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Fターム[5F103HH04]の内容

半導体装置を構成する物質の物理的析出 (6,900) | 基板 (664) | 絶縁物基板 (260)

Fターム[5F103HH04]に分類される特許

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【課題】 サファイアC面基板上に成長するGaN系III族窒化物薄膜の極性を(0001)に制御することにより、従来よりも光学的、電気的特性に優れた薄膜を提供すること。
【解決手段】 サファイアC面基板上に、窒素源として窒素プラズマを、またIII族源としてGaを主成分とする金属を用いて分子線エピタキシーによりGaN系III族窒化物薄膜をエピタキシャル成長させるに際し、金属Gaとして、その強度(フラックス)が1×1013コ/cm2s〜1×1015コ/cm2sであるものを用い、該GaN系III族窒化物薄膜の成長初期に金属Inを、照射する金属Gaの強度より1〜2桁低い強度で、照射することにより、成長する膜の極性を(0001)に制御する。 (もっと読む)


【課題】p型のZnO半導体膜を製造するにあたって、生産性の良好なZnO半導体膜の製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】ZnO及びRuを含むターゲット21,22を用いたスパッタリングにより、Ruを含有するZnO半導体膜を形成する。1×10−7Torr程度の超高真空でスパッタリングすることにより、p型のZnO半導体膜を容易に製造できる。 (もっと読む)


【課題】基板上に大面積の単結晶の有機薄膜を形成することができる有機薄膜の製造方法を提供する。
【解決手段】基板上に第1の有機分子からなる規則的な分子配列を有する第1の有機分子層を形成する工程と、前記第1の有機分子層の上にエピタキシャル成長する第2の有機分子層を形成する工程と、前記第1の有機分子層を昇華、蒸発あるいは溶解して前記第2の有機分子層から除去する工程を有する有機薄膜の製造方法。前記第1の有機分子がアントラセン、前記第2の有機分子がペンタセンであることが好ましい。 (もっと読む)


【課題】低温で基板上に直接粒径の揃ったシリコンドットを均一な密度分布で形成する方法及び装置を提供する。
【解決手段】チャンバ10内でシラン系ガス及び水素ガスからプラズマを形成してターゲット基板100上にシリコン膜を形成してシリコンスパッタターゲットを得、これをチャンバ1へ外気に触れさせることなく搬入配置して、チャンバ1内でスパッタリング用ガスからプラズマを発生させ、該プラズマでターゲットのシリコン膜をケミカルスパッタリングして基体S上にシリコンドットを形成する。 (もっと読む)


【課題】ソース電極およびドレイン電極と、酸化物半導体層とのオーミックコンタクトが良好な薄膜トランジスタを提供する。
【解決手段】基板上1に、ゲート電極2を形成する工程と、前記ゲート電極2の上に第1の絶縁膜3を形成する工程と、前記第1の絶縁膜3の上にアモルファス酸化物で半導体層4を形成する工程と、前記第1の絶縁膜3をパターニングする工程と、前記酸化物半導体層4をパターニングする工程と、前記酸化物半導体層4の上に第2の絶縁膜5を酸化性ガスが含まれる雰囲気で形成する工程と、前記第2の絶縁膜5をパターニングし、前記酸化物半導体層における電極とのコンタクト領域6を露出させ、かつ該コンタクト領域6を低抵抗化する工程と、前記コンタクト領域6にソース電極層7およびドレイン電極層8を形成する工程と、前記ソース電極7およびドレイン電極8をパターニングする工程と、を含むことを特徴とする薄膜トランジスタの製造方法。 (もっと読む)


【課題】 実用に耐え得る酸化物半導体材料、これを用いた電界効果トランジスタ等の電子デバイス、及び酸化物半導体材料の製造方法を提供する。
【解決手段】 この酸化物半導体材料の製造方法では、Zn及びSnを含有する酸化物ターゲットを用意し、基板をチャンバ内に配置し、酸化物ターゲットをチャンバ内に配置する。酸化物ターゲットを希ガスでスパッタすることによりターゲット材料を基板上に堆積する。この酸化物半導体材料は、Inを含有せず、且つ、電子キャリア濃度が1×1015/cmより大きく1×1018/cm未満となるようにする。スパッタ時においては、酸化物ターゲットと同時にスパッタされる位置に、ドーパント材料を更に配置することが好ましい。 (もっと読む)


【課題】移動度の高い酸化亜鉛半導体膜を提供することを目的とする。
【解決手段】成膜室124内で、対向して配置され、少なくともその一方が高純度の亜鉛からなる一組のターゲットA,Bに、DC電圧を印加し、両ターゲットA,B間に発生させたプラズマによりスパッタリングする。スパッタリングされたターゲットA,BのZn粒子を、酸素ガスと反応させつつ、対向するターゲットの軸方向からずらされて配置された基板上に堆積し、該基板表面にZnO膜を形成する。 (もっと読む)


