【課題】電子部品の搭載時間を短縮する。
【解決手段】供給される電子部品１０を受け取る受け取り部３ａ〜３ｅと、受け取り部３ａ〜３ｅで受け取った電子部品１０を保持して予め決められた搭載位置に移動させる移動機構４と、移動機構４を制御する制御部とを備えて、電子部品１０を基板１００に搭載可能に構成され、受け取り部３ａ〜３ｅは、供給された電子部品１０を支持する支持部と、支持部によって支持されている電子部品１０の電気的特性を測定する測定部とを備えて構成され、制御部は、測定部によって測定された電子部品１０の電気的特性が予め決められた条件を満たすときに移動機構４を制御して電子部品１０を搭載位置に移動させて基板１００に搭載させる。 （もっと読む）

【課題】負荷側回路の動作に影響を与えない接点検査装置、接点検査方法及び接点検査システムを提供する。
【解決手段】一次回路は検査信号を入力し、二次回路は出力回路から入力された電気信号を通過又は遮断する接点が、前記電気信号を遮断する場合、前記一次回路とインピーダンスが整合し、判定部は前記一次回路から反射した検査信号と、前記接点に対して前記電気信号を通過するか否かを制御する接点制御信号に基づいて前記接点の機能を判定する判定部とを備える。 （もっと読む）

【課題】スイッチのオープン故障を検出することを可能とする故障検出装置および方法を提供する。
【解決手段】本発明による故障検出装置（１０）は、電源と負荷との間に接続されたスイッチ（Ｑ２）と並列接続された電圧降下素子（Ｄ２）と、前記スイッチの開閉を制御するスイッチ制御部（１３）と、前記スイッチ制御部が前記スイッチを開または閉に制御した状態で前記電圧降下素子の端子間の相対電圧を検出する電圧検出部（１１）と、前記電圧検出部により検出された相対電圧と前記スイッチ制御部による前記スイッチの制御状態とに基づき前記スイッチの故障を判定する故障判定部（１２）とを備える。 （もっと読む）

【課題】ＥＭＳ試験において複合的な電磁波を照射することが可能な電磁波試験装置を提供する。
【解決手段】高周波信号が入力されると電磁波を放射する複数のアンテナエレメント１４と、各アンテナエレメント１４の入力端子にそれぞれ接続され、高周波信号を発生する複数の信号発生部３１〜３７と、測定器２６とを備え、測定器２６が、複数の信号発生部３１〜３７を各々制御することにより、アンテナエレメント１４毎に予め設定された周波数の電磁波を放射させる。そして、供試品における電子機器からの出力信号に基づき、外部からの電磁波による電子機器の耐性検査（ＥＭＳ試験）を行うように構成した。この構成によれば、ＥＭＳ試験を行う際に、様々なノイズ環境を再現することができる。 （もっと読む）

【課題】電流センサの故障診断を常時且つ安価に実現する。
【解決手段】被計測電流Ｉが生じさせる磁界に対して逆磁界を生じさせる回路を有する電流センサ１０の故障診断装置２０であって、電源から電流センサ１０への入力電流ｉｃを測定する入力電流測定回路２５と、入力電流測定回路２５により検出された入力電流の値ｉｃ及びその時点で測定された被計測電流の値ｉの関係を、それらの既知の相関関係と比較することに基づいて電流センサ１０の故障を判別する故障検出手段とを備える。 （もっと読む）

【課題】差動信号伝送用ケーブルの端末部において生じるインピーダンス不整合を可能な限り低減し、差動信号伝送用ケーブルそのものが持つ純粋な特性を評価することができる差動信号伝送用ケーブルの特性評価機構及び特性評価方法を提供する。
【解決手段】差動信号伝送用ケーブル１１の信号線導体１２が接続される信号線パッド１３と、差動信号伝送用ケーブル１１のシールド導体１４が接続されるグランドパッド１５と、を有する基板１６と、信号線導体１２を信号線パッド１３に押し付ける押さえ部材１７と、弾性絶縁シート１８と、弾性絶縁シート１８の片面に設けられた金属箔１９と、からなり、金属箔１９をシールド導体１４とグランドパッド１５とに接触させることで、シールド導体１４とグランドパッド１５とを間接的に接続するシールド導体保持シート２０と、シールド導体保持シート２０を固定するクリップ２１と、を備える特性評価機構１０である。 （もっと読む）

