説明

周回光路装置およびリングレーザジャイロ

【課題】小型のリングレーザジャイロに適し、安価に実現できる新規な周回光路装置を提供する。
【解決手段】基準平面を有する基体10と、基準平面に直交する方向へ、基準平面に対して平行に積層される1以上の基板20、30、40と、光源50とを有し、基体10および/または1以上の基板に、反射面21、22、41が、基準平面に直交する所定の1平面PL1内に法線を有し、基準平面に平行または所定角傾斜して形成され、光源50が、所定の1平面PL1内に光を放射するように配置され、光源50から放射された光が、反射面21、22、41により1平面PL1内を順逆方向に周回してレーザ発振する周回光路LCを形成する。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
この発明は周回光路装置およびリングレーザジャイロに関する。
【背景技術】
【0002】
角速度センサは、カーナビゲーション、カメラの手振れ補正、ゲーム、航空機、ロケット、ロボットなど多くの分野に応用されている。角速度センサとしては、圧電力や静電力により物体を振動させ、発生するコリオリ力を検出して角速度を求める振動型のものや、サニャック効果を利用する光ファイバジャイロ、リングレーザジャイロが従来から知られている。
【0003】
振動ジャイロはゼロ点オフセットが大きく絶対角度の検出には向かない。光ファイバジャイロやリングレーザジャイロは高性能であるが比較的大型で高価であるため一般民生用には向かないとされてきた。
MEMS技術により、リングレーザジャイロの周回光路部をシリコンの異方性エッチングを用いて形成する技術が特許文献1に開示されている。この技術では高精度な周回光路部をバッチ処理で容易に形成することができ、リングレーザジャイロを小型化・低コスト化することができる。
【0004】
しかし、特許文献1記載の技術では「基板と平行な面に周回光路を形成」するため、1軸方向の角速度検出しかできない。2軸方向以上の角速度検出を行う場合、特許文献1記載の周回光路部を使用するのであれば、それぞれの軸方向の検出に用いる周回光路部を2個以上組合せる必要があり、装置が大型化し易い。また、1軸方向の角速度検出に用いる周回光路部を2つ組み合わせる場合、組み付け時に相互の直交性を確保するのが難しい。
【0005】
【特許文献1】特許第3751553号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
この発明は、小型のリングレーザジャイロに適し、安価に実現できる新規な周回光路装置の提供を課題とする。この発明はまた、2軸方向以上の角速度検出を容易に可能にする新規な周回光路装置の提供、さらには、これら周回光路装置を用いるリングレーザジャイロの提供を課題とする。
【課題を解決するための手段】
【0007】
請求項1記載の周回光路装置は、基体と、1以上の基板と、光源とを有する。
「基体」は基準平面を有する。
「1以上の基板」は、基体における基準平面に直交する方向へ、基準平面に対して平行に積層される。
【0008】
基体および/または1以上の基板には3以上の反射面が形成される。
これら3以上の反射面は「基準平面に直交する所定の1平面」内に法線を有し、基準平面に平行または所定角傾斜して形成される。
【0009】
「光源」は、上記所定の1平面内に光を放射するように配置され、光源から放射された光が「上記3以上の反射面により上記1平面内を順逆方向に周回してレーザ発振」する周回光路を形成する。即ち、光源と3以上の反射面とは、上記周回光路が形成されるように位置関係を設定される。
【0010】
請求項2記載の周回光路装置は、請求項1記載の周回光路装置において、第2の光源を有する。そして、基体および/または1以上の基板には、第2の光源用の反射面が3面以上形成されている。第2の光源用の「3面以上の反射面」は、基準平面に直交し、請求項1における所定の1平面と交わる第2の平面内に法線を有し、上記基準平面に平行または所定角傾斜して形成される。
請求項1における「1平面」と上記「第2の平面」とは「基準平面に対して直交」し、且つ、相互に交わる。1平面と第2の平面は「互いに直交する」ように交わるのが良い。
【0011】
第2の光源は、第2の平面内に光を放射するように配置され、第2の光源から放射された光が、第2の光源用の「3面以上の反射面」により「第2の平面内を順逆方向に周回してレーザ発振する第2の周回光路」を形成する。即ち、第2の光源と「第2の光源用の3以上の反射面」とは、第2の周回光路が形成されるように位置関係を設定される。
【0012】
以下、請求項1において「基準平面に直交する1平面」内に形成される周回光路を「第1の周回光路」と呼ぶ。従って、請求項2記載の周回光路装置においては、第1および第2の周回光路が形成される。第1の周回光路を形成するための3以上の反射面と、第2の周回光路を形成するための3以上の反射面とは、相互に独立したものであることもできるが、第1の周回光路を形成するための3以上の反射面のうちに「第2の周回光路を形成するための3面以上の反射面と共通するもの」があってもよい。
【0013】
請求項2記載の周回光路装置では、第2の周回光路を形成するために「第2の光源」が用いられる。第2の光源は「請求項1において第1の周回光路を形成する光源とは別の光源」を用いて良いことは言うまでも無いが、請求項1における「所定の1平面内に周回光路(第1の周回光路)を形成するための光源」と、第2の平面内に周回光路(第2の周回光路)を形成するための第2の光源とを「共通化された1光源」とすることができる(請求項3)。
【0014】
請求項1または2または3記載の周回光路装置において、基体もしくは1以上の基板の1つに「基準平面に平行な面内において光が周回する他の周回光路」を形成するための光源と、3以上の反射面とが形成されていることができる(請求項4)。
即ち、請求項4記載の周回光路装置では、基準平面に直交する面内の1以上の周回光路と、基準平面に平行な周回光路とを形成でき、2軸方向あるいは3軸方向の角速度検出を可能とすることができる。
【0015】
請求項1〜4の任意の1に記載の周回光路装置は「光源から放射される光の発散角を調整する発散角調整手段」を周回光路内に有することが好ましい(請求項5)。この場合、発散角調整手段は「基体もしくは1以上の基板に積層形成」されていることが好ましい(請求項6)。
【0016】
