光ディスク装置及び光ディスク記録方法
【課題】光ディスクや装置の性能バラツキに応じて記録時のレーザ駆動電流に重畳する高周波電流の振幅を短時間で調整し、記録時のサーボ動作の安定化を図ること。
【解決手段】コントローラ５は、光ディスク１にデータを記録する際にレーザ光源１１の駆動電流に重畳する高周波電流を調整する際、トラッキングサーボを外して光ディスクの所定の領域から信号を再生する状態とする。光ピックアップ３に対しレーザ光源の駆動電流に振幅を変化させた高周波電流（ＨＦ）を重畳して信号処理回路４によりトラッキングエラー（ＴＥ）信号を取得する。取得したトラッキングエラー信号の品質（振幅の変動量ΔＴＥ）が最適となる高周波電流の振幅を決定し、記録時の高周波電流の振幅として設定する。
【解決手段】コントローラ５は、光ディスク１にデータを記録する際にレーザ光源１１の駆動電流に重畳する高周波電流を調整する際、トラッキングサーボを外して光ディスクの所定の領域から信号を再生する状態とする。光ピックアップ３に対しレーザ光源の駆動電流に振幅を変化させた高周波電流（ＨＦ）を重畳して信号処理回路４によりトラッキングエラー（ＴＥ）信号を取得する。取得したトラッキングエラー信号の品質（振幅の変動量ΔＴＥ）が最適となる高周波電流の振幅を決定し、記録時の高周波電流の振幅として設定する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置及び光ディスク記録方法に係り、特にレーザ光源の駆動電流に高周波電流を好適に重畳して記録する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク装置は、レーザ光を光ディスクに照射してデータを記録またはデータの再生を行う。そのとき、光ディスクから反射した光の一部が光源であるレーザダイオードに入射すると、レーザ発振が不安定になり記録または再生特性を悪化させる要因となる。この対策として、レーザダイオードの駆動電流に高周波電流を重畳してマルチモード発光させ、戻り光により発生するノイズを抑制する技術が知られている。
【０００３】
ここでレーザ駆動電流に重畳する高周波電流の振幅値は、記録時と再生時とでそれぞれ印加する記録パワー、再生パワーに応じて適切なレベルに設定するのが好ましいが、一方で記録時はレーザダイオードの出力限界を考慮して高周波電流の振幅値を設定する必要がある。
【０００４】
これに関連する技術として、特許文献１には、高周波成分の振幅又はデューティを記録時と再生時とで変更するとともに、記録時は記録媒体上に記録する情報の種類に応じて高周波成分の重畳の動作と停止を制御する構成が開示されている。また特許文献２には、記録時の高周波信号のレベルと再生時の高周波信号レベルとが異なるとともに、再生状態から記録状態へ移行する時点より所定時間前に高周波信号のレベルを変更する構成が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０００−１６３７８２号公報
【特許文献２】国際公開第２００５／０４３５２１号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
記録動作時と再生動作時のレーザパワーの違いと、装置毎の性能バラツキや光ディスクの性能バラツキにより、光ディスクからの戻り光が原因で記録動作が不安定になる場合がある。特に複数の記録層を持つ多層ディスクに記録する際には、他の層からの戻り光との干渉により記録動作がより不安定になる。
【０００７】
図９は、記録動作の不安定性として、トラッキングエラー信号の変動量と高周波信号振幅との関係を示す図である。（ａ）は装置毎のバラツキ、（ｂ）はディスク毎のバラツキの測定例である。縦軸はディスク１回転中のトラッキングエラー信号（ＴＥ信号）の振幅の変動量であるが、重畳する高周波電流の振幅（ＨＦ振幅）を増加させると変動量は減少し、許容レベル以内とすることができる。しかし、変動量は装置（ドライブＡ，Ｂ）や光ディスク（ディスクＡ，Ｂ）によって異なり、変動量が最小となる高周波電流の振幅（ＨＦ振幅）も異なる値となる。
【０００８】
記録時にトラッキングエラー信号が変動する要因として、以下の理由が考えられる。
（１）記録時には再生時と比較して信号処理回路の飽和を避けるため、光検出器の受光感度を下げて使用する。このため、戻り光ノイズの影響を受け易くなる。特にトラッキングエラー信号などのサーボ信号を、レーザ出射光（ディスクへ向かう光）、もしくはディスク反射光を２種類に分割したメイン／サブ信号から合成する場合には、信号レベルの小さいサブ信号を増幅して使用するためノイズを受け易くなる。
（２）多層ディスクにおいては、記録・再生対象以外の層（他層）からの迷光（不要光）がサブ信号レベルの大きさとなり、サーボ信号のＳ／Ｎを劣化させる。他層からの迷光の大きさは、光ピックアップの光学系だけでなくディスク構造にも依存する。すなわち、ディスク表面から記録層までの板厚、多層の場合は各記録層間の厚み（層間厚）により迷光の大きさが変化する。また、同一ディスク内においても半径方向の位置で層間厚が変化する場合があり、迷光の影響が半径位置で変化することになる。
【０００９】
このように、装置とディスクの性能バラツキにより高周波電流の最適値は異なり、記録動作の度に最適値を求めて設定する必要がある。
【００１０】
前記特許文献１，２では、動作モード（記録時、再生時）に応じて高周波電流を一律に予め決めた値に切り換えるものであって、装置やディスクの性能バラツキに応じて最適に調整するものではない。仮にそのような調整を行おうとした場合、データの再生信号の品質（ジッタ、エラーレート）から最適振幅を決める方法が一般的である（例えば特許文献２に記載される）。この評価方法は再生信号の品質確認であるから、記録動作の安定性を反映したものとは言えない。例えば上記（１）のような２分割したメイン／サブ信号の場合、再生信号はメイン信号のみから生成されるのに対し、サーボ信号（トラッキングエラー信号）はサブ信号を含んで生成される。よって、再生信号にとって最適なＨＦ振幅とサーボ信号にとって最適なＨＦ振幅とは一致しない場合がある。特に（２）のような多層ディスクの場合、迷光により発生し易いサーボ外れ（トラッキング外れ）を防止するためには、再生信号の品質確認に代わるより適切な評価法が求められる。
【００１１】
また、再生信号による評価法では、ＨＦ振幅を変化させたテスト信号を一旦ディスクに記録したのちにそのテスト信号を再生しなければならないので、評価に多大の時間を要することになる。よって、装置とディスクの組合せが変わる毎に、さらにはディスク内の任意の半径位置にてＨＦ振幅を調整するような頻繁な調整には適さない。
【００１２】
