測距装置および撮像装置
【課題】 本発明は、測距装置および撮像装置に関し、偏光に起因する測距不能状態に対処することを目的とする。
【解決手段】 対物レンズの瞳と共役な面の互いに異なる位置に配置され、互いに偏光特性が異なる第１および第２の偏光素子と、前記第１の偏光素子を通過した第１の光束と前記第２の偏光素子を通過した第２の光束とを分離する偏光分離素子と、前記第１の光束による第１の像を撮像する第１の撮像素子と、前記第２の光束による第２の像を撮像する第２の撮像素子と、前記第１の像と前記第２の像との相対的なズレに基づいて焦点状態を検出する焦点検出手段とを備え、前記焦点検出手段は、前記焦点状態の検出が不能な場合に距離情報が得られない偏光物体領域を求めることを特徴とする。
【解決手段】 対物レンズの瞳と共役な面の互いに異なる位置に配置され、互いに偏光特性が異なる第１および第２の偏光素子と、前記第１の偏光素子を通過した第１の光束と前記第２の偏光素子を通過した第２の光束とを分離する偏光分離素子と、前記第１の光束による第１の像を撮像する第１の撮像素子と、前記第２の光束による第２の像を撮像する第２の撮像素子と、前記第１の像と前記第２の像との相対的なズレに基づいて焦点状態を検出する焦点検出手段とを備え、前記焦点検出手段は、前記焦点状態の検出が不能な場合に距離情報が得られない偏光物体領域を求めることを特徴とする。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、測距装置および撮像装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、瞳分割方式によって結像光学系の焦点検出を行う光学機器が知られている（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
上述の装置では、回折格子と液晶とを組み合わせた電気光学素子を結像光学系の瞳面に挿入し、射出瞳における異なる領域を通過した光を異なる方向に偏向している。そして、それぞれの光束を結像光学系の像を撮像する撮像素子の異なる領域に結像させ、その撮像データに基づいて位相差ＡＦを行うようにしている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００６−１０６４３５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上述した従来の装置では、偏光により像を分離すると、金属表面、水面、ガラス面等のように反射光が偏光する物体では、一方の像しか得られなくなるため測距不能になるという問題があった。また、ガラスの表面等では、反射、透過それぞれの違う像を見てしまい測距不能になるという問題があった。
【０００６】
本発明は、かかる従来の問題を解決するためになされたもので、偏光に起因する測距不能状態に対処することができる測距装置および撮像装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
第１の発明の測距装置は、対物レンズの瞳と共役な面の互いに異なる位置に配置され、互いに偏光特性が異なる第１および第２の偏光素子と、前記第１の偏光素子を通過した第１の光束と前記第２の偏光素子を通過した第２の光束とを分離する偏光分離素子と、前記第１の光束による第１の像を撮像する第１の撮像素子と、前記第２の光束による第２の像を撮像する第２の撮像素子と、前記第１の像と前記第２の像との相対的なズレに基づいて焦点状態を検出する焦点検出手段とを備え、前記焦点検出手段は、前記焦点状態の検出が不能な場合に距離情報が得られない偏光物体領域を求めることを特徴とする。
【０００８】
第２の発明の測距装置は、第１の発明の測距装置において、前記偏光物体領域は、前記第１の像と前記第２の像の相関による距離情報が得られず、かつ、露光レベルの差が所定値以上の領域であることを特徴とする。
【０００９】
第３の発明の測距装置は、第１または第２の発明の測距装置において、前記焦点検出手段は、前記偏光物体領域の外側近傍の距離情報から前記偏光物体領域の距離情報を補完することを特徴とする。
【００１０】
第４の発明の測距装置は、第１または第２の発明の測距装置において、対象物を表示する表示手段を有し、前記表示手段は前記偏光物体領域に位置するＡＦエリアを非表示にすることを特徴とする測距装置。
【００１１】
第５の発明の測距装置は、第１または第２の発明の測距装置において、対象物を表示する表示手段を有し、前記表示手段は前記偏光物体領域を警告表示することを特徴とする。
【００１２】
第６の発明の測距装置は、対物レンズの瞳と共役な面の互いに異なる位置に配置され、互いに偏光特性が異なる第１および第２の偏光素子と、前記第１の偏光素子を通過した第１の光束と前記第２の偏光素子を通過した第２の光束とを分離する偏光分離素子と、前記第１の光束による第１の像を撮像する第１の撮像素子と、前記第２の光束による第２の像を撮像する第２の撮像素子と、前記第１の像と前記第２の像との相対的なズレに基づいて焦点状態を検出する焦点検出手段と、前記対物レンズと前記第１および第２の偏光素子との間に配置される液晶旋光子と、を有することを特徴とする。
【００１３】
第７の発明の測距装置は、第６の発明の測距装置において、前記焦点検出手段は、前記偏光物体領域が検出された場合に、前記液晶旋光子を作動して前記対物レンズからの光の偏光軸を変更することを特徴とする。
【００１４】
第８の発明の測距装置は、第６の発明の測距装置において、前記焦点検出手段は、焦点検出時に前記液晶旋光子を作動して前記対物レンズからの光の偏光軸を９０度以上回転することを特徴とする。
【００１５】
第９の発明の撮像装置は、第１ないし第８のいずれか１の発明の測距装置を有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１６】
本発明では、偏光に起因する測距不能状態に対処することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】本発明の撮像装置の第１の実施形態を示す説明図である。
