供給して、基板表面にシリコン膜を形成するシリコン膜形成工程と、を行うことにより、処理室内の基板表面に絶縁膜を形成するよう、基板処理装置を構成する。 (もっと読む)


【課題】膜中の有機成分の脱離による大きな体積収縮を抑制し、クラックなどの構造破壊を抑制することのできる光薄膜形成技術を提供する。
【解決手段】処理室に基板を搬入する工程と、前記処理室に有機シリコン系ガスを供給し、前記有機シリコン系ガスに紫外光を照射してシリコン酸化膜を形成する工程と、前記処理室に無機シリコン系ガスを供給し、前記無機シリコン系ガスに紫外光を照射してシリコン酸化膜を形成する工程と、を備えるように半導体装置の製造方法を構成する。 (もっと読む)


【課題】形成される薄膜中に残留する副生成物や中間体の濃度を制御して基板処理することができる半導体製造方法や基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板を処理室内へ搬入する搬入工程と、前記基板が搬入された処理室内へ、メチル基を含む有機シリコンガス及び酸素含有ガスを供給するガス供給工程と、前記ガス供給工程に続けて、前記基板が搬入された処理室内へ、メチル基を含む有機シリコンガス及び酸素含有ガスを供給しつつ、前記供給されたガスに紫外光を照射して励起する第1のガス励起工程とから、半導体製造方法を構成する。 (もっと読む)


【課題】基板に吸着したガスに含まれる不純物を効果的に除去しつつ基板処理することができる基板処理方法を提供する。
【解決手段】基板を処理室内へ搬入する搬入工程と、前記処理室内へ搬入された基板に、第1のガスを吸着させる第1ガス供給工程と、前記第1ガス供給工程の後、前記処理室内から第1のガスを排気する第1ガス排気工程と、前記第1ガス排気工程の後、前記基板に付着した第1のガスを、分解機構により分解する第1分解工程と、前記第1分解工程の後、前記処理室内へ第2のガスを供給しつつ、前記分解機構により第2のガスを分解する第2ガス供給工程と、前記第2ガス供給工程の後、前記基板を処理室内から搬出する搬出工程とから、基板処理方法を構成する。 (もっと読む)


【課題】
本発明は、成膜の生成効率を向上できる光CVD法を用いた基板処理装置及び基板処理方法を提供することにある。
【解決手段】
本発明は、真空室である処理室に処理用ガスを導入し、前真空室である処理室に処理用ガスを導入し、前記処理用ガスに第1の光を、前記第1の光を透過する第1の透過窓を介して第1の照射をし、前記第1の照射によって発生した第1の成膜ガスを前記処理室内の基板に堆積させて成膜する際に、前記処理室に前記処理用ガスを導入する前に、前記処理用ガスを所定の温度まで加熱し、前記加熱された処理用ガスに第2の光を、前記第2の光を透過する第2の透過窓を介して第2の照射をし、前記第2の照射によって第2の成膜ガスを発生させ、前記第2の成膜ガスと第2の照射によって未反応である前記処理用ガスとを前記処理室に導入し、前記第1の成膜ガスと第2の成膜ガスとを前記基板に堆積させて成膜することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】基板の表面粗度によらず膜表面が平坦であり、信頼性が高く、製造コストを低減させた薄膜トランジスタ及びその製造方法を提供する。
【解決手段】可撓性のプラスチック基板10上に、ゲート電極11、ゲート絶縁層12、半導体活性層13、ソース電極14、及びドレイン電極15を順次形成するボトムゲート型薄膜トランジスタ1の製造方法である。ゲート絶縁層12は、プラスチック基板10上に下部層12aと該下部層12a上に積層された少なくとも一層以上の上部層12bとがこの順で形成されてなり、下部層12aは、炭素含有酸化シリコンを含む材料からなり、下部層12aの炭素濃度が、15atm%以上40atm%以下となるように真空紫外光CVD法により形成される。 (もっと読む)


【課題】基板の表面粗度によらず膜表面が平坦であり、信頼性が高く、製造コストを低減させた薄膜トランジスタ及びその製造方法を提供する。
【解決手段】絶縁基板10上に、ゲート電極11、ゲート絶縁層12、半導体活性層13、ソース電極14、及びドレイン電極15を順次形成するボトムゲート型薄膜トランジスタ1の製造方法である。ゲート絶縁層12は、絶縁基板10上に下部層12aと該下部層12a上に積層された少なくとも一層以上の上部層12bとがこの順で形成されてなり、下部層12aは真空紫外光CVD法により形成される。 (もっと読む)


