【課題】薬液処理の透過性を改良した医療検査用カセットを提供する。
【解決手段】耐薬品性材料からなるカセット本体２と蓋３とを具備してなり、前記カセット本体２は上面が開放され、検体を収容し得る方形の容器であり、その底部に外周領域４、及びその内側に多数の透孔５ａが穿設された透孔領域５を有し、前記蓋３はカセット本体２に着脱自在に取り付け可能であり、その表面に外周領域４、及びその内側に多数の透孔５ａが穿設された透孔領域５を有し、前記蓋３の表面又は前記カセット本体２の底部の裏面に間隙保持用突起６が設けられた医療用カセット１において、該間隙保持用突起６は透孔５ａに没入しないサイズ及び形状からなり、かつ外周領域４と透孔領域５の両方に突設されていることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 本発明は第1ホルダ(40)内の第1位置から第2ホルダ(10)内の第2位置へ、及び/又はその逆へ試料(2)を搬送する搬送機構に関する。
【解決手段】 各ホルダ(10,40)は脱着可能な状態で試料を保持するように備えられ、ホルダ間での試料の搬送は、第2位置とは異なる搬送位置で行われる。試料がホルダ(10,40)間を搬送されるとき、機械的案内機構は、第2位置での相互精度よりも高い相互精度でホルダを位置設定し、かつ試料が第2位置にあるときには、ホルダ(10,40)のうちの少なくとも1は位置設定されない。
機械的案内機構は追加部分(50)を有して良い。
ホルダ(40)のうちの少なくとも1は多数の試料を保持するように備えられて良い。 （もっと読む）

【課題】半導体製造プロセスへの金属汚染の拡散を最小限度に抑制し歩留まりを向上させることができる荷電粒子線加工装置を提供する。
【解決手段】真空容器１０に接続され非金属イオン種のイオンビーム１１を試料３５に照射するイオンビームカラム１と、イオンビーム１１により試料３５から切り出されたマイクロサンプル４３を摘出するプローブ１６を有するマイクロサンプリングユニット３と、マイクロサンプル４３とプローブ１６とを接着するガスを流出させるガス銃２と、イオンビームカラム１が接続されたと同一の真空容器１１に接続され汚染計測用ビーム１３をイオンビームカラム１によるイオンビーム照射跡に照射する汚染計測用ビームカラム６Ａと、汚染計測用ビーム１３を照射した際にイオンビームカラム１によるイオンビーム照射跡から放出される特性Ｘ線を検出する検出器７とを備えたことを特徴とする荷電粒子線加工装置。 （もっと読む）

【課題】帯電粒子ビーム操作のためにサンプルを配向させる方法および装置を提供する。
【解決手段】サンプルが、サンプルの主表面がプローブ・シャフトに対して垂直ではない角度にある状態で、プローブに付着され、プローブ・シャフトは、サンプルを再配向させるために回転される。一実施形態では、サンプル・ステージに対して４５度などのある角度に配向されたプローブは、平坦領域がプローブの軸に対して４５度で平行に配向された、すなわち、平坦領域がサンプル・ステージに平行であるプローブの先端を有する。プローブ先端の平坦領域は、サンプルに付着され、プローブが１８０度回転されるとき、サンプルの配向は、水平から垂直に９０度変化する。次いで、サンプルは、ＴＥＭ格子をサンプル・ステージ上で垂直配向ＴＥＭ格子に付着される。サンプル・ステージは、薄くするためにサンプルの背面をイオン・ビームに向けるように回転および傾斜される。 （もっと読む）

【課題】正確な断面観察を行なうことができる観察用試料を、簡便な方法により、素早く大量に作製することが可能な観察用試料の作製方法及び観察用試料を提供する。
【解決手段】単結晶基板２上に金属膜３が成膜された試料１０の金属膜３側の表面に罫書線１０ａを形成し、試料１０を、液体窒素５０中で冷却しながら、罫書線１０ａに沿ってへき開する方法とする。 （もっと読む）

