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Fターム[5F157AB64]の内容

半導体の洗浄、乾燥 (54,359) | 被洗浄物の取扱い (8,692) | 移送の態様、搬入搬出口の配置 (583) | 直線運動と回転運動の組合せ (84)

Fターム[5F157AB64]に分類される特許

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【課題】130nm、90nmおよび65nmテクニカル・ノードのプロセス等に適用されるCu-CMP工程においては、Cu配線の腐食を防止する目的で防食剤を添加したスラリが主流となっている。ところが、防食剤を添加したスラリを用いたCu-CMP工程について、本願発明者らが検討したところによると、防食剤はCuと錯体を形成する場合が多く、異物としてウェハ上に多量に残留し歩留の低下や、Cu配線におけるTDDB特性といった信頼度を劣化させる要因となることが明らかとなった。
【解決手段】本願発明は、ポストCMP洗浄において、ウエハのデバイス面をほぼ水平上向きで、当該面に薬液又は純水等の洗浄液体を供給するとともに、ウエハを水平面内で、ほぼその中心の周りで自転させながらウエット洗浄するときに、その自転速度をデバイス面上における洗浄液体の厚さがほぼ均一になる程度に低速にするものである。 (もっと読む)


【課題】基板の処理不良を防止することができる基板処理装置および基板処理方法を提供する。
【解決手段】処理部のスピンチャック21には、スピンベース22が回転可能に設けられている。スピンベース22上には、基板Wを保持するための複数の保持部23が設けられている。各保持部23は、保持部材52および支持ピン81を有する。基板Wに処理液(薬液)が供給される際には、基板Wが支持ピン81上に支持された状態でスピンベース22が約300rpmで回転される。基板Wにリンス液が供給される際には、基板Wが保持部材52により保持された状態でスピンベース22が約1000rpmで回転される。 (もっと読む)


【課題】基板の端部の必要な部分を効果的に清浄にすることが可能な基板洗浄装置およびそれを備えた基板処理装置を提供することである。
【解決手段】洗浄ブラシ531は、鉛直方向に延びるブラシ軸540を有する。ブラシ軸540の外周面を覆うように円筒状の緩衝部材542が取り付けられ、緩衝部材542の外周面を覆うように円筒状の洗浄部材543が取り付けられている。緩衝部材542および洗浄部材543の下端部はブラシプレート541に固定されている。ブラシプレート541上における洗浄部材543の外側の領域には、環状の洗浄部材544が取り付けられている。本実施の形態では、洗浄部材543として比較的硬質で柔軟性が低い材料が用いられ、緩衝部材542および洗浄部材544として比較的軟質で柔軟性が高い材料が用いられる。 (もっと読む)


【課題】処理液の再利用を好適に図ることができ,しかも排気量を低減させることができる,基板処理装置を提供する。
【解決手段】ウェハWを洗浄するウェハ洗浄装置5であって,APM及び純水を供給する供給ノズル34と,ウェハWを保持するスピンチャック31と,スピンチャック31を収納する容器30とを備え,容器30は内処理室42と外処理室43を備え,スピンチャック31に対して容器30を昇降自在に構成し,内処理室42にAPM及び室内雰囲気を排出する第1の排出回路50を接続し,外処理室43に純水及び室内雰囲気を排出する第2の排出回路51を接続し,APMを供給ノズル34から再びウェハWの表面に供給するように構成した。 (もっと読む)


【課題】基板の表面及びベベル部並びに裏面の洗浄を行うことができる洗浄装置を提供すること。
【解決手段】洗浄装置100は、裏面を下方に向けた状態の基板を裏面から支えて保持する2つの基板保持手段(吸着パッド2、スピンチャック3)を備え、支える領域が重ならないようにしながらこれらの基板保持手段の間で基板を持ち替える。洗浄部材(ブラシ5)は基板保持手段により支えられている領域以外の基板の裏面を洗浄し、2つの基板保持手段の間で基板が持ち替えられることを利用して基板の裏面全体を洗浄する。また基板がスピンチャック3により保持され、回転されるときに、基板の裏面の洗浄と合わせて、基板表面及びベベル部に夫々洗浄液を供給して、当該表面とベベル部の洗浄を行う。 (もっと読む)