【図２】図１の撮像装置の測距の原理を示す説明図である。
【図３】偏光物体がある時の撮影状態を示す説明図である。
【図４】偏光物体がある時の画像処理部の動作を示す説明図である。
【図５】偏光物体領域の補完方法を示す説明図である。
【図６】本発明の撮像装置の第２の実施形態を示す説明図である。
【図７】本発明の撮像装置の第３の実施形態を示す説明図である。
【図８】図７の液晶旋光子を作動した状態を示す説明図である。
【図９】本発明の撮像装置の第４の実施形態を示す説明図である。
【図１０】本発明の撮像装置の第５の実施形態を示す説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
以下、本発明の実施形態を図面を用いて詳細に説明する。
(第１の実施形態)
図１は、本発明の測距装置の第１の実施形態を示している。この実施形態では、本発明が、カメラからなる撮像装置に適用されている。
【００１９】
撮像装置は、対物レンズ１１、偏光素子１３、偏光分離素子１５、第１の撮像素子１７、第２の撮像素子１９、画像処理部２１、カメラ制御部２３、ＡＦ駆動機構２５、システムメモリ２７、画像メモリ２９を備えている。
【００２０】
対物レンズ１１の瞳位置には、偏光素子１３が設けられている。偏光素子１３は、偏光フィルタからなり対物レンズ１１からの光を互いに直交する偏光光束に変換する。偏光素子１３は、光軸を中心にして対称な第１の領域１３ａと第２の領域１３ｂとに分割されている。第１の領域１３ａは、対物レンズ１１からの光を例えばＰ偏光の光に揃える。第２の領域１３ｂは、対物レンズ１１からの光を例えばＳ偏光の光に揃える。
【００２１】
偏光分離素子１５は、偏光素子１３の例えば第１の領域１３ａからのＰ偏光を偏光分離面１５ａを介して透過させ第１の撮像素子１７上に結像させる。一方、偏光分離素子１５は、偏光素子１３の例えば第２の領域１３ｂからのＳ偏光を偏光分離面１５ａで反射させ第２の撮像素子１９上に結像させる。
【００２２】
第１の撮像素子１７と第２の撮像素子１９とは、光学的に等価な位置に配置されており、第１の撮像素子１７にピントの合った像が結像されると、第２の撮像素子１９にもピントの合った像が結像される。第１の撮像素子１７および第２の撮像素子１９には、例えば受光素子が２次元状に配列されたＣＣＤが用いられている。
【００２３】
上述した撮像装置では、第１の撮像素子１７および第２の撮像素子１９の出力はそれぞれ画像処理部２１に送られ、Ａ／Ｄ変換、色処理等の画像処理が施される。また、画像処理部２１では、第１の撮像素子１７および第２の撮像素子１９の出力から得られた画像データに基づいて、焦点検出に関する演算を行う。カメラ制御部２３は、画像処理部２１で算出された焦点検出演算値に基づいてＡＦ駆動機構２５を駆動制御し対物レンズ１１の焦点調節を行う。また、カメラ制御部２３は、カメラの全体を制御する。画像処理部２１で得られた画像データは、画像メモリ２９に記録される。
【００２４】
図２は、上述した撮像装置における焦点検出方式の原理を示している。
【００２５】
物体面Ｍ１から発した光束は対物レンズ１１によって結像される。対物レンズ１１を介して偏光素子１３に光束が入射すると、偏光素子１３の第１の領域１３ａによりＰ偏光に揃えられる。また、偏光素子１３の第２の領域１３ｂによりＳ偏光に揃えられる。第１の領域１３ａからのＰ偏光は、偏光分離素子１５の偏光分離面１５ａを透過して第１の撮像素子１７の像面Ｍ２の近傍に結像される。一方、第２の領域１３ｂからのＳ偏光は偏光分離面１５ａで反射され第２の撮像素子１９の像面Ｍ２の近傍に結像される。
【００２６】
図２(ａ)は合焦状態を示したものであり、Ｐ偏光による像もＳ偏光による像も像面Ｍ２上にかつ同一位置に結像されている。すなわち、第１の撮像素子１７の撮像画像と第２の撮像素子１９の撮像画像とを重ねると、結像位置が一致している。図２（ｂ）は前側にデフォーカスした状態を示している。結像位置は像面Ｍ２よりも後方にあるため、像面Ｍ２上の像はボケており、Ｐ偏光、Ｓ偏光による像の位置にズレが生じている。Ｐ偏光による像は光軸に対して上側に像ズレしており、Ｓ偏光による像は光軸に対して下側に像ズレしている。図２（ｃ）は後側にデフォーカスした状態を示している。Ｐ偏光による像は光軸に対して下側に像ズレしており、Ｓ偏光による像は光軸に対して上側に像ズレしている。
【００２７】
このように、偏光素子１３からの偏光成分を偏光分離素子１５で分離して、第１の撮像素子１７および第２の撮像素子１９に結像することにより各偏光成分の画像を取得し、その２つの画像の中の像の位相差を比較することで、通常の位相差ＡＦと同様にしてデフォーカス量を算出することができる。また、第１の撮像素子１７および第２の撮像素子１９の画像データに基づいて画像を生成することで、被写体の撮影像を取得することができる。
【００２８】
しかしながら、このように偏光により像を分離すると、金属表面、水面、ガラス面等のように反射光が偏光する偏光物体では、偏光方向によっては２つの偏光像に大きな差が生じ測距不能になるおそれがある。
【００２９】
例えば、図３の(ａ)に示すように、カメラからなる撮像装置３１の画枠内に偏光物体Ｈが存在する場合を考える。偏光物体Ｈは、偏光の無い背景物体Ｓの前方に位置している。偏光状態が見えない肉眼で画枠内の画像Ｇを見ると、図３の(ｂ)に示すように見える。偏光物体Ｈは、偏光の無い背景物体Ｓの前方に単に位置している。
【００３０】
このような偏光物体Ｈを第１の撮像素子１７および第２の撮像素子１９で撮像すると、図３の(ｃ)に示すようになる。図の左側の第１の撮像素子１７による第１の画像Ｇ１では、例えばＰ偏光の偏光物体Ｈの像が撮像されている。しかしながら、図の右側の第２の撮像素子１９による第２の画像Ｇ２では、偏光物体Ｈにより例えばＳ偏光が反射され偏光物体Ｈの像は撮像されていない。このような場合には、偏光物体Ｈの輪郭部分は測距可能であるが、偏光物体Ｈの内側を測距することはできない。
【００３１】
