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Fターム[5G307BB02]の内容

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Fターム[5G307BB02]に分類される特許

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【課題】特にコネクタとの嵌合接触など大きな外部応力がかかる環境下においても、導体周囲のSnめっき膜表面からウィスカが発生するおそれの少ない、あるいは殆ど発生しない配線用電気部品及び端末接続部並びに配線用電気部品の製造方法を提供するものである。
【解決手段】金属導体1表面の少なくとも一部に、Pbフリーで、体心正方晶の結晶構造をもつSn系材料部(βSn)3を有する配線用電気部品を、室温を含む同素変態温度以上で電気部品として使用する際、Sn系材料部3がダイヤモンド型の結晶構造をもつαSnに変態するのを抑制すべく、Sn系材料部3の上層に、変態遅延元素であるSb、Bi、Cd、In、Ag、Au、Ni、Ti、Zr、Hfのうち、少なくとも1種以上からなる変態遅延めっき膜2を設け、その後リフローしてなるものである。 (もっと読む)


【課題】Snめっきの耐熱剥離性を改善したCu−Zn系合金条及びそのSnめっき条を提供する。
【解決手段】15〜40質量%のZnを含有し残部がCuおよび不可避的不純物からなるCu−Zn系合金条において、P、As、Sb及びBi濃度の合計を100質量ppm以下、Ca及びMg濃度の合計を100質量ppm以下、O及びS濃度をそれぞれ30質量ppm以下に規制する。 (もっと読む)


【課題】コネクタとの嵌合部、接続部などの大きな外部応力がかかる環境下においても、導体周囲のSnめっき膜表面やはんだ表面からウィスカが発生するおそれの少ない、あるいはほとんど発生しないPbフリーの配線用導体及びその製造方法並びに端末接続部並びにPbフリーはんだ合金を提供するものである。
【解決手段】本発明の配線用導体は、少なくとも表面の一部にPbフリーのSn系材料部2を有するものであり、Sn系材料部2が、Sn系材料部母材に酸化抑制元素としてP、Ge、K、Zn、Cr、Mn、Na、V、Si、Al、Li、Mg、Caのうちの少なくとも1種以上を添加してなり、そのSn系材料部2にリフロー処理したものである。 (もっと読む)


【課題】すずめっきの耐熱剥離性を改善したCu−Ni−Si系合金すずめっき条を提供する。
【解決手段】1.0〜4.5質量%のNi及び0.2〜1.0質量%のSiを含有し、残部がCu及び不可避的不純物より構成される銅基合金を母材とするすずめっき条において、めっき層と母材との境界面におけるS濃度及びC濃度を0.05質量%以下に調整する。母材は、更にSn、Zn、Mg、Fe、Mn、Co、Ti、Cr、Zr、Al及びAgの群から選ばれた少なくとも一種を合計で0.005〜3.0質量%の範囲で含有することができる。 (もっと読む)


【課題】Cu−Ni−Sn−P系銅合金において、表面平滑性および耐熱剥離性に優れたリフローSnめっき銅合金材料を提供する。
【解決手段】質量%で、Ni:0.1〜2.5%、Sn:0.1〜2.0%、P:0.002〜0.2%であり、さらに必要に応じてFe:0.8%以下およびZn:5%以下の1種以上を含み、残部実質的にCuの組成をもつ銅合金の表面に、下から順に、厚さ0〜0.3μmのCu層、Cu−Sn拡散層、Sn層の構造を有する被覆層が形成されており、圧延方向の表面粗さがRa:0.08μm以下、Ry:0.6μm以下であるSnめっき銅合金材料。板表面に対して垂直方向から見たCu−Sn拡散層の平均粒径が0.5〜10μmであり、最表面の酸化膜厚が30nm以下であるものが特に好適な対象となる。 (もっと読む)


