光学ドライブ装置、ホモダイン検波方法
【課題】光記録媒体についてホモダイン検波による信号再生を行う場合において、面ブレ等に起因して生じる信号光と参照光の光路長差を補正するための高速な駆動手段が不要となるようにする。
【解決手段】ホモダイン方式において信号光（第１の光）に干渉させる参照光（第２の光）を従来のように光学系内に配置したミラーにて反射させるのではなく、光記録媒体に照射して反射させる。このことで、光記録媒体の面ブレが生じた場合において、参照光の光路長をそれに追従させるように変化させることができ、フォーカスサーボ制御により面ブレに追従するように対物レンズが駆動されたとしても、信号光の光路長と参照光の光路長とに差が生じないようにできる。この結果、参照光の光路長を信号光のフォーカスサーボ制御に連動して高速に変化させるための駆動手段は不要とできる。
【解決手段】ホモダイン方式において信号光（第１の光）に干渉させる参照光（第２の光）を従来のように光学系内に配置したミラーにて反射させるのではなく、光記録媒体に照射して反射させる。このことで、光記録媒体の面ブレが生じた場合において、参照光の光路長をそれに追従させるように変化させることができ、フォーカスサーボ制御により面ブレに追従するように対物レンズが駆動されたとしても、信号光の光路長と参照光の光路長とに差が生じないようにできる。この結果、参照光の光路長を信号光のフォーカスサーボ制御に連動して高速に変化させるための駆動手段は不要とできる。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、いわゆるホモダイン検波による信号再生を行う光学ドライブ装置と、ホモダイン検波方法とに関する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００２】
【特許文献１】特開２００８−２６９６８０号公報
【背景技術】
【０００３】
光の照射により信号の記録／再生が行われる光記録媒体として、例えばＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＢＤ（Blu-ray Disc：登録商標）などのいわゆる光ディスクが普及している。
【０００４】
このような光ディスクに関し、検出信号（再生信号）のＳ／Ｎの低下を改善するための手法として上記特許文献１に開示されるようなホモダイン方式が提案されている。
周知のようにホモダイン方式は、検出対象とする光（信号光）に対し、同波長（同位相）の光を干渉させた光と、逆位相の光を干渉させた光とをそれぞれ個別に受光し、それらの受光信号の差分をとることで、信号増幅とノイズの抑制の双方が図られるようにするものである。
【０００５】
図２０は、ホモダイン方式により信号再生を行う従来例としての光学ドライブ装置の構成例を示している。
図示するようにレーザ（半導体レーザ）１０１より出射されたレーザ光は、コリメーションレンズ１０２を介して平行光となるようにされた後、λ／２板（１／２波長板）１０３を介して偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ）１０４に入射する。
この場合、偏光ビームスプリッタ１０４は、Ｐ偏光を透過しＳ偏光を反射するように構成されているとする。その上で、上記λ／２板１０３の取り付け角度（レーザ光の入射面内における回転角度）は、上記偏光ビームスプリッタ１０４による分光比（Ｐ偏光成分：Ｓ偏光成分）が１：１となるように設定されているとする。
【０００６】
偏光ビームスプリッタ１０４を透過したレーザ光（Ｐ偏光成分）は、λ／４板（１／４波長板）１０５を介した後、図のように２軸アクチュエータ１０７により保持された対物レンズ１０７を介して光記録媒体１００の記録層（反射膜）１００ａに集光するように照射される。
【０００７】
このように光記録媒体１００に対してレーザ光が照射されることに応じては、上記記録層１００ａからの反射光（以下、信号光とも称する）が得られる。該反射光は、対物レンズ１０７→λ／４板１０５を介した後、偏光ビームスプリッタ１０４に入射する。
ここで、このように偏光ビームスプリッタ１０４に入射する反射光は、上記λ／４板１０５による作用と記録層１００ａ上での反射時の作用とにより、その偏光方向が、レーザ１００側から入射し該偏光ビームスプリッタ１０４を透過した光（往路光とする）の偏光方向に対して９０°異なるものとなっている。すなわち上記反射光はＳ偏光となる。
このため上記反射光は、偏光ビームスプリッタ１０４にて反射される。
【０００８】
偏光ビームスプリッタ１０４にて反射された上記反射光は、図のようにλ／２板１０８、偏光ビームスプリッタ１０９、集光レンズ１１０、第１ホモダイン検波用受光部１１１、集光レンズ１１２、及び第２ホモダイン検波用受光部１１３を有するホモダイン検波用光学系に入射する。
なお、該ホモダイン検波用光学系による作用については後述する。
【０００９】
また、この場合の光学ドライブ装置においては、上述した偏光ビームスプリッタ１０４により反射されたＳ偏光成分が、ホモダイン検波用の参照光として機能する。図示するように偏光ビームスプリッタ１０４により生成（反射）された参照光は、λ／４板１１４を介した後、ミラー１１５にてその光軸が１８０°折り返されるようにして反射される。
該ミラー１１５にて反射された参照光は、再度、λ／４板１１４を介して偏光ビームスプリッタ１０４に入射する。
【００１０】
このように偏光ビームスプリッタ１０４に入射する参照光は、λ／４板１１４による作用とミラー１１５における反射の作用とにより、その偏光方向が、往路光としての参照光とは９０°異なるものとされる（つまりＰ偏光となる）。従って該参照光は、偏光ビームスプリッタ１０４を透過することとなる。
偏光ビームスプリッタ１０４を透過した参照光としても、上述したホモダイン検波用光学系に対して入射する。
【００１１】
ここで、上記のように偏光ビームスプリッタ１０４を透過した参照光（Ｐ偏光）と、上述のように偏光ビームスプリッタ１０４にて反射された信号光（Ｓ偏光）とは、その偏光方向が直交する関係となっており、この時点では光の干渉は発生しない。
【００１２】
この場合、ホモダイン検波用光学系におけるλ／２板１０８は、上記のように偏光ビームスプリッタ１０４側より入射する信号光と参照光の偏光方向を、光の進行方向に対し時計回りに４５°回転させるようにその取り付け角度（回転角度）が調整されている。
また、該λ／２板１０８を介した光が入射される偏光ビームスプリッタ１０９としては、先の偏光ビームスプリッタ１０４と同様にＰ偏光を透過、Ｓ偏光を反射するように構成されており、従って該偏光ビームスプリッタ１０９によっては、その透過光と反射光とによって、信号光・参照光の双方が、それぞれ偏光方向の直交する光に分光されることになる。
【００１３】
このとき、上記偏光ビームスプリッタ１０９を透過した信号光・参照光は、共にＰ偏光であり、従ってこれらの光は同位相の光として集光レンズ１１０を介して第１ホモダイン検波用受光部１１１上に集光される。つまりこの結果、第１ホモダイン検波用受光部１１１側では、信号光に対し、該信号光と同位相の参照光が合成された（干渉した）光が受光されることになる。
【００１４】
一方、偏光ビームスプリッタ１０９にて反射された信号光・参照光については、上述のようにλ／２板１０８によりそれらの光の偏光方向が時計回りに４５°回転されることと、該偏光ビームスプリッタ１０９の分光面上での反射時の作用とにより、参照光の位相が、信号光の位相に対して１８０°異なるようにされる。
図示するように偏光ビームスプリッタ１０９にて反射された信号光・参照光は、集光レンズ１１２を介して第２ホモダイン検波用受光部１１３上に集光され、この結果、第２ホモダイン検波用受光部１１３側では、信号光に対して、該信号光とは逆位相となる参照光が合成された（干渉した）光が受光されることになる。
【００１５】
図示するように第１ホモダイン検波用受光部１１１による受光信号（第１ホモダイン検波用信号とする）、及び第２ホモダイン検波用受光部１１３による受光信号（第２ホモダイン検波用信号とする）は、減算器１１７に供給される。
減算器１１７は、上記第１ホモダイン検波用信号から上記第２ホモダイン検波用信号を減算する。これにより、信号光成分の増幅とノイズ成分の抑圧とが図られたホモダイン検波信号が得られる。
【００１６】
ここで、上記のようなホモダイン方式は、光の干渉効果を利用したものであり、その実現のためには信号光と参照光の光路長を可干渉距離内に収める必要性がある。
光記録媒体についての記録／再生を行う光学ドライブ装置においては、光源として半導体レーザ（レーザダイオード）を用いるが、一般的に半導体レーザの可干渉距離は比較的短いものとされている。特に、光ディスクシステムで用いる場合は、レーザ発振に起因するノイズを低減するためにレーザ駆動信号に高周波パルスを印加する（いわゆる高周波重畳）ということが行われるので、可干渉距離は短く、例えば０．１ｍｍ程度となる。
【００１７】
そして、このとき注意すべきは、光ディスクシステムにおいては、いわゆるフォーカスサーボ制御により、光記録媒体１００の面ブレに追従するようにして対物レンズ１０６が駆動されるという点である。
具体的に、光ディスクシステムにおいて、フォーカスサーボ制御による信号光の光路長の変化量は、およそ０．４ｍｍ程度とされる。従って、上記により説明した構成のままでは、信号光と参照光の光路長差が上記の可干渉距離０．１ｍｍを超えてしまう場合があり、ホモダイン検波を適正に行うことができなくなってしまう。
【００１８】
この点を考慮して上記特許文献１では、図２０に示す１軸アクチュエータ１１６を設けて、信号光の光路長の変化量に応じて参照光の光路長を調整するものとしている。具体的には、該１軸アクチュエータ１１６により、対物レンズ１０６のフォーカス方向の動きに追従させるようにミラー１１５を光軸に平行な方向に駆動するというものである。
これにより、対物レンズ１０６のフォーカスサーボ制御が行われる下でも、信号光と参照光の光路長差を可干渉距離内に収めることができ、ホモダイン検波が適正に行われるようにすることができる。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１９】
しかしながら、上記のようにフォーカスサーボによる対物レンズ１０６の動きに追従させるようにミラー１１５を駆動するためには、高速な駆動手段を備える必要があり、その点でコストアップに繋がる。また、対物レンズ１０６のフォーカスサーボ系からの信号に基づき駆動信号を生成するためには、比較的高速な演算処理を行う必要性があり、回路構成の複雑化や処理負担の増大化を招く。
【課題を解決するための手段】
【００２０】
上記のような問題点に鑑み、本発明では光学ドライブ装置として以下のように構成することとした。
光源より出射された光を第１の光と第２の光とに分光し、上記第１の光を対物レンズを介して光記録媒体に照射し、上記第２の光を平行光により上記光記録媒体に照射すると共に、上記光記録媒体から得られる上記第１の光の反射光と上記第２の光の反射光とを互いの偏光方向が直交した状態で同軸に合成する分光照射合成部を備える。
また、上記分光照射合成部において合成された上記第１の光の反射光と上記第２の光の反射光とを入力し、上記第１の光の反射光に対して該第１の光の反射光と同位相となる上記第２の光の反射光を干渉させた光と、上記第１の光の反射光に対して該第１の光の反射光と逆位相となる上記第２の光の反射光を干渉させた光とを生成するホモダイン検波用光生成部を備える。
また、上記第１の光の反射光に対して該第１の光の反射光と同位相となる上記第２の光の反射光を干渉させた光を受光する第１の受光部を備える。
また、上記第１の光の反射光に対して該第１の光の反射光と逆位相となる上記第２の光の反射光を干渉させた光を受光する第２の受光部を備える。
さらに、上記第１の受光部による受光信号と上記第２の受光部による受光信号との差分を計算してホモダイン検波信号を得る演算部を備えるようにした。
【００２１】
上記のように本発明では、ホモダイン方式において信号光（第１の光）に干渉させる参照光（第２の光）を、従来のように光学系内に配置したミラーにて反射させるのではなく、光記録媒体に照射して反射させるものとしている。このことで、光記録媒体の面ブレが生じた場合において、参照光の光路長をそれに追従させるように変化させることができ、従って、面ブレに追従するように対物レンズが駆動されたとしても、信号光の光路長と参照光の光路長とに差が生じないようにすることができる。
【発明の効果】
【００２２】
本発明によれば、光記録媒体の面ブレが生じた場合においても、信号光の光路長と参照光の光路長とに差が生じないようにすることができる。
この結果、参照光の光路長を信号光のフォーカスサーボ制御に連動して高速に変化させるための構成は不要とすることができる。
【図面の簡単な説明】
【００２３】
【図１】第１及び第２の実施の形態で記録再生対象とする光記録媒体の断面構造を示した図である。
【図２】第１の実施の形態の光学ドライブ装置が備える光ピックアップの構成について説明するための図である。
【図３】第１の実施の形態としての光学ドライブ装置の内部構成について説明するための図である。
【図４】参照光の光軸ずれを検出するための受光部の構造例を示した図である。
【図５】第２の実施の形態の光学ドライブ装置が備える光ピックアップの構成について説明するための図である。
【図６】第２の実施の形態としての光学ドライブ装置の内部構成について説明するための図である。
【図７】バルク記録方式について説明するための図である。
【図８】マイクロホログラム方式について説明するための図である。
【図９】ネガ型マイクロホログラム方式について説明するための図である。
【図１０】実施の形態で記録再生対象とするバルク型記録媒体の断面構造を示した図である。
【図１１】バルク型記録媒体に対するマーク記録時の動作について説明するための図である。
【図１２】バルク型記録媒体の記録再生を行うための光学系の概要について説明するための図である。
【図１３】バルク型記録媒体の再生時におけるサーボ制御について説明するための図である。
【図１４】第３の実施の形態の光学ドライブ装置が備える光ピックアップの構成について説明するための図である。
【図１５】光路長補正部について説明するための図である。
【図１６】第３の実施の形態としての光学ドライブ装置の内部構成について説明するための図である。
【図１７】第４の実施の形態の光学ドライブ装置が備える光ピックアップの構成について説明するための図である。
【図１８】第４の実施の形態としての光学ドライブ装置の内部構成について説明するための図である。
【図１９】変形例としてのバルク型記録媒体の断面構造を示した図である。
【図２０】従来例としての光学ドライブ装置の構成を示した図である。
【発明を実施するための形態】
【００２４】
以下、発明を実施するための最良の形態（以下実施の形態とする）について説明していく。
なお、説明は以下の順序で行うものとする。
＜１．第１の実施の形態＞
[1-1．記録再生対象とする光記録媒体]
[1-2．光学ドライブ装置の構成]
[1-3．まとめ]
＜２．第２の実施の形態＞
[2-1．光学ドライブ装置の構成]
＜３．第３の実施の形態＞
[3-1．バルク型記録媒体について]
[3-2．バルク型記録媒体の記録再生手法について]
[3-3．光学ドライブ装置の構成]
＜４．第４の実施の形態＞
[4-1．光学ドライブ装置の構成]
＜５．変形例＞
【００２５】
＜１．第１の実施の形態＞
[1-1．記録再生対象とする光記録媒体]
図１は、第１の実施の形態において記録再生対象とする光記録媒体１の断面構造を示した図である。
この光記録媒体１は、ディスク状の光記録媒体とされ、回転駆動される光記録媒体１に対するレーザ光照射が行われて記録信号の再生が行われる。
光記録媒体１は、記録可能型、再生専用型の何れの光記録媒体とされてもよく、記録可能型の場合においては、回転駆動される光記録媒体１に対してレーザ光を照射してマーク記録が行われる。
なお光記録媒体とは、光の照射により情報の記録／再生が行われる記録媒体を総称したものである。
【００２６】
図１に示されるように光記録媒体１には、上層側から順にカバー層２、記録層（反射膜）３、基板４が形成されている。
ここで、本明細書において「上層側」とは、後述する実施の形態としての光学ドライブ装置側からのレーザ光が入射する面を上面としたときの上層側を指す。つまりこの場合、光記録媒体１に対しては、カバー層２側からレーザ光が入射することになる（図２（ｂ）等を参照）。
【００２７】
光記録媒体１において、基板４は、例えばポリカーボネートやアクリルなどの樹脂で構成され、図示するようにその上面側には、記録／再生位置を案内するための案内溝の形成に伴う凹凸の断面形状が与えられている。
上記案内溝としては、連続溝（グルーブ）、又はピット列で形成される。例えば光記録媒体１が再生専用型ディスクであり、上記案内溝がピット列で形成される場合、ピットとランドの長さの組み合わせにより情報記録が行われる。或いは、光記録媒体１が記録可能型ディスクであり、上記案内溝がグルーブとされる場合、当該グルーブを周期的に蛇行（ウォブル）させて形成することで、該蛇行の周期情報により位置情報（絶対位置情報：例えば回転角度情報や半径位置情報など）が記録される。
基板４は、このような案内溝（凹凸形状）が形成されたスタンパを用いた射出成形などにより生成される。
【００２８】
また、上記案内溝が形成された基板４の上面側には、記録層３が形成される。
光記録媒体１が再生専用型ディスクである場合、上記記録層３は、例えば金属膜などによる反射膜が成膜されて形成されたものとなる。
また、光記録媒体１が記録可能型ディスクである場合、上記記録層３は、反射膜が成膜された上で、その上層に記録材料が成膜されて形成されたものとなる。
何れにしても記録層３は、入射光を反射する反射膜として機能する。
【００２９】
上記記録層３の上層側に形成されるカバー層２は、例えば紫外線硬化樹脂をスピンコート法等により塗布した後、紫外線照射による硬化処理を施すことで形成されたものとなる。
【００３０】
[1-2．光学ドライブ装置の構成]
図２は、上記光記録媒体１についてホモダイン方式による信号再生を行う第１の実施の形態としての光学ドライブ装置が備える光ピックアップＯＰ１の内部構成について説明するための図である。
図２（ａ）は、光ピックアップＯＰ１を光記録媒体１の面内方向に平行な方向で切断したときの断面図を示している。またこの図２（ａ）では、光記録媒体１のディスク中心Ｃと、光記録媒体１の外縁（図中グレーによる太線）も併せて示している。
また図２（ｂ）は、光ピックアップＯＰ１内におけるミラー１６、第２ガルバノミラー２７のそれぞれから光記録媒体１の表面までの間に設けられる構成を、図２（ａ）に示す矢印Ｙの方向から見たときの断面図によって示している。
【００３１】
図２（ａ）において、光ピックアップＯＰ１内には、光記録媒体１に対する記録再生を行うためのレーザ光の光源となるレーザ（半導体レーザ）１０が設けられている。
該レーザ１０より出射されたレーザ光は、コリメーションレンズ１１を介して平行光となるようにされた後、λ／２板（１／２波長板）１２を介して偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ）１３に入射する。
【００３２】
このとき、上記偏光ビームスプリッタ１３は、例えばＰ偏光を透過しＳ偏光を反射するように構成されているとする。その上で、上記λ／２板１２の取り付け角度（レーザ光の入射面内における回転角度）は、上記偏光ビームスプリッタ１３を透過して出力される光（Ｐ偏光成分）と反射して出力される光（Ｓ偏光成分）との比率（すなわち偏光ビームスプリッタ１３による分光比）が１：１となるように調整されているとする。
【００３３】
偏光ビームスプリッタ１３を透過したレーザ光は、λ／４板（１／４波長板）１４を介した後、光路長補正板１５に入射する。
光路長補正板１５は、信号光と参照光の光路長を設計上一致させるために挿入されたものである。すなわち、例えば光学ドライブ装置が製品として出荷される前段階で、光路長についての微調整を予め行っておくために挿入されたものである。
【００３４】
光路長補正板１５を介したレーザ光はミラー１６に入射する。図２（ｂ）に示されるように、このようにミラー１６に入射したレーザ光は、その光軸が９０°折り曲げられるようにして反射され、２軸アクチュエータ１８により保持された対物レンズ１７を介して、光記録媒体１の記録層３に集光するようにして照射される。
【００３５】
上記２軸アクチュエータ１８は、対物レンズ１７をフォーカス方向（光記録媒体１に対して接離する方向）及びトラッキング方向（光記録媒体１の半径方向に平行な方向：上記フォーカス方向とは直交関係となる方向）に変位可能に保持する。
２軸アクチュエータ１８にはフォーカスコイル、トラッキングコイルが備えられており、これらフォーカスコイル、トラッキングコイルにそれぞれ後述するフォーカスドライブ信号ＦＤ、トラッキングドライブ信号ＴＤが供給されることで、対物レンズ１７を上記フォーカス方向、トラッキング方向にそれぞれ変位させる。
【００３６】
ここで図２（ａ）を参照して分かるように、本例の場合、光学系の配置方向は、光源であるレーザ１０側からミラー１６へと入射するレーザ光の光軸の方向（及び後述する第１ガルバノミラー２５にて反射され第２ガルバノミラー２７に入射する参照光の光軸の方向）が、光記録媒体１に形成されるトラック（案内溝：図中の破線部）の形成方向に対し４５°の角度を為すようにして設定されている。
これは、対物レンズ１７を介したレーザ光の集光位置と、第２ガルバノミラー２７を介して光記録媒体１に照射される参照光の照射位置（照射光軸の位置）とが同一トラック上（すなわち同じ半径位置）に並ぶようにするためである。
なおこのことからも理解されるように、図２（ａ）において上記トラッキング方向とは、紙面右斜め方向に平行な方向となる。
【００３７】
説明を戻す。
上述のように記録層３に対してレーザ光が照射されることに応じては、該記録層３からの反射光（信号光）が得られる。該反射光は、図２（ｂ）に示す対物レンズ１７を介しミラー１６にて反射された後、図２（ａ）に示す光路長補正板１５→λ／４板１４を介して、上述した偏光ビームスプリッタ１３に入射する。
【００３８】
ここで、このように偏光ビームスプリッタ１３に入射する反射光は、上記λ／４板１４による作用と記録層３上での反射時の作用とにより、その偏光方向が、レーザ１０側から入射し該偏光ビームスプリッタ１３を透過した光（往路光とする）の偏光方向に対して９０°異なるものとなっている。すなわち上記反射光はＳ偏光となる。
