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Fターム[5F103DD03]の内容

半導体装置を構成する物質の物理的析出 (6,900) | 析出物質 (905) | 3−5族化合物 (251) | GaAs (30)

Fターム[5F103DD03]に分類される特許

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【課題】分子線エピタキシー(MBE)による成膜に先立って、原料蒸発源セルの周辺に存する不純物を、原料を浪費することなく除去して所期の高真空度を達成し、容易且つ確実に信頼性の高い成膜を実現する成膜装置、成膜方法、及び化合物半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】MBE装置は、原料10が充填される坩堝11と、坩堝11を覆うように配置された第1のヒータ13と、第1のヒータ13を覆うように配置された熱反射板14と、熱反射板を覆うように配置された第2のヒータ15とを備えた原料蒸発源セル2と、原料蒸発源セル2の少なくとも一部を囲み、その壁面を液体窒素温度に冷却することができるシュラウド4とを含み構成される。 (もっと読む)


【課題】高密度かつ複雑な三次元微細構造の加工を可能にする。
【解決手段】基板上の三次元微細構造は、以下の方法で作製される。第1工程では、真空中でIII−V族化合物半導体基板1の表面に電子ビームを照射することにより、当該基板1の表面の自然酸化膜2をIII族酸化物3に置換させ、改質マスク部3を周期的に形成する。第2工程では、真空中で前記基板1を昇温させることにより、前記改質マスク部3以外の部分の前記自然酸化膜2を脱離させて基板表面を露出させる。第3工程では、真空にV族原料を供給した環境下で前記基板1を所定温度で加熱することで、前記基板表面の露出部分からIII族原子を優先的に剥離させて前記改質マスク部3上をホッピングさせ、当該露出部分に窪み4を形成する。第4工程では、固体成長原料を用いた分子線エピタキシャル成長法を行うことで、前記窪み4の部分にIII−V族化合物半導体結晶5を選択成長させる。 (もっと読む)


【課題】 ミスフィット転位の発生を抑制しつつ、量子ドットからの発光波長を長波長化することができる半導体装置の製造技術が望まれている。
【解決手段】 チャンバ内に単結晶基板を装填し、単結晶基板上に、分子線エピタキシにより、In及びAsを含む量子ドットを形成する。チャンバ内で、量子ドットに、少なくともAs分子線を照射しながら第1アニールを行う。 (もっと読む)


【課題】テラヘルツ電磁波の検出または発生が効率良く行われ、S/N比を向上させることができる光伝導基板およびこれを用いた電磁波発生検出装置を提供する。
【解決手段】基板3と、基板3上に積層された半導体積層群5と、を備え、半導体積層群5は、第1化合物半導体層51と、第1化合物半導体層51上に、第1化合物半導体層51と屈折率が異なると共に励起光の表面反射を低減できる層厚で成長させた第2化合物半導体層52と、を有している。 (もっと読む)


【課題】加熱されたセル上へのフレークの落下付着を防止する分子線結晶成長(MBE)装置のシャッタ機構を提供する。
【解決手段】動作時に、セル2の中心軸上で該セル2と対向する位置において蒸発原料を通過させる開口部11を備え、非動作時には、該開口部11以外の部分でセル2上面を覆うシャッタ板1と、シャッタ板1の側面に一体的に取り付けられ、セル2の側面の一部または全体を覆うスカート部4と、シャッタ板1を回転または移動させる駆動軸3と、を有し、シャッタ開の状態でも、セル2の分子線照射開口以外を覆うことを特徴とする分子線結晶成長装置のシャッタ機構。 (もっと読む)


【課題】 従来よりも発光波長が広い波長領域で均一に分布している量子ドット構造を製造する方法を提供する。
【解決手段】本発明では、量子ドット構造を以下の手順で製造する。
まず、基板11を用意する。次に、基板11上に、量子ドット13を設ける。次に、量子ドット13よりも低く、かつ表面拡散が抑制されるように基板11上に薄膜14を堆積する。
最後に、量子ドット13のうち、薄膜14から露出した部分を除去する。 (もっと読む)


【課題】基板上に単結晶材料の層を成長させる方法を提供する。
【解決手段】第1単結晶材料から形成された露出領域を有する基板を、プロセスチャンバ中に配置する工程と、拡散制限ガスの存在下で、基板に向かって、第2材料の中性種のビームを供給し、プロセスチャンバ中の圧力を1×10−6torrから1×10−4torrの間にし、第2材料の中性種を露出領域上に吸着され、これにより第1単結晶材料の上にこれと接触して第2材料の単結晶層を成長させる工程とを含み、拡散制限ガスは、非反応性ガスからなる。 (もっと読む)