本発明は、光ディスクや装置の性能バラツキに応じて記録時のレーザ駆動電流に重畳する高周波電流の振幅を短時間で調整し、記録時のサーボ動作の安定化を図ることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明による光ディスク装置は、レーザ光源から光ディスクにレーザ光を照射し光ディスクからの戻り光を検出する光ピックアップと、光ピックアップの検出信号を処理する信号処理回路と、装置全体の動作を制御するコントローラを備える。コントローラは、レーザ光源の駆動電流に重畳する高周波電流を調整する際、トラッキングサーボを外して光ディスクの所定の領域から信号を再生する状態とし、光ピックアップに対しレーザ光源の駆動電流に振幅を変化させた高周波電流を重畳して信号処理回路によりトラッキングエラー信号を取得し、取得したトラッキングエラー信号の品質が最適となる高周波電流の振幅を決定し、決定した高周波電流の振幅を、光ディスクにデータを記録する際にレーザ光源の駆動電流に重畳する高周波電流の振幅として設定することを特徴とする。
【００１４】
本発明による光ディスク記録方法は、トラッキングサーボを外して光ディスクの所定の領域から信号を再生する状態とし、レーザ光源の駆動電流に振幅を変化させた高周波電流を重畳してトラッキングエラー信号を取得し、取得したトラッキングエラー信号の品質が最適となる高周波電流の振幅を決定し、決定した振幅の高周波電流をレーザ光源の駆動電流に重畳して光ディスクにデータを記録することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、光ディスクや装置の性能バラツキに応じて記録時のレーザ駆動電流に重畳する高周波電流の振幅を短時間で調整し、記録時のサーボ動作の安定化を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明による光ディスク装置の一実施例を示す構成図。
【図２】レーザ駆動回路１６の内部構成を示す図。
【図３】記録再生時のレーザ発光波形を模式的に示す図。
【図４】トラッキングエラー信号波形の一例を示す図。
【図５】高周波振幅の最適値の決定法を説明する図。
【図６】記録用高周波振幅の第１の調整方法を示すフローチャート。
【図７】記録用高周波振幅の第２の調整方法を示すフローチャート。
【図８】記録用高周波振幅の第３の調整方法を示すフローチャート。
【図９】トラッキングエラー信号の変動量と高周波信号振幅との関係を示す図。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、本発明の実施形態を図面を用いて説明する。
図１は、本発明による光ディスク装置の一実施例を示す構成図である。なお図１では、本発明に特に関連する要素のみを示している。
【００１８】
光ディスク装置は、光ディスク１を回転させるスピンドルモータ２と、光ディスク１にレーザ光を照射し、光ディスク１からの戻り光を検出する光ピックアップ３と、光ピックアップ３の検出信号を処理する信号処理回路４と、装置全体の動作を制御するマイコンを含むコントローラ５を備える。スピンドルモータ２はモータ駆動回路６で駆動され、光ピックアップ３は図示しないステッピングモータによりディスク半径方向に駆動される。
【００１９】
光ピックアップ３の内部は、レーザ光源であるレーザダイオード１１、レーザダイオード１１からの光ビームを光ディスク１方向に反射し、光ディスク１からの戻り光を透過するビームスプリッタ１２、光ディスク１の記録面に光ビームを収束させて照射する対物レンズ１３、対物レンズ１３のトラッキングとフォーカスを調整するアクチュエータ１４、ビームスプリッタ１２を透過した戻り光を検出して電気信号に変換する光検出器１５、レーザダイオード１１に発光用駆動電流を供給するレーザ駆動回路１６を有する。レーザ駆動回路１６は、レーザ駆動電流に重畳する高周波電流（ＨＦ）を制御する高周波電流制御回路１７を含む。アクチュエータ１４は、アクチュエータ駆動回路７により駆動される。
【００２０】
信号処理回路４の内部は、プリアンプ信号生成回路１８と再生回路１９とサーボ回路２０を含む。プリアンプ信号生成回路１８は、光検出器１５の出力信号からＲＦ信号、ウォブル信号、トラッキングエラー（ＴＥ）信号、フォーカスエラー（ＦＥ）信号を生成する。再生回路１９は、ＲＦ信号からデータを再生しウォブル信号からアドレス情報を得る。サーボ回路２０は、トラッキングエラー（ＴＥ）信号とフォーカスエラー（ＦＥ）信号からアクチュエータ制御信号を生成する。
【００２１】
図２は、レーザ駆動回路１６の内部構成を示す図である。レーザ駆動回路１６には、コントローラ５から記録／再生時のレーザ発光の制御信号（レーザ制御信号）とこれに重畳する高周波電流の制御信号（ＨＦ制御信号）が入力する。電流増幅部２１は、レーザ制御信号に従い記録／再生時のレーザ発光電流を供給する。高周波電流駆動部２２は、ＨＦ制御信号に従い高周波電流（ＨＦ）を供給する。その際、周波数設定部２３は高周波電流の周波数を、第１の振幅設定部２４、第２の振幅設定部２５は高周波電流の振幅を設定する。具体的には第１の振幅設定部２４は再生時のＨＦ振幅値を、第２の振幅設定部２５は記録時のＨＦ振幅値を保持し、スイッチ２６は再生時と記録時とでＨＦ振幅値を切り替える。加算器２７は、レーザ発光電流に高周波電流（ＨＦ）を重畳し、重畳されたレーザ駆動電流はレーザダイオード１１に供給される。
【００２２】
図３は、記録再生時のレーザ発光波形を模式的に示す図である。
再生状態では再生用パワーに再生用ＨＦ振幅Ａｒの高周波信号を重畳する。記録状態では記録データのスペース区間のみ記録用ＨＦ振幅Ａｗの高周波信号を重畳する（すなわちマーク形成区間には高周波信号を重畳しない方式とする）。これは、マーク区間に高周波信号を重畳することでレーザダイオードの出力パワーが定格を超え、レーザダイオードが破損することを避けるためである。なお、このようなスペース区間重畳方式は、記録動作中のスペース区間に得られる光ディスクの戻り光信号からサーボ信号を生成する方式（サンプルサーボ方式）で有効である。
【００２３】
重畳する高周波信号の振幅の大きさは、再生時の振幅Ａｒよりも記録時の振幅Ａｗを大きくする。再生時の振幅Ａｒは再生信号の品質、例えばジッタや再生エラーを評価することで最適値を設定する。一方記録時の振幅Ａｗは、特に多層ディスクにおける他層迷光によるサーボ特性の不安定性を改善するため、後述するようにサーボ信号（トラッキングエラー信号）の品質を評価することで最適値を設定する。このような評価法の違いにより、記録時振幅Ａｗは再生時振幅Ａｒよりも大きくなる。
【００２４】
なお、レーザダイオード１１においては、レーザ駆動電流とレーザ発光パワーの関係（Ｉ−Ｌ特性）は非線形特性を示し、駆動電流が閾値電流以下ではほとんど発光しないためＨＦ発光波形は上下非対称となる。すなわち駆動電流値の振幅と発光波形の振幅は厳密には比例関係にないが、以下の説明では簡単のために両者の振幅には同じ記号Ａｒ，Ａｗを用いることにする。
【００２５】
本実施例では、再生用ＨＦ振幅Ａｒと記録用ＨＦ振幅Ａｗは第１、第２の設定部２４，２５に保持されており、コントローラ５からの再生／記録切替信号に同期してスイッチ２６によりＨＦ振幅を瞬時に切替えて設定することができ、切替わり前後の区間においても安定した動作が可能である。
【００２６】
以下、記録時の最適振幅Ａｗの決定法について説明するが、本実施例ではサーボ信号としてトラッキングエラー信号（ＴＥ信号）の品質を評価することで最適値を決定する。