このため上記のように入射した反射光は、偏光ビームスプリッタ１３にて反射される。
【００３９】
偏光ビームスプリッタ１３にて反射された上記反射光は、図中の無偏光ビームスプリッタ（ＢＳ）１９においてその一部が透過、一部が反射される。
無偏光ビームスプリッタ１９にて反射された反射光は、λ／２板２０、集光レンズ２１、偏光ビームスプリッタ２２、第１ホモダイン検波用受光部２３、及び第２ホモダイン検波用受光部２４を有して構成されるホモダイン検波用光学系に入射する。
このホモダイン検波用光学系による作用については後述する。
【００４０】
また、本実施の形態の光学ドライブ装置において、レーザ１０より出射され上述した偏光ビームスプリッタ１３にて反射・出力されたレーザ光（Ｓ偏光）は、ホモダイン方式における参照光として機能する。
このように偏光ビームスプリッタ１３より出力された参照光は、図中の第１ガルバノミラー２５により、その光軸が略９０°（例えば第１ガルバノミラー２５が初期位置の状態において９０°）折り曲げられるようにして反射された後、λ／４板２６を介して、第２ガルバノミラー２７に入射する。
【００４１】
第２ガルバノミラー２７に入射した参照光は、図２（ｂ）に示すようにしてその光軸が略９０°（例えば第１ガルバノミラー２５が初期位置の状態において９０°）折り曲げられるようにして反射され、平行光の状態にて光記録媒体１に対して照射される。
【００４２】
このように光記録媒体１に対して参照光が照射されることに応じては、記録層３より該参照光の反射光が得られる。記録層３により反射された参照光は、第２ガルバノミラー２７にて反射され、図２（ａ）に示すλ／４板２６を介した後、第１ガルバノミラー２５にて反射されて偏光ビームスプリッタ１３に入射する。
【００４３】
このように偏光ビームスプリッタ１３に入射する参照光は、λ／４板２６による作用と記録層３における反射時の作用とにより、その偏光方向が、往路光としての参照光とは９０°異なるものとされる（つまりＰ偏光となる）。従って該参照光は偏光ビームスプリッタ３を透過する。
【００４４】
このように偏光ビームスプリッタ１３を透過した参照光としても、上述した信号光と同様に無偏光ビームスプリッタ１９に入射し、該無偏光ビームスプリッタ１９にてその一部が透過、一部が反射される。
無偏光ビームスプリッタ１９にて反射された参照光は、上述したホモダイン検波用光学系に対して入射する。
【００４５】
ホモダイン検波用光学系において、上記無偏光ビームスプリッタ１９にて反射された信号光及び参照光は、λ／２板２０→集光レンズ２１を介した後、偏光ビームスプリッタ２２に入射する。該偏光ビームスプリッタ２２としても、先の偏光ビームスプリッタ１３と同様にＰ偏光を透過しＳ偏光を透過するように構成されている。
図のように偏光ビームスプリッタ２２にて反射された光は、第１ホモダイン検波用受光部２３の受光面上に集光し、また偏光ビームスプリッタ２２を透過した光は第２ホモダイン検波用受光部２４の受光面上に集光する。
【００４６】
ここで、先に説明したようにして偏光ビームスプリッタ１３で反射された信号光（Ｓ偏光）と、偏光ビームスプリッタ１３を透過した参照光（Ｐ偏光）は、その偏光方向が互いに直交する関係となっており、この時点では光の干渉は生じない。
【００４７】
上記ホモダイン検波用光学系において、λ／２板２０は、無偏光ビームスプリッタ１９側より入射する信号光と参照光の偏光方向を、光の進行方向に対し時計回りに４５°回転させるようにその取り付け角度（回転角度）が調整されている。
また上記ホモダイン検波用光学系において、偏光ビームスプリッタ２２によっては、その透過光と反射光とによって、信号光・参照光の双方が、それぞれ偏光方向の直交する光に分光されることになる。
【００４８】
このとき、上記偏光ビームスプリッタ２２を透過した信号光・参照光は、共にＰ偏光であり、従ってこれらの光は同位相の光として第１ホモダイン検波用受光部２３に集光される。つまりこの結果、第１ホモダイン検波用受光部２３側では、信号光に対し、該信号光と同位相の参照光が合成された（干渉した）光が受光されることになる。
図示するように、当該第１ホモダイン検波用受光部２３による受光信号については、受光信号Ｄ_hm1とする。
【００４９】
一方、偏光ビームスプリッタ２２にて反射された信号光・参照光については、上述のようにλ／２板２０によりそれらの光の偏光方向が時計回りに４５°回転されることと、該偏光ビームスプリッタ２２の分光面上での反射時の作用とにより、参照光の位相が、信号光の位相に対して１８０°異なるようにされる。
このことで、第２ホモダイン検波用受光部１１３側では、信号光に対して、該信号光とは逆位相となる参照光が合成された（干渉した）光が受光されることになる。
当該第２ホモダイン検波用受光部２４による受光信号については、受光信号Ｄ_hm2とする。
【００５０】
ここで、これまでの説明からも理解されるように、本実施の形態においては、ホモダイン方式による信号再生を行う場合において信号光と干渉させる参照光（平行光）を、従来のように光学系内に設けたミラーにて反射させるものとはせず、光記録媒体１に対して照射して反射させるものとしている。
このような構成によれば、フォーカスサーボ制御に伴い光記録媒体１の面ブレに追従するように対物レンズ１７が駆動されて信号光の光路長が変化してしまっても、参照光の光路長も面ブレに追従するように変化されることになるため、結果として、面ブレに起因した信号光と参照光の光路長差が生じないようにできる。
つまりこのことで、参照光の光路長を信号光のフォーカスサーボ制御に連動して高速に変化させるための構成は不要とすることができる。
【００５１】
なお確認のために述べておくと、図２においてミラー１６、第２ガルバノミラー２７を設けて偏光ビームスプリッタ１３による分光後のそれぞれの光を９０°反射して光記録媒体１に対して照射する構成としているのは、信号光の光路長と参照光の光路長とを揃えるためである。
ここで、平行光としての参照光を光記録媒体１に対して照射するためには、参照光を対物レンズ１７を介さずに照射する必要があり、従って参照光は、対物レンズ１７を介したレーザ光の集光位置とは異なる位置に照射することとなる。このように参照光の照射位置をずらす必要があるため、例えば先の図２０に示したように９０°反射させない構成とした場合には、参照光の光路長は必然的に信号光の光路長よりも長くなってしまう。そこで、図２のように分光後のそれぞれの光を９０°反射して照射する構成とすることで、ミラー１６及び第２ガルバノミラー２７の配置位置の設定により、信号光と参照光の光路長を揃えることが可能となるようにしている。
【００５２】
また確認のために述べておくと、面ブレは半径位置が異なるとその発生量も異なる。このため本例では、上述のように光学系を４５°配置とすることで、対物レンズ１７を介したレーザ光の照射半径位置と参照光の照射半径位置とが同じとなるようにし、半径位置の違い起因した光路長差が生じないようにしている。
【００５３】
また、面ブレの発生量は光記録媒体１の角度位置によっても異なる。このため、対物レンズ１７を介したレーザ光の照射半径位置と参照光の照射半径位置は、周方向（トラック形成方向）において近接させることが望ましい。
【００５４】
ところで、上記のように参照光を光記録媒体１に対して平行光により照射する本実施の形態においては、いわゆるチルトが発生した場合に、参照光の光記録媒体１からの反射光の光軸が、往路光としての参照光の光軸と一致しないものとなってしまう。つまりこのことからも理解されるように、チルトの発生に応じては、信号光と参照光とに光軸のずれが生じてしまうこととなる。
【００５５】
先にも述べたように、ホモダイン方式は、光干渉を利用して信号増幅を図る方式であり、従って適正なホモダイン検波信号が得られるようにするためには、信号光と参照光の光軸が一致していることが望ましいものとなる。
このとき、光軸ずれによってホモダイン検波に与えられる影響が無視できる程度に軽微であるときには、特段の対処は不要であるが、再生信号の更なるＳ／Ｎの改善を図るとした場合等には、上記のような信号光と参照光の光軸ずれは可能な限り補正されることが望ましい。
【００５６】
そこで、本実施の形態では、チルトによる参照光の光軸ずれを補正するための構成を設けるものとしている。
具体的に、図２に示す光ピックアップＯＰ１内において、チルト補正のための構成としては、図中の偏光ビームスプリッタ２８、集光レンズ２９、軸ずれ検出用受光部３０と、上述した第１ガルバノミラー２５、第２ガルバノミラー２７とが該当する。
【００５７】
前者の偏光ビームスプリッタ２８、集光レンズ２９、軸ずれ検出用受光部３０は、光軸ずれ量の検出光学系を構成するものとなる。
上記偏光ビームスプリッタ２８には、先に述べた無偏光ビームスプリッタ１９を透過した信号光（Ｓ偏光）と参照光（Ｐ偏光）が入射される。この偏光ビームスプリッタ２８としても、Ｐ偏光を透過、Ｓ偏光を反射するように構成されており、従って上記無偏光ビームスプリッタ１９側から入射した信号光は偏光ビームスプリッタ２８にて反射され、参照光のみが偏光ビームスプリッタ２８を透過することになる。
【００５８】
図示するように偏光ビームスプリッタ２８を透過した参照光は、集光レンズ２８を介して軸ずれ検出用受光部３０の受光面上に集光する。
該軸ずれ検出用受光部３０により得られた受光信号は、受光信号Ｄ_axdと称する。
【００５９】
なお、上記受光信号Ｄ_axdに基づく具体的な軸ずれ量の検出手法や、第１ガルバノミラー２５や第２ガルバノミラー２７を用いた具体的な補正手法については後に改めて説明を行う。
【００６０】
図３は、第１の実施の形態の光学ドライブ装置全体の内部構成について説明するための図である。
なお図３において、光ピックアップＯＰ１については、レーザ１０、２軸アクチュエータ１８、第１ガルバノミラー２５、第２ガルバノミラー２７のみを抽出して示している。
【００６１】
図示するように光ピックアップＯＰ１の外部には、記録／再生系の構成として、記録処理部３１、第１再生信号生成回路３２、第２再生信号生成回路３３、減算部３４、再生処理部３５が設けられている。
【００６２】
上記記録処理部３１には、光記録媒体１に対して記録すべきデータ（記録データ）が入力される。記録処理部３１は、入力された記録データに対してエラー訂正符号の付加や所定の記録変調符号化を施すなどして、光記録媒体１に実際に記録される「０」「１」の２値データ列である記録変調データ列を得る。その上で、このように生成した記録変調データ列に基づくレーザ１０の発光駆動を行う。
【００６３】
第１再生信号生成回路３２は、図２に示した第１ホモダイン検波用受光部２３により得られた受光信号Ｄ_hm1に基づき、信号光に対して同位相の参照光が干渉した光についての再生信号を得る。
また、第２再生信号生成回路３３は、図２に示した第２ホモダイン検波用受光部２４により得られた受光信号Ｄ_hm2に基づき、信号光に対して逆位相の参照光が干渉した光についての再生信号を得る。
【００６４】
ここで、本例の場合において、図２に示した第１ホモダイン検波用受光部２３及び第２ホモダイン検波用受光部２４としては共に分割ディテクタにより構成されており、受光信号Ｄ_hm1、受光信号Ｄ_hm2としては、それぞれの受光素子からの受光信号を包括して表したものとなる。
上記第１再生信号生成回路３２、上記第２再生信号生成回路３３は、上記受光信号Ｄ_hm1、受光信号Ｄ_hm2としての、複数の受光素子からの受光信号の和を計算することで上記再生信号を得る。
【００６５】
第１再生信号生成回路３２、第２再生信号生成回路３３により得られたそれぞれの再生信号は、減算部３４に供給される。
減算部３４は、再生信号生成回路３２より供給される再生信号から、第２再生信号生成回路３３より供給される再生信号を減算する。
これにより、ホモダイン検波信号が得られる。
【００６６】
ここで、先の図２において説明した通り、信号光と参照光の分光比は１：１に設定されている。この点を踏まえると、第１ホモダイン検波用受光部２３による受光信号Ｄ_hm1、すなわち信号光に同位相の参照光が干渉した光を受光（自乗検波）した結果は、次の［式１］のように表すことができる。
【数１】
但し［式１］において、Ｅsigは信号光の電場を表し、Ｅrefは参照光の電場を表す。またφsigは信号光の位相を表し、φrefは参照光の位相を表す。
この［式１］を展開して、
【数２】
とおく。
【００６７】
一方、第２ホモダイン検波用受光部２４による受光信号Ｄ_hm2、すなわち信号光に逆位相の参照光が干渉した光を受光（自乗検波）した結果は、次の［式３］のように表すことができる。
【数３】
この［式３］についても展開して、
【数４】
とおく。
【００６８】
減算部３４による減算処理は、受光信号Ｄ_hm1と受光信号Ｄ_hm2との差分を計算していることに相当するものであり、これは下記［式５］のように表すことができる。
【数５】
【００６９】
上記減算部３４により得られたホモダイン検波信号は、再生処理部３５に供給される。
再生処理部３５は、上記ホモダイン検波信号について２値化処理や記録変調符号の復号化・エラー訂正処理など、上述した記録データを復元するための再生処理を行い、上記記録データを再生した再生データを得る。
【００７０】
また、光学ドライブ装置内には、レーザ光の照射位置制御を行うための構成として信号光生成回路３６、位置情報検出部３７、サーボ回路３８が設けられている。
信号生成回路３６は、図２に示した第２ホモダイン検波用受光部２４からの受光信号Ｄ_hm2に基づき、位置制御のために必要となる各種の信号を生成する。具体的には、対物レンズ１７についてのフォーカスサーボ制御のためのフォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングサーボ制御のためのトラッキングエラー信号ＴＥを生成する。
また、光記録媒体１が記録可能型ディスクである場合に対応してウォブリンググルーブにより記録される絶対位置情報（半径位置情報や回転角度情報）を検出するための信号として、プッシュプル信号ＰＰを生成する。
【００７１】
図示するようにフォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号ＴＥはサーボ回路３８に対して供給される。
またプッシュプル信号ＰＰは位置情報検出部３７に対して供給される。
【００７２】
なお、ここではフォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号ＴＥなど再生信号以外の位置制御のための信号が、第２ホモダイン検波用受光部２４による受光信号Ｄ_hm2に基づき生成される場合の構成を例示しているが、これら位置制御のための各種の信号は第１ホモダイン検波用受光部２３による受光信号Ｄ_hm1に基づき生成することも勿論可能である。
また、ホモダイン検波用の再生信号のみを生成する側の受光部については、分割ディテクタである必要がないことは言うまでもない。
【００７３】
位置情報検出部３７は、上記プッシュプル信号ＰＰに基づき光記録媒体１に記録された絶対位置情報を検出する。
検出された絶対位置情報はコントローラ３９に対して供給される。
【００７４】
サーボ回路３８は、フォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号ＴＥに基づきフォーカスサーボ信号、トラッキングサーボ信号をそれぞれ生成し、これらフォーカスサーボ信号、トラッキングサーボ信号に基づくフォーカスドライブ信号ＦＤ、トラッキングドライブ信号ＴＤに基づいて、光ピックアップＯＰ１内における２軸アクチュエータ１８のフォーカスコイル、トラッキングコイルを駆動することで、対物レンズ１７についてのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御を行う。
【００７５】
また、サーボ回路３８は、コントローラ３９からの指示に応じて、トラッキングサーボループをオフとして２軸アクチュエータ１８のトラッキングコイルにジャンプパルスを与えることでトラックジャンプ動作を実現したり、トラッキングサーボの引き込み制御等も行う。また、フォーカスサーボの引き込み制御等も行う。
【００７６】
コントローラ３９は、例えばＣＰＵ（Central Processing Unit）やＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）などのメモリ（記憶装置）を備えたマイクロコンピュータで構成され、上記ＲＯＭ等に記憶されたプログラムに従った制御・処理を実行することで、光学ドライブ装置の全体制御を行う。
【００７７】
また、本実施の形態の光学ドライブ装置においては、チルトに伴う参照光の光軸ずれを補正するための構成として、光軸ずれ量検出部４０、第１方向補正部４１、第２方向補正部４２も設けられる。
【００７８】
光軸ずれ量検出部４０は、図２に示した軸ずれ検出用受光部３０による受光信号Ｄ_axdに基づき、参照光の光軸ずれ量を検出する。
【００７９】
ここで本例において、図２に示した軸ずれ検出用受光部３０は、次の図４に示すように受光素子Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを有する４分割ディテクタで構成されている。
図４においては、軸ずれ検出用受光部３０を、図２（ａ）に示した矢印Ｙ方向から見たときの平面図により示している。
この図４において、先の図２に示した光学系の配置方向によると、軸ずれ検出用受光部３０の受光面内においては、紙面の右斜め方向がラジアル方向（ｒａｄ）、左斜め方向がタンジェンシャル方向（ｔａｎ）にそれぞれ対応した方向となる。
また、図２の光学系の構成によると、紙面の縦方向が第１ガルバノミラー２５による光軸補正方向に平行な方向となり、紙面の横方向が第２ガルバノミラー２７による光軸補正方向に平行な方向となる。
【００８０】
軸ずれ検出用受光部３０における各受光素子の配置関係は、図のように［受光素子Ａ・受光素子Ｄ］の組と［受光素子Ｂ・受光素子Ｃ］の組とがそれぞれ第１ガルバノミラー２５による光軸補正方向に平行な方向にて隣接する関係となっており、また［受光素子Ａ・受光素子Ｂ］の組と［受光素子Ｃ・受光素子Ｄ］の組とがそれぞれ第２ガルバノミラー２７による光軸補正方向に平行な方向にて隣接する関係となっている。
図２及び図３に示される受光信号Ｄ_axdは、これら受光素子Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄによる受光信号を包括して表したものとなる。
【００８１】
図３において、光軸ずれ量検出部４０は、上記受光信号Ｄ_axdに基づき、第１ガルバノミラー２５による光軸補正方向に平行な方向における参照光の光軸ずれ量（axd_vとする）と、第２ガルバノミラー２７の光軸補正方向に平行な方向における参照光の光軸ずれ量（axd_hとする）の双方を検出する。
具体的に、光軸ずれ量検出部４０は、受光素子Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄによる受光信号をそれぞれＡi，Ｂi，Ｃi，Ｄiとしたとき、次の［式６］［式７］により光軸ずれ量axd_v、光軸ずれ量axd_hを検出する。
axd_v＝（Ａi＋Ｂi）−（Ｃi＋Ｄi） ・・・[式６]
axd_h＝（Ａi＋Ｄi）−（Ｂi＋Ｃi） ・・・[式７]
図示するように光軸ずれ量axd_vは第１方向補正部４１に供給され、光軸ずれ量axd_hは第２方向補正部４２に対して供給される。
【００８２】
第１方向補正部４１は、上記光軸ずれ量axd_vに基づき、軸ずれ検出用受光部３０上に形成される参照光スポットの、図４の紙面縦方向におけるずれ量をキャンセルするための駆動信号を生成し、これを第１ガルバノミラー２５に供給する。
また、第２方向補正部４２は、上記光軸ずれ量axd_hに基づき、軸ずれ検出用受光部３０上に形成される参照光スポットの、図４の紙面横方向におけるずれ量をキャンセルするための駆動信号を生成し、これを第２ガルバノミラー２７に対して供給する。
これにより、参照光の受光スポット位置を、軸ずれ検出用受光部３０における基準位置（例えば受光面中心）と一致させるように補正を行うことができる。つまりこの結果、ラジアル方向・タンジェンシャル方向の双方のチルトに起因する参照光の光軸ずれを補正することができる。
【００８３】
[1-3．まとめ]
上記のようにして本実施の形態では、ホモダイン方式による信号再生を行う場合において信号光と干渉させる参照光（平行光）を、光記録媒体１に対して照射するものとしている。このような構成により、面ブレに起因した信号光と参照光の光路長差が生じないようにすることができ、その結果、参照光の光路長を信号光のフォーカスサーボ制御に連動して高速に変化させるための構成を不要とすることができる。
【００８４】
また、本実施の形態では、参照光の受光位置ずれ量を検出し、その結果に基づき参照光の光軸を補正するものとしている。
これにより、チルトの発生に対しても安定的なホモダイン検波を行うことができ、再生信号の更なるＳ／Ｎの改善を図ることができる。
【００８５】
＜２．第２の実施の形態＞
[2-1．光学ドライブ装置の構成]
第２の実施の形態は、参照光の受光位置ずれ量の検出結果に基づき、チルト補正（コマ収差補正）を行うものである。
【００８６】
図５は、第２の実施の形態としての光学ドライブ装置が備える光ピックアップＯＰ２の内部構成について説明するための図である。
この図５としても、先の図２（ａ）と同様に、光ピックアップＯＰ２を光記録媒体１の面内方向に平行な方向で切断したときの断面図を示すものであり、光記録媒体１のディスク中心Ｃと、光記録媒体１の外縁（図中グレーによる太線）を併せて示している。
【００８７】
なお図示は省略しているが、図５に示す光ピックアップＯＰ２においても、先の第１の実施の形態で説明した光ピックアップＯＰ１と同様に対物レンズ１７、２軸アクチュエータ１８が備えられている。
【００８８】
また、以下の説明において、既に説明済みとなった部分については同一符号を付してその説明を省略する。
【００８９】
先の図２（ａ）と比較して分かるように、第２の実施の形態の光ピックアップＯＰ２は、先の光ピックアップＯＰ１に対して、対物レンズ１７を介して照射されるレーザ光の光路中（信号光側の光路中）にコマ収差補正用の液晶素子４５を挿入したものとなる。
この液晶素子４５は、参照光を分光出力する偏光ビームスプリッタ１３の分光面から対物レンズ１７までの間において挿入する。具体的にこの場合は、液晶素子４５を、光路長調整板１５とミラー１６との間に挿入するものとしている。
【００９０】
図６は、第２の実施の形態としての光学ドライブ装置全体の内部構成について説明するための図である。