この実施形態の撮像装置では、偏光に起因する測距不能状態が生じた場合には、画像処理部２１は、補間距離データを得ることで測距を行う。図４は、測距動作を示すフローチャートである。
【００３２】
ステップＳ１：第１の撮像素子１７および第２の撮像素子１９により、第１の画像Ｇ１および第２の画像Ｇ２を取得する。この実施形態では、図３の(ｃ)のような第１の画像Ｇ１および第２の画像Ｇ２が取得されたとして説明する。
【００３３】
ステップＳ２：第１の画像Ｇ１と第２の画像Ｇ２との相関がとれないか否かを判断する。偏光物体Ｈを検出するには、２像の相関がとれず、かつ、２像の露光レベルに所定値以上の差がある領域を抽出すれば良い。従って、先ず、第１の画像Ｇ１と第２の画像Ｇ２との相関がとれないか否かを判断する。図３の(ｃ)では、右側の第２の画像Ｇ２において偏光物体Ｈの像が撮像されていないため相関がとれないと判断する。
【００３４】
ステップＳ３：第１の画像Ｇ１と第２の画像Ｇ２との相関がとれない場合には、２像の露光レベルに所定値以上の差があるか否かを判断する。所定値とは、画像のゲイン調整等で２像のレベルを揃えられなく値を閾値とする。これは、撮像素子のＳＮ特性や測距アルゴリズム等に依存するので、客観的に決定される一定値ではない。なお、２像の相関がとれないが、露光レベルの差が小さい物体は、測距不能の原因が被写体の模様や形状等に起因する可能性が高く、測距アルゴリズムを変える等別の対応が必要になる。図３の(ｃ)では、右側の第２の画像Ｇ２において偏光物体Ｈの像が黒くなっているため２像の露光レベルに所定値以上の差があると判断する。
【００３５】
図３の(ｃ)の第１の画像Ｇ１では、図５の(ａ)の左側に示すように、偏光物体Ｈの像の偏光物体領域Ｒ１は、ある程度の画像レベル(被写体輝度)を有している。一方、図３の(ｃ)の第２の画像Ｇ２では、図５の(ａ)の右側に示すように、偏光物体Ｈの像の偏光物体領域Ｒ２は殆ど画像レベル(被写体輝度)を有していない。従って、２像の相関から距離情報を得るいわゆる位相差ＡＦと同様の処理を行っても、図５の(ｂ)に示すように、被写体輝度の殆どない領域は検出困難領域Ｒ３になる。
【００３６】
ステップＳ４：偏光物体Ｈの近傍の２点の距離情報を取得する。図５の(ｂ)に示すように、検出困難領域Ｒ３がある場合には、偏光物体Ｈの近傍の２点の距離情報を取得する。この実施形態では、図３の(ｃ)に示すように、水平な直線Ｌを通る偏光物体Ｈの両側のＡ点およびＢ点の距離情報を取得する。なお、偏光物体Ｈの左右両側に限られるものではなく、偏光物体Ｈの近傍であればどの位置でも良い。例えば、偏光物体Ｈの上下に空間がある時は上下両側でも良い。
【００３７】
ステップＳ５：偏光物体Ｈの距離情報を補完する。図５の(ｃ)に示すように、図５の(ｂ)に示す検出困難領域Ｒ３に、ステップＳ４で求められたＡ点およびＢ点の被写体の距離情報を補完する。Ａ点の画像上の位置(Ｘａ)、被写体距離(Ｙａ)と、Ｂ点の画像上の位置(Ｘｂ)、被写体距離(Ｙｂ)とを直線で結び、Ａ−Ｂ点間を直線的に補完する。
【００３８】
ステップＳ６：距離情報を記憶する。距離情報をシステムメモリ２７に記憶する。カメラ制御部２３は、記憶された距離情報に基づいてＡＦ駆動機構２５を駆動し焦点調節を行う。
【００３９】
この実施形態では、偏光により距離情報が得られない偏光物体領域Ｒ１，Ｒ２を求め、偏光物体領域Ｒ１，Ｒ２の外側近傍の距離情報から偏光物体領域Ｒ１，Ｒ２の距離情報を補完するようにしたので、偏光物体Ｈが画面内に存在する場合にも測距を行うことができる。
(第２の実施形態)
図６は、本発明の偏光瞳分割位相差ＡＦを搭載したカメラの実施形態を示している。なお、この実施形態において第１の実施形態と同一の要素には同一の符号を付して詳細な説明を省略する。
【００４０】
図６の(ａ)は、通常時のカメラのファインダー３３の表示を示している。ファインダー３３の画面ＦＧには、５つのＡＦエリアＥが十字状に配列されている。各ＡＦエリアＥは、ファインダー３３内に表示および非表示可能とされている。
【００４１】
しかしながら、例えば画面ＦＧの下部に池等の偏光物体Ｈがあり測距できない場合に、ＡＦエリアＥを表示しておくと、撮影者はそのＡＦエリアＥで測距できると思いそのＡＦエリアＥを選択してしまう場合がある。そこで、偏光物体Ｈが検出され、そこがＡＦエリアＥと重なる場合には、カメラ制御部２３は、図６の(ｂ)に示すように使用できないＡＦエリアＥを非表示にする。これにより、不用意に使えないＡＦエリアＥを選択する可能性を避けることができる。なお、カメラ制御部２３は、偏光物体Ｈを検出した場合には、図６の(ｃ)に示すように、その領域をファインダー３３内のオンスクリーンでゼブラ表示Ｚし警告を発するようにしても良い。
(第３の実施形態)
図７は、本発明の撮像装置の第３の実施形態を示している。なお、この実施形態において第１の実施形態と同一の要素には同一の符号を付して詳細な説明を省略する。
【００４２】
この実施形態では、対物レンズ１１と偏光素子１３との間に液晶旋光子３５が挿入されている。液晶旋光子３５は、光の偏光軸を電気的に変更する。カメラ制御部２３は、画像処理部２１により偏光物体Ｈが検出された時に、偏光軸を回転させて再測距する。カメラ制御部２３は、液晶駆動部３７を介して液晶旋光子３５を駆動する。液晶旋光子３５は、対物レンズ１１からの入射光全体の偏光方向を回転させられるので、画像処理部２１により偏光物体Ｈが検出された時に、偏光軸を回転させて再測距することで、偏光の影響を低減することができる。
【００４３】
なお、図７の構成において、カメラ制御部２３は、撮像素子の１回の露光蓄積時間中に、液晶旋光子３５の透過偏光軸を９０度以上回転することで、被写体の偏光を積分し２像の差をなくすことができる。すなわち、液晶旋光子３５を作動しない場合には、図８の(ａ)に示すように、例えば第２の撮像素子１９から偏光物体Ｈの像の情報をとれなくなる可能性がある。しかしながら、液晶旋光子３５を適切に作動すると、図８の(ｂ)に示すように、第１の画像Ｇ１と第２の画像Ｇ２の画像レベルが平均化され、偏光物体Ｈについても測距が可能になる。
