【課題】電解コンデンサの寿命を、従来の寿命加速試験に要していた試験時間よりも短期間で予測する。
【解決手段】電解コンデンサの寿命診断方法であって、電解コンデンサのケース２に複数の開口部７を設け、該ケース内部の電解液の拡散速度を加速させた状態で、電解コンデンサの加速寿命試験を行い、電解コンデンサの重量実測値と静電容量変化量の相関特性あるいは電解コンデンサの重量実測値と等価直列抵抗変化量の相関特性をロット別に求め、劣化故障に至る寿命点の重量をロット別に算出する。また、前記の相関特性から近似式を求めて、劣化故障に至る寿命点の重量変化量を算出し、開口部７を設けていない電解コンデンサの加速寿命試験で得られた重量変化量の経時変化特性を基に、開口部７を設けていない電解コンデンサの寿命を推定する。 （もっと読む）

【課題】 配電系統への影響を実際に近い形で効率的に評価できる試験装置及び試験方法を提供する。
【解決手段】実施形態の試験装置は、配電線側電圧模擬装置、配電線模擬回路、電圧検出器、電圧指令生成器、変換装置、三相電流アンプを備える。前記配電線側電圧模擬装置は実配電用変圧器の配電線側電圧を、指定された倍率で縮小した電圧を発生する。前記配電線模擬回路は前記配電線側電圧模擬装置に接続され、実配電線の長さに応じた電力の損失量を電気的に模擬する。前記電圧指令生成器は前記配電線模擬回路に接続され、実試験対象の被試験装置が接続された接続端子を有し、前記電圧検出器により検出された前記配電線模擬回路の電圧値から電圧指令値を生成する。前記変換装置は前記電圧指令値に応じて、入力された交流電圧を三相交流電圧に変換して前記接続端子から出力する。 （もっと読む）

【課題】試験時の熱収縮によりケーブルコアが損傷することを防止できる超電導ケーブル用ケーブルコアの試験方法、及びドラムを提供する。
【解決手段】試験対象として、超電導導体層を具えるケーブルコア100であって、ドラム10に巻き取られたものを準備する。冷却容器1に上記試験対象を収納して液体冷媒2Lを充填し、超電導導体層を液体冷媒2Lにより冷却して超電導状態に維持しながら、コア100の全長に亘って特性を調べる。ドラム10の巻胴11は、コア100の構成部材のうち、コア100に作用する張力を分担する主要部材(例えば、フォーマ)の構成材料(例えば、銅)よりも熱収縮率が大きい材料(例えば、アルミニウムやその合金)から構成されている。巻胴11の熱収縮率がコア100の特定の構成部材よりも大きいことで、コア100が熱収縮しても巻胴11を締め付け難く、コア100の損傷を防止できる。 （もっと読む）

【課題】任意のリアクタンス成分をシミュレートできるようにする。
【解決手段】電子負荷装置１１０は、ユーザ・インタフェース１４０を介して、ユーザから待ち時間値を受ける。待ち時間値に基いて、入力信号の１つの可変量が検出される時間と、入力信号の別の可変量が新しい値に操作される時間との間に遅延時間が生成され、この生成遅延時間に基づいて、電子負荷装置でリアクタンス成分をシミュレートする。１例では、生成遅延時間の後、被操作可変量をステップ状に変化させて容量性又は誘導性要素を近似的に生成する。別の例では、任意波形発生装置を用いて、生成遅延時間中に被操作可変量に傾斜変化を起こさせ、リアクタンス成分をより正確にシミュレートする。 （もっと読む）

【課題】超電導ケーブル用ケーブルコアの全長にわたる電気的特性を試験することができる超電導ケーブル用ケーブルコアの試験方法を提供する。
【解決手段】少なくとも一部に真空断熱層２ａを有する冷却容器１に超電導導体層１０２を備えるケーブルコア１００を収納する。冷却容器１に液体冷媒２Ｌを充填する。冷却容器１内の気相２Ａに冷却ガスを導入して当該気相２Ａを大気圧よりも高い加圧状態とすると共に、液体冷媒２Ｌにより超電導導体層１０２を超電導状態に維持しながら超電導導体層１０２に通電または課電してケーブルコア１００の全長にわたる電気的特性を測定する。その測定の際、液体冷媒２Ｌを再度冷却することなく、冷却容器１内の気相２Ａの圧力と液体冷媒２Ｌの温度を測定して、それらの測定結果に基づいて液体冷媒２Ｌが試験を継続するのに適した状態にあることを監視する。 （もっと読む）