【課題】耐圧の異なるトランジスタが同一半導体基板上に混載されている場合においても、それらのトランジスタの性能が向上するようにストレスライナ膜を構成することが可能な半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板1上に混載された低耐圧トランジスタおよび高耐圧トランジスタ上に形成するストレスライナ膜11、12は、互いに膜質を異ならせることができる。ここで、ストレスライナ膜11は、低耐圧トランジスタの性能が効果的に改善され、高耐圧トランジスタの性能があまり改善されないように膜質を設定することができる。また、ストレスライナ膜11は、高耐圧トランジスタの性能が効果的に改善され、低耐圧トランジスタの性能があまり改善されないように膜質を設定することができる。 (もっと読む)


【課題】高いアスペクト比で狭い幅の溝に、シリコン酸化膜を埋め込むことの可能な、スループットの高い半導体製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置の製造方法において、基板を処理室内へ搬入する工程と、炭素及び水素を含むシリコン化合物ガスを処理室内へ供給して、処理室内を第1の圧力の状態にする工程と、処理室内を前記第1の圧力にした状態において、処理室内へ供給されたシリコン化合物ガスに紫外光を照射して、基板上にシリコン酸化膜を形成する工程と、処理室内を前記第1の圧力よりも低い第2の圧力の状態にする減圧処理工程とを行う。これにより、高アスペクト比で狭い幅の溝内に、緻密なシリコン酸化膜を形成することができる。 (もっと読む)


【課題】耐湿性に優れ、信頼性に優れた低誘電率膜を用いて、高性能なパッシベーション膜を備えた表示装置を提供する。このようなパッシベーション膜を用いることにより、表示装置の薄膜化、軽量化、製造コスト削減が可能となる。
【解決手段】ボラジン骨格を有する重合体を含むことを特徴とする表示装置用パッシベーション膜とする、もしくはボラジン骨格を有する化合物及び/または重合体から得られる表示装置用パッシベーション膜を用いる。 (もっと読む)


【課題】製造コストを低減することができ、かつ、歩留まりの高い薄膜トランジスタを提供することにある。
【解決手段】本発明の実施の形態1に係る薄膜トランジスタの製造方法は、絶縁基板10の上に少なくともゲート電極11、ゲート絶縁層12、半導体層13、ソース電極14、ドレイン電極15及び保護層16を具備する薄膜トランジスタの製造方法であって、保護層16が真空紫外光CVD法により形成されるものであり、ゲート絶縁層12の上の全面に保護層16となる膜を成膜する工程と、保護層と16なる膜をパターニングなしにエッチングしソース電極14とドレイン電極15の表面を露出させ保護層16のパターンを形成する工程と、を具備する。 (もっと読む)


【課題】酸化膜とCVD膜との密着性を高めて界面特性の優れた膜の作製を実現する。
【解決手段】処理チャンバ205内において、処理基板に対してオゾン含有ガスのみを供給して処理基板上に酸化膜を形成する酸化工程と、この酸化工程を経た処理基板に対してCVD原料ガスとオゾン含有ガスとを供給して当該処理基板上に前記原料ガスの成分の酸化物からなる酸化膜を形成させるCVD工程とが実行される。前記CVD工程の初期段階の製膜速度は前記酸化工程の製膜速度よりも小さく制御される。また、前記CVD工程を経た処理基板をオゾン含有ガスの雰囲気または紫外光領域の波長を有する光が照射されたオゾン含有ガスの雰囲気に曝すアニール工程と、このアニール工程を経た処理基板を前記CVD工程に供する工程とを有するとよい。前記アニール工程を経た処理基板を前記CVD工程に供する工程を複数繰り返すとなおよい。 (もっと読む)


【課題】薄膜への不純物の混入をできるだけ防止し得る薄膜形成装置を提供する。
【解決手段】真空容器1内に設けられて薄膜を形成するための基板Kを水平面内で回転させる回転ステージ2と、真空容器1内の基板に2種類の原料ガスの超音速分子線Mを略90度の交差角でもって供給する第1及び第2分子線発生装置4A,4Bと、超音速分子線Mにそれぞれ励起用のレーザ光R1を照射する第1及び第2レーザ照射装置5A,5Bと、回転ステージ2の基板K表面の前方位置に配置されて各超音速分子線Mの交差領域に生成した反応生成物を選択し通過させるためのピンホール3aが形成された生成物選択部材3とから構成すると共に、予め検出されている反応生成物の散乱角を入力して反応生成物が生成物選択部材3のピンホール3aを通過するように回転ステージ2の回転位置を制御するようにしたもの。 (もっと読む)


