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国際特許分類[G01B21/02]の内容

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国際特許分類[G01B21/02]に分類される特許

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【課題】追熟に伴って減少するメロンの外周を測定することによってその熟度を判定するメロンの食べ頃判定方法である。青果物の赤道部外周面にベルトを着装し、このベルトと青果物の外周面との隙間に楔状のゲージを嵌挿し、この楔状のゲージの侵入の程度によって青果物の外周の減少を測定する青果物の外周減少測定装置である。
【解決手段】メロンの外周における、ベルト設置時からの食べ頃時までの減少値を予め明確にしておけば、消費者は測定した減少値と食べ頃値とを比較することによって当該メロンの熟度を数値的に判定することができる。消費者の手元に届いた後のメロンの保管条件を反映した状態で、即ち、流通・消費段階の追熟条件に対応してメロンの熟度を数値的に正確に判定することができるため、個々のメロンの個体差や流通、消費段階の温度条件に左右されることなく、消費者自らが常に一定した食べ頃を的確に判定できる。 (もっと読む)


【課題】 背面側に縦型定盤を設置した測定装置において、被測定基板の両面の平坦度を測定できる基板の平坦度測定装置を提供する。
【解決手段】 基準平面3bの面方向がほぼ垂直状態になるように配置された縦型定盤3と、被測定基板Wを保持する保持機構30と、前記縦型定盤3の基準平面3bと前記保持機構30によって保持された被測定基板Wの間に配置され前記縦型定盤3の基準平面3bとの距離及び前記被測定基板Wの板面との距離をそれぞれ測定する一つの移動ブロック21上に搭載された非接触型距離測定センサと、前記保持機構30によって保持された被測定基板Wの前面に配置され、前記縦型定盤3の基準平面3b及び、前記被測定基板Wとの距離を測定する一つの移動ブロック31上に搭載された非接触型距離測定センサと、前記各非接触型距離測定センサによる測定結果に基づいて、被測定基板Wの表裏の各平坦度を演算する演算手段とを具備する。 (もっと読む)


【課題】 被測定物の測定面の任意の位置における高さデータを高精度にて推定する高さデータ推定方法、高さデータ推定用プログラム、及び3次元形状測定装置を提供する。
【解決手段】 複数のサンプリング位置における高さデータに関して、設計データと測定データとの誤差値を求め(S6)、求まった誤差値にて形成される形状の関数を求める(S6)。そして、該関数に基づいて、被測定物の測定面の任意点における推定誤差値を求めるようにしている(S7)。したがって、上記推定誤差値の精度は、測定データの高さデータに基づき作成される面の曲率半径及び傾斜面角度とは無関係となり、一定となる。よって、従来に比べて、高い精度にてなる推定誤差値を得ることが可能となる。 (もっと読む)


【課題】基板自体のうねりや反り、さらには機械的な精度等による測定誤差等の疑似段差成分を精度良好に除去することができ、これにより高精度な表面段差分布を得ることが可能な表面段差測定方法を提供する。
【解決手段】基板の表面段差分布を測定する表面段差測定方法であり、表面段差分布を測定する測定領域とその周辺領域とを含む領域において表面段差のない平坦部における基板の表面高さを測定することにより、測定領域に関して表面段差の影響を含まない第1の表面段差分布を得る(S1)。測定領域内の全面において基板の表面高さを測定することにより、測定領域に関して前記表面段差の影響を含む第2の表面段差分布を測定する(S2)。第2の表面段差分布から第1の表面段差分布を取り除くことにより、測定領域における基板の表面段差分布を得る(S3)。 (もっと読む)


【課題】 ローラの表面に強固に付着している異物を除去する。
【解決手段】 回転駆動側と従動側の一対のローラに金属リングを掛け渡し、該一対のローラの離隔距離を調整して前記金属リングに所定のテンションを与えつつ、該テンションを強めることによって前記金属リングの周長を補正する周長補正装置、又は、前記離隔距離を測定して、その計測値から前記金属リングの周長を計算する周長測定装置、又は、前記離隔距離を調整して前記金属リングに所定のテンションを与えつつ、前記金属リングの表面欠陥の有無を検査する表面欠陥検査装置は、前記一対のローラのそれぞれの外周面に接触する刃先を有するスクレーパを備える。 (もっと読む)