この図６と先の図３とを比較して分かるように、この場合の光学ドライブ装置は、第１の実施の形態の光学ドライブ装置に対して、チルト量推定部４６とチルト補正部４７とが追加されたものとなる。
【００９１】
図示するようにチルト量推定部４６には、第１方向補正部４１から第１ガルバノミラー２５に供給される駆動信号と、第２方向補正部４２から第２ガルバノミラー２７に供給される駆動信号とが、それぞれ分岐して入力される。
チルト量推定部４６は、これら第１ガルバノミラー２５の駆動信号と第２ガルバノミラー２７の駆動信号とに基づき、ラジアル方向のチルト量sti_rad、タンジェンシャル方向のチルト量sti_tanをそれぞれ推定（検出）する。
【００９２】
ここで、先の第１の実施の形態の説明からも理解されるように、第１ガルバノミラー２５と第２ガルバノミラー２７の駆動信号は、チルトの発生に伴う参照光の受光位置ずれに関して、その発生方向（ラジアル方向と直交する方向及びタンジェンシャル方向と直交する方向）と各々の方向へのずれ量とを表すものとなる。
従ってこれら駆動信号に基づき、ラジアル方向のチルト量sti_rad、タンジェンシャル方向のチルト量sti_tanを推定することができる。
【００９３】
なお、上記駆動信号に基づくチルト量sti_rad、sti_tanの推定手法は多様に考えられるものであり、ここで特に限定されるべきものではない。例えば一例として、それぞれの駆動信号の値の組み合わせごとに、対応するラジアル方向チルト量sti_rad、タンジェンシャル方向チルト量sti_tanの値の組を格納したテーブル情報を用いるといった手法を採ることができる。この場合、それぞれの駆動信号の値の組とチルト量sti_rad、sti_tanの値の組との対応関係は、予め実験を行うなどして割り出しておく。
【００９４】
チルト補正部４７は、上記チルト量推定部４６により得られたチルト量sti_rad、チルト量sti_tanの値に基づき、ラジアル方向、タンジェンシャル方向のそれぞれのチルトに起因したコマ収差が補正されるようにして液晶素子４５を駆動する。
【００９５】
このようにして第２の実施の形態によれば、対物レンズ１７を介して照射されるレーザ光についてのチルト補正（コマ収差補正）を行うことができる。これにより、チルトの発生に対しより安定した再生信号品質を維持することができる。
【００９６】
＜３．第３の実施の形態＞
[3-1．バルク型記録媒体について]
続いて、第３の実施の形態について説明する。
第３の実施の形態は、いわゆるバルク型の光記録媒体（以下、バルク型記録媒体と称する）の再生にホモダイン方式による信号再生手法を適用するものである。
【００９７】
ここで、ＣＤ（Compact Disc）やＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＢＤ（Blu-ray Disc：登録商標）など現状において普及している光記録媒体の次世代を担うべき光記録媒体に関し、先に本出願人は、下記の参考文献１や参考文献２に記載されるようないわゆるバルク型記録媒体を提案している。
参考文献１・・・特開２００８−１３５１４４号公報
参考文献２・・・特開２００８−１７６９０２号公報
【００９８】
バルク記録とは、多層記録による大記録容量化を図るための１つの記録手法であり、例えば図７に示すようにして、少なくともカバー層５１とバルク層（記録層）５２とを有する光記録媒体に対し、逐次焦点位置を変えてレーザ光照射を行って、バルク層５２内の深さ方向において選択的にマーク記録を行うものである。
なお、本明細書においては「深さ方向」という語を用いるが、該深さ方向は、光記録媒体に照射されるレーザ光の光軸に平行な方向、すなわちフォーカス方向に平行な方向を指すものである。
【００９９】
このようなバルク記録に関して、上記参考文献１には、いわゆるマイクロホログラム方式と呼ばれる記録技術が開示されている。
マイクロホログラム方式は、次の図８に示されるようにして、ポジ型マイクロホログラム方式とネガ型マイクロホログラム方式とに大別される。
マイクロホログラム方式では、バルク層５２の記録材料として、いわゆるホログラム記録材料が用いられる。ホログラム記録材料としては、例えば光重合型フォトポリマ等が広く知られている。
【０１００】
ポジ型マイクロホログラム方式は、図８（ａ）に示すように、対向する２つの光束（光束Ａ、光束Ｂ）を同位置に集光して微細な干渉縞（ホログラム）を形成し、これを記録マークとする手法である。
【０１０１】
また、図８（ｂ）に示すネガ型マイクロホログラム方式は、ポジ型マイクロホログラム方式とは逆の発想で、予め形成しておいた干渉縞をレーザ光照射により消去して、当該消去部分を記録マークとする手法である。
【０１０２】
図９は、ネガ型マイクロホログラム方式について説明するための図である、
ネガ型マイクロホログラム方式では、記録動作を行う前に、図９（ａ）に示されるようにして予めバルク層５２に対して干渉縞を形成するための初期化処理を行うことになる。具体的には、図中に示すように平行光による光束Ｃ，Ｄを対向して照射し、それらの干渉縞をバルク層５２の全体に形成しておく。
このように初期化処理により予め干渉縞を形成しておいた上で、図９（ｂ）に示されるようにして消去マークの形成による情報記録を行う。具体的には、任意の層位置にフォーカスを合わせた状態で記録情報に応じたレーザ光照射を行うことで、消去マークによる情報記録を行うものである。
【０１０３】
また、本出願人は、マイクロホログラム方式とは異なるバルク記録の手法として、例えば参考文献２に開示されるようなボイド（空孔）を記録マークとして形成する記録手法も提案している。
ボイド記録方式は、例えば光重合型フォトポリマなどの記録材料で構成されたバルク層５２に対して、例えば比較的高パワーでレーザ光照射を行い、上記バルク層５２内に空孔（ボイド）を記録する手法である。参考文献２に記載されるように、このように形成された空孔部分は、バルク層５２内における他の部分と屈折率が異なる部分となり、それらの境界部分で光の反射率が高められることになる。従って上記空孔部分は記録マークとして機能し、これによって空孔マークの形成による情報記録が実現される。
【０１０４】
このようなボイド記録方式は、ホログラムを形成するものではないので、記録にあたっては片側からの光照射を行えば済むものとできる。すなわち、ポジ型マイクロホログラム方式の場合のように２つの光束を同位置に集光して記録マークを形成する必要は無いものとできる。
また、ネガ型マイクロホログラム方式との比較では、初期化処理を不要にできるというメリットがある。
なお、参考文献２には、ボイド記録を行うにあたり記録前のプリキュア光の照射を行う例が示されているが、このようなプリキュア光の照射は省略してもボイドの記録は可能である。
ところで、上記のような各種の記録手法が提案されているバルク型記録媒体であるが、該バルク型記録媒体の記録層（バルク層）は、例えば反射膜が複数形成されるという意味での明示的な多層構造を有するものではない。すなわち、バルク層５２においては、通常の多層ディスクが備えているような記録層ごとの反射膜、及び案内溝は設けられていない。
従って、先の図７に示したバルク型記録媒体の構造のままでは、マークが未形成である記録時において、フォーカスサーボやトラッキングサーボを行うことができないことになる。
【０１０５】
このため実際において、バルク型記録媒体としては、次の図１０に示すような構成が採られることとなる。
図１０に示されるように、実際におけるバルク型記録媒体（バルク型記録媒体５０とする）には、案内溝を有する反射面（基準面Ｒｅｆ）が設けられる。
【０１０６】
具体的に、この場合のバルク型記録媒体５０には、上層側から順にカバー層５１、バルク層５２、中間層５３、反射膜５４、基板５５が形成されている。
上記基板５５には、その上面側において、ピット列やウォブリンググルーブによる案内溝（位置案内子）が形成され、そこに反射膜５４が成膜される。そして、このように反射膜５４が成膜された基板５５が、例えば紫外線硬化樹脂などで構成された中間層５３を介して、バルク層５２の下層側に接着される。
【０１０７】
[3-2．バルク型記録媒体の記録再生手法について]
上記のような媒体構造とした上で、バルク型記録媒体５０に対しては、次の図１１に示されるようにマークの記録（又は再生）のためのレーザ光（以下、録再用レーザ光、或いは単に録再光と称する）と、さらに位置制御用のレーザ光としてのサーボ用レーザ光（単にサーボ光とも称する）とを照射するようにされる。
図示するようにこれら録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とは、共通の対物レンズを介してバルク型記録媒体５０に照射される。
【０１０８】
このとき、仮に、上記サーボ用レーザ光と上記録再用レーザ光とが同波長であると、サーボ用レーザ光がバルク層５２を介したときに、マーク記録に悪影響を与える虞がある。このため、従来よりバルク記録方式では、上記サーボ用レーザ光として、録再用レーザ光とは波長帯の異なるレーザ光を用いるものとされている。
【０１０９】
この前提を踏まえた上で、図１１を参照し、バルク型記録媒体５０に対するマーク記録時の動作について説明する。
先ず、案内溝や反射膜の形成されていないバルク層５２に対して多層記録を行うとしたときには、バルク層５２内の深さ方向においてマークを記録する層位置を何れの位置とするかを予め定めておくことになる。図中では、バルク層５２内においてマークを形成する層位置（マーク形成層位置：情報記録層位置とも呼ぶ）として、第１情報記録層位置Ｌ１〜第５情報記録層位置Ｌ５の計５つの情報記録層位置Ｌが設定された場合を例示している。図示するように第１情報記録層位置Ｌ１は、案内溝が形成された反射膜５４（基準面Ｒｅｆ）から深さ方向に第１オフセットｏｆ-L1分だけ離間した位置として設定される。また、第２情報記録層位置Ｌ２、第３情報記録層位置Ｌ３、第４情報記録層位置Ｌ４、第５情報記録層位置Ｌ５は、それぞれ基準面Ｒｅｆから第２オフセットｏｆ-L2分、第３オフセットｏｆ-L3分、第４オフセットｏｆ-L4分、第５オフセットｏｆ-L5分だけ離間した位置として設定される。
【０１１０】
マークが未だ形成されていない記録時においては、録再用レーザ光の反射光に基づいてバルク層５２内の各層位置を対象としたフォーカスサーボ、トラッキングサーボを行うことはできない。従って、記録時における対物レンズのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御は、サーボ用レーザ光の反射光に基づき、当該サーボ用レーザ光のスポット位置が基準面Ｒｅｆにおいて案内溝に追従するようにして行うことになる。
【０１１１】
但し、上記録再用レーザ光は、マーク記録のために上記基準面Ｒｅｆよりも上層側にその合焦位置を設定する必要がある。このため、この場合の光学系には、対物レンズのフォーカス機構とは別途に、録再用レーザ光の合焦位置を独立して調整するための録再光用フォーカス機構が設けられることになる。
【０１１２】
ここで、このような録再光用レーザ光の合焦位置を独立して調整するための機構を含めた、バルク型記録媒体５０の記録再生を行うための光学系の概要を図１２に示しておく。
先ず、図１２においては、図１１にも示した対物レンズが示されている。対物レンズは、２軸アクチュエータによりトラッキング方向及びフォーカス方向に変位可能に保持されている。
【０１１３】
上記のように録再用レーザ光の合焦位置を独立して調整するための機構は、図中のフォーカス機構（エキスパンダ）が該当する。具体的に、このエキスパンダとしてのフォーカス機構は、固定レンズと可動レンズ、及び該可動レンズを録再用レーザ光の光軸に平行な方向に変位可能に保持するレンズ駆動部とを備えて構成されており、上記レンズ駆動部により上記可動レンズが駆動されることで、図中の対物レンズに入射する録再用レーザ光のコリメーションが変化し、それにより録再用レーザ光の合焦位置がサーボ用レーザ光とは独立して調整されるようになっている。
【０１１４】
また、上述のように録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とはそれぞれ波長帯が異なるものとされているので、これに対応しこの場合の光学系では、図中のダイクロイックプリズムにより、録再用レーザ光、サーボ用レーザ光のバルク型記録媒体５０からの反射光がそれぞれの系に分離されるように（つまりそれぞれの反射光検出を独立して行えるように）している。
また、往路光で考えた場合、上記ダイクロイックプリズムは、録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とを同軸上に合成して対物レンズに入射させる機能を有する。具体的にこの図の例の場合、録再用レーザ光は、図示するように上記エキスパンダを介しミラーで反射された後、上記ダイクロイックプリズムの選択反射面で反射されて対物レンズに対して入射するものとされている。一方、サーボ用レーザ光は、上記ダイクロイックプリズムの選択反射面を透過して対物レンズに入射するようにされている。
【０１１５】
図１３は、バルク型記録媒体５０の再生時におけるサーボ制御について説明するための図である。
マーク記録が既に行われたバルク型記録媒体５０の再生時には、記録時のように対物レンズの位置をサーボ用レーザ光の反射光に基づいて制御する必要性はない。すなわち、再生時においては、再生対象とする情報記録層位置Ｌ（以下、情報記録層Ｌと表記する場合もある）に形成されたマーク列を対象として、録再用レーザ光の反射光に基づいて対物レンズのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御を行えばよい。
【０１１６】
上記で説明してきたように、バルク記録方式においては、バルク型記録媒体５０に対し、マーク記録／再生を行うための録再用レーザ光と位置制御用光としてのサーボ用レーザ光とを共通の対物レンズを介して（同一光軸上に合成して）照射するようにした上で、記録時においては、サーボ用レーザ光が基準面Ｒｅｆの案内溝に追従するように対物レンズのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御を行い且つ、録再光用フォーカス機構により録再用レーザ光の合焦位置を別途調整することによって、バルク層５２内に案内溝が形成されていなくとも、バルク層５２内の所要の位置（深さ方向及びトラッキング方向）に対してマーク記録ができるように図られている。
また、再生時には、既に記録されたマーク列に録再用レーザ光の焦点位置が追従するようにして当該録再用レーザ光の反射光に基づく対物レンズのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御を行うことで、バルク層５２内に記録されたマークの再生を行うことができる。
【０１１７】
[3-3．光学ドライブ装置の構成]
以上の前提を踏まえた上で、バルク型記録媒体５０の再生にホモダイン方式を採用した第３の実施の形態としての光学ドライブ装置の構成について説明する。
図１４は、第３の実施の形態の光学ドライブ装置が備える光ピックアップＯＰ３の内部構成について説明するための図である。
図１４（ａ）は、光ピックアップＯＰ３について、先の図２（ａ）の場合と同様にバルク型記録媒体５０の面内方向に平行な方向で切断したときのその断面図を示している（この場合もディスク中心Ｃと記録媒体の外縁も併せて示している）。
また図１４（ｂ）は、光ピックアップＯＰ３内におけるミラー１６、第２ガルバノミラー２７のそれぞれからバルク型記録媒体５０の表面までの間に設けられる構成を、図１４（ａ）に示す矢印Ｙの方向から見たときの断面図により示している。
なおこの図１４（及び後の図１６〜図１８も同様）において、先の図２（ａ）において示したレーザ１０に関しては、録再用レーザ１０と表記する。
【０１１８】
図示するように第３の実施の形態における光ピックアップＯＰ３は、光ピックアップＯＰ１に対して、[固定レンズ６０、可動レンズ６１、レンズ駆動部６２]による録再光用独立フォーカス機構と、ダイクロイックプリズム６３、及び[サーボ用レーザ６４、コリメーションレンズ６５、偏光ビームスプリッタ６６、λ／４板６７、集光レンズ６８、サーボ光用受光部６９]によるサーボ光用光学系が追加されたものとなっている。
【０１１９】
上記録再光用独立フォーカス機構は、偏光ビームスプリッタ１３の分光面からダイクロイックプリズム６３までの間に挿入される。具体的にこの場合は、光路長補正板１５とダイクロイックプリズム６３との間に挿入している。
該録再光用独立フォーカス機構において、固定レンズ６０は光源である録再用レーザ１０により近い側に配置され、可動レンズ６２は上記光源に対しより遠い側に配置されている。可動レンズ６２は、レンズ駆動部６２により入射光軸に平行な方向に駆動され、これにより図１４（ｂ）に示す対物レンズ１７に入射する録再用レーザ光のコリメーションが変化し、該録再用レーザ光の合焦位置をサーボ用レーザ光とは独立して変化させることが可能とされている。
【０１２０】
また、上記ダイクロイックプリズム６３は、少なくとも上記録再光用独立フォーカス機構における可動レンズ６２から対物レンズ１７までの間に設けられればよく、この場合においては、可動レンズ６２とミラー１６との間に挿入している。
ダイクロイックプリズム６３は、録再用レーザ１０を光源とする録再用レーザ光（偏光ビームスプリッタ１３から該ダイクロイックプリズム６３側に出射されるレーザ光）と同波長帯の光は透過し、それ以外の波長による光は反射するように構成されている。
【０１２１】
また、上記サーボ光用光学系において、サーボ用レーザ６４より出射されたサーボ用レーザ光は、コリメーションレンズ６５を介して平行光となるようにされた後、偏光ビームスプリッタ６６に入射する。偏光ビームスプリッタ６６は、このようにサーボ用レーザ６４側から入射したサーボ用レーザ光（往路光）は反射するように構成される。
【０１２２】
偏光ビームスプリッタ６６にて反射されたサーボ用レーザ光は、λ／４板７６を介してダイクロイックプリズム６３に入射する。先に述べたようにダイクロイックプリズム６３は録再用レーザ光と同波長帯の光は透過しそれ以外の波長による光は反射するように構成されているので、上記サーボ用レーザ光はダイクロイックプリズム６３にて反射される。その結果、サーボ用レーザ光は、録再用レーザ光と同軸に合成され、ミラー１６を反射した後対物レンズ１７を介してバルク型記録媒体５０に照射される。
【０１２３】
また、このようにバルク型記録媒体５０にサーボ用レーザ光が照射されたことに応じて得られる当該サーボ用レーザ光の反射光（基準面Ｒｅｆからの反射光）は、対物レンズ１７→ミラー１６を介し、ダイクロイックプリズム６３にて反射された後、λ／４板６７を介して偏光ビームスプリッタ６６に入射する。
このようにバルク型記録媒体５０側から入射したサーボ用レーザ光の反射光（復路光）は、λ／４板６７の作用と基準面Ｒｅｆでの反射時の作用とにより、往路光とはその偏光方向が９０°異なるものとされ、従って復路光としての上記反射光は偏光ビームスプリッタ６６を透過する。
【０１２４】
偏光ビームスプリッタ６６を透過したサーボ用レーザ光の反射光は、集光レンズ６８を介してサーボ光用受光部６９の受光面上に集光する。
ここで、該サーボ光用受光部６９により得られる受光信号については、受光信号Ｄ_svと称する。
【０１２５】
また、第３の実施の形態の光ピックアップＯＰ３においては、参照光の光路中において、光路長調整部７０が挿入されている。
図示するようにこの場合は、光路長調整部７０が、λ／４板２６と第２ガルバノミラー２７との間に挿入された例を示している。
【０１２６】
ここで、先の図１１〜図１３の説明からも理解されるように、バルク型記録媒体５０についての再生を行う際には、所要の情報記録層Ｌを選択することになる。
このように録再用レーザ光の合焦位置が選択されるということは、選択した層位置に応じて、参照光の光路長と信号光の光路長とに差が生じてしまうこととなる。
【０１２７】
バルク記録においては、大記録容量化の要請から、バルク層５２内に例えば数十層程度の多層記録を行うことが想定されている。このため、再生時の層選択に伴う信号光と参照光との光路長差を可干渉距離（例えば０．１ｍｍ程度）に収めることは非常に困難となる。
【０１２８】
そこで、第３の実施の形態では、再生対象とする情報記録層Ｌの位置に応じて参照光の光路長を補正するために、上記光路長調整部７０を設けるものとしている。
【０１２９】
図１５は、光路長調整部７０について説明するための図である。
なお図１５において、図中の縦方向の矢印は参照光の光軸を表している。
この図１５に示されるように、光路長調整部７０は、第１プリズム７０Ａ、第２プリズム７０Ｂ、及びアクチュエータ７０Ｃを有して構成される。
【０１３０】
第１プリズム７０Ａと第２プリズム７０Ｂは、それぞれ同じ頂角を有し、図のようにそれぞれの対向する面が平行な関係となるように向かい合わせで配置される。このような向かい合わせ配置とすることで、当該光路長調整部７０に入／出射する参照光の角度が同じになる。
この場合、第１プリズム７０Ａは、偏光ビームスプリッタ１３の分光面により近い側に配置されたプリズムであるもとし、第２プリズム７０Ｂは上記分光面に対しより遠い側に配置されたプリズムであるとする。
【０１３１】
アクチュエータ７０Ｃは、１軸アクチュエータであり、第２プリズム７０Ｂを参照光の光軸に対して直交する方向にスライドさせるように駆動する。
【０１３２】
上記のように構成された光路長調整部７０において、参照光の光路長を短くする場合には、アクチュエータ７０Ｃにより第２プリズム７０Ｂを図１５（ａ）に示される方向に駆動する。具体的には、それぞれのプリズムの対向面間の間隔が広がる方向に駆動するものである。
逆に、参照光の光路長を長くする場合には、図１５（ｂ）に示すように、第２プリズム７０Ｂを図１５（ａ）に示す方向とは逆の方向、すなわちそれぞれのプリズムの対向面間の間隔が狭まる方向に駆動する。
【０１３３】
ここで、上記のようなプリズムのスライド駆動により入射光の光路長が変化する原理は以下のようになる。
先ず、２枚のプリズムのうち、一方のプリズム（この場合は第２プリズム７０Ｂ）を入射光軸に直交する方向においてＸだけ移動させると、光軸上では、
ΔＬ＝Ｘ／ｔａｎθ ・・・[式８]
だけ板厚を変えることができる。但し[式８]において、θはプリズムの頂角である。
【０１３４】
ここで、板厚＝ｔ、ガラス屈折率＝ｎ、空気の屈折率＝ｎairとおく。
板厚ｔがΔＬだけ変化したとすると、その変化した距離だけ空気の層と入れ替わることになるので、実効的な光路長は、以下のように変化する。
ΔＬ／ｎ−ΔＬ／ｎair ・・・[式９]