(第４の実施形態)
図９は、本発明の撮像装置の第４の実施形態を示している。
【００４４】
この実施形態では、再結像位相差ＡＦに第１の実施形態で示した測距装置が適用されている。
【００４５】
図９の(ａ)は第４の実施形態における測距装置の基本構成を示している。再結像光学系内の対物レンズ１１の瞳位置と光学的に等価(共役)な面に、フィールドレンズ３９を介して偏光素子１３を配置した。図９の(ａ)では、再結像レンズ４１，４３の間に、偏光素子１３が配置されている。この場合、対物レンズ１１の瞳位置に偏光素子１３を挿入したのと同等の瞳分割効果を得ることができる。
【００４６】
図９の(ｂ)は、図９の(ａ)に示す測距装置を一眼レフデジタルカメラに内蔵した場合を示している。対物レンズ１１からの被写体光束は、メインミラー４９の背後に設けられたサブミラー５１によりカメラボディ５３の下方に反射され、フィールドレンズ３９、再結像レンズ４１、偏光素子１３の順に通過する。偏光素子１３を出射した光束はミラー５５により９０度折り曲げられ、再結像レンズ４３を通った後に偏光分離素子１５に入射する。偏光分離素子１５で分離された偏光成分は、それぞれ撮像素子１７，１９に入射する。撮像は専用の撮像素子５７により行われる。なお、符号５９はペンタプリズムを示している。
(第５の実施形態)
図１０は、本発明の撮像装置の第５の実施形態を示している。
【００４７】
この実施形態では、再結像位相差ＡＦに第３の実施形態で示した測距装置が適用されている。
【００４８】
図１０の(ａ)は第５の実施形態における測距装置の基本構成を示している。再結像光学系内の対物レンズ１１の瞳位置と光学的に等価(共役)な面に、フィールドレンズ３９を介して液晶旋光子３５、偏光素子１３を配置した。図１０の(ａ)では、再結像レンズ４１，４３の間に、液晶旋光子３５、偏光素子１３が配置されている。この場合、対物レンズ１１の瞳位置に偏光素子１３を挿入したのと同等の瞳分割効果を得ることができる。
【００４９】
図１０の(ｂ)は、図１０の(ａ)に示す測距装置を一眼レフデジタルカメラに内蔵した場合を示す。対物レンズ１１からの被写体光束は、メインミラー４９の背後に設けられたサブミラー５１によりカメラボディ５３の下方に反射され、フィールドレンズ３９、再結像レンズ４１、液晶旋光子３５、偏光素子１３の順に通過する。偏光素子１３を出射した光束はミラー５５により９０度折り曲げられ、再結像レンズ４３を通った後に偏光分離素子１５に入射する。偏光分離素子１５で分離された偏光成分は、それぞれ撮像素子１７，１９に入射する。撮像は専用の撮像素子５７により行われる。
(実施形態の補足事項)
以上、本発明を上述した実施形態によって説明してきたが、本発明の技術的範囲は上述した実施形態に限定されるものではない。例えば、以下のような形態でも良い。
【００５０】
(１)上述した実施形態では、本発明の測距装置を撮像装置に適用した例について説明したが、例えば、双眼鏡等の光学機器に広く適用することができる。
【００５１】
(２)上述した実施形態では、１つの偏光素子１３により対物レンズ１１からの光をＰ偏光とＳ偏光に分離した例について説明したが、Ｐ偏光に分離する偏光素子とＳ偏光に分離する偏光素子とを別々に設けても良い。
【符号の説明】
【００５２】
１１…対物レンズ、１３…偏光素子、１３ａ…第１の領域、１３ｂ…第２の領域、１５…偏光分離素子、１７…第１の撮像素子、１９…第２の撮像素子、２１…画像処理部、２３…カメラ制御部、３３…ファインダー、Ｈ…偏光物体、Ｒ１，Ｒ２…偏光物体領域。
【技術分野】
【０００１】
本発明は、測距装置および撮像装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、瞳分割方式によって結像光学系の焦点検出を行う光学機器が知られている（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
上述の装置では、回折格子と液晶とを組み合わせた電気光学素子を結像光学系の瞳面に挿入し、射出瞳における異なる領域を通過した光を異なる方向に偏向している。そして、それぞれの光束を結像光学系の像を撮像する撮像素子の異なる領域に結像させ、その撮像データに基づいて位相差ＡＦを行うようにしている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００６−１０６４３５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上述した従来の装置では、偏光により像を分離すると、金属表面、水面、ガラス面等のように反射光が偏光する物体では、一方の像しか得られなくなるため測距不能になるという問題があった。また、ガラスの表面等では、反射、透過それぞれの違う像を見てしまい測距不能になるという問題があった。
【０００６】
本発明は、かかる従来の問題を解決するためになされたもので、偏光に起因する測距不能状態に対処することができる測距装置および撮像装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
第１の発明の測距装置は、対物レンズの瞳と共役な面の互いに異なる位置に配置され、互いに偏光特性が異なる第１および第２の偏光素子と、前記第１の偏光素子を通過した第１の光束と前記第２の偏光素子を通過した第２の光束とを分離する偏光分離素子と、前記第１の光束による第１の像を撮像する第１の撮像素子と、前記第２の光束による第２の像を撮像する第２の撮像素子と、前記第１の像と前記第２の像との相対的なズレに基づいて焦点状態を検出する焦点検出手段とを備え、前記焦点検出手段は、前記焦点状態の検出が不能な場合に距離情報が得られない偏光物体領域を求めることを特徴とする。
【０００８】
第２の発明の測距装置は、第１の発明の測距装置において、前記偏光物体領域は、前記第１の像と前記第２の像の相関による距離情報が得られず、かつ、露光レベルの差が所定値以上の領域であることを特徴とする。
