【課題】製造プロセスの全ての受け容れられる変化及び全ての許容動作温度にわたって所与の周波数で正しい動作を保証する供給電圧を決定する。
【解決手段】集積回路は、テストに不合格となるまで、各々、より低い要求供給電圧大きさで集積回路のロジック回路のテストを繰り返すように構成された自己校正ユニットを備えている。テストに合格する最も低い要求供給電圧大きさを使用して、集積回路の要求供給電圧大きさを発生する。集積回路は、集積回路のエリアにわたって物理的に分布されたロジックゲートの直列接続体と、論理的遷移をその直列接続体へ送出し、そしてそれに対応する遷移をその直列接続体の出力において検出するように構成された測定ユニットとを備えている。送出と検出との間の時間量を使用して、集積回路の供給電圧大きさを要求する。 （もっと読む）

【課題】安定な断熱的回路動作を実現し、消費電力を抑制することができる電源回路、回路装置及び電子機器等を提供すること。
【解決手段】電源回路２００は、第１の基準電圧を基準として電圧が周期的に変化する、断熱的回路動作用の第１の電源電圧ＶＰと、第２の基準電圧を基準として電圧が周期的に変化する、断熱的回路動作用の第２の電源電圧ＶＭとを出力する電圧出力回路１００と、制御信号ＳＣに基づいて電圧出力回路１００を制御する制御回路２１０と、第１の電源電圧ＶＰ及び第２の電源電圧ＶＭに基づいて制御信号ＳＣを生成して制御回路２１０に出力する制御信号生成回路２４０とを含み、制御回路２１０は、制御信号ＳＣに基づいて、電圧出力回路１００から出力される第１の電源電圧ＶＰ及び第２の電源電圧ＶＭの振幅を可変に制御する。 （もっと読む）

【課題】安定な断熱的回路動作を実現し、消費電力を抑制することができる電源回路、回路装置及び電子機器等を提供すること。
【解決手段】電源回路２００は、第１の基準電圧を基準として電圧が周期的に変化する、断熱的回路動作用の第１の電源電圧ＶＰと、第２の基準電圧を基準として電圧が周期的に変化する、断熱的回路動作用の第２の電源電圧ＶＭとを出力する電圧出力回路１００と、制御信号ＳＣに基づいて電圧出力回路１００を制御する制御回路２１０と、第１の電源電圧ＶＰ及び第２の電源電圧ＶＭの少なくとも一方の振幅に応じて変化する制御信号ＳＣを生成して制御回路２１０に出力する制御信号生成回路２４０とを含む。制御回路２１０は、制御信号ＳＣに基づいて、電圧出力回路１００から出力される第１の電源電圧ＶＰ及び第２の電源電圧ＶＭの振幅を可変に制御する。 （もっと読む）

【課題】安定な断熱的回路動作を実現し、消費電力を抑制することができる電源回路、回路装置及び電子機器等を提供すること。
【解決手段】電源回路２００は、第１の基準電圧を基準として電圧が周期的に変化する、断熱的回路動作用の第１の電源電圧ＶＰと、第２の基準電圧を基準として電圧が周期的に変化する、断熱的回路動作用の第２の電源電圧ＶＭとを共振により出力する電圧出力回路１００と、電圧出力回路１００の発振を制御する発振制御回路２１０とを含む。発振制御回路２１０は、第１の電源電圧ＶＰが出力されるノード及び第２の電源電圧ＶＭが出力されるノードのいずれか一方のノードである第１のノードＮ１に接続される駆動回路２２０と、駆動回路２２０を制御する制御回路２３０とを含む。発振制御回路２１０は、制御信号ＳＣに基づいて、第１、第２の電源電圧ＶＰ、ＶＭの振幅を可変に制御する発振制御を行う。 （もっと読む）

【課題】ＳＯＩ型の半導体集積回路において電源遮断時の低消費電力及び電源供給時の動作性能向上に資することができる電源遮断制御を可能にする。
【解決手段】本発明に係る半導体集積回路は、第１電源スイッチと、前記第１電源スイッチに直列接続される論理回路を有する。前記論理回路は、順序回路（ＦＦ１，ＦＦ２）及び組み合わせ回路（ＬＯＧ１，ＬＯＧ２）を含み、前記第１電源スイッチと前記組み合わせ回路との間に第２電源スイッチが接続される。第１モードにおいて前記第１電源スイッチをオフ状態に制御し、前記順序回路及び前記組み合わせ回路を非通電状態にし、第２モードにおいて前記第１電源スイッチをオン状態に維持し且つ前記第２電源スイッチをオフ状態に制御し、前記順序回路を通電状態、前記組み合わせ回路を非通電状態にする電源スイッチ制御回路を有する。 （もっと読む）