ここで、参照光は光路長調整部７０を往復するので、参照光の実効的な光路長の変化量は、
２×（ΔＬ／ｎ−ΔＬ／ｎair） ・・・[式１０]
となる。
【０１３５】
この[式１０]からも理解されるように、参照光の実効的な光路長は図１５（ａ）のように板厚ｔを増やす方向にプリズムをスライドさせることによっては短くなり、図１５（ｂ）のように板厚ｔを減らす方向にプリズムをスライドさせることによっては長くなる。
【０１３６】
なお、図１５においてはアクチュエータ７０Ｃにより第２プリズム７０Ｂ側をスライドさせる構成を例示したが、第１プリズム７０Ａ側をスライドさせても同様の効果が得られることは言うまでもない。
【０１３７】
ここで、本例の場合において、光路長調整部７０による参照光の光路長の補正は、バルク型記録媒体５０の最も下層側に形成された情報記録層Ｌ５に録再用レーザ光が合焦しているときを基準として行われるものとする。
具体的に、第３の実施の形態の場合、光路長補正板１５による光路長補正（出荷前段階での光路長補正）は、アクチュエータ７０Ｃの可動範囲内でプリズムを一番近づけた状態（つまり参照光光路長を最も長く調整した状態）で且つ、録再用レーザ光が上記情報記録層Ｌ５に合焦する状態において、信号光と参照光の光路長を一致させるようにして行われており、従って、この場合における光路長調整部７０による参照光の光路長補正は、上記情報記録層Ｌ５が選択された状態では補正が不要となり、上層側の情報記録層Ｌを選択するほど補正量が大となるように行われる。
【０１３８】
この前提を踏まえた上で、例えば情報記録層Ｌ５から最も上層側に位置する情報記録層Ｌ１までの間の厚みが０．３ｍｍであり、メディアの屈折率が１．５程度であると仮定すると、層選択に伴い生じ得る信号光の最大光路長変化量、すなわち情報記録層Ｌ５を選択した場合と情報記録層Ｌ１を選択した場合とでの光路長変化量は、空気換算で０．２ｍｍ程度となる。
このとき、光路長調整部７０における各プリズムの頂角が２０°、ガラス屈折率ｎ＝１．５程度であるとすると、情報記録層Ｌ１を選択した場合の信号光と参照光の光路長を補正するためには、第２プリズム７０Ｂを図１５（ｂ）に示される方向に０．３ｍｍ程度移動させればよいものとなる。
【０１３９】
図１６は、第３の実施の形態の光学ドライブ装置全体の内部構成について説明するための図である。
図１６において、第３の実施の形態の光学ドライブ装置は、図６に示した第１の実施の形態の光学ドライブ装置と比較して、主にサーボ制御系の構成が異なるものとなっている。
具体的に、図１６に示す光学ドライブ装置には、図６に示した信号生成回路３６に代えてエラー信号生成回路７１が設けられ、またサーボ回路３８に代えて録再光用サーボ回路７２が設けられる。
またこの場合の光学ドライブ装置には、図１４に示したサーボ光用受光部６９による受光信号Ｄ_svに基づく位置情報検出やサーボ制御を実現するための構成として、新たにマトリクス回路７３、サーボ光用サーボ回路７４が設けられている。
またこの場合は、図６に示したコントローラ３９に代えて、コントローラ７６が設けられる。
【０１４０】
上記エラー信号生成回路７１は、図１４に示される第２ホモダイン検波用受光部２４による受光信号Ｄ_hm2に基づき、録再用レーザ光についてのフォーカスエラー信号ＦＥ-rp、トラッキングエラー信号ＴＥ-rpをそれぞれ生成する。
ここで、先の説明からも理解されるように、バルク型記録媒体５０の記録時には、バルク層５２からの録再用レーザ光の反射光は得られないものとなる。すなわち、上記フォーカスエラー信号ＦＥ-rp、トラッキングエラー信号ＴＥ-rpは、再生時において得られるものである。
【０１４１】
録再光用サーボ回路７２は、エラー信号生成回路７１から供給されるフォーカスエラー信号ＦＥ-rp、トラッキングエラー信号ＴＥ-rpに基づき、それぞれフォーカスサーボ信号、トラッキングサーボ信号を生成し、これらフォーカスサーボ信号、トラッキングサーボ信号ＴＳ-rpに基づくフォーカスドライブ信号ＦＤ-rp、トラッキングドライブ信号ＴＤ-rpに基づいて、光ピックアップＯＰ３における２軸アクチュエータ１８のフォーカスコイル、トラッキングコイルを駆動することで、対物レンズ１７についてのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御を行う。
このような録再光用サーボ回路７２による録再用レーザ光の反射光に基づく２軸アクチュエータ１８（対物レンズ２０）のサーボ制御は、再生時において行われるものである。
【０１４２】
また、録再光用サーボ回路７２は、再生時に対応してコントローラ７６から為される指示に応じて、トラッキングサーボループをオフとして上記トラッキングコイルにジャンプパルスを与えることでトラックジャンプ動作を実現したり、トラッキングサーボの引き込み制御等も行う。また、フォーカスサーボの引き込み制御や、層間ジャンプのための制御も行う。
【０１４３】
また、マトリクス回路７３は、サーボ光用受光部６９としての複数の受光素子からの受光信号Ｄ_svに基づき、必要な各種の信号を生成する。
具体的にマトリクス回路７３は、サーボ用レーザ光についてのフォーカスエラー信号ＦＥ-sv、トラッキングエラー信号ＴＥ-svを生成する。
また、基準面Ｒｅｆにおいて記録された絶対位置情報の検出を行うための信号として、プッシュプル信号ＰＰも生成する。
この場合もプッシュプル信号ＰＰは位置情報検出部３７に供給され、該位置情報検出部３７にて検出された位置情報はコントローラ７６に供給される。
【０１４４】
上記フォーカスエラー信号ＦＥ-sv、トラッキングエラー信号ＴＥ-svは、サーボ光用サーボ回路７４に対して供給される。
サーボ光用サーボ回路７４は、上記フォーカスエラー信号ＦＥ-sv、トラッキングエラー信号ＴＥ-svに基づきフォーカスサーボ信号、トラッキングサーボ信号をそれぞれ生成する。そして、これらフォーカスサーボ信号、トラッキングサーボ信号に基づき生成したフォーカスドライブ信号ＦＤ-sv、トラッキングドライブ信号ＴＤ-svに基づき、２軸アクチュエータ１８のフォーカスコイル、トラッキングコイルを駆動することで、対物レンズ１７についてのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御を行う。
先の説明からも理解されるように、このようなサーボ光用サーボ回路７４による対物レンズ１７のフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御は、記録時において行われるものである。
【０１４５】
また、サーボ光用サーボ回路７４は、記録時に対応してコントローラ７６から為される指示に応じて、トラッキングサーボループをオフとして２軸アクチュエータ１８のトラッキングコイルにジャンプパルスを与えることでトラックジャンプ動作を実現したり、トラッキングサーボの引き込み制御等も行う。また、フォーカスサーボの引き込み制御等も行う。
【０１４６】
コントローラ７６は、先のコントローラ３９と同様にＣＰＵやＲＯＭ、ＲＡＭなどのメモリを備えたマイクロコンピュータで構成され、例えば上記ＲＯＭ等に記憶されたプログラムに従った制御・処理を実行することで、光学ドライブ装置の全体制御を行う。
具体的に、この場合におけるコントローラ７６は、先の図１１にて説明したようにして予めバルク層５２内の各情報層位置Ｌに対応して設定されたオフセットｏｆの値に基づいて、録再用レーザ光の合焦位置の制御（設定）を行う。より具体的に、コントローラ７６は、記録時において、記録対象とする情報記録層位置Ｌに対応して設定されたオフセットｏｆ-Lの値に基づき、光ピックアップＯＰ３におけるレンズ駆動部１６（録再光用独立フォーカス機構におけるアクチュエータ）を駆動することで、深さ方向における記録位置の選択を行う。
【０１４７】
また、コントローラ７６は、記録時において、サーボ光用サーボ回路７４に対して対物レンズ１７のフォーカスサーボ制御・トラッキングサーボ制御を実行するように指示を行う。
また、再生時においては、録再光用サーボ回路７２側に対物レンズ１７についてのフォーカスサーボ制御・トラッキングサーボ制御を実行させるように指示を行う。また再生時には、録再光用サーボ回路７４に対する指示を行って、再生対象とする情報記録層Ｌへの録再用レーザ光のフォーカスサーボ引き込み制御を実行させる。すなわち、再生対象とする情報記録層Ｌの選択を行うことに相当するものである。
【０１４８】
また、この場合のコントローラ７６は、再生時において光路長調整部７０を制御することで、再生対象として選択した情報記録層Ｌ（マーク列）の層位置に応じた参照光の光路長補正動作を実行させる。具体的に本例の場合、コントローラ７６は、再生対象とする情報記録層Ｌｘの、最下層の情報記録層Ｌ５からの距離に応じたスライド量の情報を光路長調整部７０におけるアクチュエータ７０Ｃに指示することで、再生対象とする層位置に応じた参照光の光路長補正動作を実行させる。
先に述べたように、この場合の光路長調整部７０による光路長補正は、最下層の情報記録層Ｌ５を基準として行われるようにされている。このことに対応させて、この場合のコントローラ７６には、例えば内部ＲＯＭ等のメモリに対し、情報記録層Ｌ５以外の各情報記録層Ｌごとにアクチュエータ７０のスライド量の情報を対応づけたテーブル情報が格納され、コントローラ７６は、該テーブル情報に基づき、再生対象として選択した情報記録層Ｌに応じたスライド量の情報を取得し、該取得したスライド量の情報を上記アクチュエータ７０Ｃに指示して参照光の光路長補正動作を実行させる。
【０１４９】
上記により説明したように、第３の実施の形態では、参照光の光路長中に光路長調整部７０を設けて、再生対象として選択した層位置に応じて参照光の光路長を補正するようにしたことで、バルク型記録媒体５０についての再生を行う場合、すなわち再生対象とする層位置（マーク列）の選択に応じて信号光と参照光の光路長差が生じ得る場合においても、ホモダイン方式による信号再生が適正に行われるようにすることができる。換言すれば、このような光路長差の補正によりＳ／Ｎの改善が図られる。
【０１５０】
このとき、光路長調整部７０としては、層選択が行われるタイミングでのみ動作するようにされていればよく、面ブレに追従するような高速動作は不要である。このことからも理解されるように、第３の実施の形態によっても、図２０に示した従来例のように面ブレに追従して参照光の光路長を補正するような構成を採る必要はないものとできる。
【０１５１】
なお、本実施の形態のようにバルク型記録媒体の再生にホモダイン検波を適用する場合においては、参照光は、バルク層５２を介してドライブ装置側に戻されることになる。このように参照光がバルク層５２を介すことによっては、バルク層５２内に記録されたマーク列の影響により、参照光の反射光にノイズ成分が重畳する虞がある。そこで、このようなノイズがホモダイン検波に与える影響を抑制するため、反射膜５４としては、全反射膜を用いる。すなわち、このように全反射膜を用いることで、参照光の照射により生じるマーク列からの反射光成分（ノイズ成分）に対し、参照光の反射膜５４からの反射光成分の光強度を大幅に大とすることができ、それによりノイズ成分がホモダイン検波に与える影響を無視できる程度に小とすることができる。
【０１５２】
＜４．第４の実施の形態＞
[4-1．光学ドライブ装置の構成]
続いて、第４の実施の形態について説明する。
第４の実施の形態は、第３の実施の形態のようにバルク型記録媒体５０に対応する場合において、先の第２の実施の形態と同様にチルトに起因したコマ収差の補正を行うようにしたものである。
【０１５３】
図１７は、第４の実施の形態の光学ドライブ装置が備える光ピックアップＯＰ４の内部構成について説明するための図であり、先の図１４（ａ）と同様にバルク型記録媒体５０の面内方向に平行な方向で切断したときの断面図を示している（この場合もディスク中心Ｃと記録媒体の外縁も併せて示している）。
なお図示は省略しているが、この場合も先の光ピックアップＯＰ３等と同様に対物レンズ１７及び２軸アクチュエータ１８が備えられているものとする。
【０１５４】
図１４に示した光ピックアップＯＰ３と比較して分かるように、第４の実施の形態の光ピックアップＯＰ４には、先の第２の実施の形態の光ピックアップＯＰ２が備えていたものと同様の液晶素子４５が追加される。
この液晶素子４５としては、ダイクロイックプリズム６３から対物レンズ１７までの間に挿入されることで、録再用レーザ光とサーボ用レーザ光の双方についてのコマ収差補正が可能となり、例えば本例においては、図のようにダイクロイックプリズム６３とミラー１６との間に挿入している。
なお、録再用レーザ光のみについてコマ収差補正を行う場合には、液晶素子４５は、偏光ビームスプリッタ１３の分光面からダイクロイックプリズム６３までの間に挿入すればよい。
【０１５５】
図１８は、第４の実施の形態としての光学ドライブ装置全体の内部構成について説明するための図である。
先の図１６と比較して分かるように、第４の実施の形態の光学ドライブ装置は、第３の実施の形態の光学ドライブ装置に対して、第２の実施の形態（図６）で説明したチルト量推定部４６及びチルト補正部４７が追加されたものとなっている。
つまりこのような構成により、この場合は録再用レーザ光の受光位置ずれ量に基づくラジアル方向及びタンジェンシャル方向のチルト量sti_rad、sti_tanの推定（検出）が行われ、それらチルト量sti_rad、sti_tanの値に基づき液晶素子４５によるコマ収差補正が実行される。
この結果、録再用レーザ光とサーボ用レーザ光の双方について、ラジアル方向及びタンジェンシャル方向のチルトに起因したコマ収差の補正が実現されるものとなる。
【０１５６】
＜５．変形例＞
以上、本発明の実施の形態について説明したが、本発明としてはこれまでで説明した具体例に限定されるべきものではない。
例えば光学系の構成等は、実際の実施形態に応じて適宜最適とされる構成が採られればよく、本発明の範囲内において適宜変更が可能である。
【０１５７】
また、特に第３及び第４の実施の形態では、バルク型記録媒体への照射光の位置制御を行うにあたり基準とする基準面Ｒｅｆが、バルク層５２よりも下層側に形成される場合に対応した構成を例示したが、図１９に示されるように、基準面Ｒｅｆがバルク層５２よりも上層側に形成されたバルク型記録媒体８０に対しても、本発明は好適に適用できる。
この図１９に示す例において、基準面Ｒｅｆに相当する反射膜８１は、カバー層５１の下層に対して形成されている。バルク型記録媒体８０は、例えばポリカーボネート等の樹脂で構成された基板８３（この場合その上層側の面は平坦面とされる）上に対しバルク層５２を積層し、該バルク層５２の上層に紫外線硬化樹脂をスピンコート法などで塗布して該塗布された紫外線硬化樹脂の上面側にスタンパを押し当てた状態にて紫外線照射を行って案内溝の形成された中間層８２を形成した上で、該中間層８２上への反射膜８１の成膜、及び反射膜８１上へのカバー層５１の積層を行って形成される。
【０１５８】
このようなバルク型記録媒体８０とする場合は、基準面Ｒｅｆを形成する反射膜８１としては、録再用レーザ光をバルク層５２内に到達させ且つ参照光を基準面Ｒｅｆにて反射させるために、半透明反射膜を用いることとなる。
なお、このようなバルク型記録媒体８０に対応するとした場合にも、録再用レーザ光とサーボ用レーザ光の記録時／再生時のサーボ制御手法や光路長調整部７０による参照光の光路長補正の手法自体は、先の第３、第４の実施の形態で説明したものと同様でよいことは言うまでもない。
【０１５９】
また、上記反射膜８１の反射率は、できるだけ大とすることが望ましい。すなわち、反射膜８１の反射率を大とすれば、その分、参照光が該反射膜８１を透過してバルク層５２内に照射されることに応じて生じるノイズ光が参照光の反射光に重畳して与える影響を少なくすることができるためである。
【０１６０】
また、これまでの説明では特に言及はしなかったが、記録可能ディスクとしての光記録媒体に対して記録時に参照光を照射してしまうと、記録特性の悪化等を招いてしまう虞がある（記録光と参照光は同一光源を用いるため）。
そこで、参照光の光路中にシャッタ等の遮光手段を設け、記録時に参照光を遮光するといった構成を採ることもできる。
【０１６１】
また、第２及び第４の実施の形態において、チルト量stiは、ガルバノミラー（２５、２７）の駆動信号から推定するものとしたが、光軸ずれ量検出部４０により検出された光軸ずれ量Ｄ_axdから直接的に推定するようにもできる。
なお、何れの手法とする場合にも、チルト量stiは、参照光の受光位置ずれに基づいて推定していることに変わりはない。
【０１６２】
また、第２及び第４の実施の形態において、チルト起因のコマ収差の補正は、液晶素子４５を用いて行うものとしたが、例えばチルト自体の補正を行うものとして、光記録媒体を傾ける、光ピックアップＯＰ全体を傾ける、或いは対物レンズ１７を傾けるといった構成を採ることもできる。
【０１６３】
またこれまでの説明では、本発明が光記録媒体に対する記録及び再生の双方を行う記録再生装置に適用される場合を例示したが、本発明は光記録媒体に対する再生のみが可能とされた再生専用装置（再生装置）にも好適に適用できることは言うまでもない。
【符号の説明】
【０１６４】
１ 光記録媒体、２,５１ カバー層、３ 記録層、４,５５,８３ 基板、１０ レーザ（録再用レーザ）、１１,６５ コリメーションレンズ、１２,２０ １３,２２,２８,６６ 偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ）、１４,２６,６７ λ／４板、１５ 光路長補正板、１６ ミラー、１７ 対物レンズ、１８ ２軸アクチュエータ、１９ 無偏光ビームスプリッタ（ＢＳ）、２１,２９,６８ 集光レンズ、２３ 第１ホモダイン検波用受光部、２４ 第２ホモダイン検波用受光部、２５ 第１ガルバノミラー、２７ 第２ガルバノミラー、３０ 光軸ずれ検出用受光部、３１ 記録処理部、３２ 第１再生信号生成回路、３３ 第２再生信号生成回路、３４ 減算部、３５ 再生処理部、３６ 信号生成回路、３７ 位置情報検出部、３８ サーボ回路、３９,７６ コントローラ、４０ 光軸ずれ量検出部、４１ 第１方向補正部、４２ 第２方向補正部、ＯＰ１,ＯＰ２,ＯＰ３,ＯＰ４ 光ピックアップ、４５ 液晶素子、４６ チルト量推定部、４７ チルト補正部、５０,８０ バルク型記録媒体、５２ バルク層、５３,８２ 中間層、５４,８１ 反射膜、６０ 固定レンズ、６１ 可動レンズ、６２ レンズ駆動部、６３ ダイクロイックプリズム、６４ サーボ用レーザ、７０ 光路長調整部、７０Ａ 第１プリズム、７０Ｂ 第２プリズム、７０Ｃ アクチュエータ、７１ エラー信号生成回路、７２ 録再光用サーボ回路、７３ マトリクス回路、７４ サーボ光用サーボ回路
【技術分野】
【０００１】
本発明は、いわゆるホモダイン検波による信号再生を行う光学ドライブ装置と、ホモダイン検波方法とに関する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００２】
【特許文献１】特開２００８−２６９６８０号公報
【背景技術】
【０００３】
光の照射により信号の記録／再生が行われる光記録媒体として、例えばＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＢＤ（Blu-ray Disc：登録商標）などのいわゆる光ディスクが普及している。
【０００４】
このような光ディスクに関し、検出信号（再生信号）のＳ／Ｎの低下を改善するための手法として上記特許文献１に開示されるようなホモダイン方式が提案されている。
周知のようにホモダイン方式は、検出対象とする光（信号光）に対し、同波長（同位相）の光を干渉させた光と、逆位相の光を干渉させた光とをそれぞれ個別に受光し、それらの受光信号の差分をとることで、信号増幅とノイズの抑制の双方が図られるようにするものである。
【０００５】
図２０は、ホモダイン方式により信号再生を行う従来例としての光学ドライブ装置の構成例を示している。
図示するようにレーザ（半導体レーザ）１０１より出射されたレーザ光は、コリメーションレンズ１０２を介して平行光となるようにされた後、λ／２板（１／２波長板）１０３を介して偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ）１０４に入射する。
この場合、偏光ビームスプリッタ１０４は、Ｐ偏光を透過しＳ偏光を反射するように構成されているとする。その上で、上記λ／２板１０３の取り付け角度（レーザ光の入射面内における回転角度）は、上記偏光ビームスプリッタ１０４による分光比（Ｐ偏光成分：Ｓ偏光成分）が１：１となるように設定されているとする。
【０００６】
偏光ビームスプリッタ１０４を透過したレーザ光（Ｐ偏光成分）は、λ／４板（１／４波長板）１０５を介した後、図のように２軸アクチュエータ１０７により保持された対物レンズ１０７を介して光記録媒体１００の記録層（反射膜）１００ａに集光するように照射される。
【０００７】
このように光記録媒体１００に対してレーザ光が照射されることに応じては、上記記録層１００ａからの反射光（以下、信号光とも称する）が得られる。該反射光は、対物レンズ１０７→λ／４板１０５を介した後、偏光ビームスプリッタ１０４に入射する。
ここで、このように偏光ビームスプリッタ１０４に入射する反射光は、上記λ／４板１０５による作用と記録層１００ａ上での反射時の作用とにより、その偏光方向が、レーザ１００側から入射し該偏光ビームスプリッタ１０４を透過した光（往路光とする）の偏光方向に対して９０°異なるものとなっている。すなわち上記反射光はＳ偏光となる。
このため上記反射光は、偏光ビームスプリッタ１０４にて反射される。
【０００８】
偏光ビームスプリッタ１０４にて反射された上記反射光は、図のようにλ／２板１０８、偏光ビームスプリッタ１０９、集光レンズ１１０、第１ホモダイン検波用受光部１１１、集光レンズ１１２、及び第２ホモダイン検波用受光部１１３を有するホモダイン検波用光学系に入射する。
なお、該ホモダイン検波用光学系による作用については後述する。
【０００９】
また、この場合の光学ドライブ装置においては、上述した偏光ビームスプリッタ１０４により反射されたＳ偏光成分が、ホモダイン検波用の参照光として機能する。図示するように偏光ビームスプリッタ１０４により生成（反射）された参照光は、λ／４板１１４を介した後、ミラー１１５にてその光軸が１８０°折り返されるようにして反射される。
該ミラー１１５にて反射された参照光は、再度、λ／４板１１４を介して偏光ビームスプリッタ１０４に入射する。
【００１０】