【課題】 より小型の、マイクロエレクトロニクス産業のマルチチャンバシステムに適合する、半導体ウエハを製造するための分子線を用いての材料蒸着装置、及び半導体ウエハに対して堆積及び処理ステップの全てをそのままの場所で行うために使用できる半導体ウエハ製造装置を提供すること。
【解決手段】 本発明は、複数の横ポート(3)を有する中央搬送モジュール(2)を備え、10−8を超える真空圧条件下で機能できる、分子線を用いての材料蒸着装置(6)及び半導体ウエハ製造装置に関する。半導体ウエハ製造装置はローディングモジュール(5)と、10−8Torrを超える真空圧条件下で機能し、それぞれが前記中央搬送モジュール(2)の前記ポート(3)の一つに接続された一つ以上の基板処理モジュール(7)とを備える。本発明によれば、前記製造装置は10−8Torr未満の真空圧条件下で動作する、分子線を用いての蒸発による少なくとも一つの材料蒸着モジュール(6)を備え、前記分子線蒸着モジュール(6)は前記中央搬送モジュール(2)の前記ポート(3)の一つに接続され、その処理面(A)に材料の層を堆積させるために前記基板(1)を受容できる。 (もっと読む)


【課題】
巨大アイランドの形成による結晶品質の低下という問題を引き起こすことなく、ナノ構造の品質・形状を高品質に保つことを可能とする半導体量子ドット及び同形成方法を提供すること。
【解決手段】
本願に係る半導体量子ドット形成方法は、自己組織化機構により半導体量子ドットを形成する方法において、量子ドットDの結晶成長レート及び/もしくは埋め込み層L4の結晶成長速度として1ML/s(モノレイヤー・パー・セカンド)以上によって層形成させる。 (もっと読む)


【課題】
成長中断による、Alを含むIII-V族化合物半導体層への酸素の取り込みを抑制した半導体装置を提供すること。
【解決手段】
Alを構成元素として含む第1のIII-V族化合物半導体によって半導体基板上に形成された第1の半導体層と、厚さが2原子層以上8原子層以下のAlを構成元素として含まない第2のIII-V族化合物半導体で形成され、且つ前記第1の半導体層の上面又は前記第1の半導体層の内部に配置された表面保護層とを有する半導体積層構造と、第3のIII-V族化合物半導体で形成され、且つ前記半導体積層構造の上面に形成された第2の半導体層を具備すること。 (もっと読む)


【課題】低温、かつ少ない工程で、ナノドットを作製する方法、並びにこのナノドットを有する浮遊ゲートトランジスタ及びその作製方法の提供。
【解決手段】同軸型真空アーク蒸着源1を用いて、金属材料又は半導体材料から、絶縁層34中に埋め込まれる、電荷を保持するためのナノドット33を作製する。基板31上に酸化物膜32を形成する工程と、ナノドット33を酸化物膜32上に作製する工程と、ナノドット上に絶縁層34を形成することでナノドットを埋め込むようにする工程と、絶縁層34上に電極膜35を形成する工程とを有し、かくして浮遊ゲートトランジスタが作製される。 (もっと読む)


【課題】不純物を直接ドーピングしても良好な結晶性を得ることができる量子ドットの形成方法及び半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】GaAsバッファ層の厚さが所定値に達すると、In及びAsの原料を供給し始める。この結果、ぬれ層が成長し始める。ぬれ層の成長開始から120秒程度経過すると、核生成が生じる(段階A)。更に5秒間程度経過すると、核生成が停止し、各核を起点として量子ドットに原料が凝集し始める(段階B)。この段階においてSiの供給を開始し、量子ドットに不純物としてSiをドーピングする。更に30秒間程度経過すると、量子ドットの凝集が停止し始める(段階C)。凝集が停止し始める時に不純物の供給を停止する。つまり、Siのドーピングを停止する。その後、不純物の供給を停止してから45秒間経過した時にInの供給を停止し、Gaの供給を再開することにより、キャップ層の形成を開始する。 (もっと読む)


【課題】性層の成長にMBE装置を用いるハイブリッド方式において、製品のスループットの向上が図られる半導体レーザ素子の製造方法を提供する。
【解決手段】この半導体レーザ素子1の製造方法では、水素プラズマクリーニングと活性層14の成長とを別々の真空装置で分離して実行することにより、クリーニング終了時の成長室33内の水素残留濃度を考慮する必要が無くなり、成長室33への基板搬送後に速やかに窒素プラズマ発生用のRFガン44の窒素プラズマを点火して活性層14の再成長を行うことが可能となる。したがって、この半導体レーザ素子の製造方法では、従来のように同一の真空装置内で水素プラズマクリーニングと活性層の成長とを連続して行う場合と比較して、製品のスループットの向上が図られる。 (もっと読む)