【０００９】
第３の発明の測距装置は、第１または第２の発明の測距装置において、前記焦点検出手段は、前記偏光物体領域の外側近傍の距離情報から前記偏光物体領域の距離情報を補完することを特徴とする。
【００１０】
第４の発明の測距装置は、第１または第２の発明の測距装置において、対象物を表示する表示手段を有し、前記表示手段は前記偏光物体領域に位置するＡＦエリアを非表示にすることを特徴とする測距装置。
【００１１】
第５の発明の測距装置は、第１または第２の発明の測距装置において、対象物を表示する表示手段を有し、前記表示手段は前記偏光物体領域を警告表示することを特徴とする。
【００１２】
第６の発明の測距装置は、対物レンズの瞳と共役な面の互いに異なる位置に配置され、互いに偏光特性が異なる第１および第２の偏光素子と、前記第１の偏光素子を通過した第１の光束と前記第２の偏光素子を通過した第２の光束とを分離する偏光分離素子と、前記第１の光束による第１の像を撮像する第１の撮像素子と、前記第２の光束による第２の像を撮像する第２の撮像素子と、前記第１の像と前記第２の像との相対的なズレに基づいて焦点状態を検出する焦点検出手段と、前記対物レンズと前記第１および第２の偏光素子との間に配置される液晶旋光子と、を有することを特徴とする。
【００１３】
第７の発明の測距装置は、第６の発明の測距装置において、前記焦点検出手段は、前記偏光物体領域が検出された場合に、前記液晶旋光子を作動して前記対物レンズからの光の偏光軸を変更することを特徴とする。
【００１４】
第８の発明の測距装置は、第６の発明の測距装置において、前記焦点検出手段は、焦点検出時に前記液晶旋光子を作動して前記対物レンズからの光の偏光軸を９０度以上回転することを特徴とする。
【００１５】
第９の発明の撮像装置は、第１ないし第８のいずれか１の発明の測距装置を有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１６】
本発明では、偏光に起因する測距不能状態に対処することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】本発明の撮像装置の第１の実施形態を示す説明図である。
【図２】図１の撮像装置の測距の原理を示す説明図である。
【図３】偏光物体がある時の撮影状態を示す説明図である。
【図４】偏光物体がある時の画像処理部の動作を示す説明図である。
【図５】偏光物体領域の補完方法を示す説明図である。
【図６】本発明の撮像装置の第２の実施形態を示す説明図である。
【図７】本発明の撮像装置の第３の実施形態を示す説明図である。
【図８】図７の液晶旋光子を作動した状態を示す説明図である。
【図９】本発明の撮像装置の第４の実施形態を示す説明図である。
【図１０】本発明の撮像装置の第５の実施形態を示す説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
以下、本発明の実施形態を図面を用いて詳細に説明する。
(第１の実施形態)
図１は、本発明の測距装置の第１の実施形態を示している。この実施形態では、本発明が、カメラからなる撮像装置に適用されている。
【００１９】
撮像装置は、対物レンズ１１、偏光素子１３、偏光分離素子１５、第１の撮像素子１７、第２の撮像素子１９、画像処理部２１、カメラ制御部２３、ＡＦ駆動機構２５、システムメモリ２７、画像メモリ２９を備えている。
【００２０】
対物レンズ１１の瞳位置には、偏光素子１３が設けられている。偏光素子１３は、偏光フィルタからなり対物レンズ１１からの光を互いに直交する偏光光束に変換する。偏光素子１３は、光軸を中心にして対称な第１の領域１３ａと第２の領域１３ｂとに分割されている。第１の領域１３ａは、対物レンズ１１からの光を例えばＰ偏光の光に揃える。第２の領域１３ｂは、対物レンズ１１からの光を例えばＳ偏光の光に揃える。
【００２１】
偏光分離素子１５は、偏光素子１３の例えば第１の領域１３ａからのＰ偏光を偏光分離面１５ａを介して透過させ第１の撮像素子１７上に結像させる。一方、偏光分離素子１５は、偏光素子１３の例えば第２の領域１３ｂからのＳ偏光を偏光分離面１５ａで反射させ第２の撮像素子１９上に結像させる。
【００２２】
第１の撮像素子１７と第２の撮像素子１９とは、光学的に等価な位置に配置されており、第１の撮像素子１７にピントの合った像が結像されると、第２の撮像素子１９にもピントの合った像が結像される。第１の撮像素子１７および第２の撮像素子１９には、例えば受光素子が２次元状に配列されたＣＣＤが用いられている。
【００２３】
上述した撮像装置では、第１の撮像素子１７および第２の撮像素子１９の出力はそれぞれ画像処理部２１に送られ、Ａ／Ｄ変換、色処理等の画像処理が施される。また、画像処理部２１では、第１の撮像素子１７および第２の撮像素子１９の出力から得られた画像データに基づいて、焦点検出に関する演算を行う。カメラ制御部２３は、画像処理部２１で算出された焦点検出演算値に基づいてＡＦ駆動機構２５を駆動制御し対物レンズ１１の焦点調節を行う。また、カメラ制御部２３は、カメラの全体を制御する。画像処理部２１で得られた画像データは、画像メモリ２９に記録される。
【００２４】
図２は、上述した撮像装置における焦点検出方式の原理を示している。
【００２５】
物体面Ｍ１から発した光束は対物レンズ１１によって結像される。対物レンズ１１を介して偏光素子１３に光束が入射すると、偏光素子１３の第１の領域１３ａによりＰ偏光に揃えられる。また、偏光素子１３の第２の領域１３ｂによりＳ偏光に揃えられる。第１の領域１３ａからのＰ偏光は、偏光分離素子１５の偏光分離面１５ａを透過して第１の撮像素子１７の像面Ｍ２の近傍に結像される。一方、第２の領域１３ｂからのＳ偏光は偏光分離面１５ａで反射され第２の撮像素子１９の像面Ｍ２の近傍に結像される。
【００２６】