請求項1〜6の任意の1に記載の周回光路装置における1以上の光源としては「半導体レーザ素子」を用いることができる(請求項7)。請求項1〜7の任意の1に記載の周回光路装置において、基体もしくは1以上の基板の何れかを「光源基板」として構成し、この光源基板内に面発光型の光源を配置し、光源基板における「基準平面に平行な両面」からレーザ光を放射するように構成することができる(請求項8)。このような「面発光型の光源」を用い、光源基板における「基準平面に平行な2面からレーザ光を放射するようにすると、前記発散角調整手段の積層形成が容易である。なお、光源としては、上記半導体レーザ素子以外にも固体レーザ素子などを用いることができる。
【0017】
請求項1〜8の任意の1に記載の周回光路装置において、基準平面に対して傾斜した反射面を形成される基体または基板を「(100)面を表面とするシリコン基板」とし、基準平面に対して傾斜した反射面を「(100)面に対して異方性エッチングを施して得られる(111)面」により形成することができる(請求項9)。
【0018】
請求項1〜9の任意の1に記載の周回光路装置において、周回光路の個々を形成する反射面の数は3以上であるが、この反射面数を3もしくは4もしくは6面とすることにより、周回光路の形状を3角形形状もしくは4角形形状もしくは6角形形状とすることができる(請求項10)。
【0019】
この発明のリングレーザジャイロは、周回光路装置と、干渉縞生成手段と、検出手段と、演算手段とを有する(請求項11)。
「周回光路装置」としては上記請求項1〜10の任意の1に記載のものが用いられる。
【0020】
「干渉縞生成手段」は、周回光路装置における周回光路の「順逆方向に周回するレーザ光」の一部を取り出して干渉させ、干渉縞を生成させる手段である。
「検出手段」は、干渉縞生成手段により生成された干渉縞の変化を検出する。
「演算手段」は、検出された干渉縞の変化に基づき角速度を演算する。
【発明の効果】
【0021】
以上に説明したように、この発明によれば新規な周回光路装置とこれを用いるリングレーザジャイロを実現できる。
この発明の周回光路装置では、周回光路が「基準平面に対して直交する平面内」に形成される。基準平面に直交する平面は、互いに法線方向の異なる2つのものが任意に設定できるので、請求項2の場合のように「周回光路面に対する法線方向が互いに異なる2つの周回光路」を任意に設定でき、2軸方向の角速度の検出が容易に可能となる。
【0022】
また、請求項4の周回光路装置のように、基準平面に平行な面内の周回光路を基体もしくは基板に形成することにより、2軸方向または3軸方向の角速度の検出が可能である。
【0023】
また、この発明の周回光路装置は極めて小型に実現することができる。また、周回光路装置は「基体と1以上の基板の積層構造」となっており、アライメントしやすくバッチ生産が可能で安価に実現できる。
この発明のリングレーザジャイロは、このような小型・低コストの周回光路装置を用いることにより、振動ジャイロにおいて問題となる「ゼロ点オフセット」が小さく、高性能であり慣性航法に対する適用が可能で、低コストであるから民生用機器、ロボットなどへの応用範囲を広げることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0024】
図1に、周回光路装置の実施の1形態を説明図的に示す。
図1(a)は周回光路装置の断面図、(b)は(a)における「b−b断面図」、(c)は(a)における「c−c断面図」である。何れも説明図であり、断面を示すハッチ等は適宜省略している。また説明図であるので、各部のサイズの比率等も正確ではないことを付記しておく。以下の図においても同様である。図1に示す周回光路装置の「サイズ」を例示すると、図1(a)〜(c)における「上下・左右方向のサイズ」は、数mm程度である。
【0025】
図1(a)において、符号10は底面基板、符号20は第1反射面基板、符号30はスペーサ基板、符号40は第2反射面基板を示す。また、符号50は光源、符号61、62はマイクロレンズをそれぞれ示す。
この実施の形態において底面基板10は「基体」であり、符号11で示す平面が「基準平面」をなす。第1反射面基板20は「薄い平行平板状」であって、その中央部に、厚み方向を深さ方向として「正4角錐状の孔」が貫通穿設されている。図1(a)〜(c)において、符号21、22、23、24が上記正4角錐状の孔の壁面を示す。これらの壁面のうち、図1(a)に示す壁面21、22が「反射面」として使用されているので、以下、壁面21、22を反射面21、22と呼ぶ。
【0026】
スペーサ基板30は、第1反射面基板20と第2反射面基板40との間を所定の間隔に設定するための基板であり、図1(c)に示すように、正方形形状の穴を厚さ方向に穿設されている。この正方形形状の穴の大きさは、第1反射面基板20に穿設された正4角錐上の穴の「底面の大きさ」よりも一回り大きい。
【0027】
スペーサ基板30の上に設けられた第2反射面基板40は薄い平行平板状であって、図における下方の平面部分が反射面41となっている。
【0028】
光源50は、この実施の形態において「半導体レーザ素子」であり、図1(a)において、図の面内で左右方向へ、基準反射面11に平行にレーザ光を放射する。この実施の形態における半導体レーザ素子は「チップの両端面から発光」し、端面における反射がないように両端面に反射防止膜が形成されている。以下において、光源50を「半導体レーザ素子50」と呼ぶことがある。
【0029】
マイクロレンズ61、62は、半導体レーザ素子50の両側端面近傍に実装され、半導体レーザ素子から放射されるレーザ光の発散角を調整する。即ち、マイクロレンズ61、62は「光源50から放射される光の発散角を調整する発散角調整手段」である。光源50、マイクロレンズ61、62は、基準平面をなす底面基板10の上面に適宜の方法で実装されている。
なお、光源50から放射されるレーザ光は発散性で、周回光路を辿るレーザ光の光束径は位置により変化するが、図面が複雑化するので、このような光束形変化は図1に示されていない。以下の図においても同様である。
図1(b)、(c)において、符号PL1は「周回光路が形成される1平面」であり、図1(b)、(c)に示すように基準平面11に直交する。1平面PL1は図1(a)において「図面に平行」であり、反射面21、22、41は何れも、その法線が1平面PL1に平行であるから、1平面PL1は、これら反射面21、22、41の法線を面内に含む。
【0030】
1平面PL1は、半導体レーザ素子50から放射されるレーザ光と、これらレーザ光の発散角を調整する発散角調整手段としてのマイクロレンズ61、62の光軸とを含んで、基準平面11に直交する平面である。