【課題】工程の形態に合わせて柔軟に構成の変更が容易な電子部品の検査装置、測定装置、包装装置およびシステムを提供すること。
【解決手段】電子部品を検査する検査部４ａと、検査部４ａに供給する複数の電子部品を貯留する供給貯留部１２と、検査部４ａにて検査された後の複数の電子部品を貯留する排出貯留部２２と、排出貯留部２２に貯留された複数の電子部品を、次工程の別の下流側装置からの信号を受けて当該下流側装置に送り出すエジェクタ装置３０と、前工程の別の上流側装置に対して電子部品を送り出すように信号を送る制御装置６０と、を有する検査装置である。供給貯留部１２は、上流側装置から送り出される電子部品を受け取るための受取接続部４４を有し、排出貯留部２２は、下流側装置へ電子部品を送り出すための送出接続部３４を有する。 （もっと読む）

【課題】電子機器の通常動作を妨げることなく、ＣＰＵの経時劣化を保障し、電子機器の性能を維持することができるようにする。
【解決手段】保守装置１は、ＣＰＵ１１に内蔵されるセンサ回路１２からＣＰＵ１１の劣化に応じて変化する劣化情報をＣＰＵ１１の通常動作時に取得する劣化情報取得部２と、劣化情報に基づいてＣＰＵ１１の劣化の進行度を示す劣化レベルを判定する劣化レベル判定部３と、劣化レベルの増大に伴いＣＰＵ１１に印加される電源電圧を増加させるように電源１３を制御する電源制御部４とを備える。 （もっと読む）

【課題】チップ型電子部品を搬送しながら電気的特性を測定するときに、プローブ押圧による外部電極の損傷が生じない装置と方法を提供する。
【解決手段】ワーク測定装置はテーブルベース１と、テーブルベース上に回転自在に設置され、テーブルベースと反対側の第１層２ａと、テーブルベース１側の第２層２ｂとを有する搬送テーブル２とを備えている。第１層を貫通してワークＷを収納する複数のワーク収納孔４が設けられ、第２層に各ワーク収納孔に対応して、第２層を貫通してスルーホール９が設けられている。ワーク収納孔に収納されたワークの一側電極Ｗａは、ワーク収納孔の第１層側から露出するとともに、他側電極Ｗｂは第２層のスルーホールに当接する。搬送テーブルの第１層側に、ワーク収納孔内のワークの一側外部電極に当接する第１のプローブ６０を設け、テーブルベース内に第２層のスルーホールに当接する第２プローブ６１を設けた。 （もっと読む）

【課題】充電状態の電気二重層キャパシタの測定に関し、電荷放電を抑制して省エネルギー化を実現する。微小電圧変化での測定を可能にし、ノイズの影響を回避する。
【解決手段】充電された電気二重層キャパシタ（キャパシタモジュール４）に正弦波負荷（正弦波負荷回路１２）を接続して放電回路（１０）を形成し、前記正弦波負荷を付与して前記電気二重層キャパシタ（キャパシタモジュール４）を放電させ、前記放電回路に流れる電流を電流検出手段（電流検出回路２０）で検出し、前記放電回路を介して放電中の前記電気二重層キャパシタの電圧を電圧検出手段（電圧検出回路２２）で検出し、前記電流検出手段の検出電流と前記電圧検出手段の検出電圧とを用いて前記電気二重層キャパシタのインピーダンスを算出手段（演算部２４、ＭＰＵ３２）により算出する。電気二重層キャパシタの劣化診断にはこのインピーダンスの算出結果を用いている。 （もっと読む）