このように偏光ビームスプリッタ１０４に入射する参照光は、λ／４板１１４による作用とミラー１１５における反射の作用とにより、その偏光方向が、往路光としての参照光とは９０°異なるものとされる（つまりＰ偏光となる）。従って該参照光は、偏光ビームスプリッタ１０４を透過することとなる。
偏光ビームスプリッタ１０４を透過した参照光としても、上述したホモダイン検波用光学系に対して入射する。
【００１１】
ここで、上記のように偏光ビームスプリッタ１０４を透過した参照光（Ｐ偏光）と、上述のように偏光ビームスプリッタ１０４にて反射された信号光（Ｓ偏光）とは、その偏光方向が直交する関係となっており、この時点では光の干渉は発生しない。
【００１２】
この場合、ホモダイン検波用光学系におけるλ／２板１０８は、上記のように偏光ビームスプリッタ１０４側より入射する信号光と参照光の偏光方向を、光の進行方向に対し時計回りに４５°回転させるようにその取り付け角度（回転角度）が調整されている。
また、該λ／２板１０８を介した光が入射される偏光ビームスプリッタ１０９としては、先の偏光ビームスプリッタ１０４と同様にＰ偏光を透過、Ｓ偏光を反射するように構成されており、従って該偏光ビームスプリッタ１０９によっては、その透過光と反射光とによって、信号光・参照光の双方が、それぞれ偏光方向の直交する光に分光されることになる。
【００１３】
このとき、上記偏光ビームスプリッタ１０９を透過した信号光・参照光は、共にＰ偏光であり、従ってこれらの光は同位相の光として集光レンズ１１０を介して第１ホモダイン検波用受光部１１１上に集光される。つまりこの結果、第１ホモダイン検波用受光部１１１側では、信号光に対し、該信号光と同位相の参照光が合成された（干渉した）光が受光されることになる。
【００１４】
一方、偏光ビームスプリッタ１０９にて反射された信号光・参照光については、上述のようにλ／２板１０８によりそれらの光の偏光方向が時計回りに４５°回転されることと、該偏光ビームスプリッタ１０９の分光面上での反射時の作用とにより、参照光の位相が、信号光の位相に対して１８０°異なるようにされる。
図示するように偏光ビームスプリッタ１０９にて反射された信号光・参照光は、集光レンズ１１２を介して第２ホモダイン検波用受光部１１３上に集光され、この結果、第２ホモダイン検波用受光部１１３側では、信号光に対して、該信号光とは逆位相となる参照光が合成された（干渉した）光が受光されることになる。
【００１５】
図示するように第１ホモダイン検波用受光部１１１による受光信号（第１ホモダイン検波用信号とする）、及び第２ホモダイン検波用受光部１１３による受光信号（第２ホモダイン検波用信号とする）は、減算器１１７に供給される。
減算器１１７は、上記第１ホモダイン検波用信号から上記第２ホモダイン検波用信号を減算する。これにより、信号光成分の増幅とノイズ成分の抑圧とが図られたホモダイン検波信号が得られる。
【００１６】
ここで、上記のようなホモダイン方式は、光の干渉効果を利用したものであり、その実現のためには信号光と参照光の光路長を可干渉距離内に収める必要性がある。
光記録媒体についての記録／再生を行う光学ドライブ装置においては、光源として半導体レーザ（レーザダイオード）を用いるが、一般的に半導体レーザの可干渉距離は比較的短いものとされている。特に、光ディスクシステムで用いる場合は、レーザ発振に起因するノイズを低減するためにレーザ駆動信号に高周波パルスを印加する（いわゆる高周波重畳）ということが行われるので、可干渉距離は短く、例えば０．１ｍｍ程度となる。
【００１７】
そして、このとき注意すべきは、光ディスクシステムにおいては、いわゆるフォーカスサーボ制御により、光記録媒体１００の面ブレに追従するようにして対物レンズ１０６が駆動されるという点である。
具体的に、光ディスクシステムにおいて、フォーカスサーボ制御による信号光の光路長の変化量は、およそ０．４ｍｍ程度とされる。従って、上記により説明した構成のままでは、信号光と参照光の光路長差が上記の可干渉距離０．１ｍｍを超えてしまう場合があり、ホモダイン検波を適正に行うことができなくなってしまう。
【００１８】
この点を考慮して上記特許文献１では、図２０に示す１軸アクチュエータ１１６を設けて、信号光の光路長の変化量に応じて参照光の光路長を調整するものとしている。具体的には、該１軸アクチュエータ１１６により、対物レンズ１０６のフォーカス方向の動きに追従させるようにミラー１１５を光軸に平行な方向に駆動するというものである。
これにより、対物レンズ１０６のフォーカスサーボ制御が行われる下でも、信号光と参照光の光路長差を可干渉距離内に収めることができ、ホモダイン検波が適正に行われるようにすることができる。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１９】
しかしながら、上記のようにフォーカスサーボによる対物レンズ１０６の動きに追従させるようにミラー１１５を駆動するためには、高速な駆動手段を備える必要があり、その点でコストアップに繋がる。また、対物レンズ１０６のフォーカスサーボ系からの信号に基づき駆動信号を生成するためには、比較的高速な演算処理を行う必要性があり、回路構成の複雑化や処理負担の増大化を招く。
【課題を解決するための手段】
【００２０】
上記のような問題点に鑑み、本発明では光学ドライブ装置として以下のように構成することとした。
光源より出射された光を第１の光と第２の光とに分光し、上記第１の光を対物レンズを介して光記録媒体に照射し、上記第２の光を平行光により上記光記録媒体に照射すると共に、上記光記録媒体から得られる上記第１の光の反射光と上記第２の光の反射光とを互いの偏光方向が直交した状態で同軸に合成する分光照射合成部を備える。
また、上記分光照射合成部において合成された上記第１の光の反射光と上記第２の光の反射光とを入力し、上記第１の光の反射光に対して該第１の光の反射光と同位相となる上記第２の光の反射光を干渉させた光と、上記第１の光の反射光に対して該第１の光の反射光と逆位相となる上記第２の光の反射光を干渉させた光とを生成するホモダイン検波用光生成部を備える。
また、上記第１の光の反射光に対して該第１の光の反射光と同位相となる上記第２の光の反射光を干渉させた光を受光する第１の受光部を備える。
また、上記第１の光の反射光に対して該第１の光の反射光と逆位相となる上記第２の光の反射光を干渉させた光を受光する第２の受光部を備える。
さらに、上記第１の受光部による受光信号と上記第２の受光部による受光信号との差分を計算してホモダイン検波信号を得る演算部を備えるようにした。
【００２１】
上記のように本発明では、ホモダイン方式において信号光（第１の光）に干渉させる参照光（第２の光）を、従来のように光学系内に配置したミラーにて反射させるのではなく、光記録媒体に照射して反射させるものとしている。このことで、光記録媒体の面ブレが生じた場合において、参照光の光路長をそれに追従させるように変化させることができ、従って、面ブレに追従するように対物レンズが駆動されたとしても、信号光の光路長と参照光の光路長とに差が生じないようにすることができる。
【発明の効果】
【００２２】
本発明によれば、光記録媒体の面ブレが生じた場合においても、信号光の光路長と参照光の光路長とに差が生じないようにすることができる。
この結果、参照光の光路長を信号光のフォーカスサーボ制御に連動して高速に変化させるための構成は不要とすることができる。
【図面の簡単な説明】
【００２３】
【図１】第１及び第２の実施の形態で記録再生対象とする光記録媒体の断面構造を示した図である。
【図２】第１の実施の形態の光学ドライブ装置が備える光ピックアップの構成について説明するための図である。
【図３】第１の実施の形態としての光学ドライブ装置の内部構成について説明するための図である。
【図４】参照光の光軸ずれを検出するための受光部の構造例を示した図である。
【図５】第２の実施の形態の光学ドライブ装置が備える光ピックアップの構成について説明するための図である。
【図６】第２の実施の形態としての光学ドライブ装置の内部構成について説明するための図である。
【図７】バルク記録方式について説明するための図である。
【図８】マイクロホログラム方式について説明するための図である。
【図９】ネガ型マイクロホログラム方式について説明するための図である。
【図１０】実施の形態で記録再生対象とするバルク型記録媒体の断面構造を示した図である。
【図１１】バルク型記録媒体に対するマーク記録時の動作について説明するための図である。
【図１２】バルク型記録媒体の記録再生を行うための光学系の概要について説明するための図である。
【図１３】バルク型記録媒体の再生時におけるサーボ制御について説明するための図である。
【図１４】第３の実施の形態の光学ドライブ装置が備える光ピックアップの構成について説明するための図である。
【図１５】光路長補正部について説明するための図である。
【図１６】第３の実施の形態としての光学ドライブ装置の内部構成について説明するための図である。
【図１７】第４の実施の形態の光学ドライブ装置が備える光ピックアップの構成について説明するための図である。
【図１８】第４の実施の形態としての光学ドライブ装置の内部構成について説明するための図である。
【図１９】変形例としてのバルク型記録媒体の断面構造を示した図である。
【図２０】従来例としての光学ドライブ装置の構成を示した図である。
【発明を実施するための形態】
【００２４】
以下、発明を実施するための最良の形態（以下実施の形態とする）について説明していく。
なお、説明は以下の順序で行うものとする。
＜１．第１の実施の形態＞
[1-1．記録再生対象とする光記録媒体]
[1-2．光学ドライブ装置の構成]
[1-3．まとめ]
＜２．第２の実施の形態＞
[2-1．光学ドライブ装置の構成]
＜３．第３の実施の形態＞
[3-1．バルク型記録媒体について]
[3-2．バルク型記録媒体の記録再生手法について]
[3-3．光学ドライブ装置の構成]
＜４．第４の実施の形態＞
[4-1．光学ドライブ装置の構成]
＜５．変形例＞
【００２５】
＜１．第１の実施の形態＞
[1-1．記録再生対象とする光記録媒体]
図１は、第１の実施の形態において記録再生対象とする光記録媒体１の断面構造を示した図である。
この光記録媒体１は、ディスク状の光記録媒体とされ、回転駆動される光記録媒体１に対するレーザ光照射が行われて記録信号の再生が行われる。
光記録媒体１は、記録可能型、再生専用型の何れの光記録媒体とされてもよく、記録可能型の場合においては、回転駆動される光記録媒体１に対してレーザ光を照射してマーク記録が行われる。
なお光記録媒体とは、光の照射により情報の記録／再生が行われる記録媒体を総称したものである。
【００２６】
図１に示されるように光記録媒体１には、上層側から順にカバー層２、記録層（反射膜）３、基板４が形成されている。
ここで、本明細書において「上層側」とは、後述する実施の形態としての光学ドライブ装置側からのレーザ光が入射する面を上面としたときの上層側を指す。つまりこの場合、光記録媒体１に対しては、カバー層２側からレーザ光が入射することになる（図２（ｂ）等を参照）。
【００２７】
光記録媒体１において、基板４は、例えばポリカーボネートやアクリルなどの樹脂で構成され、図示するようにその上面側には、記録／再生位置を案内するための案内溝の形成に伴う凹凸の断面形状が与えられている。
上記案内溝としては、連続溝（グルーブ）、又はピット列で形成される。例えば光記録媒体１が再生専用型ディスクであり、上記案内溝がピット列で形成される場合、ピットとランドの長さの組み合わせにより情報記録が行われる。或いは、光記録媒体１が記録可能型ディスクであり、上記案内溝がグルーブとされる場合、当該グルーブを周期的に蛇行（ウォブル）させて形成することで、該蛇行の周期情報により位置情報（絶対位置情報：例えば回転角度情報や半径位置情報など）が記録される。
基板４は、このような案内溝（凹凸形状）が形成されたスタンパを用いた射出成形などにより生成される。
【００２８】
また、上記案内溝が形成された基板４の上面側には、記録層３が形成される。
光記録媒体１が再生専用型ディスクである場合、上記記録層３は、例えば金属膜などによる反射膜が成膜されて形成されたものとなる。
また、光記録媒体１が記録可能型ディスクである場合、上記記録層３は、反射膜が成膜された上で、その上層に記録材料が成膜されて形成されたものとなる。
何れにしても記録層３は、入射光を反射する反射膜として機能する。
【００２９】
上記記録層３の上層側に形成されるカバー層２は、例えば紫外線硬化樹脂をスピンコート法等により塗布した後、紫外線照射による硬化処理を施すことで形成されたものとなる。
【００３０】
[1-2．光学ドライブ装置の構成]
図２は、上記光記録媒体１についてホモダイン方式による信号再生を行う第１の実施の形態としての光学ドライブ装置が備える光ピックアップＯＰ１の内部構成について説明するための図である。
図２（ａ）は、光ピックアップＯＰ１を光記録媒体１の面内方向に平行な方向で切断したときの断面図を示している。またこの図２（ａ）では、光記録媒体１のディスク中心Ｃと、光記録媒体１の外縁（図中グレーによる太線）も併せて示している。
また図２（ｂ）は、光ピックアップＯＰ１内におけるミラー１６、第２ガルバノミラー２７のそれぞれから光記録媒体１の表面までの間に設けられる構成を、図２（ａ）に示す矢印Ｙの方向から見たときの断面図によって示している。
【００３１】
図２（ａ）において、光ピックアップＯＰ１内には、光記録媒体１に対する記録再生を行うためのレーザ光の光源となるレーザ（半導体レーザ）１０が設けられている。
該レーザ１０より出射されたレーザ光は、コリメーションレンズ１１を介して平行光となるようにされた後、λ／２板（１／２波長板）１２を介して偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ）１３に入射する。
【００３２】
このとき、上記偏光ビームスプリッタ１３は、例えばＰ偏光を透過しＳ偏光を反射するように構成されているとする。その上で、上記λ／２板１２の取り付け角度（レーザ光の入射面内における回転角度）は、上記偏光ビームスプリッタ１３を透過して出力される光（Ｐ偏光成分）と反射して出力される光（Ｓ偏光成分）との比率（すなわち偏光ビームスプリッタ１３による分光比）が１：１となるように調整されているとする。
【００３３】
偏光ビームスプリッタ１３を透過したレーザ光は、λ／４板（１／４波長板）１４を介した後、光路長補正板１５に入射する。
光路長補正板１５は、信号光と参照光の光路長を設計上一致させるために挿入されたものである。すなわち、例えば光学ドライブ装置が製品として出荷される前段階で、光路長についての微調整を予め行っておくために挿入されたものである。
【００３４】
光路長補正板１５を介したレーザ光はミラー１６に入射する。図２（ｂ）に示されるように、このようにミラー１６に入射したレーザ光は、その光軸が９０°折り曲げられるようにして反射され、２軸アクチュエータ１８により保持された対物レンズ１７を介して、光記録媒体１の記録層３に集光するようにして照射される。
【００３５】
上記２軸アクチュエータ１８は、対物レンズ１７をフォーカス方向（光記録媒体１に対して接離する方向）及びトラッキング方向（光記録媒体１の半径方向に平行な方向：上記フォーカス方向とは直交関係となる方向）に変位可能に保持する。
２軸アクチュエータ１８にはフォーカスコイル、トラッキングコイルが備えられており、これらフォーカスコイル、トラッキングコイルにそれぞれ後述するフォーカスドライブ信号ＦＤ、トラッキングドライブ信号ＴＤが供給されることで、対物レンズ１７を上記フォーカス方向、トラッキング方向にそれぞれ変位させる。
【００３６】
ここで図２（ａ）を参照して分かるように、本例の場合、光学系の配置方向は、光源であるレーザ１０側からミラー１６へと入射するレーザ光の光軸の方向（及び後述する第１ガルバノミラー２５にて反射され第２ガルバノミラー２７に入射する参照光の光軸の方向）が、光記録媒体１に形成されるトラック（案内溝：図中の破線部）の形成方向に対し４５°の角度を為すようにして設定されている。
これは、対物レンズ１７を介したレーザ光の集光位置と、第２ガルバノミラー２７を介して光記録媒体１に照射される参照光の照射位置（照射光軸の位置）とが同一トラック上（すなわち同じ半径位置）に並ぶようにするためである。
なおこのことからも理解されるように、図２（ａ）において上記トラッキング方向とは、紙面右斜め方向に平行な方向となる。
【００３７】
説明を戻す。
上述のように記録層３に対してレーザ光が照射されることに応じては、該記録層３からの反射光（信号光）が得られる。該反射光は、図２（ｂ）に示す対物レンズ１７を介しミラー１６にて反射された後、図２（ａ）に示す光路長補正板１５→λ／４板１４を介して、上述した偏光ビームスプリッタ１３に入射する。
【００３８】
ここで、このように偏光ビームスプリッタ１３に入射する反射光は、上記λ／４板１４による作用と記録層３上での反射時の作用とにより、その偏光方向が、レーザ１０側から入射し該偏光ビームスプリッタ１３を透過した光（往路光とする）の偏光方向に対して９０°異なるものとなっている。すなわち上記反射光はＳ偏光となる。
このため上記のように入射した反射光は、偏光ビームスプリッタ１３にて反射される。
【００３９】
偏光ビームスプリッタ１３にて反射された上記反射光は、図中の無偏光ビームスプリッタ（ＢＳ）１９においてその一部が透過、一部が反射される。
無偏光ビームスプリッタ１９にて反射された反射光は、λ／２板２０、集光レンズ２１、偏光ビームスプリッタ２２、第１ホモダイン検波用受光部２３、及び第２ホモダイン検波用受光部２４を有して構成されるホモダイン検波用光学系に入射する。
このホモダイン検波用光学系による作用については後述する。
【００４０】
また、本実施の形態の光学ドライブ装置において、レーザ１０より出射され上述した偏光ビームスプリッタ１３にて反射・出力されたレーザ光（Ｓ偏光）は、ホモダイン方式における参照光として機能する。
このように偏光ビームスプリッタ１３より出力された参照光は、図中の第１ガルバノミラー２５により、その光軸が略９０°（例えば第１ガルバノミラー２５が初期位置の状態において９０°）折り曲げられるようにして反射された後、λ／４板２６を介して、第２ガルバノミラー２７に入射する。
【００４１】
第２ガルバノミラー２７に入射した参照光は、図２（ｂ）に示すようにしてその光軸が略９０°（例えば第１ガルバノミラー２５が初期位置の状態において９０°）折り曲げられるようにして反射され、平行光の状態にて光記録媒体１に対して照射される。
【００４２】
このように光記録媒体１に対して参照光が照射されることに応じては、記録層３より該参照光の反射光が得られる。記録層３により反射された参照光は、第２ガルバノミラー２７にて反射され、図２（ａ）に示すλ／４板２６を介した後、第１ガルバノミラー２５にて反射されて偏光ビームスプリッタ１３に入射する。
【００４３】
このように偏光ビームスプリッタ１３に入射する参照光は、λ／４板２６による作用と記録層３における反射時の作用とにより、その偏光方向が、往路光としての参照光とは９０°異なるものとされる（つまりＰ偏光となる）。従って該参照光は偏光ビームスプリッタ３を透過する。
【００４４】
このように偏光ビームスプリッタ１３を透過した参照光としても、上述した信号光と同様に無偏光ビームスプリッタ１９に入射し、該無偏光ビームスプリッタ１９にてその一部が透過、一部が反射される。
無偏光ビームスプリッタ１９にて反射された参照光は、上述したホモダイン検波用光学系に対して入射する。
【００４５】
ホモダイン検波用光学系において、上記無偏光ビームスプリッタ１９にて反射された信号光及び参照光は、λ／２板２０→集光レンズ２１を介した後、偏光ビームスプリッタ２２に入射する。該偏光ビームスプリッタ２２としても、先の偏光ビームスプリッタ１３と同様にＰ偏光を透過しＳ偏光を透過するように構成されている。
図のように偏光ビームスプリッタ２２にて反射された光は、第１ホモダイン検波用受光部２３の受光面上に集光し、また偏光ビームスプリッタ２２を透過した光は第２ホモダイン検波用受光部２４の受光面上に集光する。
【００４６】
ここで、先に説明したようにして偏光ビームスプリッタ１３で反射された信号光（Ｓ偏光）と、偏光ビームスプリッタ１３を透過した参照光（Ｐ偏光）は、その偏光方向が互いに直交する関係となっており、この時点では光の干渉は生じない。
【００４７】
上記ホモダイン検波用光学系において、λ／２板２０は、無偏光ビームスプリッタ１９側より入射する信号光と参照光の偏光方向を、光の進行方向に対し時計回りに４５°回転させるようにその取り付け角度（回転角度）が調整されている。
また上記ホモダイン検波用光学系において、偏光ビームスプリッタ２２によっては、その透過光と反射光とによって、信号光・参照光の双方が、それぞれ偏光方向の直交する光に分光されることになる。
【００４８】
このとき、上記偏光ビームスプリッタ２２を透過した信号光・参照光は、共にＰ偏光であり、従ってこれらの光は同位相の光として第１ホモダイン検波用受光部２３に集光される。つまりこの結果、第１ホモダイン検波用受光部２３側では、信号光に対し、該信号光と同位相の参照光が合成された（干渉した）光が受光されることになる。
図示するように、当該第１ホモダイン検波用受光部２３による受光信号については、受光信号Ｄ_hm1とする。
【００４９】
一方、偏光ビームスプリッタ２２にて反射された信号光・参照光については、上述のようにλ／２板２０によりそれらの光の偏光方向が時計回りに４５°回転されることと、該偏光ビームスプリッタ２２の分光面上での反射時の作用とにより、参照光の位相が、信号光の位相に対して１８０°異なるようにされる。
このことで、第２ホモダイン検波用受光部１１３側では、信号光に対して、該信号光とは逆位相となる参照光が合成された（干渉した）光が受光されることになる。
当該第２ホモダイン検波用受光部２４による受光信号については、受光信号Ｄ_hm2とする。
【００５０】
ここで、これまでの説明からも理解されるように、本実施の形態においては、ホモダイン方式による信号再生を行う場合において信号光と干渉させる参照光（平行光）を、従来のように光学系内に設けたミラーにて反射させるものとはせず、光記録媒体１に対して照射して反射させるものとしている。
このような構成によれば、フォーカスサーボ制御に伴い光記録媒体１の面ブレに追従するように対物レンズ１７が駆動されて信号光の光路長が変化してしまっても、参照光の光路長も面ブレに追従するように変化されることになるため、結果として、面ブレに起因した信号光と参照光の光路長差が生じないようにできる。
