説明

Fターム[5F110GG23]の内容

薄膜トランジスタ (412,022) | チャネル半導体層 (67,982) | 形状 (8,303) | 平面形状 (486)

Fターム[5F110GG23]に分類される特許

101 - 120 / 486


【課題】基板処理の効率を高めることができ、また半導体膜の移動度を高めることができるレーザー結晶化法を用いた半導体製造装置を提供する。
【解決手段】半導体膜を成膜する成膜装置と、レーザー装置とを備えたマルチチャンバー方式の半導体製造装置であり、レーザー装置は、被処理物に対するレーザー光の照射位置を制御する第1の手段と、レーザー光を発振する第2の手段(レーザー発振装置1213)と、前記レーザー光を加工または集光する第3の手段(光学系1214)と、前記第2の手段の発振を制御し、なおかつ第3の手段によって加工されたレーザー光のビームスポットがマスクの形状のデータ(パターン情報)に従って定められる位置を覆うように前記第1の手段を制御する第4の手段とを有する。 (もっと読む)


【課題】光源側にゲート電極膜を有するTFTを用いた表示装置であって、光リーク電流の発生を抑えつつ、容量増加をも抑制することができる表示装置を提供。
【解決手段】TFTの少なくとも一端において、ソース領域やドレイン領域となる高濃度領域と、チャネル領域との間に、順に、高濃度領域の不純物濃度が低濃度の第1低濃度領域と、第1低濃度領域の不純物濃度よりさらに低濃度の第2低濃度領域とを、設ける。 (もっと読む)


【課題】1個の柱を用いてインバータを構成することにより、高集積なCMOSインバータ回路からなる半導体装置を提供する。
【解決手段】第1のシリコンと、該第1のシリコンとは極性が異なる第2のシリコンと、前記第1のシリコンと前記第2のシリコンとの間に配置され、基板に対して垂直方向に延びている第1の絶縁物とからなる1本の柱と、前記第1のシリコンの上下のそれぞれに配置され、前記第1のシリコンとは極性が異なる第1の高濃度不純物を含むシリコン層と、前記第2のシリコンの上下のそれぞれに配置され、前記第2のシリコンとは極性が異なる第2の高濃度不純物を含むシリコン層と、前記第1のシリコンと前記第2のシリコンと前記第1の絶縁物とを取り囲む第2の絶縁物と、前記第2の絶縁物を取り囲む導電体とを含む半導体装置により、上記課題を解決する。 (もっと読む)


【課題】多層配線間で形成される寄生容量を低減することを目的の一とする。
【解決手段】画素、メモリ部、又はCMOS回路等に配置されたトランジスタのチャネル形成領域213、214と重なる第1の配線(ゲート電極)の一部または全部と第2の配線(ソース線またはドレイン線)154、157とを重ねる。また、ゲート電極と第2配線154、157の間には第1の層間絶縁膜149及び第2の層間絶縁膜150cを設け、寄生容量を低減した半導体装置である。 (もっと読む)


【課題】寄生抵抗が小さく、かつ電流駆動能力が大きい高耐圧ハイブリッドトランジスタのような半導体装置の構造を提供する。
【解決手段】第1導電型の半導体層22に第1導電型のベース領域9を備える。ベース領域9には第2導電型のエミッタ領域10が設けられる。半導体層22にはベース領域9に隣接して半導体層22の表面から半導体層22の厚さより小さい所定深さにわたって第2導電型の不純物層23が設けられる。不純物層23にはベース領域9から離間して第1導電型のコレクタ領域11および第2導電型のドレイン領域14が設けられる。半導体層22の表面上には、エミッタ領域10の端部上、ベース領域9上および不純物層23上の一部にわたってゲート絶縁膜12を介してゲート電極13が設けられる。エミッタ領域10とベース領域9とに共通接続された第1電極15と、コレクタ領域11とドレイン領域14とに共通接続された第2電極16とを備える。 (もっと読む)