【課題】環境への負荷が小さく、安価な薄膜トランジスタ及びその製造方法を提供する。
【解決手段】薄膜トランジスタは、ゲート電極1の表面に、絶縁膜2及びAZO半導体よりなるチャネル層3がこの順に形成されており、該チャネル層3の表面に、間隔をあけてソース電極4及びドレイン電極5が形成された構成となっている。チャネル層がAZO半導体よりなるため、安価であると共に環境への負荷が小さく、低温プロセスで製造することができる。ソース電極4及びドレイン電極5がAZO半導体よりなるため、チャネル層6と同一の成膜装置で製造することが可能である。 (もっと読む)


本発明は、電子工学、光学、光電子工学または光起電力工学用の、基板(10)と前記基板(10)の一方の面上に材料を堆積させることにより形成された層(20)とを含む構造体(1)の製造方法に関し、この方法は、前記基板(10)の面(1B)が堆積した材料の層(20)により覆われ、前記基板の他の面(1A)が露出している前記構造体(1)を形成するように、−一方で前記基板(10)を、他方で残りの部分を画定する脆化区域を含む脆化された基板を形成する工程、−前記脆化された基板の2つの面のそれぞれの上に前記材料の層を堆積させる工程、−前記脆化された基板をへき開する工程を含むことを特徴とする。
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本発明は、基板上の金属前駆体層を熱変換させて半導体層にする方法、およびまた、その方法を実施するおよび基板上にソーラモジュールを製造するための装置にも関する。任意の所望の基板上の金属前駆体層を半導体層に熱変換させるための促進されそして実現するのが簡単な速い方法、およびまた、その方法を実施しそしてソーラモジュールを高い効率で製造するために役に立つ装置も提示する。少なくとも金属前駆体層(10)によってあらかじめ調製した基板(4)を、複数の温度領域にセグメント化した炉(1)内で、複数の工程において大気圧で各々の場合に最終温度400°C〜600°Cまでの所定の温度に加熱しそして搬送ガスおよび蒸気状カルコゲンの混合物を含む雰囲気中で最終温度を維持しながら、半導体層に変換させる。
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【課題】平坦性向上が図られたZnO系化合物半導体層の製造方法を提供する。
【解決手段】ZnO系化合物半導体層の製造方法は、(a)基板を準備する工程と、(b)前記基板の上方に、少なくともソースガスとしてZn、O、及びサーファクタントとしてSを同時に供給してZnO系化合物半導体層を形成する工程とを有する。 (もっと読む)


【課題】本発明は、均一性の良好なバッファ層としての結晶層を得ることができ、その上にIII族窒化物半導体結晶構造を作製する際、良好な結晶性の膜を得ることにある。
【解決手段】本発明は、基板上に、スパッタ法によって成膜されたIII族窒化物よりなる第1の層を備え、少なくとも第1の層に接してIII族窒化物材料からなる第2の層を備えたIII族窒化物半導体の積層構造において、前記第1の層が成膜装置のチャンバの内部において成膜された層であり、前記第1の層が成膜装置のチャンバ内において到達真空度、1.0×10−3Pa以下の条件で製造された層であることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】複数の領域で異なる特性を有している量子ドットをもつ半導体デバイスの製造方法を提供する。
【解決手段】第1の(平均表面格子)パラメータ値を有する少なくとも1つの第1の領域2と、上記第1のパラメータ値とは異なる第2のパラメータ値を有する少なくとも1つの第2の領域3とを含む半導体表面1上に、半導体層を堆積する工程を含んでいる。上記半導体層は、自己組織化アイランド6および7が形成される厚さまで堆積される。アイランド6および7上には、キャップ層8が堆積される。キャップ層の禁制バンドギャップは上記アイランドよりも大きいため、上記アイランドが量子ドットを形成する。これらの量子ドットは、上記第1の領域アイランドと第2の領域アイランドとの(複数の)差により、上記第1の領域および第2の領域とは異なる特性を有している。 (もっと読む)


【課題】良好な膜質を有するIII族窒化物半導体を反応性スパッタ法によって効率よく成膜することができるIII族窒化物半導体の製造方法及びIII族窒化物半導体製造装置、並びにIII族窒化物半導体発光素子の製造方法を提供する。
【解決手段】スパッタチャンバ41内に基板11及びGa元素を含有するターゲット47を配置し、プラズマを用いた反応性スパッタ法によって、基板11上に単結晶のIII族窒化物半導体を形成する方法であり、スパッタチャンバ41内に、基板11を加熱するヒータ44と、プラズマ発生空間70を取り囲むシールド部材50と、該シールド部材50を冷却するパイプ部材(冷却手段)51とが備えられ、ヒータ44によって基板11を加熱するとともに、パイプ部材51によってシールド部材50を冷却しつつ、III族窒化物半導体を形成する方法である。 (もっと読む)