つまりこのことで、参照光の光路長を信号光のフォーカスサーボ制御に連動して高速に変化させるための構成は不要とすることができる。
【００５１】
なお確認のために述べておくと、図２においてミラー１６、第２ガルバノミラー２７を設けて偏光ビームスプリッタ１３による分光後のそれぞれの光を９０°反射して光記録媒体１に対して照射する構成としているのは、信号光の光路長と参照光の光路長とを揃えるためである。
ここで、平行光としての参照光を光記録媒体１に対して照射するためには、参照光を対物レンズ１７を介さずに照射する必要があり、従って参照光は、対物レンズ１７を介したレーザ光の集光位置とは異なる位置に照射することとなる。このように参照光の照射位置をずらす必要があるため、例えば先の図２０に示したように９０°反射させない構成とした場合には、参照光の光路長は必然的に信号光の光路長よりも長くなってしまう。そこで、図２のように分光後のそれぞれの光を９０°反射して照射する構成とすることで、ミラー１６及び第２ガルバノミラー２７の配置位置の設定により、信号光と参照光の光路長を揃えることが可能となるようにしている。
【００５２】
また確認のために述べておくと、面ブレは半径位置が異なるとその発生量も異なる。このため本例では、上述のように光学系を４５°配置とすることで、対物レンズ１７を介したレーザ光の照射半径位置と参照光の照射半径位置とが同じとなるようにし、半径位置の違い起因した光路長差が生じないようにしている。
【００５３】
また、面ブレの発生量は光記録媒体１の角度位置によっても異なる。このため、対物レンズ１７を介したレーザ光の照射半径位置と参照光の照射半径位置は、周方向（トラック形成方向）において近接させることが望ましい。
【００５４】
ところで、上記のように参照光を光記録媒体１に対して平行光により照射する本実施の形態においては、いわゆるチルトが発生した場合に、参照光の光記録媒体１からの反射光の光軸が、往路光としての参照光の光軸と一致しないものとなってしまう。つまりこのことからも理解されるように、チルトの発生に応じては、信号光と参照光とに光軸のずれが生じてしまうこととなる。
【００５５】
先にも述べたように、ホモダイン方式は、光干渉を利用して信号増幅を図る方式であり、従って適正なホモダイン検波信号が得られるようにするためには、信号光と参照光の光軸が一致していることが望ましいものとなる。
このとき、光軸ずれによってホモダイン検波に与えられる影響が無視できる程度に軽微であるときには、特段の対処は不要であるが、再生信号の更なるＳ／Ｎの改善を図るとした場合等には、上記のような信号光と参照光の光軸ずれは可能な限り補正されることが望ましい。
【００５６】
そこで、本実施の形態では、チルトによる参照光の光軸ずれを補正するための構成を設けるものとしている。
具体的に、図２に示す光ピックアップＯＰ１内において、チルト補正のための構成としては、図中の偏光ビームスプリッタ２８、集光レンズ２９、軸ずれ検出用受光部３０と、上述した第１ガルバノミラー２５、第２ガルバノミラー２７とが該当する。
【００５７】
前者の偏光ビームスプリッタ２８、集光レンズ２９、軸ずれ検出用受光部３０は、光軸ずれ量の検出光学系を構成するものとなる。
上記偏光ビームスプリッタ２８には、先に述べた無偏光ビームスプリッタ１９を透過した信号光（Ｓ偏光）と参照光（Ｐ偏光）が入射される。この偏光ビームスプリッタ２８としても、Ｐ偏光を透過、Ｓ偏光を反射するように構成されており、従って上記無偏光ビームスプリッタ１９側から入射した信号光は偏光ビームスプリッタ２８にて反射され、参照光のみが偏光ビームスプリッタ２８を透過することになる。
【００５８】
図示するように偏光ビームスプリッタ２８を透過した参照光は、集光レンズ２８を介して軸ずれ検出用受光部３０の受光面上に集光する。
該軸ずれ検出用受光部３０により得られた受光信号は、受光信号Ｄ_axdと称する。
【００５９】
なお、上記受光信号Ｄ_axdに基づく具体的な軸ずれ量の検出手法や、第１ガルバノミラー２５や第２ガルバノミラー２７を用いた具体的な補正手法については後に改めて説明を行う。
【００６０】
図３は、第１の実施の形態の光学ドライブ装置全体の内部構成について説明するための図である。
なお図３において、光ピックアップＯＰ１については、レーザ１０、２軸アクチュエータ１８、第１ガルバノミラー２５、第２ガルバノミラー２７のみを抽出して示している。
【００６１】
図示するように光ピックアップＯＰ１の外部には、記録／再生系の構成として、記録処理部３１、第１再生信号生成回路３２、第２再生信号生成回路３３、減算部３４、再生処理部３５が設けられている。
【００６２】
上記記録処理部３１には、光記録媒体１に対して記録すべきデータ（記録データ）が入力される。記録処理部３１は、入力された記録データに対してエラー訂正符号の付加や所定の記録変調符号化を施すなどして、光記録媒体１に実際に記録される「０」「１」の２値データ列である記録変調データ列を得る。その上で、このように生成した記録変調データ列に基づくレーザ１０の発光駆動を行う。
【００６３】
第１再生信号生成回路３２は、図２に示した第１ホモダイン検波用受光部２３により得られた受光信号Ｄ_hm1に基づき、信号光に対して同位相の参照光が干渉した光についての再生信号を得る。
また、第２再生信号生成回路３３は、図２に示した第２ホモダイン検波用受光部２４により得られた受光信号Ｄ_hm2に基づき、信号光に対して逆位相の参照光が干渉した光についての再生信号を得る。
【００６４】
ここで、本例の場合において、図２に示した第１ホモダイン検波用受光部２３及び第２ホモダイン検波用受光部２４としては共に分割ディテクタにより構成されており、受光信号Ｄ_hm1、受光信号Ｄ_hm2としては、それぞれの受光素子からの受光信号を包括して表したものとなる。
上記第１再生信号生成回路３２、上記第２再生信号生成回路３３は、上記受光信号Ｄ_hm1、受光信号Ｄ_hm2としての、複数の受光素子からの受光信号の和を計算することで上記再生信号を得る。
【００６５】
第１再生信号生成回路３２、第２再生信号生成回路３３により得られたそれぞれの再生信号は、減算部３４に供給される。
減算部３４は、再生信号生成回路３２より供給される再生信号から、第２再生信号生成回路３３より供給される再生信号を減算する。
これにより、ホモダイン検波信号が得られる。
【００６６】
ここで、先の図２において説明した通り、信号光と参照光の分光比は１：１に設定されている。この点を踏まえると、第１ホモダイン検波用受光部２３による受光信号Ｄ_hm1、すなわち信号光に同位相の参照光が干渉した光を受光（自乗検波）した結果は、次の［式１］のように表すことができる。
【数１】
但し［式１］において、Ｅsigは信号光の電場を表し、Ｅrefは参照光の電場を表す。またφsigは信号光の位相を表し、φrefは参照光の位相を表す。
この［式１］を展開して、
【数２】
とおく。
【００６７】
一方、第２ホモダイン検波用受光部２４による受光信号Ｄ_hm2、すなわち信号光に逆位相の参照光が干渉した光を受光（自乗検波）した結果は、次の［式３］のように表すことができる。
【数３】
この［式３］についても展開して、
【数４】
とおく。
【００６８】
減算部３４による減算処理は、受光信号Ｄ_hm1と受光信号Ｄ_hm2との差分を計算していることに相当するものであり、これは下記［式５］のように表すことができる。
【数５】
【００６９】
上記減算部３４により得られたホモダイン検波信号は、再生処理部３５に供給される。
再生処理部３５は、上記ホモダイン検波信号について２値化処理や記録変調符号の復号化・エラー訂正処理など、上述した記録データを復元するための再生処理を行い、上記記録データを再生した再生データを得る。
【００７０】
また、光学ドライブ装置内には、レーザ光の照射位置制御を行うための構成として信号光生成回路３６、位置情報検出部３７、サーボ回路３８が設けられている。
信号生成回路３６は、図２に示した第２ホモダイン検波用受光部２４からの受光信号Ｄ_hm2に基づき、位置制御のために必要となる各種の信号を生成する。具体的には、対物レンズ１７についてのフォーカスサーボ制御のためのフォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングサーボ制御のためのトラッキングエラー信号ＴＥを生成する。
また、光記録媒体１が記録可能型ディスクである場合に対応してウォブリンググルーブにより記録される絶対位置情報（半径位置情報や回転角度情報）を検出するための信号として、プッシュプル信号ＰＰを生成する。
【００７１】
図示するようにフォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号ＴＥはサーボ回路３８に対して供給される。
またプッシュプル信号ＰＰは位置情報検出部３７に対して供給される。
【００７２】
なお、ここではフォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号ＴＥなど再生信号以外の位置制御のための信号が、第２ホモダイン検波用受光部２４による受光信号Ｄ_hm2に基づき生成される場合の構成を例示しているが、これら位置制御のための各種の信号は第１ホモダイン検波用受光部２３による受光信号Ｄ_hm1に基づき生成することも勿論可能である。
また、ホモダイン検波用の再生信号のみを生成する側の受光部については、分割ディテクタである必要がないことは言うまでもない。
【００７３】
位置情報検出部３７は、上記プッシュプル信号ＰＰに基づき光記録媒体１に記録された絶対位置情報を検出する。
検出された絶対位置情報はコントローラ３９に対して供給される。
【００７４】
サーボ回路３８は、フォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号ＴＥに基づきフォーカスサーボ信号、トラッキングサーボ信号をそれぞれ生成し、これらフォーカスサーボ信号、トラッキングサーボ信号に基づくフォーカスドライブ信号ＦＤ、トラッキングドライブ信号ＴＤに基づいて、光ピックアップＯＰ１内における２軸アクチュエータ１８のフォーカスコイル、トラッキングコイルを駆動することで、対物レンズ１７についてのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御を行う。
【００７５】
また、サーボ回路３８は、コントローラ３９からの指示に応じて、トラッキングサーボループをオフとして２軸アクチュエータ１８のトラッキングコイルにジャンプパルスを与えることでトラックジャンプ動作を実現したり、トラッキングサーボの引き込み制御等も行う。また、フォーカスサーボの引き込み制御等も行う。
【００７６】
コントローラ３９は、例えばＣＰＵ（Central Processing Unit）やＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）などのメモリ（記憶装置）を備えたマイクロコンピュータで構成され、上記ＲＯＭ等に記憶されたプログラムに従った制御・処理を実行することで、光学ドライブ装置の全体制御を行う。
【００７７】
また、本実施の形態の光学ドライブ装置においては、チルトに伴う参照光の光軸ずれを補正するための構成として、光軸ずれ量検出部４０、第１方向補正部４１、第２方向補正部４２も設けられる。
【００７８】
光軸ずれ量検出部４０は、図２に示した軸ずれ検出用受光部３０による受光信号Ｄ_axdに基づき、参照光の光軸ずれ量を検出する。
【００７９】
ここで本例において、図２に示した軸ずれ検出用受光部３０は、次の図４に示すように受光素子Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを有する４分割ディテクタで構成されている。
図４においては、軸ずれ検出用受光部３０を、図２（ａ）に示した矢印Ｙ方向から見たときの平面図により示している。
この図４において、先の図２に示した光学系の配置方向によると、軸ずれ検出用受光部３０の受光面内においては、紙面の右斜め方向がラジアル方向（ｒａｄ）、左斜め方向がタンジェンシャル方向（ｔａｎ）にそれぞれ対応した方向となる。
また、図２の光学系の構成によると、紙面の縦方向が第１ガルバノミラー２５による光軸補正方向に平行な方向となり、紙面の横方向が第２ガルバノミラー２７による光軸補正方向に平行な方向となる。
【００８０】
軸ずれ検出用受光部３０における各受光素子の配置関係は、図のように［受光素子Ａ・受光素子Ｄ］の組と［受光素子Ｂ・受光素子Ｃ］の組とがそれぞれ第１ガルバノミラー２５による光軸補正方向に平行な方向にて隣接する関係となっており、また［受光素子Ａ・受光素子Ｂ］の組と［受光素子Ｃ・受光素子Ｄ］の組とがそれぞれ第２ガルバノミラー２７による光軸補正方向に平行な方向にて隣接する関係となっている。
図２及び図３に示される受光信号Ｄ_axdは、これら受光素子Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄによる受光信号を包括して表したものとなる。
【００８１】
図３において、光軸ずれ量検出部４０は、上記受光信号Ｄ_axdに基づき、第１ガルバノミラー２５による光軸補正方向に平行な方向における参照光の光軸ずれ量（axd_vとする）と、第２ガルバノミラー２７の光軸補正方向に平行な方向における参照光の光軸ずれ量（axd_hとする）の双方を検出する。
具体的に、光軸ずれ量検出部４０は、受光素子Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄによる受光信号をそれぞれＡi，Ｂi，Ｃi，Ｄiとしたとき、次の［式６］［式７］により光軸ずれ量axd_v、光軸ずれ量axd_hを検出する。
axd_v＝（Ａi＋Ｂi）−（Ｃi＋Ｄi） ・・・[式６]
axd_h＝（Ａi＋Ｄi）−（Ｂi＋Ｃi） ・・・[式７]
図示するように光軸ずれ量axd_vは第１方向補正部４１に供給され、光軸ずれ量axd_hは第２方向補正部４２に対して供給される。
【００８２】
第１方向補正部４１は、上記光軸ずれ量axd_vに基づき、軸ずれ検出用受光部３０上に形成される参照光スポットの、図４の紙面縦方向におけるずれ量をキャンセルするための駆動信号を生成し、これを第１ガルバノミラー２５に供給する。
また、第２方向補正部４２は、上記光軸ずれ量axd_hに基づき、軸ずれ検出用受光部３０上に形成される参照光スポットの、図４の紙面横方向におけるずれ量をキャンセルするための駆動信号を生成し、これを第２ガルバノミラー２７に対して供給する。
これにより、参照光の受光スポット位置を、軸ずれ検出用受光部３０における基準位置（例えば受光面中心）と一致させるように補正を行うことができる。つまりこの結果、ラジアル方向・タンジェンシャル方向の双方のチルトに起因する参照光の光軸ずれを補正することができる。
【００８３】
[1-3．まとめ]
上記のようにして本実施の形態では、ホモダイン方式による信号再生を行う場合において信号光と干渉させる参照光（平行光）を、光記録媒体１に対して照射するものとしている。このような構成により、面ブレに起因した信号光と参照光の光路長差が生じないようにすることができ、その結果、参照光の光路長を信号光のフォーカスサーボ制御に連動して高速に変化させるための構成を不要とすることができる。
【００８４】
また、本実施の形態では、参照光の受光位置ずれ量を検出し、その結果に基づき参照光の光軸を補正するものとしている。
これにより、チルトの発生に対しても安定的なホモダイン検波を行うことができ、再生信号の更なるＳ／Ｎの改善を図ることができる。
【００８５】
＜２．第２の実施の形態＞
[2-1．光学ドライブ装置の構成]
第２の実施の形態は、参照光の受光位置ずれ量の検出結果に基づき、チルト補正（コマ収差補正）を行うものである。
【００８６】
図５は、第２の実施の形態としての光学ドライブ装置が備える光ピックアップＯＰ２の内部構成について説明するための図である。
この図５としても、先の図２（ａ）と同様に、光ピックアップＯＰ２を光記録媒体１の面内方向に平行な方向で切断したときの断面図を示すものであり、光記録媒体１のディスク中心Ｃと、光記録媒体１の外縁（図中グレーによる太線）を併せて示している。
【００８７】
なお図示は省略しているが、図５に示す光ピックアップＯＰ２においても、先の第１の実施の形態で説明した光ピックアップＯＰ１と同様に対物レンズ１７、２軸アクチュエータ１８が備えられている。
【００８８】
また、以下の説明において、既に説明済みとなった部分については同一符号を付してその説明を省略する。
【００８９】
先の図２（ａ）と比較して分かるように、第２の実施の形態の光ピックアップＯＰ２は、先の光ピックアップＯＰ１に対して、対物レンズ１７を介して照射されるレーザ光の光路中（信号光側の光路中）にコマ収差補正用の液晶素子４５を挿入したものとなる。
この液晶素子４５は、参照光を分光出力する偏光ビームスプリッタ１３の分光面から対物レンズ１７までの間において挿入する。具体的にこの場合は、液晶素子４５を、光路長調整板１５とミラー１６との間に挿入するものとしている。
【００９０】
図６は、第２の実施の形態としての光学ドライブ装置全体の内部構成について説明するための図である。
この図６と先の図３とを比較して分かるように、この場合の光学ドライブ装置は、第１の実施の形態の光学ドライブ装置に対して、チルト量推定部４６とチルト補正部４７とが追加されたものとなる。
【００９１】
図示するようにチルト量推定部４６には、第１方向補正部４１から第１ガルバノミラー２５に供給される駆動信号と、第２方向補正部４２から第２ガルバノミラー２７に供給される駆動信号とが、それぞれ分岐して入力される。
チルト量推定部４６は、これら第１ガルバノミラー２５の駆動信号と第２ガルバノミラー２７の駆動信号とに基づき、ラジアル方向のチルト量sti_rad、タンジェンシャル方向のチルト量sti_tanをそれぞれ推定（検出）する。
【００９２】
ここで、先の第１の実施の形態の説明からも理解されるように、第１ガルバノミラー２５と第２ガルバノミラー２７の駆動信号は、チルトの発生に伴う参照光の受光位置ずれに関して、その発生方向（ラジアル方向と直交する方向及びタンジェンシャル方向と直交する方向）と各々の方向へのずれ量とを表すものとなる。
従ってこれら駆動信号に基づき、ラジアル方向のチルト量sti_rad、タンジェンシャル方向のチルト量sti_tanを推定することができる。
【００９３】
なお、上記駆動信号に基づくチルト量sti_rad、sti_tanの推定手法は多様に考えられるものであり、ここで特に限定されるべきものではない。例えば一例として、それぞれの駆動信号の値の組み合わせごとに、対応するラジアル方向チルト量sti_rad、タンジェンシャル方向チルト量sti_tanの値の組を格納したテーブル情報を用いるといった手法を採ることができる。この場合、それぞれの駆動信号の値の組とチルト量sti_rad、sti_tanの値の組との対応関係は、予め実験を行うなどして割り出しておく。
【００９４】
チルト補正部４７は、上記チルト量推定部４６により得られたチルト量sti_rad、チルト量sti_tanの値に基づき、ラジアル方向、タンジェンシャル方向のそれぞれのチルトに起因したコマ収差が補正されるようにして液晶素子４５を駆動する。
【００９５】
このようにして第２の実施の形態によれば、対物レンズ１７を介して照射されるレーザ光についてのチルト補正（コマ収差補正）を行うことができる。これにより、チルトの発生に対しより安定した再生信号品質を維持することができる。
【００９６】
＜３．第３の実施の形態＞
[3-1．バルク型記録媒体について]
続いて、第３の実施の形態について説明する。
第３の実施の形態は、いわゆるバルク型の光記録媒体（以下、バルク型記録媒体と称する）の再生にホモダイン方式による信号再生手法を適用するものである。
【００９７】
ここで、ＣＤ（Compact Disc）やＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＢＤ（Blu-ray Disc：登録商標）など現状において普及している光記録媒体の次世代を担うべき光記録媒体に関し、先に本出願人は、下記の参考文献１や参考文献２に記載されるようないわゆるバルク型記録媒体を提案している。
参考文献１・・・特開２００８−１３５１４４号公報
参考文献２・・・特開２００８−１７６９０２号公報
【００９８】
バルク記録とは、多層記録による大記録容量化を図るための１つの記録手法であり、例えば図７に示すようにして、少なくともカバー層５１とバルク層（記録層）５２とを有する光記録媒体に対し、逐次焦点位置を変えてレーザ光照射を行って、バルク層５２内の深さ方向において選択的にマーク記録を行うものである。
なお、本明細書においては「深さ方向」という語を用いるが、該深さ方向は、光記録媒体に照射されるレーザ光の光軸に平行な方向、すなわちフォーカス方向に平行な方向を指すものである。
【００９９】
このようなバルク記録に関して、上記参考文献１には、いわゆるマイクロホログラム方式と呼ばれる記録技術が開示されている。
マイクロホログラム方式は、次の図８に示されるようにして、ポジ型マイクロホログラム方式とネガ型マイクロホログラム方式とに大別される。
マイクロホログラム方式では、バルク層５２の記録材料として、いわゆるホログラム記録材料が用いられる。ホログラム記録材料としては、例えば光重合型フォトポリマ等が広く知られている。
【０１００】
ポジ型マイクロホログラム方式は、図８（ａ）に示すように、対向する２つの光束（光束Ａ、光束Ｂ）を同位置に集光して微細な干渉縞（ホログラム）を形成し、これを記録マークとする手法である。
【０１０１】
また、図８（ｂ）に示すネガ型マイクロホログラム方式は、ポジ型マイクロホログラム方式とは逆の発想で、予め形成しておいた干渉縞をレーザ光照射により消去して、当該消去部分を記録マークとする手法である。
【０１０２】
図９は、ネガ型マイクロホログラム方式について説明するための図である、
ネガ型マイクロホログラム方式では、記録動作を行う前に、図９（ａ）に示されるようにして予めバルク層５２に対して干渉縞を形成するための初期化処理を行うことになる。具体的には、図中に示すように平行光による光束Ｃ，Ｄを対向して照射し、それらの干渉縞をバルク層５２の全体に形成しておく。
このように初期化処理により予め干渉縞を形成しておいた上で、図９（ｂ）に示されるようにして消去マークの形成による情報記録を行う。具体的には、任意の層位置にフォーカスを合わせた状態で記録情報に応じたレーザ光照射を行うことで、消去マークによる情報記録を行うものである。
【０１０３】
