トランジスタが、第１の半導体材料の半導体ドリフト層と、この半導体ドリフト層上の半導体チャネル層とを含むことができる。半導体チャネル層は、第１の半導体材料とは異なる第２の半導体材料を含むことができる。半導体ドリフト層と半導体チャネル層の間には、第１及び第２の半導体材料とは異なる第３の半導体材料を含むことができる半導体相互接続層を電気的に結合することができる。また、半導体チャネル層上には、制御電極を設けることができる。 （もっと読む）

【課題】本発明の目的は、大電流動作が可能となり、さらに大電流動作を高温環境下でも安定に維持でき、また、ノーマリーオン特性とノーマリーオフ特性を作り分けることが可能となり、低消費電力で動作させることができるダイヤモンド電界効果トランジスタを提供する。
【解決手段】Ｐ型ダイヤモンド上に、少なくともＡｌ、Ｇａ、Ｂ、Ｉｎの１つを含むＰ型窒化物層を有し、Ｐ型ダイヤモンドとＰ型窒化物層との間のヘテロ接合に電気的にオーミック接触するソース電極およびドレイン電極と、ソース電極とドレイン電極との間のＰ型窒化物層上にゲート電極を有することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】電気回路中にて静電気放電保護を確実化しながら小型化を実現する。
【解決手段】電気回路において静電気放電保護素子として使用するためのゲート制御されたフィン型抵抗素子は、第１端子領域、第２端子領域、および、第１端子領域と第２端子領域との間に形成されたチャネル領域を有するフィン構造体を備えている。さらに、フィン型抵抗素子は、チャネル領域の上面の一部上に少なくとも形成されたゲート領域を備えている。ゲート領域は、ゲート制御部に電気的に結合されており、ゲート制御部は、ゲート領域に印加される電気的な電位を制御することにより、電気回路が第１動作状態である間は、ゲート制御されたフィン型抵抗素子の電気抵抗を高くし、静電気放電現象の開始によって特徴付けられている第２動作状態では、電気抵抗をより低くする。 （もっと読む）

【課題】炭化ケイ素（ＳｉＣ）を含む半導体構造体（１００）及びデバイスと、その製造方法を提供すること。
【解決手段】構造体（１００）及びデバイスは、ベース又はシールド層（１１６）、チャネル（１１８）及び表面層（１２０）を備え、望ましくはすべてイオン注入によって形成される。その結果として本明細書に示す構造体及びデバイスは、ハードな「ノーマリオフ」デバイスであり、即ち約３Ｖ超の閾値電圧を示す。 （もっと読む）

本発明は、ドリフト層（１６）を有する単極半導体部品の製造方法であって、少なくとも１つの広いバンドギャップ材料を含むドリフト層（１６）の材料のエピタキシャル析出を手段として、ドリフト層（１６）の成長方向（１９）に沿って連続的に低下する電荷キャリアドーピング（ｎ）の濃度を有するドリフト層（１６）を形成する工程を含む方法に関する。エピタキシャル析出により形成されるドリフト層（１６）に炭化ケイ素を使用することにより、下流工程におけるドープ材原子の拡散による電荷キャリアドーピング（ｎ）の連続的に低下する濃度のその後の変化を抑制する。製造方法は特に、単純なおよび／または費用効果的なやり方で、ドリフト層（１６）を含む単極半導体部品であって比較的低い順方向損失と比較的高い逆バイアス電圧との有利な比を有する単極半導体部品を実装するために使用されることができる。単極半導体部品は能動半導体部品または受動半導体部品であることができる。本発明はさらに、半導体装置（１０）に関する。
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【課題】製造が容易で、かつ高い耐圧を確保しながら低損失化を図ることができる半導体装置を提供すること、およびその半導体装置を製造するための製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置としてのＳＢＤ１０は、半導体からなる基板１１と、基板１１上に形成されたｎ型層１２と、ｎ型層１２上に配置されたアノード電極１４と、アノード電極１４に接続され、ｎ型層１２に突出するｐ型領域１３とを備えている。ｐ型領域１３は、ｎ型層１２との境界領域において、境界領域に隣接するｐ型領域１３内の領域である高不純物領域１３Ｂよりも導電型がｐ型であるｐ型不純物の濃度の低い低不純物領域１３Ａを含んでいる。 （もっと読む）