ディスク上のある半径位置に光ピックアップ３を移動させ、サーボ回路２０のトラッキングサーボを外した状態としてディスクを再生する。なお、ディスク上の記録済み領域と未記録領域とでＴＥ信号レベルが異なるので、両者の領域を跨がない位置で測定を実施する。レーザ駆動回路１６はコントローラ５からの制御信号を受け、所定のパワー（例えば再生パワー）のレーザ発光電流に振幅値を変化させた高周波電流（ＨＦ）を重畳させた状態でレーザダイオード１１を発光させる。光検出器１５はディスクの反射光を電気信号に変換し、プリアンプ１８はトラッキングエラー信号を生成する。
【００２７】
図４は、トラッキングエラー信号波形の一例を示す図である。生成されたトラッキングエラー信号（ＴＥ信号）はコントローラ５に送られ、一定時間（例えばディスク一回転分の時間）のデータをＡＤコンバータで取り込む。なお、ＡＤコンバータのサンプリング周期は、ＴＥ信号の周波数よりも十分に速いものとする。コントローラ５では以下の演算処理を行う。
【００２８】
まず、取り込んだデータから信号の一つ一つの山に対して最大値（Ｔｏｐ）と最小値（Ｂｏｔｔｏｍ）を抽出する。これをもとに次の評価法のいずれかによりＴＥ信号の品質を評価する。
【００２９】
評価法（１）：一定時間内のＴＥ振幅の変動を指標とする場合。測定データの内、ｎ番目の信号の最大値Ｔｏｐ（ｎ）と最小値Ｂｏｔｔｏｍ（ｎ）の差をＴＥ振幅（ｎ）とする。
ＴＥ振幅（ｎ）＝Ｔｏｐ（ｎ）−Ｂｏｔｔｏｍ（ｎ）
一定時間内のＴＥ振幅（ｎ）の最大値をＴＥ振幅（Ｍａｘ）、最小値をＴＥ振幅（Ｍｉｎ）とし、それらの差分をＴＥ振幅の変動量ΔＴＥ（振幅）とする。
ΔＴＥ（振幅）＝ＴＥ振幅（Ｍａｘ）−ＴＥ振幅（Ｍｉｎ）
あるいは、一定時間内のＴＥ振幅（ｎ）の標準偏差をＴＥ振幅の変動量ΔＴＥ（振幅）としても良い。
【００３０】
評価法（２）：一定時間内のＴＥ振幅中心の変動を指標とする場合。測定データの内、ｎ番目の信号の最大値Ｔｏｐ（ｎ）と最小値Ｂｏｔｔｏｍ（ｎ）の振幅中心（Ｍｉｄｄｌｅ）をＴＥ中心（ｎ）とする。
ＴＥ中心（ｎ）＝｛Ｔｏｐ（ｎ）＋Ｂｏｔｔｏｍ（ｎ）｝／２
一定時間内のＴＥ中心（ｎ）の最大値をＴＥ中心（Ｍａｘ）、最小値をＴＥ中心（Ｍｉｎ）とし、それらの差分をＴＥ中心の変動量ΔＴＥ（中心）とする。
ΔＴＥ（中心）＝ＴＥ中心（Ｍａｘ）−ＴＥ中心（Ｍｉｎ）
あるいは、一定時間内のＴＥ中心（ｎ）の標準偏差をＴＥ中心の変動量ΔＴＥ（中心）としても良い。
【００３１】
図５は、高周波振幅の最適値の決定法を説明する図である。横軸は重畳する高周波電流（ＨＦ）の振幅の大きさ、縦軸は左側には測定されたトラッキングエラー（ＴＥ）信号の変動量ΔＴＥを、右側には測定された再生信号の品質（ジッタ量）を示す。ここではＴＥ信号の品質としてＴＥ振幅の変動量ΔＴＥ（振幅）を指標としているが、ＴＥ中心の変動量ΔＴＥ（中心）を指標としても同様である。また、再生信号の品質として再生エラー量を指標としても同様である。
【００３２】
図から分かるように、再生信号の品質はＨＦ振幅を増加させると劣化が大きくなるのに対し、ＴＥ信号の変動量ΔＴＥはＨＦ振幅を増加させると劣化が小さくなるという逆の傾向を示す。その結果、再生用ＨＦ振幅の最適値Ａｒは比較的小さい値となるのに対し、記録用ＨＦ振幅の最適値Ａｗは大きい値となる。このように、再生用ＨＦ振幅Ａｒと記録用ＨＦ振幅Ａｗが異なるのは、再生信号は光検出器の検出信号のメイン信号のみから生成されるのに対し、ＴＥ信号は検出信号のメイン信号とサブ信号を合成して生成されることが要因と言える。言い換えれば、光検出器１５がサーボ信号（ＴＥ信号）生成のために２系統（メイン／サブ）の信号検出を行う構成である場合に、本実施例の方式が特に有効となる。
【００３３】
なお、再生用ＨＦ振幅Ａｒについては、さらに再生パワーによるディスクへのダメージ（再生耐力）や電磁妨害（ＥＭＩ）性能を考慮して決定するのが良い。また記録用ＨＦ振幅Ａｗについては、記録品質（形成されるマーク形状）やＥＭＩ性能の観点からＨＦ振幅の上限値と下限値を設けるのが良い。
【００３４】
以下、記録用ＨＦ振幅の調整手順をいくつかの例で説明する。ＨＦ振幅の調整実施のタイミングは、装着されるディスクが変わる毎、環境（温度等）が変化する度に調整を実施する。特に多層ディスクの場合は、記録対象の記録層が変わる毎に調整するのが好ましいが、代表となる１つの記録層の調整結果をもとに他の記録層については予め求めた係数で補正することでも良い。
【００３５】
図６は、記録用高周波振幅の第１の調整方法を示すフローチャートである。以下の工程はコントローラ５により制御される。
Ｓ１０１では、記録用ＨＦ振幅の調整の指示を受けると装置を再生状態に切り替える。
Ｓ１０２では、光ピックアップ３をディスク上のある半径位置に移動させ、サーボ回路２０のトラッキングサーボ機能をＯＦＦ状態にする。
【００３６】
Ｓ１０３では、レーザ駆動回路１６はレーザダイオード１１に対し発光パワーとしてスペースパワーＰｓを設定する。このスペースパワーＰｓは記録動作時のスペース区間に印加するパワー値に相当する。
Ｓ１０４では、ループ回数ｉを１に設定する。ループ回数ｉはＨＦ振幅を変化させるときの回数である。
【００３７】
Ｓ１０５では、レーザ駆動回路１６（ＨＦ制御回路１７）は発光パワーに重畳するＨＦ振幅Ａ（ｉ）を設定し、レーザダイオード１１を発光させる。なお、このとき重畳するＨＦ振幅Ａ（ｉ）の値は予めＨＦ振幅設定部２４に記憶しておき、ループ回数ｉの値に応じてＡ（ｉ）を設定する。
Ｓ１０６では、光検出器１５からの検出信号を受け、プリアンプ１８はトラッキングエラー信号（ＴＥ信号）を生成し、コントローラ５へ送る。コントローラ５は所定時間（例えばディスク一回転分の時間）のデータを取り込み、ＴＥ信号の品質を測定する。具体的には、所定時間内のＴＥ振幅またはＴＥ中心の変動量ΔＴＥを算出し、ΔＴＥ（ｉ）とする。
【００３８】
Ｓ１０７では、測定したＴＥ信号の変動量ΔＴＥ（ｉ）をコントローラ５内のメモリに格納する。
Ｓ１０８では、ループ回数ｉが最大値ｉｍａｘに達したかどうか判定する。最大値ｉｍａｘは任意であるが、例えばｉｍａｘ＝５とする。ループ回数ｉが最大値ｉｍａｘ（＝５）に達していなければＳ１０９へ進み、ループ回数ｉに１を加算する。そしてＳ１０５へ戻り、上記した工程Ｓ１０６〜Ｓ１０７を繰り返す。これによりメモリにはｉ＝１〜ｉｍａｘに対するＴＥ信号の変動量ΔＴＥ（ｉ）が蓄積される。
【００３９】
ループ回数ｉが最大値ｉｍａｘに達するとＳ１１０へ進む。Ｓ１１０ではメモリを参照し、ＴＥ信号の変動量ΔＴＥ（ｉ）（ｉ＝１〜ｉｍａｘ）が最小となるときのＨＦ振幅Ａｏｐｔを決定する。
Ｓ１１１では、ＨＦ振幅Ａｏｐｔを記録用ＨＦ振幅Ａｗに設定し、ＨＦ制御回路１７の第２のＨＦ振幅設定部（記録用）２５に格納する。これにより、装着されたディスクに対して記録用ＨＦ振幅を最適に調整することができる。
【００４０】
図７は、記録用高周波振幅の第２の調整方法を示すフローチャートである。第２の調整方法は前記図６の第１の調整方法と基本的には同じであるが、調整時に印加する発光パワーを第１の調整方法におけるスペースパワーＰｓと異なる値に設定している。図６と異なる工程のみ説明し、他は省略する。
【００４１】
Ｓ２０３では、発光パワーとして低パワーＰｌを設定する。このパワーは疑似記録状態を形成するものであるが、ディスクに信号が記録されない強度とする。