【課題】スイッチング電源装置のメーカ、方式によらず、電源の寿命予測を行う。
【解決手段】スイッチング電源装置１００の入力端８には、電圧と電流を測定する電流計５１、電圧計５３が接続されている。また、スイッチング電源装置１００の出力端９には電圧と電流を計測するする電流計５２、電圧計５４が接続されている。計算機５０は、各計測装置５１〜５４による計測値から入出力における電力の比を計算して出力効率を求めて蓄積し、蓄積された出力効率から過去のある時点の出力効率の変動中心を求め、当該時点以前の出力効率のうち予め定められた変動範囲内を超えているものがいくつ発生しているかを示す発生頻度を計算する。警報装置７０は、発生頻度が、予め定めた頻度に達しているときに警報出力を発生する。 （もっと読む）

【課題】通信ネットの電源ポート及び信号ポートに対して電磁妨害の検査を同時に行うことができる電磁妨害の自制システム及びその使用方法を提供すること。
【解決手段】本発明に係る電磁妨害の自制システムは、信号ソースと、ＬＩＳＮと、ＣＤＮと、ＩＳＮと、受信機と、を順次に備え、前記信号ソースは電源ポートを備え、且つ安定した信号を提供し、前記ＬＩＳＮは、ＬＩＳＮ電源ポート及びＬＩＳＮ無線周波ポートを備え、前記ＣＤＮは、ＣＤＮ信号ポート及びＣＤＮ無線周波ポートを備え、且つ前記ＣＤＮ無線周波ポートの入力信号を前記ＣＤＮ信号ポートにカップリングして、信号伝導経路に好ましいインピーダンスを整合し、前記ＩＳＮは、ＩＳＮ信号ポート及びＩＳＮ無線周波ポートを備え、前記受信機は、各周波数点の信号の強度を測量して読み取る。 （もっと読む）

【課題】安定した温度特性計測を実現できる温度特性検査装置を提供する。
【解決手段】温度特性計測装置１は、電子部品２が収容される凹部１２を有する電子部品搭載プレート１０と、この電子部品搭載プレート１０の電子部品２に対して直接又は間接的に熱を供給する温度制御ユニット３０と、電子部品搭載プレート１０に収容される電子部品の上面の少なくとも一部を覆うカバーユニット４０と、電子部品２の接点に対して電気的接続を確保するプローブユニット５０を備えるようにした。 （もっと読む）

【課題】実際の強誘電体メモリセルについて疲労特性を直接に測定する試験方法を含む半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置の製造方法は、基板上に形成された強誘電体キャパシタの疲労特性の面内分布を取得する第１の工程と、前記面内分布に基づいて、半導体装置を製造する第２の工程と、を含み、前記第２の工程は、前記半導体装置が形成される基板上に複数の強誘電体キャパシタを形成し、前記第１の工程で取得された疲労特性の面内分布から、前記半導体装置が形成される基板上の特定領域を指定し、前記特定領域に形成された前記強誘電体キャパシタについて疲労特性を測定し、前記特定領域の強誘電体キャパシタについて測定した前記疲労特性に基づき、前記特定領域の強誘電体キャパシタについて良否判定を行い、前記良否判定の結果が良であれば、前記複数の強誘電体キャパシタの全てについて良と判定する。 （もっと読む）

【課題】試験電圧信号の傾きを容易に調整できる信号生成回路を提供する。
【解決手段】信号生成回路１００は、電源装置２００を試験するための試験電圧信号Ｖｔｅｓｔを生成する。信号生成回路は、傾き制御信号生成部１３と、積分器１４と、信号制限部１５と、を備える。制御信号生成部は、基準電圧と傾き制御電圧ＳＬとの間でステップ状に変化する傾き制御信号ＶＳＬを生成する。積分器は、傾き制御信号を積分した積分信号Ｖｉｎｔを出力する。信号制限部は、積分信号の最大値と最小値を制限し、この制限された信号に基づいて試験電圧信号を出力する。 （もっと読む）