【課題】駆動電流の増大を図る。
【解決手段】半導体装置は、半導体基板10と、前記半導体基板上のソース/ドレイン領域に形成された第1半導体層11と、前記第1半導体層上に形成された第1部分12aと、前記ソース/ドレイン領域の間に位置するチャネル領域に線状に形成された第2部分12bと、を有する第2半導体層12と、前記第2半導体層の前記第2部分の周囲に絶縁膜17を介して形成されたゲート電極18と、を具備し、前記第2半導体層の前記第2部分の膜厚は、前記第2半導体層の前記第1部分の膜厚より小さい。 (もっと読む)


【課題】接続配線に起因する耐圧低下を抑制する。
【解決手段】半導体装置は、第1素子領域16に配置されたLIGBTと、第2素子領域18に配置されたFWDを備えている。第1素子領域16と第2素子領域18は、SOI基板20を平面視したときに、隣接部11においてy軸方向に沿って並んでいる。LIGBTは、SOI基板20を平面視したときに、隣接部11においてコレクタ電極42とエミッタ電極48がx軸方向に間隔を置いて配置されている。FWDは、SOI基板20を平面視したときに、隣接部11においてカソード電極142とアノード電極148がx軸方向に間隔を置いて配置されている。LIGBTのコレクタ電極42とFWDのカソード電極142が接しており、LIGBTのエミッタ電極48とFWDのアノード電極148が接している。 (もっと読む)


【課題】本発明の一つの目的は、金属イオンの拡散によって半導体パターンの長さが短くなることを防止する薄膜トランジスタ及びその製造方法並びに表示基板を提供する。
【解決手段】薄膜トランジスタは、ソース領域、ドレーン領域、チャンネル領域及び拡散抑制部を含む半導体パターンと、半導体パターン上に形成された第1絶縁膜パターンと、半導体パターンに対応して第1絶縁膜パターン上に形成されたゲート電極と、ゲート電極上に形成された第2絶縁膜パターンと、第2絶縁膜パターン上に形成され、半導体パターンのソース領域及びドレーン領域がそれぞれ接続されるソース電極及びドレーン電極とが設けられ、拡散抑制部はソース電極又はドレーン電極からチャンネル領域へ金属イオンが拡散することを抑制する。 (もっと読む)


【課題】絶縁層上の半導体層に形成されたトランジスターの閾値電圧のバラツキを低減できるようにした半導体装置を提供する。
【解決手段】絶縁層上に半導体層が形成された基板と、前記半導体層に形成されたトランジスターと、を備え、前記トランジスターは、前記半導体層上にゲート絶縁膜を介して形成されたゲート電極と、前記ゲート電極の両側下の前記半導体層に形成されたソース又はドレインと、前記ゲート電極直下の前記半導体層において前記トランジスターのゲート幅方向に沿って電流を流すための入力側端子及び出力側端子と、を有する。 (もっと読む)


【課題】耐圧が維持されるとともに絶縁耐量の高いワイヤ配線が電極に配線される誘電体分離型半導体装置を提供する。
【解決手段】誘電体分離型半導体装置は、支持基板、埋込誘電体層および半導体基板から構成される誘電体分離型基板を具備し、半導体基板は、選択的に形成される第1半導体領域と、第1半導体領域をその外周縁から所定の距離だけ離間して取り囲むように設けられる第2導電型の第2半導体領域と、第1半導体領域に接合される第1主電極と、第2半導体領域に接合される第2主電極と、を備え、支持基板は、第1半導体領域に重畳する領域を内包する位置に貫通孔と、貫通孔の開口に現れる埋込誘電体層の領域に接して配設されるシリコーンラダーポリマー層と、貫通孔の開口に現れる埋込誘電体層の領域、シリコーンラダーポリマー層に接して配設される裏面電極と、シリコーンラダーポリマー層に囲まれる空間を埋めて平坦化する第1ハンダと、を備える。 (もっと読む)