Ｓ２１１では、ＨＦ振幅Ａｏｐｔに係数ｋを掛けて記録用ＨＦ振幅Ａｗに設定する。この係数ｋはスペースパワーＰｓに対する低パワーＰｌの比に依存する補正係数であって、Ｐｌ＞Ｐｓであればｋ＜１、Ｐｌ＜Ｐｓであればｋ＞１となる。係数ｋの値は予め実験的に求めておく。
【００４２】
図８は、記録用高周波振幅の第３の調整方法を示すフローチャートである。第３の調整方法も前記図６の第１の調整方法と基本的には同じであるが、調整時に印加する発光パワーとして記録パワーＰｗを採用した点が異なる。図６と異なる工程のみ説明し、他は省略する。
【００４３】
Ｓ３０２では、光ピックアップ３をディスク上のデータ領域以外へ移動させる。これは、調整動作のためにデータ領域のデータを消去・破壊することのないようにするためである。
Ｓ３０４では、発光パワーとして記録パワーＰｗを設定する。すなわち、記録パワーＰｗに含まれるマーク、スペースのパターンを有するものとするが、高周波電流ＨＦを重畳するのはスペース区間のみである。記録パワーＰｗの信号は任意のデータ信号でも、あるいは調整用のテスト信号でも良い。
第３の調整方法によれば、実際の記録状態に最も近い状況で調整できるので、記録用ＨＦ振幅をより精度を高く取得することができる。
【００４４】
以上、本発明の実施例を具体的に述べたが、さらに次のような変形が可能である。
記録時の高周波電流（ＨＦ）の最適値を求めるために、上記実施例ではサーボ信号としてトラッキング信号（ＴＥ信号）の品質に着目したが、フォーカスエラー信号（ＦＥ信号）の品質を指標としても良い。また上記実施例では、高周波電流の振幅（ＨＦ振幅）を最適化するものであるが、これに代えて発光パワーの平均に対する高周波信号のピークレベルの割合（すなわち変調度）を最適化するようにしても良い。
【００４５】
多層ディスクにおいては、ディスク半径位置によって層間厚が変化する場合がある。そのような場合、層間厚により迷光が変化するため、半径位置を変えて複数個所で調整を実施し、各位置でのデータから任意の半径位置での最適値を補間すれば層間厚の影響を低減することができる。また、記録する層毎に迷光が変化するため、同様に記録層毎の調整をすることで、影響を低減することができる。
【００４６】
本実施例によれば、ディスクと装置の組合せ毎、あるいは動作環境の変化した際に高周波電流を最適に調整することができるので、常に安定な記録動作を実現する。また、調整のために評価するサーボ信号はディスクが未記録（新品）であっても取得できるので、装置を再生動作の状態で調整できる。すなわち、評価のためのテスト信号をディスクに記録する工程が不要となるため、調整時間を短縮する効果がある。さらに図６、図７に示す調整方法では、ディスク上の任意の半径位置（データ領域を含む）で、また任意のタイミング（記録動作の間や小休止中も可能）で調整可能であり、調整作業が極めて容易になる。
【符号の説明】
【００４７】
１…光ディスク、
２…スピンドルモータ、
３…光ピックアップ、
４…信号処理回路、
５…コントローラ、
１１…レーザダイオード、
１３…対物レンズ、
１５…光検出器、
１６…レーザ駆動回路、
１７…高周波電流制御回路、
１８…プリアンプ信号生成回路、
１９…再生回路、
２０…サーボ回路、
２１…電流増幅部、
２２…高周波電流駆動部、
２３…周波数設定部、
２４…第１の振幅設定部、
２５…第２の振幅設定部、
２６…スイッチ、
２７…加算器。
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置及び光ディスク記録方法に係り、特にレーザ光源の駆動電流に高周波電流を好適に重畳して記録する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク装置は、レーザ光を光ディスクに照射してデータを記録またはデータの再生を行う。そのとき、光ディスクから反射した光の一部が光源であるレーザダイオードに入射すると、レーザ発振が不安定になり記録または再生特性を悪化させる要因となる。この対策として、レーザダイオードの駆動電流に高周波電流を重畳してマルチモード発光させ、戻り光により発生するノイズを抑制する技術が知られている。
【０００３】
ここでレーザ駆動電流に重畳する高周波電流の振幅値は、記録時と再生時とでそれぞれ印加する記録パワー、再生パワーに応じて適切なレベルに設定するのが好ましいが、一方で記録時はレーザダイオードの出力限界を考慮して高周波電流の振幅値を設定する必要がある。
【０００４】
これに関連する技術として、特許文献１には、高周波成分の振幅又はデューティを記録時と再生時とで変更するとともに、記録時は記録媒体上に記録する情報の種類に応じて高周波成分の重畳の動作と停止を制御する構成が開示されている。また特許文献２には、記録時の高周波信号のレベルと再生時の高周波信号レベルとが異なるとともに、再生状態から記録状態へ移行する時点より所定時間前に高周波信号のレベルを変更する構成が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０００−１６３７８２号公報
【特許文献２】国際公開第２００５／０４３５２１号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
記録動作時と再生動作時のレーザパワーの違いと、装置毎の性能バラツキや光ディスクの性能バラツキにより、光ディスクからの戻り光が原因で記録動作が不安定になる場合がある。特に複数の記録層を持つ多層ディスクに記録する際には、他の層からの戻り光との干渉により記録動作がより不安定になる。
【０００７】
図９は、記録動作の不安定性として、トラッキングエラー信号の変動量と高周波信号振幅との関係を示す図である。（ａ）は装置毎のバラツキ、（ｂ）はディスク毎のバラツキの測定例である。縦軸はディスク１回転中のトラッキングエラー信号（ＴＥ信号）の振幅の変動量であるが、重畳する高周波電流の振幅（ＨＦ振幅）を増加させると変動量は減少し、許容レベル以内とすることができる。しかし、変動量は装置（ドライブＡ，Ｂ）や光ディスク（ディスクＡ，Ｂ）によって異なり、変動量が最小となる高周波電流の振幅（ＨＦ振幅）も異なる値となる。
【０００８】
記録時にトラッキングエラー信号が変動する要因として、以下の理由が考えられる。
（１）記録時には再生時と比較して信号処理回路の飽和を避けるため、光検出器の受光感度を下げて使用する。このため、戻り光ノイズの影響を受け易くなる。特にトラッキングエラー信号などのサーボ信号を、レーザ出射光（ディスクへ向かう光）、もしくはディスク反射光を２種類に分割したメイン／サブ信号から合成する場合には、信号レベルの小さいサブ信号を増幅して使用するためノイズを受け易くなる。
（２）多層ディスクにおいては、記録・再生対象以外の層（他層）からの迷光（不要光）がサブ信号レベルの大きさとなり、サーボ信号のＳ／Ｎを劣化させる。他層からの迷光の大きさは、光ピックアップの光学系だけでなくディスク構造にも依存する。すなわち、ディスク表面から記録層までの板厚、多層の場合は各記録層間の厚み（層間厚）により迷光の大きさが変化する。また、同一ディスク内においても半径方向の位置で層間厚が変化する場合があり、迷光の影響が半径位置で変化することになる。
【０００９】