【課題】単一の細胞等の微小の試料のサンプリングを行う場合、特別な破砕プロセスを介することなく、吸引と破砕を同時進行させる。
【解決手段】定量ピペット１０に着脱可能に取り付けられたピペットチップ１８において、試料である細胞に対峙させる先端口２０の近傍に破砕手段（刃部２６、突出部２８、くびれ部３２）を設けることで、吸引時の流動と同時進行で細胞の破砕が可能となり、例えば、チップ型反応器に投入して解析する場合に、このチップ型反応器内での破砕プロセスを省くことができ、全体として作業効率を向上することができる。また、単一の細胞等、極めて微小な試料に対しても破砕作用が確実に働くため、近年のニーズにあった破砕手段を提供することができる。 （もっと読む）

【課題】透過型電子顕微鏡を用いた観測により、種々の方向における観測対象物の観測データを取得することが可能な、透過型電子顕微鏡用試料保持体およびその製造方法、透過型電子顕微鏡用試料およびその製造方法、並びに、透過型電子顕微鏡用試料を用いた観測方法および結晶構造解析方法を提供する。
【解決手段】本発明のマイクログリッド１０は、グリッド本体１２と、グリッド本体１２の縁部に形成された触媒層１４と、触媒層１４の表面上に形成されたカーボンナノチューブ１６とから構成される。また本発明の試料２０は、本発明のマイクログリッド１０と、マイクログリッド１０を構成するカーボンナノチューブ１６の側面に被覆した観測対象物（例えば、蛋白質層１８）とから構成される。さらに本発明の観測方法は、本発明の試料２０を試料ホルダーにセットして透過型電子顕微鏡に装着する事により行う。 （もっと読む）

【課題】試料の高さ方向の位置を容易に調節することが可能なホルダ装置、及びこのホルダ装置を用いた加工観察方法を提供する
【解決手段】ホルダ装置２５は、試料台１０及び試料台ホルダ３０で構成され、試料台ホルダ３０は、本体３１及びバネ３２を備えている。本体３１には、保持部３３が形成され、この保持部３３には、試料台１０を高さ方向に付勢するバネ３２が設けられている。試料台１０は、試料２０が固定される固定面１０ａと、挿入穴１１と、挿入穴１２とを備えている。バネ３２が挿入穴１１，１２のいずれかに挿入されるように、試料台１０を保持部３３に保持させて、ストッパ４１によって試料２０を位置決めした後、試料台１０が固定される。また、アダプタの突起部を挿入穴１１に挿入して固定することにより、試料台１０を研磨機専用の試料ホルダに装着することができる。 （もっと読む）

【課題】包埋ブロックから作製された薄切片を、予め定められた向きに整えながら基板で掬い取る位置まで搬送することができ、作業者にかかる負担を極力減らすこと。
【解決手段】包埋ブロックを薄切して作製された矩形状の薄切片Ｍを、薄切片が搬送されてきた搬送ポイントＰ１から、基板Ｇに掬い取られて処理される処理ポイントＰ２まで搬送する装置であって、底面２ａと対向する２つの側面２ｂとで囲まれた空間に液体Ｗａが貯留され、搬送ポイント及び処理ポイントを通過するように配置された水路２と、貯留された液体を水路に沿って搬送ポイントから処理ポイントに向けて流動させ、薄切片を液体の流れに乗せて移動させる流動手段３とを備え、水路が、薄切片が処理ポイントに達したときに、薄切片の向きが予め定められた向きとなるように姿勢を調整しながら移動させる薄切片搬送装置１を提供する。 （もっと読む）

【課題】基板上の分析対象物質が被膜で覆われている場合に、良好な精度で当該被膜の下の分析対象物質の分析を行うことが可能となる分析方法と、該分析方法を実施する分析装置を提供する。
【解決手段】基板上に形成された被膜を、紫外線を照射することで除去する第１の処理部と、前記基板表面に溶解液を供給して前記基板上の分析対象物質を溶解させる第２の処理部と、前記第２の工程で用いた前記溶解液中の前記分析対象物質を分析する第３の処理部と、を有することを特徴とする分析装置。 （もっと読む）