【課題】GaAs層上に形成されるInAs量子ドットのサイズを適切に制御する。
【解決手段】量子ドットの形成方法は、基板(110)上にGaAsを含んでなる第1半導体層(120)を形成する第1形成工程と、基板の基板温度を摂氏480度及び摂氏530度の間の温度にした後に、第1半導体層の上に、In及びAsを夫々照射して、InAsを含んでなる第2半導体層(130)を形成する第2形成工程とを備える。第2形成工程において、第2半導体層の成長速度を0.02ML/s及び0.1ML/sの間の成長速度とし、第2半導体層の成長量を1.2ML及び2.5MLの間の成長量とすることにより、第2半導体層の第1半導体層と対向しない側の面(130a)にInAsを含んでなる量子ドット(131)を形成する。 (もっと読む)


【課題】半導体基板上への薄膜形成工程(例えば、エピタキシャル成長工程)直前に、簡単な前処理を行うだけで、半導体基板上に良質な半導体薄膜を形成可能な技術を提供する。
【解決手段】1又は2以上の結晶層を有する半導体基板11の最表層の表面を、当該最表層の熱分解温度より低い熱分解温度を有する材料からなる被覆膜12で被覆し、この状態でウェハ容器に収容し保管する。そして、この被覆膜12が形成された半導体基板1をウェハ容器から取り出し、被覆膜12を熱分解により当該半導体基板11表面から除去してから、薄膜形成工程13を行う。 (もっと読む)


【課題】従来の方法では、良質な量子ドット結晶が得られない。
【解決手段】半導体微小突起構造体51の製造方法においては、微小突起21を形成し、その後加熱によって微小突起21を構成する材料を気化させて微小突起21を除去することにより穿孔41を形成している。そのため、穿孔41内の微小突起21などによる残留物が低減できる。そのため、穿孔41が形成された位置、すなわち微小突起21を形成した所望の位置に高品質な半導体微小突起構造体51を得ることができる。 (もっと読む)


本発明は、(i)単結晶の基板を提供するステップと、(ii)上記基板上に、単結晶の酸化物の層をエピタキシャル成長するステップと、(iii)(a)単結晶の酸化物層の表面から不純物を除去するステップと、(b)遅いエピタキシャル成長によって、半導体のサブ層を蒸着するステップと、を有するステップを用いて、サブ層を形成するステップと、(iv)そのように形成されたサブ層上に、エピタキシャル成長によって、単結晶の半導体層を形成するステップと、を備える固体の半導体構造を製造する方法に関する。本発明は、また、そのように得られた固体の半導体ヘテロ構造に関する。 (もっと読む)


【課題】高密度かつ複雑な三次元微細構造を基板の表面に形成可能な三次元微細加工方法を提供する。
【解決手段】第1工程では、真空中でIII−V族化合物半導体基板1の表面に電子ビームを照射することにより、当該基板1の表面の自然酸化膜2を化学的に安定なIII族酸化物3に置換させ、改質マスク部3を周期的に形成する。第2工程では、真空中で前記基板1を昇温させることにより、前記改質マスク部3以外の部分の前記自然酸化膜2を脱離させて基板表面を露出させる。第3工程では、真空にV族原料を供給した環境下で前記基板1を所定温度で加熱することで、前記基板表面の露出部分からIII族原子を優先的に剥離させて前記改質マスク部3上をホッピングさせ、当該露出部分に窪み4を形成する。第4工程では、固体成長原料を用いた分子線エピタキシャル成長法を行うことで、前記窪み4の部分にIII−V族化合物半導体結晶5を選択成長させる。 (もっと読む)


【課題】分子線エピタキシ装置のための粒子線供給装置を提供する。
【解決手段】粒子線供給装置17では、粒子線生成器31は、分子線エピタキシ成長のための原料を提供する開口31aを有する。シャッタ装置33では、シャッタ35は粒子線生成器31の開口31aの前方に位置し、回転軸37は、シャッタ35を支持しており所定の軸Axに沿って延び、駆動機構39は、回転軸37を所定の軸Axの回りに回転駆動する。シャッタ35は、開口31aの位置に合わせて設けられた窓35aを有する。粒子線生成器31からの粒子線は、窓35aを通して進み、或いは、シャッタ35の遮蔽部35bによって遮断される。矢印Arrowの一方向のみにシャッタ35を等角速度で回転させたとき、シャッタ35の移動と停止を成長中に繰り返すことなく、一定の周期で、粒子線が窓35aを介して軸Bxに沿って供給される。 (もっと読む)


【課題】従来にはないナローな発光をする量子ドットを用いて、安定したレーザ発振を可能としたレーザ発振素子を提供する。
【解決手段】レーザ発振素子において、その活性層は、2×1010/cm〜1×1011/cmの密度でGaAs(311)A基板上に量子ドットが形成されている。 (もっと読む)


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