このように、装置とディスクの性能バラツキにより高周波電流の最適値は異なり、記録動作の度に最適値を求めて設定する必要がある。
【００１０】
前記特許文献１，２では、動作モード（記録時、再生時）に応じて高周波電流を一律に予め決めた値に切り換えるものであって、装置やディスクの性能バラツキに応じて最適に調整するものではない。仮にそのような調整を行おうとした場合、データの再生信号の品質（ジッタ、エラーレート）から最適振幅を決める方法が一般的である（例えば特許文献２に記載される）。この評価方法は再生信号の品質確認であるから、記録動作の安定性を反映したものとは言えない。例えば上記（１）のような２分割したメイン／サブ信号の場合、再生信号はメイン信号のみから生成されるのに対し、サーボ信号（トラッキングエラー信号）はサブ信号を含んで生成される。よって、再生信号にとって最適なＨＦ振幅とサーボ信号にとって最適なＨＦ振幅とは一致しない場合がある。特に（２）のような多層ディスクの場合、迷光により発生し易いサーボ外れ（トラッキング外れ）を防止するためには、再生信号の品質確認に代わるより適切な評価法が求められる。
【００１１】
また、再生信号による評価法では、ＨＦ振幅を変化させたテスト信号を一旦ディスクに記録したのちにそのテスト信号を再生しなければならないので、評価に多大の時間を要することになる。よって、装置とディスクの組合せが変わる毎に、さらにはディスク内の任意の半径位置にてＨＦ振幅を調整するような頻繁な調整には適さない。
【００１２】
本発明は、光ディスクや装置の性能バラツキに応じて記録時のレーザ駆動電流に重畳する高周波電流の振幅を短時間で調整し、記録時のサーボ動作の安定化を図ることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明による光ディスク装置は、レーザ光源から光ディスクにレーザ光を照射し光ディスクからの戻り光を検出する光ピックアップと、光ピックアップの検出信号を処理する信号処理回路と、装置全体の動作を制御するコントローラを備える。コントローラは、レーザ光源の駆動電流に重畳する高周波電流を調整する際、トラッキングサーボを外して光ディスクの所定の領域から信号を再生する状態とし、光ピックアップに対しレーザ光源の駆動電流に振幅を変化させた高周波電流を重畳して信号処理回路によりトラッキングエラー信号を取得し、取得したトラッキングエラー信号の品質が最適となる高周波電流の振幅を決定し、決定した高周波電流の振幅を、光ディスクにデータを記録する際にレーザ光源の駆動電流に重畳する高周波電流の振幅として設定することを特徴とする。
【００１４】
本発明による光ディスク記録方法は、トラッキングサーボを外して光ディスクの所定の領域から信号を再生する状態とし、レーザ光源の駆動電流に振幅を変化させた高周波電流を重畳してトラッキングエラー信号を取得し、取得したトラッキングエラー信号の品質が最適となる高周波電流の振幅を決定し、決定した振幅の高周波電流をレーザ光源の駆動電流に重畳して光ディスクにデータを記録することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、光ディスクや装置の性能バラツキに応じて記録時のレーザ駆動電流に重畳する高周波電流の振幅を短時間で調整し、記録時のサーボ動作の安定化を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明による光ディスク装置の一実施例を示す構成図。
【図２】レーザ駆動回路１６の内部構成を示す図。
【図３】記録再生時のレーザ発光波形を模式的に示す図。
【図４】トラッキングエラー信号波形の一例を示す図。
【図５】高周波振幅の最適値の決定法を説明する図。
【図６】記録用高周波振幅の第１の調整方法を示すフローチャート。
【図７】記録用高周波振幅の第２の調整方法を示すフローチャート。
【図８】記録用高周波振幅の第３の調整方法を示すフローチャート。
【図９】トラッキングエラー信号の変動量と高周波信号振幅との関係を示す図。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、本発明の実施形態を図面を用いて説明する。
図１は、本発明による光ディスク装置の一実施例を示す構成図である。なお図１では、本発明に特に関連する要素のみを示している。
【００１８】
光ディスク装置は、光ディスク１を回転させるスピンドルモータ２と、光ディスク１にレーザ光を照射し、光ディスク１からの戻り光を検出する光ピックアップ３と、光ピックアップ３の検出信号を処理する信号処理回路４と、装置全体の動作を制御するマイコンを含むコントローラ５を備える。スピンドルモータ２はモータ駆動回路６で駆動され、光ピックアップ３は図示しないステッピングモータによりディスク半径方向に駆動される。
【００１９】
光ピックアップ３の内部は、レーザ光源であるレーザダイオード１１、レーザダイオード１１からの光ビームを光ディスク１方向に反射し、光ディスク１からの戻り光を透過するビームスプリッタ１２、光ディスク１の記録面に光ビームを収束させて照射する対物レンズ１３、対物レンズ１３のトラッキングとフォーカスを調整するアクチュエータ１４、ビームスプリッタ１２を透過した戻り光を検出して電気信号に変換する光検出器１５、レーザダイオード１１に発光用駆動電流を供給するレーザ駆動回路１６を有する。レーザ駆動回路１６は、レーザ駆動電流に重畳する高周波電流（ＨＦ）を制御する高周波電流制御回路１７を含む。アクチュエータ１４は、アクチュエータ駆動回路７により駆動される。
【００２０】
信号処理回路４の内部は、プリアンプ信号生成回路１８と再生回路１９とサーボ回路２０を含む。プリアンプ信号生成回路１８は、光検出器１５の出力信号からＲＦ信号、ウォブル信号、トラッキングエラー（ＴＥ）信号、フォーカスエラー（ＦＥ）信号を生成する。再生回路１９は、ＲＦ信号からデータを再生しウォブル信号からアドレス情報を得る。サーボ回路２０は、トラッキングエラー（ＴＥ）信号とフォーカスエラー（ＦＥ）信号からアクチュエータ制御信号を生成する。
【００２１】
図２は、レーザ駆動回路１６の内部構成を示す図である。レーザ駆動回路１６には、コントローラ５から記録／再生時のレーザ発光の制御信号（レーザ制御信号）とこれに重畳する高周波電流の制御信号（ＨＦ制御信号）が入力する。電流増幅部２１は、レーザ制御信号に従い記録／再生時のレーザ発光電流を供給する。高周波電流駆動部２２は、ＨＦ制御信号に従い高周波電流（ＨＦ）を供給する。その際、周波数設定部２３は高周波電流の周波数を、第１の振幅設定部２４、第２の振幅設定部２５は高周波電流の振幅を設定する。具体的には第１の振幅設定部２４は再生時のＨＦ振幅値を、第２の振幅設定部２５は記録時のＨＦ振幅値を保持し、スイッチ２６は再生時と記録時とでＨＦ振幅値を切り替える。加算器２７は、レーザ発光電流に高周波電流（ＨＦ）を重畳し、重畳されたレーザ駆動電流はレーザダイオード１１に供給される。
【００２２】
図３は、記録再生時のレーザ発光波形を模式的に示す図である。