【課題】高い精度で所定の検査を行うことができる電子回路を提供する。
【解決手段】本実施の形態に係る電子回路１は、図１（ａ）に示すように、主に、主回路２への電圧Ｖ_ｃｃの供給を切り替えるスイッチ素子としてのｐ型トランジスタ３と、ｐ型トランジスタ３を駆動する第１の駆動信号を出力する駆動部４と、入力側が駆動部４に電気的に接続され、出力側がｐ型トランジスタ３に電気的に接続され、駆動部４から出力された第１の駆動信号に基づいて第２の駆動信号を出力する第１のインバータ部５と、入力側が駆動部４に電気的に接続され、駆動部４から出力された第１の駆動信号に基づいて検査のための検査信号を出力する第２のインバータ部６と、第２のインバータ部６の出力側に電気的に接続され、検査信号を出力する第１のパッドとしての検査パッド７と、を備えて概略構成されている。 （もっと読む）

【課題】故障検査のために観測用フリップフロップ回路を配置することなく，故障検査を可能とする半導体集積回路，その検査方法を提供する。
【解決手段】第2の論理回路51の試験の際に試験モードを示す制御信号TSMが，故障検査用回路41に入力され，この試験モードに対応するテスト値が，論理回路51に入力されると，故障検査用回路41により，論理回路51の出力論理が，論理回路13に対応するフリップフロップ回路14に入力される。さらに，通常モード時に，論理回路13の出力論理が，故障検査用回路41により，論理回路13に対応するフリップフロップ回路14にそのまま入力される。 （もっと読む）

【課題】半導体装置の制御に好適な制御信号発生回路を提供する。
【解決手段】ジョンソンカウンタ３１は、フリップフロップＦＦ１〜ＦＦ４およびゲート回路４１〜４４を含み、順次入力されるスタート信号ＳＴ１〜ＳＴ４に応答してそれぞれ制御信号Ｃ１〜Ｃ４を「Ｈ」レベルにした後、順次入力されるストップ信号ＳＰ１〜ＳＰ４に応答してそれぞれ制御信号Ｃ１〜Ｃ４を「Ｌ」レベルにする。したがって、多数のフリップフロップを用いることなく、所望の時間間隔で制御信号Ｃ１〜Ｃ４を順次「Ｈ」レベルにし、順次「Ｌ」レベルにすることができる。 （もっと読む）

【課題】処理装置の入出力パッドの端子数を低減することができる半導体装置を提供する。
【解決手段】処理装置２１のバス制御回路３４に含まれる入出力回路は、外部Ｉ／Ｆ２２と接続されるパッドに接続される。入力部は、パッドから入力される信号に応じた入力信号を出力する。この入力信号は、処理回路３１に供給される。パッドは、入力部の入力端子に接続され、出力端子は電源電圧ＶＤＤを伝達する電源配線に接続されている。入力部は、外部Ｉ／Ｆ２２のバス制御回路４４から入力されるＨレベルの信号の電圧を出力端子から出力する。従って、電源配線には、外部Ｉ／Ｆ２２から入力されるＨレベルの信号による電圧が供給される。 （もっと読む）

【課題】消費電力を低減する。
【解決手段】入力信号を元に論理演算処理を行い、論理演算処理の結果に応じて設定される電位を記憶データとして保持し、記憶データに応じた値の信号を出力信号として出力する機能を有する演算回路を具備し、演算回路は、論理演算処理を行う演算部と、記憶データの電位を、論理演算処理の結果に応じた電位に設定するか否かを制御する第１の電界効果トランジスタと、記憶データの電位を、基準電位に設定するか否かを制御する第２の電界効果トランジスタと、記憶データに応じた値の信号を出力信号として出力するか否かを制御する第３の電界効果トランジスタと、を備える。 （もっと読む）