図２(ａ)は合焦状態を示したものであり、Ｐ偏光による像もＳ偏光による像も像面Ｍ２上にかつ同一位置に結像されている。すなわち、第１の撮像素子１７の撮像画像と第２の撮像素子１９の撮像画像とを重ねると、結像位置が一致している。図２（ｂ）は前側にデフォーカスした状態を示している。結像位置は像面Ｍ２よりも後方にあるため、像面Ｍ２上の像はボケており、Ｐ偏光、Ｓ偏光による像の位置にズレが生じている。Ｐ偏光による像は光軸に対して上側に像ズレしており、Ｓ偏光による像は光軸に対して下側に像ズレしている。図２（ｃ）は後側にデフォーカスした状態を示している。Ｐ偏光による像は光軸に対して下側に像ズレしており、Ｓ偏光による像は光軸に対して上側に像ズレしている。
【００２７】
このように、偏光素子１３からの偏光成分を偏光分離素子１５で分離して、第１の撮像素子１７および第２の撮像素子１９に結像することにより各偏光成分の画像を取得し、その２つの画像の中の像の位相差を比較することで、通常の位相差ＡＦと同様にしてデフォーカス量を算出することができる。また、第１の撮像素子１７および第２の撮像素子１９の画像データに基づいて画像を生成することで、被写体の撮影像を取得することができる。
【００２８】
しかしながら、このように偏光により像を分離すると、金属表面、水面、ガラス面等のように反射光が偏光する偏光物体では、偏光方向によっては２つの偏光像に大きな差が生じ測距不能になるおそれがある。
【００２９】
例えば、図３の(ａ)に示すように、カメラからなる撮像装置３１の画枠内に偏光物体Ｈが存在する場合を考える。偏光物体Ｈは、偏光の無い背景物体Ｓの前方に位置している。偏光状態が見えない肉眼で画枠内の画像Ｇを見ると、図３の(ｂ)に示すように見える。偏光物体Ｈは、偏光の無い背景物体Ｓの前方に単に位置している。
【００３０】
このような偏光物体Ｈを第１の撮像素子１７および第２の撮像素子１９で撮像すると、図３の(ｃ)に示すようになる。図の左側の第１の撮像素子１７による第１の画像Ｇ１では、例えばＰ偏光の偏光物体Ｈの像が撮像されている。しかしながら、図の右側の第２の撮像素子１９による第２の画像Ｇ２では、偏光物体Ｈにより例えばＳ偏光が反射され偏光物体Ｈの像は撮像されていない。このような場合には、偏光物体Ｈの輪郭部分は測距可能であるが、偏光物体Ｈの内側を測距することはできない。
【００３１】
この実施形態の撮像装置では、偏光に起因する測距不能状態が生じた場合には、画像処理部２１は、補間距離データを得ることで測距を行う。図４は、測距動作を示すフローチャートである。
【００３２】
ステップＳ１：第１の撮像素子１７および第２の撮像素子１９により、第１の画像Ｇ１および第２の画像Ｇ２を取得する。この実施形態では、図３の(ｃ)のような第１の画像Ｇ１および第２の画像Ｇ２が取得されたとして説明する。
【００３３】
ステップＳ２：第１の画像Ｇ１と第２の画像Ｇ２との相関がとれないか否かを判断する。偏光物体Ｈを検出するには、２像の相関がとれず、かつ、２像の露光レベルに所定値以上の差がある領域を抽出すれば良い。従って、先ず、第１の画像Ｇ１と第２の画像Ｇ２との相関がとれないか否かを判断する。図３の(ｃ)では、右側の第２の画像Ｇ２において偏光物体Ｈの像が撮像されていないため相関がとれないと判断する。
【００３４】
ステップＳ３：第１の画像Ｇ１と第２の画像Ｇ２との相関がとれない場合には、２像の露光レベルに所定値以上の差があるか否かを判断する。所定値とは、画像のゲイン調整等で２像のレベルを揃えられなく値を閾値とする。これは、撮像素子のＳＮ特性や測距アルゴリズム等に依存するので、客観的に決定される一定値ではない。なお、２像の相関がとれないが、露光レベルの差が小さい物体は、測距不能の原因が被写体の模様や形状等に起因する可能性が高く、測距アルゴリズムを変える等別の対応が必要になる。図３の(ｃ)では、右側の第２の画像Ｇ２において偏光物体Ｈの像が黒くなっているため２像の露光レベルに所定値以上の差があると判断する。
【００３５】
図３の(ｃ)の第１の画像Ｇ１では、図５の(ａ)の左側に示すように、偏光物体Ｈの像の偏光物体領域Ｒ１は、ある程度の画像レベル(被写体輝度)を有している。一方、図３の(ｃ)の第２の画像Ｇ２では、図５の(ａ)の右側に示すように、偏光物体Ｈの像の偏光物体領域Ｒ２は殆ど画像レベル(被写体輝度)を有していない。従って、２像の相関から距離情報を得るいわゆる位相差ＡＦと同様の処理を行っても、図５の(ｂ)に示すように、被写体輝度の殆どない領域は検出困難領域Ｒ３になる。
【００３６】
ステップＳ４：偏光物体Ｈの近傍の２点の距離情報を取得する。図５の(ｂ)に示すように、検出困難領域Ｒ３がある場合には、偏光物体Ｈの近傍の２点の距離情報を取得する。この実施形態では、図３の(ｃ)に示すように、水平な直線Ｌを通る偏光物体Ｈの両側のＡ点およびＢ点の距離情報を取得する。なお、偏光物体Ｈの左右両側に限られるものではなく、偏光物体Ｈの近傍であればどの位置でも良い。例えば、偏光物体Ｈの上下に空間がある時は上下両側でも良い。
【００３７】
ステップＳ５：偏光物体Ｈの距離情報を補完する。図５の(ｃ)に示すように、図５の(ｂ)に示す検出困難領域Ｒ３に、ステップＳ４で求められたＡ点およびＢ点の被写体の距離情報を補完する。Ａ点の画像上の位置(Ｘａ)、被写体距離(Ｙａ)と、Ｂ点の画像上の位置(Ｘｂ)、被写体距離(Ｙｂ)とを直線で結び、Ａ−Ｂ点間を直線的に補完する。
【００３８】
ステップＳ６：距離情報を記憶する。距離情報をシステムメモリ２７に記憶する。カメラ制御部２３は、記憶された距離情報に基づいてＡＦ駆動機構２５を駆動し焦点調節を行う。
【００３９】
この実施形態では、偏光により距離情報が得られない偏光物体領域Ｒ１，Ｒ２を求め、偏光物体領域Ｒ１，Ｒ２の外側近傍の距離情報から偏光物体領域Ｒ１，Ｒ２の距離情報を補完するようにしたので、偏光物体Ｈが画面内に存在する場合にも測距を行うことができる。
(第２の実施形態)
図６は、本発明の偏光瞳分割位相差ＡＦを搭載したカメラの実施形態を示している。なお、この実施形態において第１の実施形態と同一の要素には同一の符号を付して詳細な説明を省略する。
【００４０】
図６の(ａ)は、通常時のカメラのファインダー３３の表示を示している。ファインダー３３の画面ＦＧには、５つのＡＦエリアＥが十字状に配列されている。各ＡＦエリアＥは、ファインダー３３内に表示および非表示可能とされている。