再生状態では再生用パワーに再生用ＨＦ振幅Ａｒの高周波信号を重畳する。記録状態では記録データのスペース区間のみ記録用ＨＦ振幅Ａｗの高周波信号を重畳する（すなわちマーク形成区間には高周波信号を重畳しない方式とする）。これは、マーク区間に高周波信号を重畳することでレーザダイオードの出力パワーが定格を超え、レーザダイオードが破損することを避けるためである。なお、このようなスペース区間重畳方式は、記録動作中のスペース区間に得られる光ディスクの戻り光信号からサーボ信号を生成する方式（サンプルサーボ方式）で有効である。
【００２３】
重畳する高周波信号の振幅の大きさは、再生時の振幅Ａｒよりも記録時の振幅Ａｗを大きくする。再生時の振幅Ａｒは再生信号の品質、例えばジッタや再生エラーを評価することで最適値を設定する。一方記録時の振幅Ａｗは、特に多層ディスクにおける他層迷光によるサーボ特性の不安定性を改善するため、後述するようにサーボ信号（トラッキングエラー信号）の品質を評価することで最適値を設定する。このような評価法の違いにより、記録時振幅Ａｗは再生時振幅Ａｒよりも大きくなる。
【００２４】
なお、レーザダイオード１１においては、レーザ駆動電流とレーザ発光パワーの関係（Ｉ−Ｌ特性）は非線形特性を示し、駆動電流が閾値電流以下ではほとんど発光しないためＨＦ発光波形は上下非対称となる。すなわち駆動電流値の振幅と発光波形の振幅は厳密には比例関係にないが、以下の説明では簡単のために両者の振幅には同じ記号Ａｒ，Ａｗを用いることにする。
【００２５】
本実施例では、再生用ＨＦ振幅Ａｒと記録用ＨＦ振幅Ａｗは第１、第２の設定部２４，２５に保持されており、コントローラ５からの再生／記録切替信号に同期してスイッチ２６によりＨＦ振幅を瞬時に切替えて設定することができ、切替わり前後の区間においても安定した動作が可能である。
【００２６】
以下、記録時の最適振幅Ａｗの決定法について説明するが、本実施例ではサーボ信号としてトラッキングエラー信号（ＴＥ信号）の品質を評価することで最適値を決定する。
ディスク上のある半径位置に光ピックアップ３を移動させ、サーボ回路２０のトラッキングサーボを外した状態としてディスクを再生する。なお、ディスク上の記録済み領域と未記録領域とでＴＥ信号レベルが異なるので、両者の領域を跨がない位置で測定を実施する。レーザ駆動回路１６はコントローラ５からの制御信号を受け、所定のパワー（例えば再生パワー）のレーザ発光電流に振幅値を変化させた高周波電流（ＨＦ）を重畳させた状態でレーザダイオード１１を発光させる。光検出器１５はディスクの反射光を電気信号に変換し、プリアンプ１８はトラッキングエラー信号を生成する。
【００２７】
図４は、トラッキングエラー信号波形の一例を示す図である。生成されたトラッキングエラー信号（ＴＥ信号）はコントローラ５に送られ、一定時間（例えばディスク一回転分の時間）のデータをＡＤコンバータで取り込む。なお、ＡＤコンバータのサンプリング周期は、ＴＥ信号の周波数よりも十分に速いものとする。コントローラ５では以下の演算処理を行う。
【００２８】
まず、取り込んだデータから信号の一つ一つの山に対して最大値（Ｔｏｐ）と最小値（Ｂｏｔｔｏｍ）を抽出する。これをもとに次の評価法のいずれかによりＴＥ信号の品質を評価する。
【００２９】
評価法（１）：一定時間内のＴＥ振幅の変動を指標とする場合。測定データの内、ｎ番目の信号の最大値Ｔｏｐ（ｎ）と最小値Ｂｏｔｔｏｍ（ｎ）の差をＴＥ振幅（ｎ）とする。
ＴＥ振幅（ｎ）＝Ｔｏｐ（ｎ）−Ｂｏｔｔｏｍ（ｎ）
一定時間内のＴＥ振幅（ｎ）の最大値をＴＥ振幅（Ｍａｘ）、最小値をＴＥ振幅（Ｍｉｎ）とし、それらの差分をＴＥ振幅の変動量ΔＴＥ（振幅）とする。
ΔＴＥ（振幅）＝ＴＥ振幅（Ｍａｘ）−ＴＥ振幅（Ｍｉｎ）
あるいは、一定時間内のＴＥ振幅（ｎ）の標準偏差をＴＥ振幅の変動量ΔＴＥ（振幅）としても良い。
【００３０】
評価法（２）：一定時間内のＴＥ振幅中心の変動を指標とする場合。測定データの内、ｎ番目の信号の最大値Ｔｏｐ（ｎ）と最小値Ｂｏｔｔｏｍ（ｎ）の振幅中心（Ｍｉｄｄｌｅ）をＴＥ中心（ｎ）とする。
ＴＥ中心（ｎ）＝｛Ｔｏｐ（ｎ）＋Ｂｏｔｔｏｍ（ｎ）｝／２
一定時間内のＴＥ中心（ｎ）の最大値をＴＥ中心（Ｍａｘ）、最小値をＴＥ中心（Ｍｉｎ）とし、それらの差分をＴＥ中心の変動量ΔＴＥ（中心）とする。
ΔＴＥ（中心）＝ＴＥ中心（Ｍａｘ）−ＴＥ中心（Ｍｉｎ）
あるいは、一定時間内のＴＥ中心（ｎ）の標準偏差をＴＥ中心の変動量ΔＴＥ（中心）としても良い。
【００３１】
図５は、高周波振幅の最適値の決定法を説明する図である。横軸は重畳する高周波電流（ＨＦ）の振幅の大きさ、縦軸は左側には測定されたトラッキングエラー（ＴＥ）信号の変動量ΔＴＥを、右側には測定された再生信号の品質（ジッタ量）を示す。ここではＴＥ信号の品質としてＴＥ振幅の変動量ΔＴＥ（振幅）を指標としているが、ＴＥ中心の変動量ΔＴＥ（中心）を指標としても同様である。また、再生信号の品質として再生エラー量を指標としても同様である。
【００３２】
図から分かるように、再生信号の品質はＨＦ振幅を増加させると劣化が大きくなるのに対し、ＴＥ信号の変動量ΔＴＥはＨＦ振幅を増加させると劣化が小さくなるという逆の傾向を示す。その結果、再生用ＨＦ振幅の最適値Ａｒは比較的小さい値となるのに対し、記録用ＨＦ振幅の最適値Ａｗは大きい値となる。このように、再生用ＨＦ振幅Ａｒと記録用ＨＦ振幅Ａｗが異なるのは、再生信号は光検出器の検出信号のメイン信号のみから生成されるのに対し、ＴＥ信号は検出信号のメイン信号とサブ信号を合成して生成されることが要因と言える。言い換えれば、光検出器１５がサーボ信号（ＴＥ信号）生成のために２系統（メイン／サブ）の信号検出を行う構成である場合に、本実施例の方式が特に有効となる。
【００３３】
なお、再生用ＨＦ振幅Ａｒについては、さらに再生パワーによるディスクへのダメージ（再生耐力）や電磁妨害（ＥＭＩ）性能を考慮して決定するのが良い。また記録用ＨＦ振幅Ａｗについては、記録品質（形成されるマーク形状）やＥＭＩ性能の観点からＨＦ振幅の上限値と下限値を設けるのが良い。
【００３４】
以下、記録用ＨＦ振幅の調整手順をいくつかの例で説明する。ＨＦ振幅の調整実施のタイミングは、装着されるディスクが変わる毎、環境（温度等）が変化する度に調整を実施する。特に多層ディスクの場合は、記録対象の記録層が変わる毎に調整するのが好ましいが、代表となる１つの記録層の調整結果をもとに他の記録層については予め求めた係数で補正することでも良い。
【００３５】
図６は、記録用高周波振幅の第１の調整方法を示すフローチャートである。以下の工程はコントローラ５により制御される。
Ｓ１０１では、記録用ＨＦ振幅の調整の指示を受けると装置を再生状態に切り替える。
Ｓ１０２では、光ピックアップ３をディスク上のある半径位置に移動させ、サーボ回路２０のトラッキングサーボ機能をＯＦＦ状態にする。
【００３６】
Ｓ１０３では、レーザ駆動回路１６はレーザダイオード１１に対し発光パワーとしてスペースパワーＰｓを設定する。このスペースパワーＰｓは記録動作時のスペース区間に印加するパワー値に相当する。
Ｓ１０４では、ループ回数ｉを１に設定する。ループ回数ｉはＨＦ振幅を変化させるときの回数である。
【００３７】
Ｓ１０５では、レーザ駆動回路１６（ＨＦ制御回路１７）は発光パワーに重畳するＨＦ振幅Ａ（ｉ）を設定し、レーザダイオード１１を発光させる。なお、このとき重畳するＨＦ振幅Ａ（ｉ）の値は予めＨＦ振幅設定部２４に記憶しておき、ループ回数ｉの値に応じてＡ（ｉ）を設定する。