半導体装置および装置を製造する方法が記載される。前記装置は、接合障壁ショットキー（JBS）ダイオードまたはPiNダイオードなどの、接合電界効果トランジスター（JFET）またはダイオードであり得る。前記装置は、エピタキシャル成長によって形成された、傾斜したp型半導体層及び／又はp型半導体領域を有する。前記方法は、イオン注入を必要としない。前記装置は、炭化ケイ素(SiC)などの広バンドギャップの半導体材料から製造され得、高温度および高電力の用途で使用され得る。 （もっと読む）

縦型接合形電界効果トランジスタ（ＶＪＦＥＴ）またはバイポーラ接合トランジスタ（ＢＪＴ）のような半導体デバイスを製造する方法が記載される。その方法はイオン注入を必要としない。ＶＪＦＥＴデバイスは、エピタキシャル成長した埋め込みゲート層のみでなく、エピタキシャル再成長したｎ型チャネル層及びエピタキシャル再成長したｐ型ゲート層も有する。その方法で製造されたデバイスも記載される。 （もっと読む）

【課題】 炭化珪素の半導体装置において、電極材料と、内部配線の材料とが異なるとき、これら異種金属の接触界面における不具合のおそれを無くして、長期間使用後にも高い信頼性を得ることができる、半導体装置等を提供する。
【解決手段】 炭化珪素１４，１８に接触する接触電極１６と、該接触電極と導通する配線１９とを備え、接触電極１６が、チタン、アルミニウム、および珪素を含有する合金で形成され、配線１９は、アルミニウムまたはアルミニウム合金で形成され、該配線は接触電極と接触することで該接触電極と導通をとることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】漏れ電流の発生を防止すると共に、十分な耐圧を実現することが可能な横型接合型電界効果トランジスタを提供する。
【解決手段】この発明に従った横型ＪＦＥＴ１０では、バッファ層１１は、ＳｉＣ基板１の主表面上に位置し、ｐ型不純物を含む。チャネル層１２は、バッファ層１１上に位置し、バッファ層１１におけるｐ型不純物の濃度より高い濃度のｎ型不純物を含む。ｎ型のソース領域１５およびドレイン領域１６は、チャネル層１２の表面層において互いに間隔を隔てて形成され、ｐ型のゲート領域１７は、チャネル層１２の表面層においてソース領域１５およびドレイン領域１６の間に位置する。バリア領域１３は、チャネル層１２とバッファ層１１との境界領域において、ゲート領域１７の下に位置する領域に配置され、バッファ層１１におけるｐ型不純物の濃度より高い濃度のｐ型不純物を含む。 （もっと読む）

高い周囲温度環境において作動することが可能なワイドバンドギャップ（例えば、＞２ｅＶ）半導体接合形電界効果トランジスタ（ＪＦＥＴ）のためのゲートドライバについて記載される。ワイドバンドギャップ（ＷＢＧ）半導体デバイスは、炭化ケイ素（ＳｉＣ）及び窒化ガリウム（ＧａＮ）を含む。ドライバは、入力、出力、第１供給電圧を受け取るための第１基準線、第２供給電圧を受け取るための第２基準線、グランド端子、６つの接合形電界効果トランジスタ（ＪＦＥＴ）を有する非反転ゲートドライバであり得、第１ＪＦＥＴおよび第２ＪＦＥＴは、第１反転バッファを形成し、第３ＪＦＥＴおよび第４ＪＦＥＴは、第２反転バッファを形成し、及び第５ＪＦＥＴ及び第６ＪＦＥＴは、高温パワーＳｉＣ ＪＦＥＴを駆動させるために使用され得るトーテムポールを形成する。反転ゲートドライバも記載される。 （もっと読む）

半導体デバイスが、第１の閉じ込め層（３２）上に活性層（３１）を備える。活性層（３１）は厚さ２０ｎｍ未満のα−Ｓｎ層を備える。第１の閉じ込め層（３２）は、α−Ｓｎより広いバンドギャップの材料から形成され、α−Ｓｎとこの材料間のバンドギャップオフセットは活性層への電荷キャリアの閉じ込めを可能にし、活性層は量子井戸として作用する。類似の第２の閉じ込め層（３４）が活性層（３１）上に形成されてもよい。半導体デバイスはｐ−ＦＥＴであってもよい。このような半導体デバイスの製造方法もまた説明されている。
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【課題】さまざまな偏光特性を持つ電磁波、光波の存在下においても、テラヘルツ信号を正確に受信するテラヘルツ受信素子を提供する。
【解決手段】本発明のテラヘルツ受信素子は、２つの電界効果型トランジスタＦＥＴ−Ａ、ＦＥＴ−Ｂと、アンテナとしての２本のゲートワイヤ１２、１２’と、差分回路２１とを有し、前記２本のゲートワイヤ１２、１２’のそれぞれは、対応する電界効果型トランジスタに電気的に接続され、２つの電界効果型トランジスタへの２つのゲートワイヤ１２、１２’の取り付け方向のなす角度は０°以外の一定の角度であり、差分回路２１は、２つの電界効果型トランジスタのドレイン部から出力される２つの信号の差分を算出し、受信信号として出力する。 （もっと読む）