【0031】
従って、光源1からレーザ光を図1(a)の左右方向へ放射させると、放射されたレーザ光は、マイクロレンズ61、62で発散角を調整され、反射面21、22、41により反射される。光源50から反射面21側へ放射されたレーザ光は、マクロレンズ61で発散角を調整され、反射面21、41、22で順次反射され、マイクロレンズ62を介して光源50へ戻る。光源50から反射面22側へ放射されたレーザ光は、マイクロレンズ62で発散角を調整され、反射面22、41、21で順次反射され、マイクロレンズ61を介して光源50へ戻る。
【0032】
このようにして、光源50から上記2つの向きに放射されたレーザ光は、順逆方向に周回してレーザ発振する周回光路LCを1平面PL1内に形成する。この周回光路は、図1(a)に示すように3角形形状であり「準逆方向の光路は同一」である。マイクロレンズ61、62による発散角の調整は、周回光路を順逆方向に周回して光源50に戻るレーザ光の波面形状を「レーザ発振の効率を良好にする面形状」となるように行われる。
【0033】
即ち、図1に実施の形態を示す周回光路装置は、基準平面11を有する基体10と、基準平面に直交する方向へ、基準平面11に対して平行に積層される1以上の基板20、30、40と、光源50とを有し、1以上の基板20、40に、3以上の反射面21、22、41が、基準平面11に直交する所定の1平面PL1内に法線を有し、基準平面11に平行または所定角傾斜して形成され、光源50が、所定の1平面PL1内に光を放射するように配置され、光源50から放射された光が、3以上の反射面21、22、41により1平面PL1内を順逆方向に周回してレーザ発振する周回光路LCを形成するものである(請求項1)。
【0034】
なお、発散角調整手段としてのマイクロレンズ61、62は上記の如く「周回光路を順逆方向に周回して光源に戻るレーザ光の波面形状が、レーザ発振の効率を良好にする」ように発散角の調整を行うものであり、これらを用いることにより、光源50におけるレーザ発振の効率を高めることができるが、発散角調整手段を用いなくてもレーザ発振が可能で、周回光路を形成できることが知られている。従って、発散角調整手段はこの発明の周回光路装置にとって必須のものではない。
【0035】
また、底面基板10と第1反射面基板20とを「単一の基板」とし、その一方の面に截頭4角錐形状の穴を形成して「基体」とする一方、スペーサ基板30と第2反射面基板40とを「単一の基板」とし、その一方の面に「スペーサの高さに相当する深さの穴」を形成してもよい。このように構成すれば、周回光路装置は「基体の基準表面の上に基準表面に平行に(スペーサの高さに相当する深さの穴を持つ)単一基板を積層した構成として実現することができる。
【0036】
また、スペーサ基板30は「周回光路用の空間」を形成するためのものであるから、第1反射面基板20に形成する正4角錐形状の孔の深さを十分の深く取ることにより、スペーサ基板を介することなく、第1反射面基板20の上に直接、第2反射面基板40を接合することもできる。
【0037】
図1の実施の形態において、基体を構成する底面基板10における「基準平面と逆側の面の形状」は周回光路の形成に何ら影響しないので、基準平面と逆側の部分は平面である必要はなく適宜の形状であることができる。この明細書中において「基板」というとき、基板の形状は必ずしも「平行平板状」であることを要しない。
同様に、第2反射面基板40の「反射面41が形成されていない側の形状」は、周回光路の形成に影響しないので、この部分は平面である必要はなく、適宜の形状であることができる。底面基板10の「基準平面と逆の側の面」や、第2反射面基板40の「反射面41と逆の側の面」は、これを平面に設定し「基準平面に平行な面内において光が周回する他の周回光路」を形成するための光源と、3以上の反射面とを形成することができる。
【0038】
また、図1の実施の形態の周回光路装置では、後述するように、干渉縞を発生させるために「周回光路を順逆方向に周回するレーザ光の一部」を取り出すのは、第2反射面基板40の側で行うことができる。この場合、反射面21、22には金メッキなどを施してレーザ光を反射しやすくしておくのが良い。
【0039】
図1に即して説明したような周回光路装置において、第1反射面基板20に、上記の如き「正4角錐状の斜面をもつ孔」を形成するには、以下のようにすれば良い。
即ち、第1反射面基板20として「シリコン基板」を用い、その表面(1(a)において、スペーサ基板30を設けられる側の面)を「シリコン結晶における(100)面」とし、この(100)面に対して、異方性ウェットエッチングによるエッチングを行うと、(111)面が露呈して正4角錐形状の孔を容易かつ確実に形成することができる(請求項9)。このように形成された(111)面は「反射面」として使用されるが、この反射面が基準平面に対してなす傾斜角は正確に「±54.7度」になる。
【0040】
図1の実施の形態においては、第1反射面基板20は上記の如くに「シリコン基板をエッチングしたもの」であり、大きな開口が形成される方の面に「周回光路の空間を形成するための穴」を貫通させたスペーサ基板30を積層して接合し、さらにその上に、下面に反射面41が形成された第2反射面基板40が積層され接合されている。
【0041】
なお、前述のように、底面基板10と第1反射面基板20とを「単一の基板」とし、その一方の面に「截頭4角錐形状の穴」を形成して「基体」としてもよいが、この場合、基体をシリコン基板として「異方性ウェットエッチングにより反射面となるべき斜面」を形成する際、光源50やレンズ61、62を実装するために「孔の底面部を基準平面に平行な平滑な面」とする必要があるが、このような底面部の形成は必ずしも容易でない。
【0042】
従って、図1に示すように、第1反射面部材に「截頭正4角錐」状の孔を、第1反射面部材20を貫通するように穿設し、この部分を、平坦な平面を基準平面11として持つ底面基板10により塞いで、基準平面11を孔の底面として、この底面に半導体レーザ素子50やレンズ61、62を実装するのがよい。
【0043】
光源としての半導体レーザ素子50は固定台を設けてその上に実装しても良い。
第2反射面基板40の反射面41の位置がずれると「正確な周回光路」を形成できないので、静電アクチュエータなどを設けて「反射面41を図1(a)の上下方向へ微動調整する」ようにしてもよい。
【0044】
図2は、図1の実施の形態の変形例を説明図的に示している。繁雑を避けるため、混同の虞が無いと思われるものについては図1におけると同一の符号を付し、これらに関する説明は図1に関する説明を援用する。