Ｓ１０６では、光検出器１５からの検出信号を受け、プリアンプ１８はトラッキングエラー信号（ＴＥ信号）を生成し、コントローラ５へ送る。コントローラ５は所定時間（例えばディスク一回転分の時間）のデータを取り込み、ＴＥ信号の品質を測定する。具体的には、所定時間内のＴＥ振幅またはＴＥ中心の変動量ΔＴＥを算出し、ΔＴＥ（ｉ）とする。
【００３８】
Ｓ１０７では、測定したＴＥ信号の変動量ΔＴＥ（ｉ）をコントローラ５内のメモリに格納する。
Ｓ１０８では、ループ回数ｉが最大値ｉｍａｘに達したかどうか判定する。最大値ｉｍａｘは任意であるが、例えばｉｍａｘ＝５とする。ループ回数ｉが最大値ｉｍａｘ（＝５）に達していなければＳ１０９へ進み、ループ回数ｉに１を加算する。そしてＳ１０５へ戻り、上記した工程Ｓ１０６〜Ｓ１０７を繰り返す。これによりメモリにはｉ＝１〜ｉｍａｘに対するＴＥ信号の変動量ΔＴＥ（ｉ）が蓄積される。
【００３９】
ループ回数ｉが最大値ｉｍａｘに達するとＳ１１０へ進む。Ｓ１１０ではメモリを参照し、ＴＥ信号の変動量ΔＴＥ（ｉ）（ｉ＝１〜ｉｍａｘ）が最小となるときのＨＦ振幅Ａｏｐｔを決定する。
Ｓ１１１では、ＨＦ振幅Ａｏｐｔを記録用ＨＦ振幅Ａｗに設定し、ＨＦ制御回路１７の第２のＨＦ振幅設定部（記録用）２５に格納する。これにより、装着されたディスクに対して記録用ＨＦ振幅を最適に調整することができる。
【００４０】
図７は、記録用高周波振幅の第２の調整方法を示すフローチャートである。第２の調整方法は前記図６の第１の調整方法と基本的には同じであるが、調整時に印加する発光パワーを第１の調整方法におけるスペースパワーＰｓと異なる値に設定している。図６と異なる工程のみ説明し、他は省略する。
【００４１】
Ｓ２０３では、発光パワーとして低パワーＰｌを設定する。このパワーは疑似記録状態を形成するものであるが、ディスクに信号が記録されない強度とする。
Ｓ２１１では、ＨＦ振幅Ａｏｐｔに係数ｋを掛けて記録用ＨＦ振幅Ａｗに設定する。この係数ｋはスペースパワーＰｓに対する低パワーＰｌの比に依存する補正係数であって、Ｐｌ＞Ｐｓであればｋ＜１、Ｐｌ＜Ｐｓであればｋ＞１となる。係数ｋの値は予め実験的に求めておく。
【００４２】
図８は、記録用高周波振幅の第３の調整方法を示すフローチャートである。第３の調整方法も前記図６の第１の調整方法と基本的には同じであるが、調整時に印加する発光パワーとして記録パワーＰｗを採用した点が異なる。図６と異なる工程のみ説明し、他は省略する。
【００４３】
Ｓ３０２では、光ピックアップ３をディスク上のデータ領域以外へ移動させる。これは、調整動作のためにデータ領域のデータを消去・破壊することのないようにするためである。
Ｓ３０４では、発光パワーとして記録パワーＰｗを設定する。すなわち、記録パワーＰｗに含まれるマーク、スペースのパターンを有するものとするが、高周波電流ＨＦを重畳するのはスペース区間のみである。記録パワーＰｗの信号は任意のデータ信号でも、あるいは調整用のテスト信号でも良い。
第３の調整方法によれば、実際の記録状態に最も近い状況で調整できるので、記録用ＨＦ振幅をより精度を高く取得することができる。
【００４４】
以上、本発明の実施例を具体的に述べたが、さらに次のような変形が可能である。
記録時の高周波電流（ＨＦ）の最適値を求めるために、上記実施例ではサーボ信号としてトラッキング信号（ＴＥ信号）の品質に着目したが、フォーカスエラー信号（ＦＥ信号）の品質を指標としても良い。また上記実施例では、高周波電流の振幅（ＨＦ振幅）を最適化するものであるが、これに代えて発光パワーの平均に対する高周波信号のピークレベルの割合（すなわち変調度）を最適化するようにしても良い。
【００４５】
多層ディスクにおいては、ディスク半径位置によって層間厚が変化する場合がある。そのような場合、層間厚により迷光が変化するため、半径位置を変えて複数個所で調整を実施し、各位置でのデータから任意の半径位置での最適値を補間すれば層間厚の影響を低減することができる。また、記録する層毎に迷光が変化するため、同様に記録層毎の調整をすることで、影響を低減することができる。
【００４６】
本実施例によれば、ディスクと装置の組合せ毎、あるいは動作環境の変化した際に高周波電流を最適に調整することができるので、常に安定な記録動作を実現する。また、調整のために評価するサーボ信号はディスクが未記録（新品）であっても取得できるので、装置を再生動作の状態で調整できる。すなわち、評価のためのテスト信号をディスクに記録する工程が不要となるため、調整時間を短縮する効果がある。さらに図６、図７に示す調整方法では、ディスク上の任意の半径位置（データ領域を含む）で、また任意のタイミング（記録動作の間や小休止中も可能）で調整可能であり、調整作業が極めて容易になる。
【符号の説明】
【００４７】
１…光ディスク、
２…スピンドルモータ、
３…光ピックアップ、
４…信号処理回路、
５…コントローラ、
１１…レーザダイオード、
１３…対物レンズ、
１５…光検出器、
１６…レーザ駆動回路、
１７…高周波電流制御回路、
１８…プリアンプ信号生成回路、
１９…再生回路、
２０…サーボ回路、
２１…電流増幅部、
２２…高周波電流駆動部、
２３…周波数設定部、
２４…第１の振幅設定部、
２５…第２の振幅設定部、
２６…スイッチ、
２７…加算器。
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光源の駆動電流に高周波電流を重畳して光ディスクにデータを記録する光ディスク装置において、
前記レーザ光源から前記光ディスクにレーザ光を照射し該光ディスクからの戻り光を検出する光ピックアップと、
該光ピックアップの検出信号を処理する信号処理回路と、
装置全体の動作を制御するコントローラを備え、
該コントローラは、前記レーザ光源の駆動電流に重畳する高周波電流を調整する際、
トラッキングサーボを外して前記光ディスクの所定の領域から信号を再生する状態とし、
前記光ピックアップに対しレーザ光源の駆動電流に振幅を変化させた高周波電流を重畳して前記信号処理回路によりトラッキングエラー信号を取得し、
該取得したトラッキングエラー信号の品質が最適となる高周波電流の振幅を決定し、
該決定した高周波電流の振幅を、前記光ディスクにデータを記録する際に前記レーザ光源の駆動電流に重畳する高周波電流の振幅として設定することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光ディスク装置において、
前記コントローラは、前記トラッキングエラー信号の品質として、該トラッキングエラー信号の振幅または振幅中心の一定期間内の変動量を指標とすることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
請求項１または２に記載の光ディスク装置において、
前記コントローラは、前記光ディスクにデータを記録する際、前記決定した振幅の高周波電流を記録データのスペース区間のみ重畳することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
請求項１または２に記載の光ディスク装置において、