【課題】炭化シリコンを含む半導体基板の新たな作製方法を提供することを目的の一とする。または、炭化シリコンを用いた半導体装置を提供することを目的の一とする。
【解決手段】炭化シリコン基板にイオンを添加することにより、炭化シリコン基板中に脆化領域を形成し、炭化シリコン基板とベース基板とを絶縁層を介して貼り合わせ、炭化シリコン基板を加熱して、脆化領域において炭化シリコン基板を分離することにより、ベース基板上に絶縁層を介して炭化シリコン層を形成し、炭化シリコン層を1000℃〜1300℃の温度で熱処理して、炭化シリコン層の欠陥を低減することにより半導体基板を作製する。または、上述のようにして形成された半導体基板を用いて半導体装置を作製する。 (もっと読む)


【課題】ある応力がかかっても回路全体としての動作特性が変化しない薄膜の半導体素子を実現し、これによって、動作マージンが広く大型化が容易なフレキシブルな半導体装置、電気光学装置、電子機器を提供する。
【解決手段】本発明の半導体装置は、基板100上に薄膜トランジスタ8を有し、この薄膜トランジスタ8は、基板100の湾曲に対してチャネル内のキャリアの移動度が相補的に変化する第1のチャネル領域1cおよび第2のチャネル領域1cを有している。 (もっと読む)


【課題】ゲート電極7作製後にチャネル部12を作製する縦型MISFETの製造方法において、ゲート絶縁膜10に損傷を与えたり移動度を劣化させたりすることなく、孔底面に形成された絶縁膜や、自然酸化膜を除去する。
【解決手段】単結晶半導体基板1または単結晶半導体層に形成された不純物領域8の上に、第一絶縁層4、5と、ゲート電極層7と、第二絶縁層5、4と、をこの順に積層した積層体を形成し、前記積層体に不純物領域8が露出する孔を形成し、少なくとも前記孔の側壁に露出しているゲート電極層7、および、前記孔の底面に露出している不純物領域8の上に絶縁膜10を形成し、ゲート電極層7の露出部分の上に形成された絶縁膜10の上に半導体膜を重ねて形成し、不純物領域8の上に形成された絶縁膜を除去し、孔の底面に露出している不純物領域8に接し、孔底面から孔の開口部までつながる半導体部を形成する半導体装置の製造方法を提供する。 (もっと読む)


【課題】SOI基板にFETが形成された半導体装置であって、動作の信頼性が高い半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置1においては、SOI基板10のシリコン層13内に、N型のボディ領域22、P型のドレイン領域23a及びソース領域23b、ボディ領域22から見てソース領域23b側に配置されたN型のボディコンタクト領域24が形成されている。上方から見て、ボディ領域22の形状はコ字状であり、FET形成領域の短辺方向に延びる本体部22aと、本体部22aから長辺方向に延出した延出部22bとが形成されている。また、短辺方向から見て、ボディコンタクト領域24の形状はL字状であり、延出部24bはボディ領域22の延出部22bの直下域に進入している。これにより、ボディコンタクト領域24は本体部22aに接触し、ゲート絶縁膜14の中央部分14cから離隔している。 (もっと読む)


【課題】簡単な製造方法によって製造することができ、かつ良好な電気特性を有するトランジスタの製造方法、トランジスタ及び回路基板を提供する。
【解決手段】トランジスタ1は、基板10と、基板10の表面に形成されたゲート電極12と、基板10上にゲート電極12を覆うように形成されたゲート絶縁膜14と、ゲート電極12の両側にゲート絶縁膜14を介して形成されたソース電極16及びドレイン電極18と、ソース電極16及びドレイン電極18上の厚肉部200とソース電極16及びドレイン電極18によって挟まれたゲート絶縁膜14上に設けられ、厚肉部200よりも膜厚の薄い薄肉部202とを有する表面処理膜20と、厚肉部200と薄肉部202とで形成された凹部204に設けられた有機半導体膜22とを備えて概略構成されている。 (もっと読む)


