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国際特許分類[H01L23/52]の内容

電気 (1,674,590) | 基本的電気素子 (808,144) | 半導体装置,他に属さない電気的固体装置 (445,984) | 半導体または他の固体装置の細部 (40,832) | 動作中の装置内の1つの構成部品から他の構成部品へ電流を導く装置 (7,814)

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【課題】ボンディングパッドに穴を開けることなくウエーハの基板にボンディングパッドに達するビアホールを形成することができるビアホールの加工方法およびレーザー加工装置を提供する。
【解決手段】基板の表面に複数のデバイスが形成されているとともにデバイスにボンディングパッドが形成されているウエーハに、基板の裏面側からパルスレーザー光線を照射してボンディングパッドに達するビアホールを形成するビアホールの加工方法であって、基板のボンディングパッドが形成された領域の厚みを計測する厚み計測工程と、ウエーハの基板の裏面側からパルスレーザー光線を照射して基板にレーザー加工孔を形成するレーザー加工孔形成工程とを含み、レーザー加工孔形成工程は厚み計測工程によって計測された基板の厚みと、パルスレーザー光線の1パルス当たりのエネルギーに基づいて、パルスレーザー光線のショット数を決定する。 (もっと読む)


【課題】構造及び製造工程を簡素化しながら、開口率を向上させた、ディスプレイ装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の実施形態に係るディスプレイ装置101は、基板111、前記基板111上に形成された前記第1透明導電膜1301及び前記第1透明導電膜1301上に形成された第1金属膜1302を含む多重膜構造と前記第1透明導電膜1301で形成された単一膜構造とを含むゲート配線、前記ゲート配線の一部の領域上に形成された半導体層153、そして前記半導体層上に形成された第2透明導電膜1701及び前記第2透明導電膜1701上に形成された第2金属膜1702を含む多重膜構造と前記第2透明導電膜1701で形成された単一膜構造とを含むデータ配線を含む。 (もっと読む)


【課題】 低抵抗の埋め込み配線を備える基板の製造方法を提供する。
【解決手段】 始めに半導体用基板100の第1面S1上に導電層120を形成する。次に、導電層120をパターニングして第1方向に延長する線形の導電層パターン122を形成する。導電層120をパターニングするとき露出する半導体用基板100をエッチングして導電層パターン120の下部に第1方向に延長する線形の半導体パターン104を形成する。次に導電層パターン120および半導体パターン104上に絶縁層150を形成する。半導体用基板100の第1面S1側の絶縁層150が支持基板160と当接するように支持基板160上に配置する。次に半導体用基板100のイオン注入層102側の絶縁層150が露出するように半導体用基板100を除去する。これにより、導電層パターン120は、半導体パターン104の埋め込み配線として利用することができる。 (もっと読む)


【課題】pn接合ダイオードの接合面積を大きくし、かつコストダウンを可能とすること。
【解決手段】半導体基板10とpn接合を形成する第1拡散領域32を含む第1pnダイオード33を含み、前記半導体基板上に形成された電子回路20と、前記電子回路とスクライブライン26との間の前記半導体基板内に設けられ前記電子回路を囲み前記第1拡散領域と同じ導電型であり前記半導体基板とpn接合を形成する第2拡散領域24を、含む第2pnダイオード23と、前記電子回路と前記スクライブラインとの間の前記半導体基板上に、前記第2拡散領域と重なるように設けられ、前記電子回路を囲む金属層18と、を具備する半導体装置。 (もっと読む)


【課題】半導体装置の検査特性を向上させる。
【解決手段】本発明の半導体装置の製造方法は、(a)基板の上方にアルミニウムを含有する導電性膜(アルミニウム膜10b)を形成する工程と、(b)上記導電性膜をパターニングすることにより配線を形成する工程と、(c)上記配線の上部に第1絶縁膜(第1保護膜)を形成する工程と、を有する。さらに、(d)上記第1絶縁膜をエッチングすることにより、上記配線のパッド領域(Pd)を露出する工程と(e)上記パッド領域(Pd)に、窒素系のプラズマガスを用いたプラズマ処理を行う工程と、(f)上記(e)工程の後、上記パッド領域(Pd)にプローブ針を当接し、上記パッド領域(Pd)に通電する工程と、を有する。上記(e)工程により、上記パッド領域(Pd)に窒化アルミニウム層(15)が形成され、パッド領域(Pd)とプローブ針(N)との接触抵抗を低減することができる。 (もっと読む)


【課題】薄膜トランジスタ基板、反射膜、反射アノード電極、タッチパネルセンサーなどの製造工程において、塩化ナトリウム溶液の浸漬下におけるAl合金表面の腐食やピンホール腐食(黒点)などの腐食を有効に防止できて耐食性に優れており、しかもヒロックの生成も防止できて耐熱性にも優れたAl合金膜を提供する。
【解決手段】本発明のAl合金薄膜は、基板上に配線膜または反射膜に用いられるAl合金膜であって、Taおよび/またはTi:0.01〜0.5原子%と、希土類元素:0.05〜2.0原子%と、を含有するものである。 (もっと読む)


【課題】周辺部を損傷させずに、電流を供給することによって切断され得る電気ヒューズ構造を有する半導体装置を提供する。
【解決手段】電気ヒューズ10は、電子回路とその電子回路のスペアとしての冗長回路との間に電気的に接続され、それらの回路が樹脂封止された後に、外部から電流が供給されることによって切断され得るものである。電気ヒューズ10は、ファイン層中に設けられており、主配線1およびバリア膜3からなる。主配線1およびバリア膜3のそれぞれの線膨張係数は、その周辺に設けられている絶縁層2,4,および5のそれぞれの線膨張係数よりも大きい。また、主配線1およびバリア膜3のそれぞれの融点は、絶縁層2,4,および5のそれぞれの融点よりも低い。 (もっと読む)


【課題】特に半導体集積回路(IC)デバイス製造の分野において、約100nmより小さい、好適には約70nmより小さい、更に好適には約50nmより小さい、より好適には約35nmより小さい幅を有するトレンチ、バイアなどの開口部を充填する電着方法を提供する。
【解決手段】0.5mmol・l−1と50mmol・l−1との間に含まれる銅イオン濃度と、電着浴の体積あたり0.05%と10%との間に含まれる酸濃度とを有する電着浴中に基板を浸責し、銅の堆積物を電着する。 (もっと読む)


【課題】基板表面を腐食することなく微粒子付着による汚染、有機物汚染及び金属汚染を同時に除去することができ、しかも水リンス性も良好で、短時間で基板表面を高清浄化することができる半導体デバイス用基板洗浄液を提供する。
【解決手段】
半導体デバイス製造における化学的機械的研磨工程の後に行われる、半導体デバイス用基板の洗浄工程に用いられる洗浄液であって、以下の成分(A)〜(D)を含有してなる半導体デバイス用基板洗浄液。
(A)有機酸
(B)スルホン酸型アニオン性界面活性剤
(C)ポリビニルピロリドン及びポリエチレンオキシド−ポリプロピレンオキシドブロック共重合体から選ばれる少なくとも1種の高分子凝集剤
(D)水 (もっと読む)


【課題】電極パッド直下の領域を有効領域とする半導体装置の提供を目的とする。
【解決手段】本発明の半導体装置は、半導体層上に設けられた、シリサイド膜からなるエミッタ電極7と、エミッタ電極7上に形成された絶縁膜10と、絶縁膜10上に形成されたAlからなる電極パッド8とを備える。 (もっと読む)


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