【課題】電解質等の多成分セラミックスの組成を、迅速性をもって高精度で分析可能な分析方法を提供する。
【解決手段】多成分のセラミックスの成分分析による評価方法において、第一の工程と第二の工程からなり、第一の工程は微量の電解質のアルカリ，アルカリ土類金属，遷移金属，希土類元素と電極の白金属を含む材料の試料を採取し、酸分解して溶液化することであり、第二の工程は電解質の多成分をＩＣＰプラズマ発光分析法により逐次一斉分析し定量分析して組成を評価するものである。 （もっと読む）

【課題】追加の試験や処理の繰り返しの後に病理学者は検査手順を繰り返し、それから更に最終結果が出るまで作業を繰り返すことになる。これらの処理に自動化装置を使用したとしても、多くの運搬作業や人手の介入が必要である。
【解決手段】少なくとも染色モジュール２１０とカバースリップ付着モジュール２２０のどちらか一方と、画像化モジュール２３０と、保存モジュール２０２と、少なくとも一個のスライド４２４を染色モジュール２１０とカバースリップ付着モジュール２２０のどちらか一方、画像化モジュール２３０及び保存モジュール２０２の間で搬送するための自動搬送モジュール３０２と、コントローラ４００とを備えている。 （もっと読む）

【課題】被検査物をスムーズに搬送することで検査時間の短縮を図ることができる脱泡装置を提供する。
【解決手段】脱泡装置１は、コンベア１６１により搬送された一升瓶Ｂを受け渡す第１の中継部材１６２と一端が同じ水平位置に配置されていると共に、一升瓶Ｂが退出して受け渡される第２の中継部材１７２と他端が同じ水平位置に配置されたステージ１１に、液供給手段１５により水を吐出することで水層を形成し、この水層に一升瓶Ｂを移動させることで、水槽１４の内側層１４２内に配置された超音波発生手段１３からの超音波を付与する。これにより一升瓶Ｂ内の焼酎を振動させ脱泡する。 （もっと読む）

【課題】本発明における課題は、設置スペースを広く確保しなくても一度に多くのスライド標本の配置を可能にすると共に処理能率の向上が図れるようにする生物反応装置を構成する点にある。
【解決手段】複数の標本スライドが横一列にセットされ上下多段に配置されたスライド支持手段とそのスライド支持手段の全体を、上下動させる昇降手段と、昇降するスライド支持手段を、所定の高さ位置の作動待機位置に位置決め静止させる位置決め手段と、作動待機位置に位置決めされたスライド支持手段を前方の分注動作位置及び分注動作位置からさらに前方の洗浄動作位置へそれぞれに押し出すとともにもとの作動待機位置へ引き戻すよう移動させるスライド移動手段と、前記分注動作位置、洗浄動作位置に押し出されたスライド支持手段にセットされている標本スライドに対し試薬を滴下する滴下手段と洗浄水を噴射する洗浄手段とにより構成する。 （もっと読む）

【課題】高温高圧環境下に耐え得るサンプリング装置を提供する。
【解決手段】
ガスタービンエンジン用燃焼器１２から排出される燃焼ガスＧをサンプリングする装置２において、導入ユニット１１は、燃焼器１２から排出される燃焼ガスＧを導入するガス導入通路ＧＰと、ガス導入通路ＧＰを冷却する冷却水Ｃを流す冷却通路ＣＰとを有している。駆動機構Ｋは、導入ユニット１１をその軸心部３０回りに回動させる。支持ユニット３４は、導入ユニット１１のガス導入通路ＧＰと冷却通路ＣＰのそれぞれに連通するガス連通路７７と冷却水連通路８１，８３とを有し、軸心部３０が回転自在に連結されている。支持ユニット３４に、燃焼ガスＧを外部に導出するガス導出管９８、冷却水Ｃを外部から導入する冷却水導入管７８、および冷却水Ｃを外部に導出する冷却水導出管９６が接続されている。 （もっと読む）