【課題】優れた電気特性を有するトランジスタの製造方法、トランジスタ及び回路基板を提供する。
【解決手段】トランジスタ1は、基板10と、基板10の表面に形成されたゲート電極12と、基板10上にゲート電極12を覆うように形成されたゲート絶縁膜14と、ゲート電極12の両側にゲート絶縁膜14を介して形成されたソース電極16及びドレイン電極18と、ソース電極16及び前記ドレイン電極18上の厚肉部220とソース電極16及びドレイン電極18によって挟まれたゲート絶縁膜14上に設けられ、厚肉部220よりも膜厚の薄い薄肉部222と薄肉部222上の一部に形成された凸部224とを有する有機半導体膜22と、を備えて概略構成されている。 (もっと読む)


【課題】4個の島状半導体を用いてSRAMを構成することにより、高集積なSGTを用いたSRAMからなる半導体装置を提供する。
【解決手段】第1の島状半導体層137の周囲上に少なくとも一部に接して第1のゲート絶縁膜187が存在し、第1のゲート絶縁膜187に第1のゲート電極178の一面が接し、第1のゲート電極178の他面に第2のゲート絶縁膜187が接し、第2のゲート絶縁膜187に少なくとも第2の半導体層141が接して、第1の島状半導体層137の上部に配置された第1の第1導電型高濃度半導体層161と、第1の島状半導体層137の下部に配置された第2の第1導電型高濃度半導体層162と、第2の半導体層141の上部に配置された第1の第2導電型高濃度半導体層154と、第2の半導体層141の下部に配置された第2の第2導電型高濃度半導体層156と、を有するインバータを用いてSRAMを形成する。 (もっと読む)


【課題】低いコンタクト抵抗を有し、かつ、オン抵抗の増大を回避できて高いチャネル移動度を維持できるノーマリオフ動作の電界効果型トランジスタを提供する。
【解決手段】この電界効果型トランジスタは、AlGaN障壁層6の薄層部6aは、第2のGaN層4のV欠陥13およびV欠陥13に連なる第3のGaN層5の非成長領域G1上に形成されているので、エッチングを行うことなく平坦部6bよりも薄くできる。よって、エッチングダメージがチャネル移動度を低下させることがなく、オン抵抗の増大を回避できる。 (もっと読む)


【課題】nチャネル型トランジスタ及びpチャネル型トランジスタを有する半導体装置の集積化を図ることを目的の一とする。または、半導体装置の性能向上を図ることを目的の一とする。または、大面積な半導体装置を低コストに提供することを目的の一とする。
【解決手段】{211}面から±15°以内の面を表面とする単結晶シリコン基板に加速されたイオンを照射して、単結晶シリコン基板中に脆化領域を形成する工程と、絶縁層を介して単結晶シリコン基板とベース基板とを貼り合わせる工程と、脆化領域において、単結晶シリコン基板を分離し、ベース基板上に{211}面から±15°以内の面を表面とする単結晶シリコン層を形成する工程と、単結晶シリコン層を用いて、チャネル長方向が<111>軸から±15°以内のnチャネル型トランジスタ及びpチャネル型トランジスタを形成する工程と、を有する半導体装置の作製方法である。 (もっと読む)


【課題】生産性に優れた半導体装置の製造方法、半導体装置、アクティブマトリクス装置、電気光学装置および電子機器を提供すること。
【解決手段】本発明の半導体装置の製造方法は、基板7の一方の面側に、トランジスタ4のゲート絶縁体層44を形成する第1の工程と、ゲート絶縁体層44上に、厚さ方向に貫通する貫通部91を備える絶縁体層9を形成する第2の工程と、貫通部91内の底部付近のゲート絶縁体層44上、および、貫通部91の周囲の絶縁体層9上に、気相成膜法により同時にかつ互いに接触しないようにそれぞれ電極を形成し、ゲート絶縁体層44上に形成された電極を用いて、ゲート電極45を形成するとともに、絶縁体層9上に形成された電極を用いて、画素電極6を形成する第3の工程とを有する。また、平面視で、貫通部91の開口部の縁が、当該貫通部91の底部の縁より内側に位置する。 (もっと読む)


101 - 120 / 486