【0045】
図2の実施の形態では、第1反射面基板20(具体的には上記シリコン基板である。)とスペーサ基板30との間にガラス基板70が積層され、このガラス基板70の「基準平面に平行な片面」に、発散角調整手段であるマイクロレンズ71、72が形成されている。
【0046】
半導体レーザ素子50から図の左右方向へ放射されたレーザ光束は、それぞれ反射面21、22により反射され、マイクロレンズ71、72により発散角を調整され、ガラス基板70を透過し、第2反射面基板40の反射面41により反射され、マイクロレンズ71、72を介して反射面21、22に反射され、光源50へ戻り、レーザ発振する周回光路LC1を形成する。スペーサ基板30の厚さ等は、ガラス基板70の厚み等を考慮して、上記周回光路LP1が形成されるように調整される。
【0047】
図1の実施の形態では、マイクロレンズ61、62の光軸が基準平面に平行であるので、一般には、これらを底面基板10の表面に作りこむことは難しく、別体として形成したマイクロレンズ61、62を底面基板10の基準平面に後付で設けることになり、精密な取り付け工程が必要となるが、図2の実施の形態では、マイクロレンズ71、72の光軸がガラス基板の面に直交するので、マイクロレンズ71、72をガラス基板70の表面に形成することはフォトリソグラフィ技術とエッチング等を組合せることにより簡単に実現でき、周回光路装置の製造が容易である。
【0048】
周回光路LC1は「基準平面に直交する1平面(図2の図面に平行な平面である。)」内に形成される。
【0049】
ここで、図1に示したのと同様の周回光路装置を用いて、角速度の検出を行うリングレーザジャイロの実施の1形態を説明する。図3を参照するが、繁雑をさけるため、混同の虞が無いと思われるものについては図1におけると同一の符号を付し、これらに対する説明は図1に関する前述の説明を援用する。
図3(a)において、符号40Aで示す第2反射面基板は反射面40A1を有する。第2反射面基板40Aの反射面40A1でレーザ光を反射する部分は「薄肉化」されて周回するレーザ光の一部を透過させるようになっている。そしてこの薄肉部にプリズム80が設けられている。
【0050】
光源50から図の右方へ放射され、レンズ62を透過したレーザ光の一部は、上記薄肉部を透過してプリズム80のプリズム面81へ入射する。一方、光源50から図の左方へ放射され、レンズ61を透過したレーザ光の一部は、上記薄肉部を透過してプリズム80のコーナー部82へ入射し「コーナー部82への入射光路から僅かにずれ」てプリズム80の斜辺部に戻り、斜辺部で反射されたのちプリズム面81へ入射する。図3(b)はこの状態を拡大して説明図として示している。
【0051】
このようにしてプリズム面81へ2つのレーザ光束が入射することになるが、プリズム80のコーナー部82のコーナー角は「プリズム面81に入射する2光束が、進行方向に互いに微小角をなして重り合う」ように「90度から僅かにずらして設定」されている。
【0052】
このようにして、プリズム面81において2光束が重り合うが、これらはレーザ光でコヒーレントであるから互いに干渉して干渉縞を生じる。図3(c−1)〜(c−3)は、このようにして発生する干渉縞の様子を模式的に示している。
周回光路LPを周回するレーザ光は、順逆方向(図3(a)において時計回りと反時計周り)に周回しており、光路長を共振長としてレーザ発振している。この状態で、周回光路全体が、図面に直交する軸の回りに回転すると、サニャック効果により「時計回りのレーザ発振波長と反時計回りの発振波長」にずれが生じる。このずれをビート周波数として検出することで角速度を求めることができる。
【0053】
図3(c−1)は、角速度:0の状態における干渉縞の状態(基準状態)であり、同図(c−2)、(c−3)は、周回光路LCが、図3(a)の図面に直交する軸の回りに時計方向もしくは反時計方向の回転を生じたときの干渉縞の様子を示している。回転方向が時計方向であるか反時計方向であるかに従い、干渉縞は基準状態から右もしくは左へずれ、そのずれ量は前述の「ビート周波数」に対応し、回転の角側に比例する。
【0054】
従って、干渉縞の様子をCCDセンサ等による干渉縞センサ90により検出し、検出結果に基づき所定の演算を行うことにより、角速度を算出することができる。
【0055】
因みに、演算される角速度:Ωは、上記ビート周波数を「f」、周回光路LPが1平面内で形成する3角形の面積を「S」、周回光路の光路長を「L」、レーザ光の波長を「λ」として、周知の如く、次式で与えられる。
【0056】
Ω=L・λ・f/(4・S) (A)
ビート周波数:fは、干渉縞の変位量により求まるので、干渉縞センサ90の出力をコンピュータ等の演算手段(図示されず)に入力して上記式(A)を演算することにより角速度を算出できるのである。
【0057】
(A)式によれば、角速度:Ωは、周回光路の面積:Sに反比例的である。従って、周回光路の形状は、その面積が大きくなるような形状であることが好ましい。
請求項10の周回光路のように、1つの周回光路を形成するための反射面の数を4あるいは6とすることにより、面積の大きい4角形形状あるいは6角形形状の周回光路を形成できる。
【0058】
即ち、図3に即して説明したリングレーザジャイロは、図3(a)に示す周回光路装置と、この周回光路装置における周回光路LCを順逆方向に周回するレーザ光の一部を取り出して干渉させ、干渉縞を生成させる干渉縞生成手段(第2反射面基板40Aの薄肉部とプリズム80とにより構成される。)と、干渉縞の変化を検出する検出手段90と、検出された干渉縞の変化に基づき角速度を演算する演算手段(図示されないコンピュータ等)を有する(請求項10)。
【0059】
上には、周回光路の例として「3角形形状の場合」を説明した。
以下には、4角形の周回光路と6角形の周回光路を形成する場合の例を説明する。
図4は、4角形の周回光路を形成する周回光路装置の実施の1形態を説明するための図である。図4(a)は正面側から見た断面図であり、符号10は図1におけると同様「底面基板」を示し、その上方の面が「基準平面」をなしている。
【0060】
この基準平面上に、基準平面に直交する方向へ、基準平面に平行に第1反射面基板200、ガラス基板600、スペーサ基板300、第2反射面基板400が積層されている。
【0061】