【課題】シリコンウェーハ等のシリコン試料の所望領域において、ドーパント種（Ｂ、Ｐ）を特定および定量するための手段を提供すること。
【解決手段】本発明の一態様は、シリコン試料の一部または全部を分解すること、上記分解後に得られるシリコンを含む溶液を加熱蒸発させること、ただし、液滴が１滴残留している状態で加熱蒸発を停止し、上記液滴を回収し、該液滴中に含まれるボロンおよびリンからなる群から選ばれるドーパント元素を誘導結合プラズマ質量分析装置により分析すること、を含むことを特徴とする、シリコン試料の分析方法に関する。 （もっと読む）

【課題】携帯および移動が可能であり、試料の大きさを問わずに適用可能であるうえ、試料の表面だけでなくビアホールの底面の成分を効果的に採取して分析することが可能な移動型成分採集分析装置を提供する。
【解決手段】本発明は、試料を環境から隔離し、気化した試料を採集する採集部と、傾きと回転を加えることができるように前記採集部に設置され、観察地点にレーザービームが照射されるようにする二色性対物レンズ部と、前記二色性対物レンズ部に連結され、試料の気化に必要なレーザービームを発生させるレーザー光源部と、前記二色性対物レンズ部に連結され、試料の観察地点に対する光学イメージを獲得するカメラ部と、前記採集部、レーザー光源部およびカメラ部の動作を制御して試料の観察とレーザービームの位置および角度の調整とレーザー照射とを行うように制御する制御部とを含んでなる、移動型成分採集分析装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】透過型電子顕微鏡用試料において薄片化を行う場合、崩れの制御を容易とする。
【解決手段】透過型電子顕微鏡用試料は、試料本体４ａと薄膜部１１と保護膜８とを具備する。薄膜部１１は試料本体４ａから第１の向きに伸び、試料本体４ａより薄い。保護膜８は試料本体４ａ及び薄膜部１１の上側の表面に連続的に設けられ、試料本体４ａ及び薄膜部１１の主材料より固い。薄膜部１１は、保護膜８の下側に接した極薄膜部１２と、極薄膜部１２の下側に接した残余部１１ａとを備える。極薄膜部１２は残余部１１ａより薄い。極薄膜部１２は保護膜８と接する部分を第１の辺とする三角形又は四角形の薄片形状を有している。極薄膜部１２は、第１の辺に交わり外側に露出した第２の辺と、第２の辺に交わり残余部１１ａと結合する第３の辺とが成す角が、０°より大きく１８０°より小さい。 （もっと読む）

【課題】減厚による歪緩和の影響を補正して、バルクの結晶中の歪を測定する。
【手段】結晶基材を含む被測定試料に集束イオンビームを照射して減厚し、被測定試料薄片とする減厚工程と、減厚工程途中の複数時点で、被測定試料薄片に集束電子線を照射して高角度散乱電子の電子線強度Ｉ１〜Ｉ３を測定する工程と、前記複数時点で、結晶基材の格子定数を電子線回折法により測定し、被測定試料薄片の歪Ｅ１〜Ｅ３を算出する工程と、散乱電子の電子線強度Ｉ１〜Ｉ３及び歪Ｅ１〜Ｅ３に基づき、散乱電子の電子線強度Ｉを変数とする歪の近似式Ｅ＝Ｅ（Ｉ）を作成する工程と、減厚に伴い歪緩和が始まる臨界厚さに等しい厚さの結晶基材に、集束電子線を照射したとき測定される高角度散乱電子の臨界電子線強度Ｉｏを予測する工程と、臨界電子線強度Ｉｏを近似式Ｅ＝Ｅ（Ｉ）に代入して、被測定試料の歪Ｅｏを算出する工程とを有する。 （もっと読む）

【課題】冷却される処理プロセスを自動的に、かつ長時間操作することを可能にする冷媒装置を実現する。
【解決手段】サンプルを配置するためのサンプルステージ１０２を有し、冷媒が入っている冷媒容器を有し、及び少なくとも１つの、サンプルステージ１０２を当該冷媒に熱伝達可能に接続する熱伝導要素１０６ａ、１０６ｂを有するイオンビームエッチングプロセスにおけるサンプルのための冷却装置１０１であって、当該熱伝導要素１０６ａ、１０６ｂに熱伝達可能に接続される冷却フィンガ状部材１０５を有し、当該冷却フィンガ状部材１０５は、冷媒が通って流れることが出来、かつ当該冷媒容器に接続可能な導管を含む。 （もっと読む）