前記光ピックアップには、前記光ディスクからデータを再生する際に重畳する高周波電流の振幅と、前記光ディスクにデータを記録する際に重畳する高周波電流の振幅とが保持され、前記コントローラからの再生／記録制御信号に同期して、対応する前記高周波電流の振幅を切替えて設定することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
レーザ光源の駆動電流に高周波電流を重畳して光ディスクにデータを記録する光ディスク記録方法において、
トラッキングサーボを外して前記光ディスクの所定の領域から信号を再生する状態とし、
前記レーザ光源の駆動電流に振幅を変化させた高周波電流を重畳してトラッキングエラー信号を取得し、
該取得したトラッキングエラー信号の品質が最適となる高周波電流の振幅を決定し、
該決定した振幅の高周波電流を前記レーザ光源の駆動電流に重畳して前記光ディスクにデータを記録することを特徴とする光ディスク記録方法。
【請求項６】
請求項５に記載の光ディスク記録方法において、
前記トラッキングエラー信号の品質として、該トラッキングエラー信号の振幅または振幅中心の一定期間内の変動量を指標とすることを特徴とする光ディスク記録方法。
【請求項７】
請求項５または６に記載の光ディスク記録方法において、
前記光ディスクにデータを記録する際、前記決定した振幅の高周波電流を記録データのスペース区間のみ重畳することを特徴とする光ディスク記録方法。
【請求項８】
請求項５または６に記載の光ディスク記録方法において、
前記したトラッキングエラー信号に基づく高周波電流の振幅の調整を、データを記録する光ディスクが変わる毎に実施することを特徴とする光ディスク記録方法。
【請求項９】
請求項８に記載の光ディスク記録方法において、
前記光ディスクが複数の記録層を持つ多層ディスクの場合、前記した高周波電流の振幅の調整を、前記光ディスクの半径位置を変えて複数箇所で実施することを特徴とする光ディスク記録方法。
【請求項１０】
請求項８に記載の光ディスク記録方法において、
前記光ディスクが複数の記録層を持つ多層ディスクの場合、前記した高周波電流の振幅の調整を、前記記録層毎に実施することを特徴とする光ディスク記録方法。
【請求項１】
レーザ光源の駆動電流に高周波電流を重畳して光ディスクにデータを記録する光ディスク装置において、
前記レーザ光源から前記光ディスクにレーザ光を照射し該光ディスクからの戻り光を検出する光ピックアップと、
該光ピックアップの検出信号を処理する信号処理回路と、
装置全体の動作を制御するコントローラを備え、
該コントローラは、前記レーザ光源の駆動電流に重畳する高周波電流を調整する際、
トラッキングサーボを外して前記光ディスクの所定の領域から信号を再生する状態とし、
前記光ピックアップに対しレーザ光源の駆動電流に振幅を変化させた高周波電流を重畳して前記信号処理回路によりトラッキングエラー信号を取得し、
該取得したトラッキングエラー信号の品質が最適となる高周波電流の振幅を決定し、
該決定した高周波電流の振幅を、前記光ディスクにデータを記録する際に前記レーザ光源の駆動電流に重畳する高周波電流の振幅として設定することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光ディスク装置において、
前記コントローラは、前記トラッキングエラー信号の品質として、該トラッキングエラー信号の振幅または振幅中心の一定期間内の変動量を指標とすることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
請求項１または２に記載の光ディスク装置において、
前記コントローラは、前記光ディスクにデータを記録する際、前記決定した振幅の高周波電流を記録データのスペース区間のみ重畳することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
請求項１または２に記載の光ディスク装置において、
前記光ピックアップには、前記光ディスクからデータを再生する際に重畳する高周波電流の振幅と、前記光ディスクにデータを記録する際に重畳する高周波電流の振幅とが保持され、前記コントローラからの再生／記録制御信号に同期して、対応する前記高周波電流の振幅を切替えて設定することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
レーザ光源の駆動電流に高周波電流を重畳して光ディスクにデータを記録する光ディスク記録方法において、
トラッキングサーボを外して前記光ディスクの所定の領域から信号を再生する状態とし、
前記レーザ光源の駆動電流に振幅を変化させた高周波電流を重畳してトラッキングエラー信号を取得し、
該取得したトラッキングエラー信号の品質が最適となる高周波電流の振幅を決定し、
該決定した振幅の高周波電流を前記レーザ光源の駆動電流に重畳して前記光ディスクにデータを記録することを特徴とする光ディスク記録方法。
【請求項６】
請求項５に記載の光ディスク記録方法において、
前記トラッキングエラー信号の品質として、該トラッキングエラー信号の振幅または振幅中心の一定期間内の変動量を指標とすることを特徴とする光ディスク記録方法。
【請求項７】
請求項５または６に記載の光ディスク記録方法において、
前記光ディスクにデータを記録する際、前記決定した振幅の高周波電流を記録データのスペース区間のみ重畳することを特徴とする光ディスク記録方法。
【請求項８】
請求項５または６に記載の光ディスク記録方法において、
前記したトラッキングエラー信号に基づく高周波電流の振幅の調整を、データを記録する光ディスクが変わる毎に実施することを特徴とする光ディスク記録方法。
【請求項９】
請求項８に記載の光ディスク記録方法において、
前記光ディスクが複数の記録層を持つ多層ディスクの場合、前記した高周波電流の振幅の調整を、前記光ディスクの半径位置を変えて複数箇所で実施することを特徴とする光ディスク記録方法。
【請求項１０】
請求項８に記載の光ディスク記録方法において、
前記光ディスクが複数の記録層を持つ多層ディスクの場合、前記した高周波電流の振幅の調整を、前記記録層毎に実施することを特徴とする光ディスク記録方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【公開番号】特開２０１２−１１３７８４（Ｐ２０１２−１１３７８４Ａ）
【公開日】平成２４年６月１４日（２０１２．６．１４）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１０−２６２３４０（Ｐ２０１０−２６２３４０）
【出願日】平成２２年１１月２５日（２０１０．１１．２５）
【出願人】（５０１００９８４９）株式会社日立エルジーデータストレージ (646)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２４年６月１４日（２０１２．６．１４）
【国際特許分類】
【出願日】平成２２年１１月２５日（２０１０．１１．２５）
【出願人】（５０１００９８４９）株式会社日立エルジーデータストレージ (646)
【Ｆターム（参考）】
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