第1反射面基板200は、これを上方から見ると図4(d)の如くであって、正4角錐状の孔が貫通形成され、孔の小径部に露呈する底面基板10の表面(基準平面)に、光源として前述の半導体レーザ素子50が配置されている。正4角錐の角錐面をなす斜面201、202、203、204は基準平面に対して「45度の傾き角」を有して傾斜しており、この実施の形態においては、斜面201、202が「周回光路を形成する反射面」として用いられている。以下、斜面201、202を反射面201、202と呼ぶ。
【0062】
図4(a)に示すように、光源50から、図の左右方向へ基準平面に平行に放射されるレーザ光は、反射面201、202により反射されると進行方向を90度偏向されて、図4(a)で上方へ向かう。
【0063】
第2反射面基板400は、これを下方から見ると図4(e)の如くであって、正4角錐状の孔が貫通形成されている。正4角錐の角錐面をなす斜面401、402、403、404は、基準平面に対して「45度の傾き角」を有しており、この実施の形態においては、斜面401、402が周回光路を形成する反射面として用いられている。以下、斜面401、402を反射面401、402と呼ぶ。
【0064】
ガラス基板600には、第1反射面基板200側の面に2個のマイクロレンズ601、602が形成されており、反射面201、202に反射されて図4(a)において上方へ向かうレーザ光に対する「発散角調整」を行う。発散角調整されたレーザ光は、スペーサ基板300の空洞を通過して、第2反射面基板400の反射面401、402により反射されると基準平面に平行な光束となり、さらに反射面402、401で反射され、マイクロレンズ602、601を通り、反射面202、201で反射され光源50に戻る。
【0065】
このようにして、図4(a)に示す如く、4角形形状の周回光路LCSが形成される。レーザ光は周回光路LCSを順逆方法(時計方法と反時計方向)に周回し、光源50においてレーザ発振が行われる。
【0066】
図4(b)は(a)状態を図の右方から見た状態を説明する断面図であり、図4(c)は、ガラス基板600を図4(a)の下方から見た状態を示している。これらの図に示すように、光源50、マイクロレンズ601、602は何れも、基準平面に直交する1平面PL1上に位置する。従って、周回光路LCSは1平面PL1内に形成される。
【0067】
第1反射面基板200、第2反射面基板400はシリコン基板により形成できるが、樹脂基板やガラス基板を用い、傾斜角:45度を持つ正4角錐状の孔をモールド整形により形成するようにしてもよい。
【0068】
これら第1、第2反射面基板の反射面は「金メッキなどを施してレーザ光を反射しやすくする」のが良い。図4の実施の形態では、発散角調整手段としてのマイクロレンズ601、602は光源側からのレーザ光を略平行光束とし、周回光路を周回して光源に戻るレーザ光が、半導体レーザ素子の「射出した面とは反対側の端面」でもっとも集光された状態で半導体レーザ内部に戻るようにしている。
【0069】
このような周回光路装置を用いてリングレーザジャイロを構成する場合は、例えば、第2反射面部材400の反射面402の部分を薄肉化して、図3に即して説明したようなプリズム80、干渉縞センサ90や図示されない演算手段を用いて、前述の図3の場合と同様にして角速度の検出を行うことができる。
【0070】
図5に、6角形形状の周回光路を形成する場合の実施の1形態を示す。
図5(a)は正面から見た説明図的な断面図である。同図に示すように、この周回光路装置は、底面基板10の上に、基準平面11(底面基板10の上方の面)に直交する方向へ、基準平面11に平行に、第1反射面基板20、ガラス基板700、光源基板800、ガラス基板700A、第2反射面基板20A、上面基板10Aが積層された構成となっている。
【0071】
第1反射面基板20と第2反射面基板20Aとは同一構成のもので、例えば、図1に用いた第1反射面基板20と同じく、表面を(100)面とするシリコン基板に異方性ウェットエッチングで、基準平面に対する傾斜角が±54.7度の傾斜面((111)面)を持つ正4角錐状の孔を貫通させて穿設されている。
【0072】
第1反射面基板20と第2反射面基板20Aとに穿設された「正4角錐状の孔」の小径部には、底面基板10の上面(基準平面11)、上面基板10Aの下面11Aが露呈している。この実施の形態においては、底面基板10の上面11、上面基板10Aの下面11Aも「反射面」として使用される。
【0073】
光源基板800は、基板内に面発光型のレーザ光源素子801を配置され、光源基板800における「基準平面に平行な2面」からレーザ光を放射するようになっている。レーザ光源素子801は、一般的な面発光レーザとは異なり、光源自体に共振長を規定するための反射ミラーを有していないものとすることで、周回光路長に依存した共振波長が得られるように構成されている。
【0074】
ガラス基板700、700Aには、図の如くマイクロレンズ701、701Aが、光軸を共通にし、且つ、レーザ光源素子801が光軸上に位置するように形成されている。
【0075】
レーザ光源素子801から図5(a)の下方へ放射されるレーザ光についてみると、このレーザ光は、ガラス基板700を透過し、マイクロレンズ701により発散角」核を調整されて略平行な光束となり、第1反射面基板20の反射面21で反射されたのち、底面基板10の上面11(反射面として形成されている。)で反射されて反射面22に入射し、反射されると図5(a)で上方へ向かう光束となり、ガラス基板700、光源基板800、ガラス基板700Aを順次透過して、第2反射面基板20Aの反射面22A、上面基板10Aの下面11A(反射面として形成されている。)で順次反射され、さらに第2反射面基板20Aの反射面21Aで反射されて図5(a)で下方へ向かう光束となり、マイクロレンズ701A、ガラス基板700A、光源基板800を透過してレーザ光源素子801に戻る。
【0076】
このようにして「6角形形状」の周回光路LCHが形成される。即ち、レーザ光源素子801から図5(a)で下方へ放射されたレーザ光は、周回光路LCHを反時計周りに周回し、レーザ光源素子801からず5(a)の上方へ向かって放射されるレーザ光は、周回光路LCHを上記とは逆に時計回りに周回する。この実施の形態においても、レーザ光を反射させる各反射面には「金メッキなどを施してレーザ光を反射し易く」しておくのがよい。
【0077】
図5(b)は、第1反射面基板20と底面基板10の基準平面11と、マイクロレンズ701の位置関係を図5(a)の上方から見た状態を示している。この関係は、第2反射面基板20Aと上面基板10Aと、マイクロレンズ701Aの位置関係と同様である。