【課題】装置の大型化を抑制しつつ、複数の供給対象に対して安定した流量で液体を供給することができる液体供給装置およびこれを備えた基板処理装置を提供すること。
【解決手段】処理液供給装置8は、液体がそれぞれ収容された第1タンク29および第2タンク30を備えている。第1タンク29内の液体は、第1連結配管33、第1バルブ39、送液室31を介して、複数の送液配管32から複数の供給対象に供給される。また、第2タンク30内の液体は、第2連結配管34、第2バルブ40、送液室31を介して、複数の送液配管32から複数の供給対象に供給される。第1タンク29から各送液配管32に至るまでの経路、および第2タンク30から各送液排気管32に至るまでの経路における流路断面積は、複数の送液配管32の流路断面積の総和よりも大きくされている。 (もっと読む)


【課題】露光前のウェハの裏面全面を効率よく洗浄する。
【解決手段】処理容器110の一の側面には、搬送機構101の搬送アーム120に保持されたウェハWを搬入出させる搬入出口111が形成されている。処理容器110内には、搬送アーム120に保持されたウェハWの裏面の付着物を静電気によって捕集するために帯電可能な帯電部材130と、当該ウェハWの裏面に気体を噴射できる気体噴射ノズル140が設けられている。処理容器110の底面であって、帯電部材130の周囲には、処理容器110内の雰囲気を排気する排気口150が形成されている。処理容器110内であって、搬入出口111側の内側面には、ウェハWの裏面の付着物を検査する検査機構160が設けられている。 (もっと読む)


【課題】水素ラジカルを用いるアッシング処理の後でも,同一の処理室内で回復処理を連続して実行できるようにする。
【解決手段】ウエハWを所定の温度に加熱しつつこのウエハ上に水素ラジカルを供給することによってエッチングマスクをアッシングして除去するアッシング処理と,アッシング処理が施されたウエハWに発火温度が300℃以上のβ−ジケトン化合物を含むガスを供給することによって,凹部に露出した低誘電率絶縁膜を疎水化しつつエッチングによってダメージを受けた低誘電率絶縁膜の膜質を回復させる回復処理を行う。 (もっと読む)


【課題】装置の占有面積の増大を抑えつつ、基板搬送手段に対する処理、基板の待機或いは基板に対する処理を行なう付属モジュールを追加すること。
【解決手段】真空搬送室3の底部30に凹部41を形成し、ここに第2の搬送アーム32の洗浄処理を行う付属モジュール(洗浄モジュール4)を、前記第2の搬送アーム32によるウエハWの搬送を阻害しないように前記凹部41に収納する位置と、前記真空搬送室3内において前記第2の搬送アーム32の前記保持領域を洗浄する位置との間で昇降させる。前記洗浄モジュール4は使用しないときには前記凹部41に収納し、使用するときには真空搬送室3内に突出するようにしているので、装置の占有面積の増大を抑えつつ、前記付属モジュールを追加することができる。 (もっと読む)


【課題】装置構成を複雑にすることなく、処理される基板の温度を正確かつリアルタイムに測定することができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】処理ユニットと基板Wを搬送する搬送ロボットとを備える処理ブロックを複数連接して基板処理装置が構成される。隣接する処理ブロックの接続部分には基板載置部が設置されている。基板載置部の支持ピン71に、センサコイル72を搭載した検知板70が設けられる。水晶振動子にコイルを接続して構成される検温素子80を装着した温度測定用基板TWが支持ピン71に載置されたときに、送受信部60から水晶振動子の固有振動数に相当する送信波がセンサコイル72を介して検温素子80に送信される。送信停止後、検温素子80からの電磁波をセンサコイル72を介して送受信部60が受信し、その電磁波の周波数に基づいて温度算定部69が基板温度を算定する。 (もっと読む)