【課題】
酸化亜鉛、および、酸化亜鉛固溶体からなる電子素子、光素子を製造する上で、酸化亜鉛、および酸化亜鉛固溶体の結晶構造に由来する自発分極の方向を考慮した結晶成長が求められる。これらを実現するには、結晶成長に際しての基板材質の選択、および、結晶成長時の成長条件、あるいは、結晶成長後の後処理等を検討し、所望の自発分極方向、すなわち、所望の結晶成長方向に対して結晶を成長する技術が得られなければならない。かつ、製造コストなどの経済性を考慮した場合、より流通量の多い、安定した供給の得られる基板材質をも使用できる、自発分極方向、すなわち、結晶成長方向を制御した酸化亜鉛を提供することが求められる。
【解決手段】
本発明の素子基板は、基板と酸化亜鉛薄膜との間にスピネル型構造の緩衝層を有し、前記酸化亜鉛薄膜は、ウルツ鉱型の結晶構造を有し、その表面が亜鉛(0001)面であることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】高品質な水素化アモルファスシリコン膜の製造技術を提供する。
【解決手段】電子銃4から出射される電子ビームを蒸着源3に照射・掃引し、蒸着源3を溶融する。これにより蒸着源3であるシリコンが蒸発し、基板10表面にシリコン膜を蒸着する。シリコン膜の堆積速度は、膜厚モニター7によって測定されており、膜厚モニター7から電子銃4への信号に基づいて、ほぼ一定の蒸着速度になるように電子銃4の出力を制御する。シリコン膜の堆積速度は、好ましくは0.02〜1nm/sであり、より好ましくは、0.05〜0.5nm/sである。さらに、基板10にシリコンを蒸着する際に、基板10上に水素化アモルファスシリコン膜を形成するために、シリコン膜の堆積と同時にイオンビームアシスト蒸着法によって水素イオンを含むイオンビームを照射する。 (もっと読む)


【課題】 ZnO系化合物半導体層のn型層とn側電極とのオーミックコンタクトを改良し、動作電圧を下げる半導体発光素子を提供する。
【解決手段】 基板1上に設けられ、少なくともn型層4を有するZnO系化合物半導体の積層により発光層を形成する発光層形成部11を有するZnO系化合物半導体素子であって、ZnO系化合物半導体のn型層4に接触して設けられるn側電極9は、n型層4に接する部分がAlを含まないTiまたはCrにより形成されている。 (もっと読む)


【課題】真性に近い単結晶GaN膜を有し、かつこの膜をn形又はp形に選択的にドープした半導体デバイスを提供する。
【解決手段】次の要素を有する半導体デバイス:基板であって、この基板は、(100)シリコン、(111)シリコン、(0001)サファイア、(11−20)サファイア、(1−102)サファイア、(111)ヒ化ガリウム、(100)ヒ化ガリウム、酸化マグネシウム、酸化亜鉛、および炭化シリコンからなる群から選択される物質からなる;約200Å〜約500Åの厚さを有する非単結晶バッファ層であって、このバッファ層は前記基板の上に成長した第一の物質を含み、この第一の物質は窒化ガリウムを含む;および前記バッファ層の上に成長した第一の成長層であって、この第一の成長層は窒化ガリウムと第一のドープ物質を含む。 (もっと読む)


【課題】基板上に配向特性の良好な中間層が設けられ、その上に結晶性の良好なIII族窒化物半導体が備えられてなり、優れた発光特性及び生産性を備えたIII族窒化物半導体発光素子及びその製造方法、並びにランプを提供する。
【解決手段】基板11上に、少なくともIII族窒化物化合物からなる中間層12が積層され、該中間層12上に、下地層14aを備えるn型半導体層14、発光層15及びp型半導体層16が順次積層されてなるIII族窒化物半導体発光素子であり、中間層12の結晶組織中には、中間層12のX線ロッキングカーブをピーク分離手法によって、半価幅が720arcsec以上となるブロード成分と、ナロー成分とに分離した場合の、ブロード成分に対応する無配向成分が含まれ、中間層12の結晶組織における無配向成分の割合が、中間層12の面積比で30%以下とされている。 (もっと読む)


【課題】亜鉛酸化物半導体を形成するための方法、およびこれによって製造される亜鉛酸化物半導体を提供する。
【解決手段】n型半導体の電気的特性を有する亜鉛酸化物薄膜上に金属触媒層を導入し、これを熱処理してp型半導体の電気的特性を有する亜鉛酸化物薄膜に改質する。熱処理過程により、亜鉛酸化物薄膜内に存在する水素原子は、金属触媒によって除去される。したがって、金属触媒および熱処理によって薄膜内の水素原子が除去され、キャリアである正孔の濃度は増加する。すなわち、n型の亜鉛酸化物薄膜は、高濃度のp型亜鉛酸化物半導体に改質されるのである。 (もっと読む)


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