レーザ光源素子801はマイクロレンズ701、701Aの光軸上にあるから、周回光路LCHは、基準平面に直交する1平面PL1内に形成される。
【0078】
レーザ光が周回する正確な周回光路を形成できるように、反射面101および反射面101Aは、基準平面と直交する方向に微動できるような構成にしても良い。
【0079】
図5の周回光路装置を用いてリングレーザジャイロを構成する場合には、例えば、上面基板10Aのレーザ光を反射する部分(反射面11Aの部分)を薄肉化して、図3に即して説明したようなプリズム80、干渉縞センサ90や図示されない演算手段を用いて、前述の図3の場合と同様にして角速度の検出を行うことができる。
【0080】
マイクロレンズを用いて発散角調整を行う場合、図2の例のような三角形形状の周回光路LC1ではマイクロレンズ71、72の光軸に対してレーザ光が傾いてしまうが、図4の4角形形状の周回光路や、図5の6角形形状の周回光路では「周回光路の一部をマイクロレンズの光軸に一致させる」ことができ、良好な特性を得ることができる。
【0081】
上には「単一の周回光路」を形成する例に付いて説明した。以下に、上記単一の周回光路を第1の周回光路とし、さらに第2の周回光路を形成する場合の例を、周回光路の形状が3角形形状である場合、4角形形状である場合および6角形形状である場合について説明する。
【0082】
図6は、図1に即して説明した実施の形態を基本形態とし、この基本形態における周回光路を第1の周回光路LC1として、さらに第2の周回光路LC2を形成する実施の形態を示している。図6の実施形態は図1の実施形態を基本とするものであるので、図1の構成に対して付加する部分や変更する部分を除いては、図1におけると同一の符号を付している。
【0083】
図6(a)、(b)は、2つの別個の光源50、51(半導体レーザ素子)を用いて2つの周回光路LC1、LC2を形成する場合の例である(請求項2)。
半導体レーザ素子50は、図6(a)に示すように図の左右方向へ基準平面11(底面基板10の上面)に平行にレーザ光を放射し、半導体レーザ素子51は、同図上下方向へ基準平面に平行にレーザ光を放射する。図6(a)、(b)に示すように、半導体レーザ素子50から放射されるレーザ光の光路は、基準平面に直交する1平面PL1内に3角形形状の周回光路LC1を形成し、半導体レーザ素子51から放射されるレーザ光の光路は、基準平面に直交する第2の平面PL2内に、3角形形状の周回光路LC2を形成する。平面PL1とPL2は何れも基準平面に直交し、かつ相互に直交する。
【0084】
即ち、半導体レーザ素子50から放射されるレーザ光に対しては、反射面21、22、41が「レーザ光を反射して周回させる3面の反射面」を構成し、半導体レーザ素子51から放射されるレーザ光に対しては、反射面23、24、41が「レーザ光を反射して周回させる3面の反射面」を構成している。即ち、第2反射面基板40の反射面41は、2つの周回光路LC1、LC2を形成する2組の「3面の反射面」において共通に用いられている。
【0085】
2つの周回光路LC1、LC2に用いられる2つの半導体レーザ素子50、51の機械的な干渉を避けるため、2つの半導体レーザ素子50、51を「反射面21〜24により形成される正4角錐形状」の中心軸位置から「わずかにオフセット」させて配置している。
【0086】
図6(c)、(d)は、図1の周回光路装置を若干変更して「所定の1平面PL1内に周回光路を形成するための光源と、第2の平面PL2内に周回光路を形成するための第2の光源を共通化して1光源52とした」例である(請求項3)。
【0087】
この例では、図6(c)、(d)に示すように、光源51(レーザ発光素子)は、最上部に配置される光源基板40A内に配置され、第1反射面基板20に穿設された正4角錐形状の軸上に位置している。
光源基板40Aの光源52からの「光の射出部」には膜(図示されず)が形成されており、この膜を適切に設計することで「光の射出角度」をある程度制御することができる。この実施の形態では、上記光の射出角度を、図6(c)の上下方向、左右方向について、互いに対向する反射面21、22および反射面23、24に「対称的に入射しうる角度」に拡張し、それぞれの反射面を共振面として発振させることができる。光源52は光源基板内に形成できるので、図6(a)、(b)の例のように2つの光源50、51を底面基板10に実装する手間が省ける。このようにして、基準平面に直交すると共に、互いに直交する第1及び第2の平面PL1、PL2内に周回光路LC10、LC20を形成することができ、これら第1・第2の周回光路LC10、LC20内でレーザ光が順逆方向に周回する。
【0088】
図6においては、発散角調整手段としてのマイクロレンズは図示を省略されているが、実際には、周回光路ごとに2個のマイクロレンズが適宜の方法で設けられる。
【0089】
図6に示すような2つの周回光路を用いることにより「直交2軸方向の角速度を検出できるリングレーザジャイロ」を構成することができる。
【0090】
図6(a)、(b)に示す場合において、リングレーザジャイロを構成する場合は、第2反射面基板40を図3の場合のように薄肉化し、各周回光路を周回する順逆方向のレーザ光の一部を取り出して干渉させ、干渉縞を検出するようにすれば良い。
【0091】
この場合、プリズム80と同様のものを2個用い、プリズムごとに干渉縞センサを設ける必要がある。2個のプリズムは「その厚みが、レーザ光の光束幅より若干大き」ければよいので、プリズムの厚さは極めて薄くてよく、従って、2個のプリズムや干渉縞センサを、第2反射面基板の薄肉化した部分に、互いに機械的に干渉しないように配置することができる。
【0092】
図7は、4角形形状の2つの周回光路を形成する場合の実施の形態を示している。
図7の実施の形態は、図4の実施の形態を基本形態とするものであるから、この基本形態におけると同様の部分については、図4におけると同一の符号を用いる。
図7(a)、(b)は、2つの別個の光源として半導体レーザ素子50、51を用いて2つの周回光路LCS1、LCS2を形成する場合の例である(請求項2)。
図7(a)に示すように、半導体レーザ素子50は、同図左右方向へ基準平面11(底面基板10の上面)に平行にレーザ光を放射し、半導体レーザ素子51は、同図上下方向へ基準平面に平行にレーザ光を放射する。図7(a)、(b)に示すように、半導体レーザ素子50から放射されるレーザ光の光路は、基準平面11に直交する1平面PL1内に4角形形状の周回光路LCS1を形成し、光源51から放射されるレーザ光の光路は、基準平面11に直交する第2の平面PL2内に4角形形状の周回光路LCS2を形成する。平面PL1とPL2は何れも基準平面11に直交し、かつ相互に直交する。