【課題】BSPをより確実に除去することが可能なBSP除去方法を提供すること。
【解決手段】被処理基板のベベル面、及び裏面に付着した無機層、及び有機層を含む多層ベベル/バックサイドポリマー(BSP)を除去するBSP除去方法であって、多層BSPを機械的に破壊する第1工程(ステップ2)と、機械的に破壊された多層BSPの残渣を加熱する第2工程(ステップ3)と、を具備する。 (もっと読む)


【課題】基板の外周端部の全体を洗浄することが可能な基板保持回転装置、それを備えた基板洗浄装置および基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板Wのベベル洗浄処理時には、マグネットプレート614aが下方位置に配置され、マグネットプレート614bが上方位置に配置される。この場合、マグネットプレート614aの外方領域R1においては各チャックピン615が閉状態となり、マグネットプレート614bの外方領域R2においては各チャックピン615が開状態となる。すなわち、各チャックピン615の保持部615cは、マグネットプレート614aの外方領域R1を通過する際に基板Wの外周端部に接触した状態で維持され、マグネットプレート614bの外方領域R2を通過する際に基板Wの外周端部から離間する。 (もっと読む)


【課題】容器内の複数の基板を取り出して所定の処理を行い、処理後の基板を容器内に戻す一連の処理を繰り返し行う際に、スループットを向上させることができる基板処理装置を提供すること。
【解決手段】洗浄処理装置は、一連の搬送動作を制御する制御部40を有し、制御部40は、一のウエハの基板を処理装置内に投入している状態において、フープ搬送装置12およびウエハ出し入れステージ15が空いているタイミングで、次のロットの未処理基板を収容したフープをウエハ出し入れステージ15に搬送し、トータルの搬送時間が適切になるように、フープ搬送装置12の動作タイミング、ウエハ出し入れステージ15での操作のタイミング、およびウエハ移載装置19の動作タイミングを個別に調整した搬送スケジュールを作成するスケジュール作成部54を有する。 (もっと読む)


【課題】スループットが向上された基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板処理装置100は、インデクサIDおよび処理部PRを有する。インデクサIDと処理部PRとの間に隔壁Dが形成されている。インデクサIDと処理部PRとの間で基板Wの受け渡しを行う受け渡し部3は、処理部PR内に設けられている。インデクサIDでは、インデクサロボットIRがキャリア1と受け渡し部3との間でハンドにより基板Wを搬送する。インデクサロボットIRは、第1の軸Saに沿った移動動作および回転動作を行う。ハンドは前進動作および後退動作を行う。受け渡し部3の一端部(第1の受け渡し位置)351は隔壁Dの中央部からインデクサID内に突出している。第1の受け渡し位置351の両側方には、通路スペースSPが形成されている。通路スペースSPは、インデクサロボットIRのハンドが前進した状態で通過できるように形成されている。 (もっと読む)


【課題】微粒子の除去率を高め、露光装置のスループットを維持し、被洗浄面の損傷を低減する洗浄装置及び方法、並びに洗浄装置を有する露光装置を提供する。
【解決手段】真空環境下に配置されたレチクル2のパターンを投影光学系5を介してウエハ1に露光すると共に、真空環境下でレーザー光Lをレチクル2に照射することによってレチクル2を洗浄する洗浄装置を有する露光装置100において、洗浄装置は、レーザー光Lをレチクル2のパターン面2aに対して1°以上45°以下の範囲の角度で照射する照射手段を有し、前記照射手段が、レーザー光Lのパターン面2aに対する入射角度を前記範囲内に維持した状態で、レーザー光Lをパターン面2aの法線周りの入射方向が互いに異なる複数の入射方向から入射させることを特徴とする露光装置100を提供する。 (もっと読む)