【課題】銅などの金属基体に導電性高分子層が被覆された導電性高分子被覆材において金属が腐食し易い環境で使用しても、電気伝導特性を損なうことなく、金属の溶解や絶縁被膜生成を抑制でき、長期的な使用に耐える導電性高分子被覆材を提供。また、金属基体との密着性に優れ、均一な導電性高分子を被覆することができる金属被覆方法を提供。
【解決手段】金属基体を導電性高分子層(A)にて被覆した導電性高分子被覆材において、導電性高分子層(A)のドーパントがカルボン酸アニオンであることを特徴とする導電性高分子被覆材。更に緻密な導電性高分子層(B)を有することが好ましい。また、金属基体の表面に酸化物層を形成し、その後、モノマーおよびカルボン酸アニオンを含有する電解液中で電解重合することによって導電性高分子層を形成し、さらに該導電性高分子層上に緻密な導電性高分子層を形成する金属被覆方法。
【選択図面】なし (もっと読む)


【課題】極細であって、なおかつ、安定した通電性、優れた高周波特性などを備えている極細同軸線とその製造方法及び、この新しい用途を提案する。
【解決手段】貴金属又はその合金からなる芯材を中心とする外径200μm以下の同軸線であって、自己弾性を有すると共に、ビッカース硬度450HV以上、より好ましくは、ビッカース硬度500〜600HVを有する極細同軸線。 (もっと読む)


【課題】経時的な酸化を抑制したり、はんだ付け時等に起こり易い酸化を抑制することができるフラーレン複合めっき電線及びその製造方法並びにフラーレン複合めっきエナメル電線を提供する。
【解決手段】金属芯線11と、その金属芯線11上に形成されたフラーレン複合めっき皮膜12とを有するように構成した。フラーレン複合めっき皮膜12は、フラーレンとして、フラーレンC60、フラーレンC70及び高次フラーレンの中から選ばれる1種又は2種以上を含有することが好ましく、また、フラーレン複合めっき皮膜が、銅、ニッケル、鉄、クロム、金、銀、白金、パラジウム、ルテニウム、ロジウム及びそれらの合金の群から選ばれるいずれかを含有することが好ましい。 (もっと読む)


【課題】最終線径0.025mm以下の極細線で、高強度特性と低抵抗特性(高導電性)を両立し、かつ熱的な負荷においても強度の低下が生じにくく、高い耐熱性をも兼ね備えた極細銅合金線、極細銅合金撚線及びそれらの製造方法を提供する。
【解決手段】純銅に銀を1〜3重量%添加して銅合金を生成し、伸線加工を行って線径が0.010〜0.025mmの極細銅合金線を作製後、300〜500℃の温度で0.2〜5秒の熱処理を施し、引張強さが850MPa以上、導電率が85%IACS以上、伸びが0.5〜3.0%であり、かつ、温度350℃以下、時間5秒以下の加熱処理において、加熱処理前の引張強さ(σh0)に対する加熱処理後の引張強さ(σh1)の低下率[(1−σh1/σh0)×100%]を2%以下とする。 (もっと読む)


本発明は、0.08%乃至0.12%のAg割合を有するCuAgのベース合金より成る電気複合導体に関する。この場合、複合導体は横断面で見て、縁部側(14)又は芯側(20,22)が、0.1%乃至0.7%のMg割合を有するCuMgの合金より成っている。有利な形式で、芯20内にCuMg0.1 … …0.7より成る線材を有し、CuAg0.1より成る周壁によって包囲されているトロリ線10(溝付きトロリ線又はトロリ線)が提案されている。製造法として、例えばヨーロッパ特許公開第0125788号明細書に記載されているホルトン・コンフォーム・クラッディングプロセスが提案されている。
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【課題】軽量且つ高導電率である軽量高導電率電線及びその製造方法を提供する。
【解決手段】芯線にめっき皮膜を施して成り、芯線は、銅やアルミニウムなどから構成され、めっき皮膜は、ナノカーボンとアルミニウムの複合材料から構成されている軽量高導電率電線である。カーボンナノチューブが、直径1〜100nm、長さ1〜100μm、アスペクト比10〜100であり、単層構造又は積層構造である。電気体積抵抗率が、0.5〜3μΩ・cmである。
20〜80モル%のアルミニウムハロゲン化物と、80〜20モル%の1,3‐ジアルキルイミダゾリウムハロゲン化物(但し、アルキル基の炭素数は1〜12)やモノアルキルピリジニウムハロゲン化物(但し、アルキル基の炭素数は1〜12)とを混合溶融して成る溶融塩に、ナノカーボンを含めためっき液を用いて軽量高導電率電線を製造する。 (もっと読む)