【００４１】
しかしながら、例えば画面ＦＧの下部に池等の偏光物体Ｈがあり測距できない場合に、ＡＦエリアＥを表示しておくと、撮影者はそのＡＦエリアＥで測距できると思いそのＡＦエリアＥを選択してしまう場合がある。そこで、偏光物体Ｈが検出され、そこがＡＦエリアＥと重なる場合には、カメラ制御部２３は、図６の(ｂ)に示すように使用できないＡＦエリアＥを非表示にする。これにより、不用意に使えないＡＦエリアＥを選択する可能性を避けることができる。なお、カメラ制御部２３は、偏光物体Ｈを検出した場合には、図６の(ｃ)に示すように、その領域をファインダー３３内のオンスクリーンでゼブラ表示Ｚし警告を発するようにしても良い。
(第３の実施形態)
図７は、本発明の撮像装置の第３の実施形態を示している。なお、この実施形態において第１の実施形態と同一の要素には同一の符号を付して詳細な説明を省略する。
【００４２】
この実施形態では、対物レンズ１１と偏光素子１３との間に液晶旋光子３５が挿入されている。液晶旋光子３５は、光の偏光軸を電気的に変更する。カメラ制御部２３は、画像処理部２１により偏光物体Ｈが検出された時に、偏光軸を回転させて再測距する。カメラ制御部２３は、液晶駆動部３７を介して液晶旋光子３５を駆動する。液晶旋光子３５は、対物レンズ１１からの入射光全体の偏光方向を回転させられるので、画像処理部２１により偏光物体Ｈが検出された時に、偏光軸を回転させて再測距することで、偏光の影響を低減することができる。
【００４３】
なお、図７の構成において、カメラ制御部２３は、撮像素子の１回の露光蓄積時間中に、液晶旋光子３５の透過偏光軸を９０度以上回転することで、被写体の偏光を積分し２像の差をなくすことができる。すなわち、液晶旋光子３５を作動しない場合には、図８の(ａ)に示すように、例えば第２の撮像素子１９から偏光物体Ｈの像の情報をとれなくなる可能性がある。しかしながら、液晶旋光子３５を適切に作動すると、図８の(ｂ)に示すように、第１の画像Ｇ１と第２の画像Ｇ２の画像レベルが平均化され、偏光物体Ｈについても測距が可能になる。
(第４の実施形態)
図９は、本発明の撮像装置の第４の実施形態を示している。
【００４４】
この実施形態では、再結像位相差ＡＦに第１の実施形態で示した測距装置が適用されている。
【００４５】
図９の(ａ)は第４の実施形態における測距装置の基本構成を示している。再結像光学系内の対物レンズ１１の瞳位置と光学的に等価(共役)な面に、フィールドレンズ３９を介して偏光素子１３を配置した。図９の(ａ)では、再結像レンズ４１，４３の間に、偏光素子１３が配置されている。この場合、対物レンズ１１の瞳位置に偏光素子１３を挿入したのと同等の瞳分割効果を得ることができる。
【００４６】
図９の(ｂ)は、図９の(ａ)に示す測距装置を一眼レフデジタルカメラに内蔵した場合を示している。対物レンズ１１からの被写体光束は、メインミラー４９の背後に設けられたサブミラー５１によりカメラボディ５３の下方に反射され、フィールドレンズ３９、再結像レンズ４１、偏光素子１３の順に通過する。偏光素子１３を出射した光束はミラー５５により９０度折り曲げられ、再結像レンズ４３を通った後に偏光分離素子１５に入射する。偏光分離素子１５で分離された偏光成分は、それぞれ撮像素子１７，１９に入射する。撮像は専用の撮像素子５７により行われる。なお、符号５９はペンタプリズムを示している。
(第５の実施形態)
図１０は、本発明の撮像装置の第５の実施形態を示している。
【００４７】
この実施形態では、再結像位相差ＡＦに第３の実施形態で示した測距装置が適用されている。
【００４８】
図１０の(ａ)は第５の実施形態における測距装置の基本構成を示している。再結像光学系内の対物レンズ１１の瞳位置と光学的に等価(共役)な面に、フィールドレンズ３９を介して液晶旋光子３５、偏光素子１３を配置した。図１０の(ａ)では、再結像レンズ４１，４３の間に、液晶旋光子３５、偏光素子１３が配置されている。この場合、対物レンズ１１の瞳位置に偏光素子１３を挿入したのと同等の瞳分割効果を得ることができる。
【００４９】
図１０の(ｂ)は、図１０の(ａ)に示す測距装置を一眼レフデジタルカメラに内蔵した場合を示す。対物レンズ１１からの被写体光束は、メインミラー４９の背後に設けられたサブミラー５１によりカメラボディ５３の下方に反射され、フィールドレンズ３９、再結像レンズ４１、液晶旋光子３５、偏光素子１３の順に通過する。偏光素子１３を出射した光束はミラー５５により９０度折り曲げられ、再結像レンズ４３を通った後に偏光分離素子１５に入射する。偏光分離素子１５で分離された偏光成分は、それぞれ撮像素子１７，１９に入射する。撮像は専用の撮像素子５７により行われる。
(実施形態の補足事項)
以上、本発明を上述した実施形態によって説明してきたが、本発明の技術的範囲は上述した実施形態に限定されるものではない。例えば、以下のような形態でも良い。
【００５０】
(１)上述した実施形態では、本発明の測距装置を撮像装置に適用した例について説明したが、例えば、双眼鏡等の光学機器に広く適用することができる。
【００５１】
(２)上述した実施形態では、１つの偏光素子１３により対物レンズ１１からの光をＰ偏光とＳ偏光に分離した例について説明したが、Ｐ偏光に分離する偏光素子とＳ偏光に分離する偏光素子とを別々に設けても良い。
【符号の説明】
【００５２】
１１…対物レンズ、１３…偏光素子、１３ａ…第１の領域、１３ｂ…第２の領域、１５…偏光分離素子、１７…第１の撮像素子、１９…第２の撮像素子、２１…画像処理部、２３…カメラ制御部、３３…ファインダー、Ｈ…偏光物体、Ｒ１，Ｒ２…偏光物体領域。
【特許請求の範囲】
【請求項１】
対物レンズの瞳と共役な面の互いに異なる位置に配置され、互いに偏光特性が異なる第１および第２の偏光素子と、
前記第１の偏光素子を通過した第１の光束と前記第２の偏光素子を通過した第２の光束とを分離する偏光分離素子と、
前記第１の光束による第１の像を撮像する第１の撮像素子と、