【0093】
即ち、半導体レーザ素子50から放射されるレーザ光に対しては、反射面201、202、401、402が「レーザ光を反射して周回させる4面の反射面」を構成し、半導体レーザ素子51から放射されるレーザ光に対しては、反射面203、204、403(図示されていないが、図4(e)と同じである。)「404がレーザ光を反射して周回させる4面の反射面」を構成している。
【0094】
2つの周回光路LCS1、LCS2に用いられる2つの光源である半導体レーザ素子50、51の機械的な干渉を避けるために、これらを反射面201〜204により形成される正4角錐形状の中心軸位置から「僅かにオフセット」させて配置している。
【0095】
なお、図6(a)、(b)において、符号SPで示す部分は図4におけるスペーサ基板300、ガラス基板600やマイクロレンズを省略して示す部分である。図示を省略されているガラス基板には、周回光路ごとに2個のマイクロレンズが正方形の頂点位置を示すような位置関係で、配置されることは言うまでもない。
【0096】
図7(c)、(d)は、面発光型のレーザ光源である光源50A、50Bを光源基板に設け、光源50A、51Aからのレーザ光が光源基板両面から基板面に直交するように放射されるようにした例である。光源50A、51Aは共に「光源基板の同一面内に離れて配置」される。この例において図7(d)の「符号SPで示す部分」の構成は、図5における「ガラス基板700、700Aおよび光源基板800の部分」と同様の構成になる。勿論、光源基板には2個の光源50A、51Aが配置されるので、各ガラス基板には、それぞれの光源からのレーザ光の発散角を調整する2個のマイクロレンズ(図示されず)が形成されることになる。
【0097】
このようにして基準平面に対して直交し、互いにも直交する第1の平面PL1、第2の平面PL2内にそれぞれ、周回光路LCS10、LCS20を形成することができる。
【0098】
図7に示すような互いに直交する2つの周回光路を形成してリングレーザジャイロを構成することにより直交2軸方向の角速度を検出できるようになる。
【0099】
図8は、6角形形状の2つの周回光路を形成する場合の実施の形態を示している。
図8の実施の形態は、図5の実施の形態を基本形態とするものであるから、この基本形態におけると同様の部分については、図5におけると同一の符号を用いる。
図8の実施の形態では、面発光型のレーザ光源である2つの光源801、802を用いて、2つの6角形形状の周回光路LCH1、LCH2を形成する例である。図8(b)において、符号SPで示す部分は、構造的には、図5における「ガラス基板700、700A、光源基板800の部分」と同様の構成となる。これを簡略化して符号SPで示している。
【0100】
図8(a)は、光源801、802と第1反射面基板20との位置関係を説明図的に示している。図8(b)に示すように、光源801、802は、共に同一の光源基板の同一面内に離れて配置される。光源基板は「VCSELのような面発光レーザ」で共振膜がないような構成になっている。このように、光源基板には2個の光源801、802が配置されるので、光源基板を挟持する各ガラス基板には、それぞれの光源801、802からのレーザ光の発散角を調整する2個のマイクロレンズ(図示されず)が形成されることになる。光源801、802は、これらのマイクロレンズの光軸上に位置させられる。
このような構成で2つの6角形形状の周回光路LCH1、LCH2が、基準面に直交し、且つ、互いに直交する2つの平面PL1、PL2内に形成される。
【0101】
図8(b)に示すように、光源801から放射されるレーザ光に対しては、反射面21、22、21A、22A、11および11Aが「レーザ光を反射して周回させる6面の反射面」を構成し、光源802から放射されるレーザ光に対しては、反射面23(図示されていないが図5(b)と同じである。)、24、24A、23A(図示されていないが図5(b)における反射面23と対を成す第2反射面基板の反射面である。)、11および11Aが「レーザ光を反射して周回させる6面の反射面」を構成する。
【0102】
従って、反射面11、11Aは、2つの周回光路LCH1、LCH2について共通である。
図8に示すような互いに直交する2つの周回光路を形成してリングレーザジャイロを構成することにより直交2軸方向の角速度を検出できるようになる。
【0103】
ところで、特許文献1は「基板に平行な面内に周回光路を形成し、サニャック効果を利用して1軸方向の角速度検出を行う発明」を開示している。
図9を参照してこの角速度検出を説明すると、基板90Aの平坦な基板面上に形成された半導体レーザ素子97(反射膜コーティングをしていない。)から放射されるレーザ光を、同じく基板90Aの平坦な基板面上に形成されたミラー91〜94による共振回路でレーザ発振させることにより、基板90Aの平坦な基板面に平行な面内で周回する周回光路を形成する。
【0104】
半導体レーザ素子97を含む光路(ミラー91〜94による周回光路)は共振回路形成専用に用い、サニャック効果によって発生する順逆方向に周回する光の干渉縞は、ミラー95、96により形成される外部の干渉縞観測部において観測される。
このような周回光路により基板90Aの基板面に直交する軸の回りの「回転の角速度」を検出できる。
【0105】
この発明の周回光路装置は、上記の如く、基準平面を有する基体上に1以上の基板を積層した基本構造となっており、上に説明した各実施の形態では、積層された基体・基板の積層方向の両端の面は、互いに平行な面となっており、これらの面は周回光路LC1、LC2等が形成される平面PL1、PL2とは直交している。
【0106】
従って、積層された基体・基板の「積層方向の両端の面」の何れかを、基準平面に平行な面となし、この面に「図9に示すような周回光路による角速度検出部」を形成すれば、平面PL1やPL2に形成される周回光路と合わせて、直交3軸方向の角速度を検出することができる。このようにして、請求項4記載の周回光路装置およびこれを用いるリングレーザジャイロ(請求項10)を実現できる。
【0107】