【課題】ハンダ付け後のセルの反りや割れの発生を防止できると共に、繰り返し応力を受けた際にも破断することがなく、導電性を損なうことのない太陽電池用のリード線を提供する。
【解決手段】電解銅箔を焼鈍してなるテープ状の本体16と、本体16の表面に設けられたハンダめっき層18とで構成されていることを特徴とする。かかる構成により、本体16は、その耐力荷重が極めて低く、少ない応力で容易に塑性変形することができる。加えて、本体16の析出面24に形成された凹凸22がクッションのように働き、見掛けの弾性率を低くすることができる。このため、ハンダ付け後の冷却時におけるリード線10の熱収縮に伴いセル12に与えられる曲げ応力を緩和することができ、太陽電池のセル12の反りや割れを防止することができる。 (もっと読む)


【課題】 半導体基板に生じる熱応力によって容易に塑性変形して、熱応力に起因する基板の損傷を防止できる太陽電池用電極線材および同電極線材の製造方法を提供する。
【解決手段】 本発明の太陽電池用電極線材は、帯板状の芯材2と、この芯材2の表面に被覆された溶融はんだめっき層3A,3Bを備える。前記芯材2はその平均体積抵抗率が2.3μΩ・cm以下で、かつ平均耐力が19.6MPa以上、85MPa以下とされ、前記芯材2の少なくとも一方の表面にその長さ方向に間隔Pを置いて芯材幅方向に沿って凹んだ凹部4が繰り返し形成される。前記凹部4は、その深さDが凹部4の平均間隔Pの1/600以上とし、かつ芯材2の厚さtの3/4以下とすることが好ましい。 (もっと読む)


【課題】本発明の主要な課題は、コネクタ、端子、スイッチ及びリードフレーム等の電子部品に使用可能な銅または銅合金の、簡便かつ比較的安価に実施可能なウィスカー抑制のための表面処理方法を施したSnまたはSn合金めっき条およびこれを用いた電子部品を提供することである。
【解決手段】 銅または銅合金条の表面に施したリフローSnまたはSn合金めっき皮膜内の残留応力が引張り応力であり、かつその大きさが0.1MPa以上50MPa以下であることを特徴とする低ウィスカー性リフローSnまたはSn合金めっき条及びこれを用いた電子部品。 (もっと読む)


【課題】Cu−Ni−Si−Zn系合金を母材とするCu/Ni二層下地リフローSnめっき条の耐熱性を改善する。
【解決手段】1.0〜4.5質量%のNi、Niの質量%に対し1/6〜1/4のSi、0.1〜2.0質量%のZnを含有し、更に必要に応じ0.05〜2.0質量%のSnを含有する銅基合金を母材とし、表面から母材にかけて、Sn相、Sn−Cu合金相、Ni相の各層でめっき皮膜が構成されるすずめっき条において、Sn相の厚みを0.1〜1.5μm、Sn−Cu合金相の厚みを0.1〜1.5μm、Ni相の厚みを0.1〜2.0μm以下とし、Sn相表面のSi及びZn濃度をそれぞれ1.0質量%以下及び3.0質量%以下とする。更に必要に応じ、めっき層と母材との境界面におけるC濃度を0.1質量%以下、O濃度を1質量%以下とする。 (もっと読む)