また、本出願人は、マイクロホログラム方式とは異なるバルク記録の手法として、例えば参考文献２に開示されるようなボイド（空孔）を記録マークとして形成する記録手法も提案している。
ボイド記録方式は、例えば光重合型フォトポリマなどの記録材料で構成されたバルク層５２に対して、例えば比較的高パワーでレーザ光照射を行い、上記バルク層５２内に空孔（ボイド）を記録する手法である。参考文献２に記載されるように、このように形成された空孔部分は、バルク層５２内における他の部分と屈折率が異なる部分となり、それらの境界部分で光の反射率が高められることになる。従って上記空孔部分は記録マークとして機能し、これによって空孔マークの形成による情報記録が実現される。
【０１０４】
このようなボイド記録方式は、ホログラムを形成するものではないので、記録にあたっては片側からの光照射を行えば済むものとできる。すなわち、ポジ型マイクロホログラム方式の場合のように２つの光束を同位置に集光して記録マークを形成する必要は無いものとできる。
また、ネガ型マイクロホログラム方式との比較では、初期化処理を不要にできるというメリットがある。
なお、参考文献２には、ボイド記録を行うにあたり記録前のプリキュア光の照射を行う例が示されているが、このようなプリキュア光の照射は省略してもボイドの記録は可能である。
ところで、上記のような各種の記録手法が提案されているバルク型記録媒体であるが、該バルク型記録媒体の記録層（バルク層）は、例えば反射膜が複数形成されるという意味での明示的な多層構造を有するものではない。すなわち、バルク層５２においては、通常の多層ディスクが備えているような記録層ごとの反射膜、及び案内溝は設けられていない。
従って、先の図７に示したバルク型記録媒体の構造のままでは、マークが未形成である記録時において、フォーカスサーボやトラッキングサーボを行うことができないことになる。
【０１０５】
このため実際において、バルク型記録媒体としては、次の図１０に示すような構成が採られることとなる。
図１０に示されるように、実際におけるバルク型記録媒体（バルク型記録媒体５０とする）には、案内溝を有する反射面（基準面Ｒｅｆ）が設けられる。
【０１０６】
具体的に、この場合のバルク型記録媒体５０には、上層側から順にカバー層５１、バルク層５２、中間層５３、反射膜５４、基板５５が形成されている。
上記基板５５には、その上面側において、ピット列やウォブリンググルーブによる案内溝（位置案内子）が形成され、そこに反射膜５４が成膜される。そして、このように反射膜５４が成膜された基板５５が、例えば紫外線硬化樹脂などで構成された中間層５３を介して、バルク層５２の下層側に接着される。
【０１０７】
[3-2．バルク型記録媒体の記録再生手法について]
上記のような媒体構造とした上で、バルク型記録媒体５０に対しては、次の図１１に示されるようにマークの記録（又は再生）のためのレーザ光（以下、録再用レーザ光、或いは単に録再光と称する）と、さらに位置制御用のレーザ光としてのサーボ用レーザ光（単にサーボ光とも称する）とを照射するようにされる。
図示するようにこれら録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とは、共通の対物レンズを介してバルク型記録媒体５０に照射される。
【０１０８】
このとき、仮に、上記サーボ用レーザ光と上記録再用レーザ光とが同波長であると、サーボ用レーザ光がバルク層５２を介したときに、マーク記録に悪影響を与える虞がある。このため、従来よりバルク記録方式では、上記サーボ用レーザ光として、録再用レーザ光とは波長帯の異なるレーザ光を用いるものとされている。
【０１０９】
この前提を踏まえた上で、図１１を参照し、バルク型記録媒体５０に対するマーク記録時の動作について説明する。
先ず、案内溝や反射膜の形成されていないバルク層５２に対して多層記録を行うとしたときには、バルク層５２内の深さ方向においてマークを記録する層位置を何れの位置とするかを予め定めておくことになる。図中では、バルク層５２内においてマークを形成する層位置（マーク形成層位置：情報記録層位置とも呼ぶ）として、第１情報記録層位置Ｌ１〜第５情報記録層位置Ｌ５の計５つの情報記録層位置Ｌが設定された場合を例示している。図示するように第１情報記録層位置Ｌ１は、案内溝が形成された反射膜５４（基準面Ｒｅｆ）から深さ方向に第１オフセットｏｆ-L1分だけ離間した位置として設定される。また、第２情報記録層位置Ｌ２、第３情報記録層位置Ｌ３、第４情報記録層位置Ｌ４、第５情報記録層位置Ｌ５は、それぞれ基準面Ｒｅｆから第２オフセットｏｆ-L2分、第３オフセットｏｆ-L3分、第４オフセットｏｆ-L4分、第５オフセットｏｆ-L5分だけ離間した位置として設定される。
【０１１０】
マークが未だ形成されていない記録時においては、録再用レーザ光の反射光に基づいてバルク層５２内の各層位置を対象としたフォーカスサーボ、トラッキングサーボを行うことはできない。従って、記録時における対物レンズのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御は、サーボ用レーザ光の反射光に基づき、当該サーボ用レーザ光のスポット位置が基準面Ｒｅｆにおいて案内溝に追従するようにして行うことになる。
【０１１１】
但し、上記録再用レーザ光は、マーク記録のために上記基準面Ｒｅｆよりも上層側にその合焦位置を設定する必要がある。このため、この場合の光学系には、対物レンズのフォーカス機構とは別途に、録再用レーザ光の合焦位置を独立して調整するための録再光用フォーカス機構が設けられることになる。
【０１１２】
ここで、このような録再光用レーザ光の合焦位置を独立して調整するための機構を含めた、バルク型記録媒体５０の記録再生を行うための光学系の概要を図１２に示しておく。
先ず、図１２においては、図１１にも示した対物レンズが示されている。対物レンズは、２軸アクチュエータによりトラッキング方向及びフォーカス方向に変位可能に保持されている。
【０１１３】
上記のように録再用レーザ光の合焦位置を独立して調整するための機構は、図中のフォーカス機構（エキスパンダ）が該当する。具体的に、このエキスパンダとしてのフォーカス機構は、固定レンズと可動レンズ、及び該可動レンズを録再用レーザ光の光軸に平行な方向に変位可能に保持するレンズ駆動部とを備えて構成されており、上記レンズ駆動部により上記可動レンズが駆動されることで、図中の対物レンズに入射する録再用レーザ光のコリメーションが変化し、それにより録再用レーザ光の合焦位置がサーボ用レーザ光とは独立して調整されるようになっている。
【０１１４】
また、上述のように録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とはそれぞれ波長帯が異なるものとされているので、これに対応しこの場合の光学系では、図中のダイクロイックプリズムにより、録再用レーザ光、サーボ用レーザ光のバルク型記録媒体５０からの反射光がそれぞれの系に分離されるように（つまりそれぞれの反射光検出を独立して行えるように）している。
また、往路光で考えた場合、上記ダイクロイックプリズムは、録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とを同軸上に合成して対物レンズに入射させる機能を有する。具体的にこの図の例の場合、録再用レーザ光は、図示するように上記エキスパンダを介しミラーで反射された後、上記ダイクロイックプリズムの選択反射面で反射されて対物レンズに対して入射するものとされている。一方、サーボ用レーザ光は、上記ダイクロイックプリズムの選択反射面を透過して対物レンズに入射するようにされている。
【０１１５】
図１３は、バルク型記録媒体５０の再生時におけるサーボ制御について説明するための図である。
マーク記録が既に行われたバルク型記録媒体５０の再生時には、記録時のように対物レンズの位置をサーボ用レーザ光の反射光に基づいて制御する必要性はない。すなわち、再生時においては、再生対象とする情報記録層位置Ｌ（以下、情報記録層Ｌと表記する場合もある）に形成されたマーク列を対象として、録再用レーザ光の反射光に基づいて対物レンズのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御を行えばよい。
【０１１６】
上記で説明してきたように、バルク記録方式においては、バルク型記録媒体５０に対し、マーク記録／再生を行うための録再用レーザ光と位置制御用光としてのサーボ用レーザ光とを共通の対物レンズを介して（同一光軸上に合成して）照射するようにした上で、記録時においては、サーボ用レーザ光が基準面Ｒｅｆの案内溝に追従するように対物レンズのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御を行い且つ、録再光用フォーカス機構により録再用レーザ光の合焦位置を別途調整することによって、バルク層５２内に案内溝が形成されていなくとも、バルク層５２内の所要の位置（深さ方向及びトラッキング方向）に対してマーク記録ができるように図られている。
また、再生時には、既に記録されたマーク列に録再用レーザ光の焦点位置が追従するようにして当該録再用レーザ光の反射光に基づく対物レンズのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御を行うことで、バルク層５２内に記録されたマークの再生を行うことができる。
【０１１７】
[3-3．光学ドライブ装置の構成]
以上の前提を踏まえた上で、バルク型記録媒体５０の再生にホモダイン方式を採用した第３の実施の形態としての光学ドライブ装置の構成について説明する。
図１４は、第３の実施の形態の光学ドライブ装置が備える光ピックアップＯＰ３の内部構成について説明するための図である。
図１４（ａ）は、光ピックアップＯＰ３について、先の図２（ａ）の場合と同様にバルク型記録媒体５０の面内方向に平行な方向で切断したときのその断面図を示している（この場合もディスク中心Ｃと記録媒体の外縁も併せて示している）。
また図１４（ｂ）は、光ピックアップＯＰ３内におけるミラー１６、第２ガルバノミラー２７のそれぞれからバルク型記録媒体５０の表面までの間に設けられる構成を、図１４（ａ）に示す矢印Ｙの方向から見たときの断面図により示している。
なおこの図１４（及び後の図１６〜図１８も同様）において、先の図２（ａ）において示したレーザ１０に関しては、録再用レーザ１０と表記する。
【０１１８】
図示するように第３の実施の形態における光ピックアップＯＰ３は、光ピックアップＯＰ１に対して、[固定レンズ６０、可動レンズ６１、レンズ駆動部６２]による録再光用独立フォーカス機構と、ダイクロイックプリズム６３、及び[サーボ用レーザ６４、コリメーションレンズ６５、偏光ビームスプリッタ６６、λ／４板６７、集光レンズ６８、サーボ光用受光部６９]によるサーボ光用光学系が追加されたものとなっている。
【０１１９】
上記録再光用独立フォーカス機構は、偏光ビームスプリッタ１３の分光面からダイクロイックプリズム６３までの間に挿入される。具体的にこの場合は、光路長補正板１５とダイクロイックプリズム６３との間に挿入している。
該録再光用独立フォーカス機構において、固定レンズ６０は光源である録再用レーザ１０により近い側に配置され、可動レンズ６２は上記光源に対しより遠い側に配置されている。可動レンズ６２は、レンズ駆動部６２により入射光軸に平行な方向に駆動され、これにより図１４（ｂ）に示す対物レンズ１７に入射する録再用レーザ光のコリメーションが変化し、該録再用レーザ光の合焦位置をサーボ用レーザ光とは独立して変化させることが可能とされている。
【０１２０】
また、上記ダイクロイックプリズム６３は、少なくとも上記録再光用独立フォーカス機構における可動レンズ６２から対物レンズ１７までの間に設けられればよく、この場合においては、可動レンズ６２とミラー１６との間に挿入している。
ダイクロイックプリズム６３は、録再用レーザ１０を光源とする録再用レーザ光（偏光ビームスプリッタ１３から該ダイクロイックプリズム６３側に出射されるレーザ光）と同波長帯の光は透過し、それ以外の波長による光は反射するように構成されている。
【０１２１】
また、上記サーボ光用光学系において、サーボ用レーザ６４より出射されたサーボ用レーザ光は、コリメーションレンズ６５を介して平行光となるようにされた後、偏光ビームスプリッタ６６に入射する。偏光ビームスプリッタ６６は、このようにサーボ用レーザ６４側から入射したサーボ用レーザ光（往路光）は反射するように構成される。
【０１２２】
偏光ビームスプリッタ６６にて反射されたサーボ用レーザ光は、λ／４板７６を介してダイクロイックプリズム６３に入射する。先に述べたようにダイクロイックプリズム６３は録再用レーザ光と同波長帯の光は透過しそれ以外の波長による光は反射するように構成されているので、上記サーボ用レーザ光はダイクロイックプリズム６３にて反射される。その結果、サーボ用レーザ光は、録再用レーザ光と同軸に合成され、ミラー１６を反射した後対物レンズ１７を介してバルク型記録媒体５０に照射される。
【０１２３】
また、このようにバルク型記録媒体５０にサーボ用レーザ光が照射されたことに応じて得られる当該サーボ用レーザ光の反射光（基準面Ｒｅｆからの反射光）は、対物レンズ１７→ミラー１６を介し、ダイクロイックプリズム６３にて反射された後、λ／４板６７を介して偏光ビームスプリッタ６６に入射する。
このようにバルク型記録媒体５０側から入射したサーボ用レーザ光の反射光（復路光）は、λ／４板６７の作用と基準面Ｒｅｆでの反射時の作用とにより、往路光とはその偏光方向が９０°異なるものとされ、従って復路光としての上記反射光は偏光ビームスプリッタ６６を透過する。
【０１２４】
偏光ビームスプリッタ６６を透過したサーボ用レーザ光の反射光は、集光レンズ６８を介してサーボ光用受光部６９の受光面上に集光する。
ここで、該サーボ光用受光部６９により得られる受光信号については、受光信号Ｄ_svと称する。
【０１２５】
また、第３の実施の形態の光ピックアップＯＰ３においては、参照光の光路中において、光路長調整部７０が挿入されている。
図示するようにこの場合は、光路長調整部７０が、λ／４板２６と第２ガルバノミラー２７との間に挿入された例を示している。
【０１２６】
ここで、先の図１１〜図１３の説明からも理解されるように、バルク型記録媒体５０についての再生を行う際には、所要の情報記録層Ｌを選択することになる。
このように録再用レーザ光の合焦位置が選択されるということは、選択した層位置に応じて、参照光の光路長と信号光の光路長とに差が生じてしまうこととなる。
【０１２７】
バルク記録においては、大記録容量化の要請から、バルク層５２内に例えば数十層程度の多層記録を行うことが想定されている。このため、再生時の層選択に伴う信号光と参照光との光路長差を可干渉距離（例えば０．１ｍｍ程度）に収めることは非常に困難となる。
【０１２８】
そこで、第３の実施の形態では、再生対象とする情報記録層Ｌの位置に応じて参照光の光路長を補正するために、上記光路長調整部７０を設けるものとしている。
【０１２９】
図１５は、光路長調整部７０について説明するための図である。
なお図１５において、図中の縦方向の矢印は参照光の光軸を表している。
この図１５に示されるように、光路長調整部７０は、第１プリズム７０Ａ、第２プリズム７０Ｂ、及びアクチュエータ７０Ｃを有して構成される。
【０１３０】
第１プリズム７０Ａと第２プリズム７０Ｂは、それぞれ同じ頂角を有し、図のようにそれぞれの対向する面が平行な関係となるように向かい合わせで配置される。このような向かい合わせ配置とすることで、当該光路長調整部７０に入／出射する参照光の角度が同じになる。
この場合、第１プリズム７０Ａは、偏光ビームスプリッタ１３の分光面により近い側に配置されたプリズムであるもとし、第２プリズム７０Ｂは上記分光面に対しより遠い側に配置されたプリズムであるとする。
【０１３１】
アクチュエータ７０Ｃは、１軸アクチュエータであり、第２プリズム７０Ｂを参照光の光軸に対して直交する方向にスライドさせるように駆動する。
【０１３２】
上記のように構成された光路長調整部７０において、参照光の光路長を短くする場合には、アクチュエータ７０Ｃにより第２プリズム７０Ｂを図１５（ａ）に示される方向に駆動する。具体的には、それぞれのプリズムの対向面間の間隔が広がる方向に駆動するものである。
逆に、参照光の光路長を長くする場合には、図１５（ｂ）に示すように、第２プリズム７０Ｂを図１５（ａ）に示す方向とは逆の方向、すなわちそれぞれのプリズムの対向面間の間隔が狭まる方向に駆動する。
【０１３３】
ここで、上記のようなプリズムのスライド駆動により入射光の光路長が変化する原理は以下のようになる。
先ず、２枚のプリズムのうち、一方のプリズム（この場合は第２プリズム７０Ｂ）を入射光軸に直交する方向においてＸだけ移動させると、光軸上では、
ΔＬ＝Ｘ／ｔａｎθ ・・・[式８]
だけ板厚を変えることができる。但し[式８]において、θはプリズムの頂角である。
【０１３４】
ここで、板厚＝ｔ、ガラス屈折率＝ｎ、空気の屈折率＝ｎairとおく。
板厚ｔがΔＬだけ変化したとすると、その変化した距離だけ空気の層と入れ替わることになるので、実効的な光路長は、以下のように変化する。
ΔＬ／ｎ−ΔＬ／ｎair ・・・[式９]
ここで、参照光は光路長調整部７０を往復するので、参照光の実効的な光路長の変化量は、
２×（ΔＬ／ｎ−ΔＬ／ｎair） ・・・[式１０]
となる。
【０１３５】
この[式１０]からも理解されるように、参照光の実効的な光路長は図１５（ａ）のように板厚ｔを増やす方向にプリズムをスライドさせることによっては短くなり、図１５（ｂ）のように板厚ｔを減らす方向にプリズムをスライドさせることによっては長くなる。
【０１３６】
なお、図１５においてはアクチュエータ７０Ｃにより第２プリズム７０Ｂ側をスライドさせる構成を例示したが、第１プリズム７０Ａ側をスライドさせても同様の効果が得られることは言うまでもない。
【０１３７】
ここで、本例の場合において、光路長調整部７０による参照光の光路長の補正は、バルク型記録媒体５０の最も下層側に形成された情報記録層Ｌ５に録再用レーザ光が合焦しているときを基準として行われるものとする。
具体的に、第３の実施の形態の場合、光路長補正板１５による光路長補正（出荷前段階での光路長補正）は、アクチュエータ７０Ｃの可動範囲内でプリズムを一番近づけた状態（つまり参照光光路長を最も長く調整した状態）で且つ、録再用レーザ光が上記情報記録層Ｌ５に合焦する状態において、信号光と参照光の光路長を一致させるようにして行われており、従って、この場合における光路長調整部７０による参照光の光路長補正は、上記情報記録層Ｌ５が選択された状態では補正が不要となり、上層側の情報記録層Ｌを選択するほど補正量が大となるように行われる。
【０１３８】
この前提を踏まえた上で、例えば情報記録層Ｌ５から最も上層側に位置する情報記録層Ｌ１までの間の厚みが０．３ｍｍであり、メディアの屈折率が１．５程度であると仮定すると、層選択に伴い生じ得る信号光の最大光路長変化量、すなわち情報記録層Ｌ５を選択した場合と情報記録層Ｌ１を選択した場合とでの光路長変化量は、空気換算で０．２ｍｍ程度となる。
このとき、光路長調整部７０における各プリズムの頂角が２０°、ガラス屈折率ｎ＝１．５程度であるとすると、情報記録層Ｌ１を選択した場合の信号光と参照光の光路長を補正するためには、第２プリズム７０Ｂを図１５（ｂ）に示される方向に０．３ｍｍ程度移動させればよいものとなる。
【０１３９】
図１６は、第３の実施の形態の光学ドライブ装置全体の内部構成について説明するための図である。
図１６において、第３の実施の形態の光学ドライブ装置は、図６に示した第１の実施の形態の光学ドライブ装置と比較して、主にサーボ制御系の構成が異なるものとなっている。
具体的に、図１６に示す光学ドライブ装置には、図６に示した信号生成回路３６に代えてエラー信号生成回路７１が設けられ、またサーボ回路３８に代えて録再光用サーボ回路７２が設けられる。
またこの場合の光学ドライブ装置には、図１４に示したサーボ光用受光部６９による受光信号Ｄ_svに基づく位置情報検出やサーボ制御を実現するための構成として、新たにマトリクス回路７３、サーボ光用サーボ回路７４が設けられている。
またこの場合は、図６に示したコントローラ３９に代えて、コントローラ７６が設けられる。
【０１４０】
上記エラー信号生成回路７１は、図１４に示される第２ホモダイン検波用受光部２４による受光信号Ｄ_hm2に基づき、録再用レーザ光についてのフォーカスエラー信号ＦＥ-rp、トラッキングエラー信号ＴＥ-rpをそれぞれ生成する。
ここで、先の説明からも理解されるように、バルク型記録媒体５０の記録時には、バルク層５２からの録再用レーザ光の反射光は得られないものとなる。すなわち、上記フォーカスエラー信号ＦＥ-rp、トラッキングエラー信号ＴＥ-rpは、再生時において得られるものである。
【０１４１】
録再光用サーボ回路７２は、エラー信号生成回路７１から供給されるフォーカスエラー信号ＦＥ-rp、トラッキングエラー信号ＴＥ-rpに基づき、それぞれフォーカスサーボ信号、トラッキングサーボ信号を生成し、これらフォーカスサーボ信号、トラッキングサーボ信号ＴＳ-rpに基づくフォーカスドライブ信号ＦＤ-rp、トラッキングドライブ信号ＴＤ-rpに基づいて、光ピックアップＯＰ３における２軸アクチュエータ１８のフォーカスコイル、トラッキングコイルを駆動することで、対物レンズ１７についてのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御を行う。
このような録再光用サーボ回路７２による録再用レーザ光の反射光に基づく２軸アクチュエータ１８（対物レンズ２０）のサーボ制御は、再生時において行われるものである。
【０１４２】
また、録再光用サーボ回路７２は、再生時に対応してコントローラ７６から為される指示に応じて、トラッキングサーボループをオフとして上記トラッキングコイルにジャンプパルスを与えることでトラックジャンプ動作を実現したり、トラッキングサーボの引き込み制御等も行う。また、フォーカスサーボの引き込み制御や、層間ジャンプのための制御も行う。
【０１４３】
また、マトリクス回路７３は、サーボ光用受光部６９としての複数の受光素子からの受光信号Ｄ_svに基づき、必要な各種の信号を生成する。
具体的にマトリクス回路７３は、サーボ用レーザ光についてのフォーカスエラー信号ＦＥ-sv、トラッキングエラー信号ＴＥ-svを生成する。
また、基準面Ｒｅｆにおいて記録された絶対位置情報の検出を行うための信号として、プッシュプル信号ＰＰも生成する。
この場合もプッシュプル信号ＰＰは位置情報検出部３７に供給され、該位置情報検出部３７にて検出された位置情報はコントローラ７６に供給される。