平行伝導を改善する量子井戸デバイスを提供する方法及び装置の実施形態が主に記載される。その他の実施形態についても、記載及び特許請求される。 （もっと読む）

【課題】還流ダイオードの逆回復動作時に生じる振動現象の収束時間を低減することが可能な半導体装置を提供する。
【解決手段】 ユニポーラ動作をする還流ダイオード１００と、還流ダイオード１００に並列接続され、半導体基板領域を含む半導体スナバ２００とを備える。半導体スナバ２００は、還流ダイオード１００の逆バイアス時に少なくとも前記基板領域の一端側に形成されるキャパシタ２１０と、基板領域の一部を含む抵抗２２０と、還流ダイオード１００の順バイアスに対して逆阻止状態となるように、基板領域の少なくとも一部に形成された逆阻止型ダイオード２２２とを含む。 （もっと読む）

【課題】ＲＣスナバ回路の抵抗Ｒの値を任意に設計可能な半導体スナバ回路を用いた半導体装置、電力変換装置、半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】ユニポーラ動作をする還流ダイオード１００と、還流ダイオード１００に並列接続され、キャパシタ２１０及び抵抗２２０をモノリシックに集積化した半導体スナバ回路２００とを備える半導体装置において、抵抗２２０が、半導体スナバ回路２００の基材となる半導体基体の一部に形成され、半導体基体の比抵抗よりも高い比抵抗を有する高抵抗層を含む。 （もっと読む）

【課題】環流ダイオードの逆回復動作時に発生する電流及び電圧の振動現象の収束時間を短縮可能な半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置１０は、ユニポーラ型の還流ダイオード１００と、還流ダイオード１００に接続されたユニポーラ型の還流ダイオード１５０と、還流ダイオード１００に並列接続され、少なくともキャパシタ２１０と抵抗２２０とを有する半導体スナバ２００、及び、還流ダイオード１５０に並列接続され、少なくともキャパシタ２６０と抵抗２７０とを有する半導体スナバ２５０が形成された基板領域１１を有する半導体チップ１０００とを備えている。 （もっと読む）

【課題】並列接続された還流ダイオードと半導体スナバ回路が隣接して配置されるので、小型化され且つ逆バイアス時に還流ダイオードに発生する振動現象の収束時間を短縮できる半導体装置を提供する。
【解決手段】ユニポーラ動作する還流ダイオード１００と、少なくともキャパシタ２１０及び抵抗２２０を有し、還流ダイオード１００と並列接続されて還流ダイオード１００に隣接して配置された半導体スナバ回路２００とを備える。 （もっと読む）

【課題】環流ダイオードの逆回復動作時に発生する電流及び電圧の振動現象の収束時間を短縮可能な半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置１０は、ユニポーラ型の還流ダイオード１００と、還流ダイオード１００に並列接続され、かつ、キャパシタ２１０および抵抗２２０を有する半導体スナバ２００とを備えている。半導体スナバ２００と還流ダイオード１００とが積層されている。 （もっと読む）

【課題】還流ダイオードの逆回復動作時に発生する電流及び電圧の振動現象の収束時間を短縮する。
【解決手段】半導体装置は、還流ダイオードＤと、還流ダイオードＤに対し並列に接続され、且つ、キャパシタと抵抗を有する半導体スナバ回路２００と、から構成され、半導体スナバ回路中２００のキャパシタが、還流ダイオードＤの遮断状態において、還流ダイオードＤにより空乏層が形成される前記半導体基体中の領域とは異なる位置に形成されるので、還流ダイオードＤの逆回復動作時に発生する電流及び電圧の振動現象の収束時間を短縮することができる。 （もっと読む）