【課題】高いアスペクト比で、狭い幅の溝に絶縁膜を埋め込むことの可能な、スループットの高い基板処理方法を提供する。
【解決手段】基板を処理室内へ搬入する工程と、炭素及び水素を含むシリコン化合物ガスを処理室内へ供給する工程と、処理室内へ供給されたシリコン化合物ガスに紫外光を照射して基板を処理する工程と、処理された基板を処理室から搬出する工程と、処理室内を励起された酸素含有ガスで処理する工程とを備える基板処理方法により、基板を処理する。これにより、シリコン化合物ガスに紫外光を照射して基板を処理する際に処理室内壁等に付着した付着物を、励起された酸素含有ガスで処理することにより改質することができる。 (もっと読む)


【課題】爆発の危険性が高いSiHを用いずとも、安全、比較的低温度で、しかも低廉なコストでSi系膜を提供できる技術を提供することである。
【解決手段】Si系膜を形成する為の膜形成材料であって、
前記膜形成材料がt−CSiXを有する。 (もっと読む)


【課題】経時変化に伴う劣化が少ない膜を気相化学成長によって高速で形成することができる成膜装置及び成膜方法を提供する。
【解決手段】互いに異なる原料ガスが供給され、該供給された原料ガスをそれぞれ異なる分解手法によって選択的に分解することにより、膜の形成に寄与する成膜前駆体をそれぞれ生成させる複数の分解室10,20と、前記複数の分解室がそれぞれ独立して連結されており、内部に基板が配置される成膜室30と、を備え、前記複数の分解室でそれぞれ生成した前記成膜前駆体を含むガスを前記成膜室の内部に配置された基板40にそれぞれ供給することにより、該基板の表面に膜を形成することを特徴とする成膜装置1。好ましくは、SiHを含む第1の原料ガスと、NHを含む第2の原料ガスをそれぞれ供給して窒化シリコン膜を形成する。 (もっと読む)


【課題】ケイ素を含む誘電体膜を形成する方法を提供すること。
【解決手段】ここに記載されるのは、低いウェットエッチ耐性、6.0以下の誘電率、及び/又は高温急速熱アニールプロセス耐性、といった特性のうちの少なくとも1つを示す、酸化ケイ素、酸炭化ケイ素、炭化ケイ素及びこれらの組み合わせなどの、とは言えこれらに限定はされない、ケイ素を含む誘電体膜を形成する方法である。同様にここに開示されるのは、例えば半導体ウェーハなどの処理すべき対象物上に誘電体膜又は被覆を形成するための方法である。 (もっと読む)


【課題】酸化剤の供給量や供給時間を増大させることなく酸化膜の被覆性やローディング効果を改善する。
【解決手段】少なくとも1枚の基板を処理室内に搬入する基板搬入工程と、前記基板を加熱しながら第1の反応物質と酸素原子を含む第2の反応物質とを前記処理室内に交互に供給して前記基板上に酸化膜を形成する酸化膜形成工程と、前記基板を前記処理室内から搬出する基板搬出工程と、備え、前記酸化膜形成工程では、基板温度が前記第1の反応物質の自己分解温度以下であり、前記第2の反応物質に紫外領域の光を照射することを特徴とする半導体デバイスの製造方法が提供される。 (もっと読む)


【課題】低温処理で、所望のSiN膜を製造できるようにする。
【解決手段】処理対象に対して窒素系ガス(窒素(N)ガス、アンモニア(NH)ガス、ジアジン(N)ガス、ヒドラジン(N)ガスなど)を供給する手段と、前記処理対象に対してシリコン系ガス(アミノ基、ジメチルアミノ基又はエチルアミノ基を有するもの。シランガス、ジシランガス、ジシラザンガスなど)を供給する手段と、前記各ガスの供給時に前記処理対象を減圧環境とする手段とを備える。 (もっと読む)


【課題】高いアスペクト比で狭い幅の溝に、シリコン酸化膜を埋め込むことの可能な、スループットの高い半導体製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置の製造方法において、基板を処理室内へ搬入する工程と、炭素及び水素を含むシリコン化合物ガスを処理室内へ供給して、処理室内を第1の圧力の状態にする工程と、処理室内を前記第1の圧力にした状態において、処理室内へ供給されたシリコン化合物ガスに紫外光を照射して、基板上にシリコン酸化膜を形成する工程と、処理室内を前記第1の圧力よりも低い第2の圧力の状態にする減圧処理工程とを行う。これにより、高アスペクト比で狭い幅の溝内に、緻密なシリコン酸化膜を形成することができる。 (もっと読む)


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