上に図1〜図8に即して説明した周回光路装置は、基体と1以上の基板の積層により構成され、基板や積層される基板の個々に機能(反射面機能やスペーサ機能・発散角調整機能・光源機能等)が割り振られている。そして、周回光路装置はサイズとしては縦・横・高さとも数mmの小さいものであるから、これを1個ずつ個別に作製するのではなく、直径:数10センチの基板を積層数に必要なだけ用意し、各基板に「割り振られた機能に応じた形状等」を多数、2次元的に配列して製造し、各基板を積層することにより、図10に示すような「多数の周回光路1000の2次元的に配列」したものを製作し、その後、各周回光路1000を個別に切り離すことにより、一度に多量の周回光路装置を製造することが容易に可能である。
【図面の簡単な説明】
【0108】
【図1】周回光路装置の実施の1形態を説明するための図である。
【図2】図1の周回光路装置の変形例を説明するための図である。
【図3】リングレーザジャイロの実施の1形態を説明するための図である。
【図4】周回光路装置の実施の別形態を説明するための図である。
【図5】周回光路装置の実施の他の形態を説明するための図である。
【図6】周回光路装置の実施の1形態を説明するための図である。
【図7】周回光路装置の実施の別形態を説明するための図である。
【図8】周回光路装置の実施の他の形態を説明するための図である。
【図9】請求項4記載の周回光路装置の特徴部分を説明するための図である。
【図10】周回光路装置の多数生産を説明するための図である。
【符号の説明】
【0109】
10 基体
20 第1反射面基板
30 スペーサ基板
40 第2反射面基板
50 光源
61、62 マイクロレンズ(発散角調整手段)
LC 周回光路
21、22、41 周回光路を形成するための反射面
PL1 基準平面に直交し、周回光路が形成される仮想的な1平面

【特許請求の範囲】
【請求項1】
基準平面を有する基体と、
上記基準平面に直交する方向へ、上記基準平面に対して平行に積層される1以上の基板と、
光源とを有し、
上記基体および/または上記1以上の基板に、3以上の反射面が、上記基準平面に直交する所定の1平面内に法線を有し、上記基準平面に平行または所定角傾斜して形成され、
上記光源が、上記所定の1平面内に光を放射するように配置され、
上記光源から放射された光が、上記3以上の反射面により上記1平面内を順逆方向に周回してレーザ発振する周回光路を形成することを特徴とする周回光路装置。
【請求項2】
請求項1記載の周回光路装置において、
第2の光源を有し、
基体および/または1以上の基板に、上記第2の光源用の反射面が3面以上、上記基準平面に直交し、所定の1平面と交わる第2の平面内に法線を有し、上記基準平面に平行または所定角傾斜して形成され、
上記第2の光源が、上記第2の平面内に光を放射するように配置され、
上記第2の光源から放射された光が、上記第2の光源用の3面以上の反射面により上記第2の平面内を順逆方向に周回してレーザ発振する第2の周回光路を形成することを特徴とする周回光路装置。
【請求項3】
請求項2記載の周回光路装置において、
所定の1平面内に周回光路を形成するための光源と、第2の平面内に周回光路を形成するための第2の光源が共通化された1光源であることを特徴とする周回光路装置。
【請求項4】
請求項1または2または3記載の周回光路装置において、
基体もしくは1以上の基板の1つに、基準平面に平行な面内において光が順逆方向に周回する他の周回光路を形成するための光源と、3以上の反射面とが形成されていることを特徴とする周回光路装置。
【請求項5】
請求項1〜4の任意の1に記載の周回光路装置において、
光源から放射される光の発散角を調整する発散角調整手段を周回光路内に有することを特徴とする周回光路装置。
【請求項6】
請求項5記載の周回光路装置において、
発散角調整手段が、基体もしくは1以上の基板に積層形成されていることを特徴とする周回光路装置。
【請求項7】
請求項1〜6の任意の1に記載の周回光路装置において、
1以上の光源が半導体レーザ素子であることを特徴とする周回光路装置。
【請求項8】
請求項1〜7の任意の1に記載の周回光路装置において、
基体もしくは1以上の基板の何れかが光源基板として構成され、光源が、上記光源基板内に配置されて、光源基板における基準平面に平行な両面からレーザ光を放射する面発光型の光源であることを特徴とする周回光路装置。
【請求項9】
請求項1〜8の任意の1に記載の周回光路装置において、
基準平面に対して傾斜した反射面を形成される基体または基板が、(100)面を表面とするシリコン基板であり、上記基準平面に対して傾斜した反射面が、上記表面に対して異方性エッチングを施して得られる(111)面により形成されることを特徴とする周回光路装置。
【請求項10】
請求項1〜9の任意の1に記載の周回光路装置において、
周回光路の個々を形成する反射面の数が、3もしくは4もしくは6面であり、周回光路の形状が3角形もしくは4角形もしくは6角形であることを特徴とする周回光路装置。
【請求項11】
請求項1〜10の任意の1に記載の周回光路装置と、
周回光路装置における周回光路を順逆方向に周回するレーザ光の一部を取り出して干渉させ、干渉縞を生成させる干渉縞生成手段と、
上記干渉縞の変化を検出する検出手段と、
検出された干渉縞の変化に基づき角速度を演算する演算手段を有することを特徴とするリングレーザジャイロ。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【図5】
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【図6】
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【図7】
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【図8】
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【図9】
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【図10】
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【公開番号】特開2009−19982(P2009−19982A)
【公開日】平成21年1月29日(2009.1.29)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2007−182578(P2007−182578)
【出願日】平成19年7月11日(2007.7.11)
【出願人】(000006747)株式会社リコー (37,907)
【Fターム(参考)】