精度及び正確度に基づいて全体の測定不確実性(TMU)を求めることによって、測定装置を評価し、最適化する方法及び関連したプログラムである。TMUは、線形回帰分析に基づいて、正味残余誤差から基準測定システムの不確実性(URMS)を除去することによって計算される。TMUは、被試験測定システムが製品の実際のばらつきを検出する能力を有するかどうかについて客観的かつより正確に表示する。
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【課題】蛍光体ペースト塗布工程直後に塗布工程の状態を検査することで塗布工程に発生した連続欠陥の原因となる不具合を迅速に発見し、不良品となりロスとなる基板数を最小限に抑え、速やかに工程を復旧させることを可能にするディスプレイパネルの検査方法および検査装置並びにそれらを用いた製造方法を提供する。
【解決手段】高さ測定手段を有し、基板に所定の間隔で複数本塗布された液状材料と交差する方向へ、基板、または高さ測定手段を移動させながら、液状材料塗布部を含む基板面の高さ測定を離散的に行い、得られた離散高さ形状信号間を補間して求められた高さ形状信号から液状材料毎の高さを抜き出して連ねた高さ信号を検査信号とし、検査信号より液状材料毎の塗布量を測定することを特徴とするディスプレイパネルの検査方法、および検査装置並びにそれらを用いた製造方法。 (もっと読む)


【課題】構造物のき裂解析において、複数き裂の発生と合体の繰返しによる進展を対象とする解析が可能で、短時間で進展解析結果を提供することのできる複数き裂の進展解析方法および装置を提供する。
【解決手段】複数のき裂状欠陥を有する構造物を構成する材料のき裂進展特性データが入力されるデータ入力部と、き裂進展を計算する複数き裂進展計算部とを備えた複数き裂進展解析装置であって、前記複数き裂進展計算部が、前記データ入力部に入力された応力と部材寸法とき裂寸法とから個々のき裂の応力拡大係数を計算する応力拡大係数計算部と、計算された前記応力拡大係数と前記き裂進展特性データからき裂進展量を計算するき裂進展量計算部と、き裂間の距離が予め設定された基準値以下となるものを総ての隣り合うき裂同士について確認する合体判定部と、前記合体判定部によりき裂同士のき裂同士の距離が基準値以下と判定した場合にこのき裂同士を一つのき裂に置き換えるき裂置換部とを備えたことを特徴とする複数き裂の進展解析装置。 (もっと読む)


ねじ製品を測定し、予め規定された仕様と製品との整合性を判断する方法およびシステムが提供されている。測定システムは、電気的にコンピュータベースの構成要素に結合された測定装置を含む。測定装置はねじ製品の幅の情報を検出し、検出された幅の情報に関して回転の情報と長さの情報とを検出する。コンピュータベースの構成要素は検出された情報を受信し、検出された情報と予め規定された製品の品質仕様情報とを比較し、その比較に基づいて製品が仕様情報の不確定要素の範囲内にあるかどうかを測定する。
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【課題】 経験や熟練を要することなく、間口の寸法および柱の傾きや鴨居の傾斜・撓みなどの形状を測定する装置を提供すること。
【解決手段】 立設した柱21を有する架台2と、この架台2の柱21に取り付けられる寸法測定装置本体1とを具備し、この寸法測定装置本体1は、柱21に取り付けられる基台26と、この基台26に水平方向に植設された固定軸27に回動自在に設けられた回転台3と、この回転台3上に載置され、基台26に対する回転台3の回動角度を検出するロータリ・エンコーダ32と、回転台3に載置され、基台26から間口の測定点まで長さを検出するワイヤーまたはテープ38およびインクリメンタル形のリニア・エンコーダ33と、検出した角度データおよび長さデータを対応させて極座標で格納する記憶手段とを具備するものである。 (もっと読む)


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