【課題】本発明の目的は、表面が平滑でかつ耐熱性を有する銅合金箔にNiめっきもしくはNi合金めっきを施したプリント配線基板用金属材料を提供することにある。
【解決手段】引張り強度が500MPa以上の圧延銅合金箔の少なくとも一方の面を光沢面に仕上げ、その面に0.3μm以上のNiめっきもしくはNi合金めっきを施し、施しためっきの60度鏡面光沢度が30%以上であることを特徴とする特徴とするプリント配線基板用金属材料である。 (もっと読む)


【課題】Cu−Zn−Sn系合金のリフローSnめっき条について、コネクタに加工後の挿入力を低減するための新たなめっき技術を提供する。
【解決手段】2〜12質量%のZn、0.1〜1.0質量%のSnを含有し、Snの質量%濃度([%Sn])とZnの質量%濃度([%Zn])との関係が、
0.5≦[%Sn]+0.16[%Zn]≦2.0
の範囲に調整され、残部がCu及び不可避的不純物より構成される銅合金を母材とし、表面から母材にかけてSn相、Sn−Cu合金相、Cu相の各層でめっき皮膜が構成されるすずめっき条において、Sn相表面のZn濃度を0.5〜3.0質量%に調整する。好ましくはSn相の厚みが0.1〜0.8μm、Sn−Cu合金相の厚みが0.5〜1.5μm、Cu相の厚みが0〜0.4μmであり、Ni、Fe、Mn、Mg、Co、Ti、Cr、Zr、Al及びAgの群から選ばれた少なくとも一種を含有してもよい。 (もっと読む)


【課題】 疲労特性に優れる銅合金Auめっき条。
【解決手段】 Cu−Ni−Si系合金、りん青銅、丹銅、黄銅、チタン銅等の銅合金条の表面に、電気めっきによりAuめっき皮膜が形成され、該銅合金条及びAuめっき皮膜中の平均水素濃度が5質量ppm以下である銅合金Auめっき条であり、Ni下地めっき相が存在しても良く、好ましくはAu相厚み0.02〜2.0μm、Ni相厚み0.1〜10μmであり、Auめっきは、更にNi、Co、Ag、及びInの群から選ばれた1種以上を合計で0.1〜10.0質量%含有してもよい。 (もっと読む)


【課題】低周波数帯でのシールド性能が良好であり、さらに製造が簡単であり、接続信頼性が高く、端末加工性が良好であり、その上耐腐食性が良好なシールドケーブルと、かかるシールドケーブル用の複合素線を提供する。
【解決手段】導電性材料からなる層と、磁性材料からなる層とを有する多層構造の複合素線をシールド層に用いていることを特徴とするシールドケーブル。導電性材料は、銅、銅合金、アルミニウム、アルミニウム合金のいずれかを用いていることを特徴とするシールドケーブル。導電性材料は、導電率が40%IACS以上であることを特徴とするシールドケーブル。磁性材料は、鉄、鉄鋼、鉄系合金、磁性ステンレス鋼、ニッケル、ニッケル系合金、鉄ニッケル合金のいずれかを用いていることを特徴とするシールドケーブル。磁性材料は、10kHzでの比透磁率μrが10以上であることを特徴とするシールドケーブル。 (もっと読む)


【課題】 Sn主体のメッキを有しつつも、有毒な鉛を全く含有せず、低コストでウィスカの発生がより確実に防止できる電子部品用リード線及び該リード線よりなるフラットケーブルを提供せんとする。
【解決手段】 導電基体1と、その表面を被覆するSnとBi、Cu、Ag又はZnとのSn合金メッキ層2と、その上層に形成されたZnメッキ、Agメッキ、SnZn合金メッキ、SnAg合金メッキ又はSnBi合金メッキの上層メッキ3とで構成した。Bi、Cu、Ag又はZnの濃度は0.1〜15重量%に設定され、Sn合金メッキ層2と上層メッキ3の合計厚みは0.5〜20μmに設計されている。 (もっと読む)


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