【課題】プラズマを利用し、基板を処理する装置に関する。
【解決手段】プラズマの特性を向上させるため磁気場を形成する磁石のユニットを提供する。ハウジングの側部の内、上部の領域には、第1磁石ユニットが、又、下部の領域には、第2磁石ユニットが提供される。各々の磁石ユニットは、複数の電磁石を有する。電磁石は、磁石ユニットが上部から見る際、正多角型の形状を有するように配置される。下部に配置される磁石ユニットは、上部に配置される磁石ユニットとの整列位置から、その中心軸を基準として一定角度回転された状態に配置される。上述した構造によって、ハウジング内のプラズマ密度の均一度が向上され、特に隣接する電磁石の間の領域でプラズマ均一度が低下することを防止できる。 (もっと読む)


【課題】基板処理速度を向上できる基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板処理装置10は、垂直姿勢で水平方向に積層された複数枚の基板Wに対して一括して処理を施す基板処理部2と、基板受け渡し位置P1,P2と基板処理部2との間で複数枚の基板Wを一括搬送する主搬送機構3と、フープFに対して複数枚の基板Wを一括して搬出入するとともに、その複数枚の基板Wを水平姿勢と垂直姿勢との間で一括して姿勢変換させる搬出入機構4と、移載機構5と、第1および第2水平搬送機構6,7とを備えている。移載機構5は、移載位置P3において、搬出入機構4との間で基板Wを授受し、第1および第2水平搬送機構6,7との間で基板Wを授受する。第1および第2水平搬送機構は、それぞれ基板受け渡し位置P1,P2で、主搬送機構3との間で基板Wを授受し、移載位置と基板受け渡し位置P1,P2との間で基板Wを搬送する。 (もっと読む)


【課題】基板の裏面や周縁部に付着した異物を完全に除去することができる基板処理システムを提供する。
【解決手段】基板処理システム10が備える基板洗浄装置としてのプロセスモジュール15は、ウエハWを収容するチャンバ38と、該チャンバ38内の底部に配置されてウエハWを載置するステージ39と、チャンバ38内の天井部に配置されてステージ39に対向するシャワーヘッド40とを備え、ステージ39はウエハWの裏面や周縁部に向けて液相及び気相の2つの相状態を呈する洗浄物質、例えば、純水と、不活性ガス、例えば、窒素ガスとが混合された洗浄剤を噴出し、シャワーヘッド40はウエハWの表面に向けたダウンフローを発生させる。 (もっと読む)


【課題】基板処理方法が提供される。
【解決手段】工程チャンバ内にローディングされた基板は、支持プレート上に載置される。以降、工程チャンバは外部から遮断され、工程チャンバ内部の圧力を既設定の圧力まで増加させる。既設定の圧力で基板の温度は一定の温度に安定化し、工程チャンバ内の圧力は工程圧力に減圧される。工程チャンバ内で基板に対する工程が完了すると、基板は工程チャンバの外部にアンローディングされる。工程チャンバ内部の圧力を増加させる方法には、パージガスを供給する方法と、工程ガスを供給する方法がある。 (もっと読む)


【課題】互いに交差する2つの直線状ラインに沿ってユニットを配列した構成の基板処理装置において、構成を簡素化し、コストを低減する。搬送ロボット間での基板の受け渡しをなくすことによって、基板の汚染を減少する。
【解決手段】第1搬送路10に沿ってカセット載置部11,12が設けられている。第1搬送路10に直交する第2搬送路20に沿って、めっき処理ユニット21〜24、裏面洗浄ユニット25,26および周縁洗浄ユニット27,28が設けられている。搬送ロボットTRは、ロボット本体30と、このロボット本体30を第2搬送路20にほぼ沿うレール58上で走行させるボールねじ機構50と、レール58の第1搬送路10側の端部をこの第1搬送路10に沿って移動させることにより、レール58を揺動させるボールねじ機構40とを備えている。 (もっと読む)


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