前記第２の光束による第２の像を撮像する第２の撮像素子と、
前記第１の像と前記第２の像との相対的なズレに基づいて焦点状態を検出する焦点検出手段とを備え、
前記焦点検出手段は、前記焦点状態の検出が不能な場合に距離情報が得られない偏光物体領域を求めることを特徴とする測距装置。
【請求項２】
請求項１記載の測距装置において、
前記偏光物体領域は、前記第１の像と前記第２の像の相関による距離情報が得られず、かつ、露光レベルの差が所定値以上の領域であることを特徴とする測距装置。
【請求項３】
請求項１または請求項２記載の測距装置において、
前記焦点検出手段は、前記偏光物体領域の外側近傍の距離情報から前記偏光物体領域の距離情報を補完することを特徴とする測距装置。
【請求項４】
請求項１または請求項２記載の測距装置において、
対象物を表示する表示手段を有し、前記表示手段は前記偏光物体領域に位置するＡＦエリアを非表示にすることを特徴とする測距装置。
【請求項５】
請求項１または請求項２記載の測距装置において、
対象物を表示する表示手段を有し、前記表示手段は前記偏光物体領域を警告表示することを特徴とする測距装置。
【請求項６】
対物レンズの瞳と共役な面の互いに異なる位置に配置され、互いに偏光特性が異なる第１および第２の偏光素子と、
前記第１の偏光素子を通過した第１の光束と前記第２の偏光素子を通過した第２の光束とを分離する偏光分離素子と、
前記第１の光束による第１の像を撮像する第１の撮像素子と、
前記第２の光束による第２の像を撮像する第２の撮像素子と、
前記第１の像と前記第２の像との相対的なズレに基づいて焦点状態を検出する焦点検出手段と、
前記対物レンズと前記第１および第２の偏光素子との間に配置される液晶旋光子と、
を有することを特徴とする測距装置。
【請求項７】
請求項６記載の測距装置において、
前記焦点検出手段は、前記偏光物体領域が検出された場合に、前記液晶旋光子を作動して前記対物レンズからの光の偏光軸を変更することを特徴とする測距装置。
【請求項８】
請求項６記載の測距装置において、
前記焦点検出手段は、焦点検出時に前記液晶旋光子を作動して前記対物レンズからの光の偏光軸を９０度以上回転することを特徴とする測距装置。
【請求項９】
請求項１ないし請求項８のいずれか１項記載の測距装置を有することを特徴とする撮像装置。
【請求項１】
対物レンズの瞳と共役な面の互いに異なる位置に配置され、互いに偏光特性が異なる第１および第２の偏光素子と、
前記第１の偏光素子を通過した第１の光束と前記第２の偏光素子を通過した第２の光束とを分離する偏光分離素子と、
前記第１の光束による第１の像を撮像する第１の撮像素子と、
前記第２の光束による第２の像を撮像する第２の撮像素子と、
前記第１の像と前記第２の像との相対的なズレに基づいて焦点状態を検出する焦点検出手段とを備え、
前記焦点検出手段は、前記焦点状態の検出が不能な場合に距離情報が得られない偏光物体領域を求めることを特徴とする測距装置。
【請求項２】
請求項１記載の測距装置において、
前記偏光物体領域は、前記第１の像と前記第２の像の相関による距離情報が得られず、かつ、露光レベルの差が所定値以上の領域であることを特徴とする測距装置。
【請求項３】
請求項１または請求項２記載の測距装置において、
前記焦点検出手段は、前記偏光物体領域の外側近傍の距離情報から前記偏光物体領域の距離情報を補完することを特徴とする測距装置。
【請求項４】
請求項１または請求項２記載の測距装置において、
対象物を表示する表示手段を有し、前記表示手段は前記偏光物体領域に位置するＡＦエリアを非表示にすることを特徴とする測距装置。
【請求項５】
請求項１または請求項２記載の測距装置において、
対象物を表示する表示手段を有し、前記表示手段は前記偏光物体領域を警告表示することを特徴とする測距装置。
【請求項６】
対物レンズの瞳と共役な面の互いに異なる位置に配置され、互いに偏光特性が異なる第１および第２の偏光素子と、
前記第１の偏光素子を通過した第１の光束と前記第２の偏光素子を通過した第２の光束とを分離する偏光分離素子と、
前記第１の光束による第１の像を撮像する第１の撮像素子と、
前記第２の光束による第２の像を撮像する第２の撮像素子と、
前記第１の像と前記第２の像との相対的なズレに基づいて焦点状態を検出する焦点検出手段と、
前記対物レンズと前記第１および第２の偏光素子との間に配置される液晶旋光子と、
を有することを特徴とする測距装置。
【請求項７】
請求項６記載の測距装置において、
前記焦点検出手段は、前記偏光物体領域が検出された場合に、前記液晶旋光子を作動して前記対物レンズからの光の偏光軸を変更することを特徴とする測距装置。
【請求項８】
請求項６記載の測距装置において、
前記焦点検出手段は、焦点検出時に前記液晶旋光子を作動して前記対物レンズからの光の偏光軸を９０度以上回転することを特徴とする測距装置。
【請求項９】
請求項１ないし請求項８のいずれか１項記載の測距装置を有することを特徴とする撮像装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【公開番号】特開２０１０−２６６７３０（Ｐ２０１０−２６６７３０Ａ）
【公開日】平成２２年１１月２５日（２０１０．１１．２５）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００９−１１８５１１（Ｐ２００９−１１８５１１）
【出願日】平成２１年５月１５日（２００９．５．１５）
【出願人】（０００００４１１２）株式会社ニコン (12,601)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２２年１１月２５日（２０１０．１１．２５）
【国際特許分類】
【出願日】平成２１年５月１５日（２００９．５．１５）
【出願人】（０００００４１１２）株式会社ニコン (12,601)
【Ｆターム（参考）】
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