【０１４４】
上記フォーカスエラー信号ＦＥ-sv、トラッキングエラー信号ＴＥ-svは、サーボ光用サーボ回路７４に対して供給される。
サーボ光用サーボ回路７４は、上記フォーカスエラー信号ＦＥ-sv、トラッキングエラー信号ＴＥ-svに基づきフォーカスサーボ信号、トラッキングサーボ信号をそれぞれ生成する。そして、これらフォーカスサーボ信号、トラッキングサーボ信号に基づき生成したフォーカスドライブ信号ＦＤ-sv、トラッキングドライブ信号ＴＤ-svに基づき、２軸アクチュエータ１８のフォーカスコイル、トラッキングコイルを駆動することで、対物レンズ１７についてのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御を行う。
先の説明からも理解されるように、このようなサーボ光用サーボ回路７４による対物レンズ１７のフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御は、記録時において行われるものである。
【０１４５】
また、サーボ光用サーボ回路７４は、記録時に対応してコントローラ７６から為される指示に応じて、トラッキングサーボループをオフとして２軸アクチュエータ１８のトラッキングコイルにジャンプパルスを与えることでトラックジャンプ動作を実現したり、トラッキングサーボの引き込み制御等も行う。また、フォーカスサーボの引き込み制御等も行う。
【０１４６】
コントローラ７６は、先のコントローラ３９と同様にＣＰＵやＲＯＭ、ＲＡＭなどのメモリを備えたマイクロコンピュータで構成され、例えば上記ＲＯＭ等に記憶されたプログラムに従った制御・処理を実行することで、光学ドライブ装置の全体制御を行う。
具体的に、この場合におけるコントローラ７６は、先の図１１にて説明したようにして予めバルク層５２内の各情報層位置Ｌに対応して設定されたオフセットｏｆの値に基づいて、録再用レーザ光の合焦位置の制御（設定）を行う。より具体的に、コントローラ７６は、記録時において、記録対象とする情報記録層位置Ｌに対応して設定されたオフセットｏｆ-Lの値に基づき、光ピックアップＯＰ３におけるレンズ駆動部１６（録再光用独立フォーカス機構におけるアクチュエータ）を駆動することで、深さ方向における記録位置の選択を行う。
【０１４７】
また、コントローラ７６は、記録時において、サーボ光用サーボ回路７４に対して対物レンズ１７のフォーカスサーボ制御・トラッキングサーボ制御を実行するように指示を行う。
また、再生時においては、録再光用サーボ回路７２側に対物レンズ１７についてのフォーカスサーボ制御・トラッキングサーボ制御を実行させるように指示を行う。また再生時には、録再光用サーボ回路７４に対する指示を行って、再生対象とする情報記録層Ｌへの録再用レーザ光のフォーカスサーボ引き込み制御を実行させる。すなわち、再生対象とする情報記録層Ｌの選択を行うことに相当するものである。
【０１４８】
また、この場合のコントローラ７６は、再生時において光路長調整部７０を制御することで、再生対象として選択した情報記録層Ｌ（マーク列）の層位置に応じた参照光の光路長補正動作を実行させる。具体的に本例の場合、コントローラ７６は、再生対象とする情報記録層Ｌｘの、最下層の情報記録層Ｌ５からの距離に応じたスライド量の情報を光路長調整部７０におけるアクチュエータ７０Ｃに指示することで、再生対象とする層位置に応じた参照光の光路長補正動作を実行させる。
先に述べたように、この場合の光路長調整部７０による光路長補正は、最下層の情報記録層Ｌ５を基準として行われるようにされている。このことに対応させて、この場合のコントローラ７６には、例えば内部ＲＯＭ等のメモリに対し、情報記録層Ｌ５以外の各情報記録層Ｌごとにアクチュエータ７０のスライド量の情報を対応づけたテーブル情報が格納され、コントローラ７６は、該テーブル情報に基づき、再生対象として選択した情報記録層Ｌに応じたスライド量の情報を取得し、該取得したスライド量の情報を上記アクチュエータ７０Ｃに指示して参照光の光路長補正動作を実行させる。
【０１４９】
上記により説明したように、第３の実施の形態では、参照光の光路長中に光路長調整部７０を設けて、再生対象として選択した層位置に応じて参照光の光路長を補正するようにしたことで、バルク型記録媒体５０についての再生を行う場合、すなわち再生対象とする層位置（マーク列）の選択に応じて信号光と参照光の光路長差が生じ得る場合においても、ホモダイン方式による信号再生が適正に行われるようにすることができる。換言すれば、このような光路長差の補正によりＳ／Ｎの改善が図られる。
【０１５０】
このとき、光路長調整部７０としては、層選択が行われるタイミングでのみ動作するようにされていればよく、面ブレに追従するような高速動作は不要である。このことからも理解されるように、第３の実施の形態によっても、図２０に示した従来例のように面ブレに追従して参照光の光路長を補正するような構成を採る必要はないものとできる。
【０１５１】
なお、本実施の形態のようにバルク型記録媒体の再生にホモダイン検波を適用する場合においては、参照光は、バルク層５２を介してドライブ装置側に戻されることになる。このように参照光がバルク層５２を介すことによっては、バルク層５２内に記録されたマーク列の影響により、参照光の反射光にノイズ成分が重畳する虞がある。そこで、このようなノイズがホモダイン検波に与える影響を抑制するため、反射膜５４としては、全反射膜を用いる。すなわち、このように全反射膜を用いることで、参照光の照射により生じるマーク列からの反射光成分（ノイズ成分）に対し、参照光の反射膜５４からの反射光成分の光強度を大幅に大とすることができ、それによりノイズ成分がホモダイン検波に与える影響を無視できる程度に小とすることができる。
【０１５２】
＜４．第４の実施の形態＞
[4-1．光学ドライブ装置の構成]
続いて、第４の実施の形態について説明する。
第４の実施の形態は、第３の実施の形態のようにバルク型記録媒体５０に対応する場合において、先の第２の実施の形態と同様にチルトに起因したコマ収差の補正を行うようにしたものである。
【０１５３】
図１７は、第４の実施の形態の光学ドライブ装置が備える光ピックアップＯＰ４の内部構成について説明するための図であり、先の図１４（ａ）と同様にバルク型記録媒体５０の面内方向に平行な方向で切断したときの断面図を示している（この場合もディスク中心Ｃと記録媒体の外縁も併せて示している）。
なお図示は省略しているが、この場合も先の光ピックアップＯＰ３等と同様に対物レンズ１７及び２軸アクチュエータ１８が備えられているものとする。
【０１５４】
図１４に示した光ピックアップＯＰ３と比較して分かるように、第４の実施の形態の光ピックアップＯＰ４には、先の第２の実施の形態の光ピックアップＯＰ２が備えていたものと同様の液晶素子４５が追加される。
この液晶素子４５としては、ダイクロイックプリズム６３から対物レンズ１７までの間に挿入されることで、録再用レーザ光とサーボ用レーザ光の双方についてのコマ収差補正が可能となり、例えば本例においては、図のようにダイクロイックプリズム６３とミラー１６との間に挿入している。
なお、録再用レーザ光のみについてコマ収差補正を行う場合には、液晶素子４５は、偏光ビームスプリッタ１３の分光面からダイクロイックプリズム６３までの間に挿入すればよい。
【０１５５】
図１８は、第４の実施の形態としての光学ドライブ装置全体の内部構成について説明するための図である。
先の図１６と比較して分かるように、第４の実施の形態の光学ドライブ装置は、第３の実施の形態の光学ドライブ装置に対して、第２の実施の形態（図６）で説明したチルト量推定部４６及びチルト補正部４７が追加されたものとなっている。
つまりこのような構成により、この場合は録再用レーザ光の受光位置ずれ量に基づくラジアル方向及びタンジェンシャル方向のチルト量sti_rad、sti_tanの推定（検出）が行われ、それらチルト量sti_rad、sti_tanの値に基づき液晶素子４５によるコマ収差補正が実行される。
この結果、録再用レーザ光とサーボ用レーザ光の双方について、ラジアル方向及びタンジェンシャル方向のチルトに起因したコマ収差の補正が実現されるものとなる。
【０１５６】
＜５．変形例＞
以上、本発明の実施の形態について説明したが、本発明としてはこれまでで説明した具体例に限定されるべきものではない。
例えば光学系の構成等は、実際の実施形態に応じて適宜最適とされる構成が採られればよく、本発明の範囲内において適宜変更が可能である。
【０１５７】
また、特に第３及び第４の実施の形態では、バルク型記録媒体への照射光の位置制御を行うにあたり基準とする基準面Ｒｅｆが、バルク層５２よりも下層側に形成される場合に対応した構成を例示したが、図１９に示されるように、基準面Ｒｅｆがバルク層５２よりも上層側に形成されたバルク型記録媒体８０に対しても、本発明は好適に適用できる。
この図１９に示す例において、基準面Ｒｅｆに相当する反射膜８１は、カバー層５１の下層に対して形成されている。バルク型記録媒体８０は、例えばポリカーボネート等の樹脂で構成された基板８３（この場合その上層側の面は平坦面とされる）上に対しバルク層５２を積層し、該バルク層５２の上層に紫外線硬化樹脂をスピンコート法などで塗布して該塗布された紫外線硬化樹脂の上面側にスタンパを押し当てた状態にて紫外線照射を行って案内溝の形成された中間層８２を形成した上で、該中間層８２上への反射膜８１の成膜、及び反射膜８１上へのカバー層５１の積層を行って形成される。
【０１５８】
このようなバルク型記録媒体８０とする場合は、基準面Ｒｅｆを形成する反射膜８１としては、録再用レーザ光をバルク層５２内に到達させ且つ参照光を基準面Ｒｅｆにて反射させるために、半透明反射膜を用いることとなる。
なお、このようなバルク型記録媒体８０に対応するとした場合にも、録再用レーザ光とサーボ用レーザ光の記録時／再生時のサーボ制御手法や光路長調整部７０による参照光の光路長補正の手法自体は、先の第３、第４の実施の形態で説明したものと同様でよいことは言うまでもない。
【０１５９】
また、上記反射膜８１の反射率は、できるだけ大とすることが望ましい。すなわち、反射膜８１の反射率を大とすれば、その分、参照光が該反射膜８１を透過してバルク層５２内に照射されることに応じて生じるノイズ光が参照光の反射光に重畳して与える影響を少なくすることができるためである。
【０１６０】
また、これまでの説明では特に言及はしなかったが、記録可能ディスクとしての光記録媒体に対して記録時に参照光を照射してしまうと、記録特性の悪化等を招いてしまう虞がある（記録光と参照光は同一光源を用いるため）。
そこで、参照光の光路中にシャッタ等の遮光手段を設け、記録時に参照光を遮光するといった構成を採ることもできる。
【０１６１】
また、第２及び第４の実施の形態において、チルト量stiは、ガルバノミラー（２５、２７）の駆動信号から推定するものとしたが、光軸ずれ量検出部４０により検出された光軸ずれ量Ｄ_axdから直接的に推定するようにもできる。
なお、何れの手法とする場合にも、チルト量stiは、参照光の受光位置ずれに基づいて推定していることに変わりはない。
【０１６２】
また、第２及び第４の実施の形態において、チルト起因のコマ収差の補正は、液晶素子４５を用いて行うものとしたが、例えばチルト自体の補正を行うものとして、光記録媒体を傾ける、光ピックアップＯＰ全体を傾ける、或いは対物レンズ１７を傾けるといった構成を採ることもできる。
【０１６３】
またこれまでの説明では、本発明が光記録媒体に対する記録及び再生の双方を行う記録再生装置に適用される場合を例示したが、本発明は光記録媒体に対する再生のみが可能とされた再生専用装置（再生装置）にも好適に適用できることは言うまでもない。
【符号の説明】
【０１６４】
１ 光記録媒体、２,５１ カバー層、３ 記録層、４,５５,８３ 基板、１０ レーザ（録再用レーザ）、１１,６５ コリメーションレンズ、１２,２０ １３,２２,２８,６６ 偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ）、１４,２６,６７ λ／４板、１５ 光路長補正板、１６ ミラー、１７ 対物レンズ、１８ ２軸アクチュエータ、１９ 無偏光ビームスプリッタ（ＢＳ）、２１,２９,６８ 集光レンズ、２３ 第１ホモダイン検波用受光部、２４ 第２ホモダイン検波用受光部、２５ 第１ガルバノミラー、２７ 第２ガルバノミラー、３０ 光軸ずれ検出用受光部、３１ 記録処理部、３２ 第１再生信号生成回路、３３ 第２再生信号生成回路、３４ 減算部、３５ 再生処理部、３６ 信号生成回路、３７ 位置情報検出部、３８ サーボ回路、３９,７６ コントローラ、４０ 光軸ずれ量検出部、４１ 第１方向補正部、４２ 第２方向補正部、ＯＰ１,ＯＰ２,ＯＰ３,ＯＰ４ 光ピックアップ、４５ 液晶素子、４６ チルト量推定部、４７ チルト補正部、５０,８０ バルク型記録媒体、５２ バルク層、５３,８２ 中間層、５４,８１ 反射膜、６０ 固定レンズ、６１ 可動レンズ、６２ レンズ駆動部、６３ ダイクロイックプリズム、６４ サーボ用レーザ、７０ 光路長調整部、７０Ａ 第１プリズム、７０Ｂ 第２プリズム、７０Ｃ アクチュエータ、７１ エラー信号生成回路、７２ 録再光用サーボ回路、７３ マトリクス回路、７４ サーボ光用サーボ回路
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源より出射された光を第１の光と第２の光とに分光し、上記第１の光を対物レンズを介して光記録媒体に照射し、上記第２の光を平行光により上記光記録媒体に照射すると共に、上記光記録媒体から得られる上記第１の光の反射光と上記第２の光の反射光とを互いの偏光方向が直交した状態で同軸に合成する分光照射合成部と、
上記分光照射合成部において合成された上記第１の光の反射光と上記第２の光の反射光とを入力し、上記第１の光の反射光に対して該第１の光の反射光と同位相となる上記第２の光の反射光を干渉させた光と、上記第１の光の反射光に対して該第１の光の反射光と逆位相となる上記第２の光の反射光を干渉させた光とを生成するホモダイン検波用光生成部と、
上記第１の光の反射光に対して該第１の光の反射光と同位相となる上記第２の光の反射光を干渉させた光を受光する第１の受光部と、
上記第１の光の反射光に対して該第１の光の反射光と逆位相となる上記第２の光の反射光を干渉させた光を受光する第２の受光部と、
上記第１の受光部による受光信号と上記第２の受光部による受光信号との差分を計算してホモダイン検波信号を得る演算部と
を備える光学ドライブ装置。
【請求項２】
上記第２の光の反射光の受光位置のずれを検出した結果に基づきその光軸ずれを検出する光軸ずれ検出部と、
上記光軸ずれ検出部による検出結果に基づき、上記第２の光の光軸を補正する光軸補正部とを備える
請求項１に記載の光学ドライブ装置。
【請求項３】
上記光軸ずれ検出部による検出結果に基づきチルト検出を行うチルト検出部を備える請求項２に記載の光学ドライブ装置。
【請求項４】
上記チルト検出部によるチルト検出結果に基づき上記第１の光についてのコマ収差補正を行う収差補正部を備える
請求項３に記載の光学ドライブ装置。
【請求項５】
上記収差補正部は液晶素子によりコマ収差補正を行う請求項４に記載の光学ドライブ装置。
【請求項６】
上記光記録媒体は、
上記第１の光の照射に応じて深さ方向の所要の層位置に選択的にマーク記録が行われるバルク層と、反射膜とを備えて構成されており、
上記バルク層内に形成された再生対象とするマーク列の層位置に応じて上記第２の光の光路長を補正する光路長補正部を備える
請求項１に記載の光学ドライブ装置。
【請求項７】
上記光路長補正部は、
上記第２の光の光路中に挿入された同じ頂角をもつ２枚向かい合わせのプリズムのうち一方のプリズムをスライド移動させることで上記第２の光の光路長を補正する
請求項６に記載の光学ドライブ装置。
【請求項８】
上記光記録媒体に対する記録時において上記第２の光を遮光する遮光部を備える請求項１に記載の光学ドライブ装置。
【請求項９】
光源より出射された光を第１の光と第２の光とに分光し、上記第１の光を対物レンズを介して光記録媒体に照射し、上記第２の光を平行光により上記光記録媒体に照射すると共に、上記光記録媒体から得られる上記第１の光の反射光と上記第２の光の反射光とを互いの偏光方向が直交した状態で同軸に合成する分光照射合成手順と、
上記分光照射合成手順により合成した上記第１の光の反射光と上記第２の光の反射光とを入力し、上記第１の光の反射光に対して該第１の光の反射光と同位相となる上記第２の光の反射光を干渉させた光と、上記第１の光の反射光に対して該第１の光の反射光と逆位相となる上記第２の光の反射光を干渉させた光とを生成するホモダイン検波用光生成手順と、
上記第１の光の反射光に対して該第１の光の反射光と同位相となる上記第２の光の反射光を干渉させた光を受光する第１の受光手順と、
上記第１の光の反射光に対して該第１の光の反射光と逆位相となる上記第２の光の反射光を干渉させた光を受光する第２の受光手順と、
上記第１の受光手順による受光信号と上記第２の受光手順による受光信号との差分を計算してホモダイン検波信号を得る演算手順と
を有するホモダイン検波方法。
【請求項１】
光源より出射された光を第１の光と第２の光とに分光し、上記第１の光を対物レンズを介して光記録媒体に照射し、上記第２の光を平行光により上記光記録媒体に照射すると共に、上記光記録媒体から得られる上記第１の光の反射光と上記第２の光の反射光とを互いの偏光方向が直交した状態で同軸に合成する分光照射合成部と、
上記分光照射合成部において合成された上記第１の光の反射光と上記第２の光の反射光とを入力し、上記第１の光の反射光に対して該第１の光の反射光と同位相となる上記第２の光の反射光を干渉させた光と、上記第１の光の反射光に対して該第１の光の反射光と逆位相となる上記第２の光の反射光を干渉させた光とを生成するホモダイン検波用光生成部と、
上記第１の光の反射光に対して該第１の光の反射光と同位相となる上記第２の光の反射光を干渉させた光を受光する第１の受光部と、
上記第１の光の反射光に対して該第１の光の反射光と逆位相となる上記第２の光の反射光を干渉させた光を受光する第２の受光部と、
上記第１の受光部による受光信号と上記第２の受光部による受光信号との差分を計算してホモダイン検波信号を得る演算部と
を備える光学ドライブ装置。
【請求項２】
上記第２の光の反射光の受光位置のずれを検出した結果に基づきその光軸ずれを検出する光軸ずれ検出部と、
上記光軸ずれ検出部による検出結果に基づき、上記第２の光の光軸を補正する光軸補正部とを備える
請求項１に記載の光学ドライブ装置。
【請求項３】
上記光軸ずれ検出部による検出結果に基づきチルト検出を行うチルト検出部を備える請求項２に記載の光学ドライブ装置。
【請求項４】
上記チルト検出部によるチルト検出結果に基づき上記第１の光についてのコマ収差補正を行う収差補正部を備える
請求項３に記載の光学ドライブ装置。
【請求項５】
上記収差補正部は液晶素子によりコマ収差補正を行う請求項４に記載の光学ドライブ装置。
【請求項６】
上記光記録媒体は、
上記第１の光の照射に応じて深さ方向の所要の層位置に選択的にマーク記録が行われるバルク層と、反射膜とを備えて構成されており、
上記バルク層内に形成された再生対象とするマーク列の層位置に応じて上記第２の光の光路長を補正する光路長補正部を備える
請求項１に記載の光学ドライブ装置。
【請求項７】
上記光路長補正部は、
上記第２の光の光路中に挿入された同じ頂角をもつ２枚向かい合わせのプリズムのうち一方のプリズムをスライド移動させることで上記第２の光の光路長を補正する
請求項６に記載の光学ドライブ装置。
【請求項８】
上記光記録媒体に対する記録時において上記第２の光を遮光する遮光部を備える請求項１に記載の光学ドライブ装置。
【請求項９】
光源より出射された光を第１の光と第２の光とに分光し、上記第１の光を対物レンズを介して光記録媒体に照射し、上記第２の光を平行光により上記光記録媒体に照射すると共に、上記光記録媒体から得られる上記第１の光の反射光と上記第２の光の反射光とを互いの偏光方向が直交した状態で同軸に合成する分光照射合成手順と、
上記分光照射合成手順により合成した上記第１の光の反射光と上記第２の光の反射光とを入力し、上記第１の光の反射光に対して該第１の光の反射光と同位相となる上記第２の光の反射光を干渉させた光と、上記第１の光の反射光に対して該第１の光の反射光と逆位相となる上記第２の光の反射光を干渉させた光とを生成するホモダイン検波用光生成手順と、
上記第１の光の反射光に対して該第１の光の反射光と同位相となる上記第２の光の反射光を干渉させた光を受光する第１の受光手順と、
上記第１の光の反射光に対して該第１の光の反射光と逆位相となる上記第２の光の反射光を干渉させた光を受光する第２の受光手順と、
上記第１の受光手順による受光信号と上記第２の受光手順による受光信号との差分を計算してホモダイン検波信号を得る演算手順と
を有するホモダイン検波方法。
【図１】
【図３】
【図４】
【図６】
【図７】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１５】
【図１６】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【図２】
【図５】
【図８】
【図１４】
【図１７】
【図３】
【図４】
【図６】
【図７】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１５】
【図１６】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【図２】
【図５】
【図８】
【図１４】
【図１７】
【公開番号】特開２０１１−１６５２８５（Ｐ２０１１−１６５２８５Ａ）
【公開日】平成２３年８月２５日（２０１１．８．２５）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１０−２８６４５（Ｐ２０１０−２８６４５）
【出願日】平成２２年２月１２日（２０１０．２．１２）
【出願人】（０００００２１８５）ソニー株式会社 (34,172)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２３年８月２５日（２０１１．８．２５）
【国際特許分類】
【出願日】平成２２年２月１２日（２０１０．２．１２）
【出願人】（０００００２１８５）ソニー株式会社 (34,172)
【Ｆターム（参考）】
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