画像評価方法および画像評価装置
【課題】画像形成装置により形成された画像の周波数特性に基づき的確に画像評価を実現する技術を提供する。
【解決手段】単一の濃淡画素値を有するテストパターンデータを画像記録媒体にテストパターン画像として形成し、前記テストパターン画像を被評価画像データとして取得する。前記被評価画像データを２次元周波数解析し周波数強度を算出し、前記周波数強度のうち特定の角度方向の周波数強度に基づく評価データを表示する。
【解決手段】単一の濃淡画素値を有するテストパターンデータを画像記録媒体にテストパターン画像として形成し、前記テストパターン画像を被評価画像データとして取得する。前記被評価画像データを２次元周波数解析し周波数強度を算出し、前記周波数強度のうち特定の角度方向の周波数強度に基づく評価データを表示する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像形成装置により画像記録媒体に形成される画像の評価技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
プリンタや複写機等の画像記録装置では、搬送ムラやインクの吐出ムラ等に起因して、形成される画像にスジやムラ等の欠陥が生じることが知られている。そのため、操作者がテストプリントを行い、目視により画像の欠陥の有無を判定することが行われている。
【０００３】
また、自動的に画像の品質を評価するための様々な方法も検討されている。例えば、縞模様のテスト原稿を読み取り、その読み取った画像の濃度変化を検出し、その検出結果から周波数スペクトルを算出し、周波数スペクトルのピーク値に対応する周波数と複写機の各構成要素の固有振動数を比較し、ピーク値に対応する固有振動数を持つ構成要素を特定する方法がある（特許文献１参照）。
【０００４】
特許文献１の技術では、読み取った縞模様のテスト原稿を周波数解析することにより、特徴が顕著な周波数を特定し、その周波数と同一の固有振動数を持つ構成部品を特定することができる。これにより、画像のムラ等を生じさせている構成部品を特定することができるものである。
【０００５】
【特許文献１】特開平４−３３５３６３号公報（段落番号０００４−０００６）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
操作者が目視で欠陥の有無を判定する場合には、操作者間で評価のばらつきが生じるため、安定した品質を保つことが困難であり、また、操作者への負担も大きい。また、特許文献１の技術では、読み取ったテスト原稿を周波数解析することにより、画像に欠陥を生じさせる原因となっている構成部品を特定することができるものではあるが、解析結果には様々な要因の周波数特性が混在しており、画像の品質を低下させる要因を正確に特定することは困難である。また、テスト原稿は縞模様であるため、主走査方向もしくは副走査方向の周波数特性しか解析することができない。
【０００７】
このような問題点に鑑み、本発明の課題は、画像形成装置により形成された画像の周波数特性に基づき的確に画像評価を実現する技術を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の画像評価方法は、単一の濃淡画素値を有するテストパターンデータを画像記録媒体にテストパターン画像として形成する画像形成ステップと、前記テストパターン画像を被評価画像データとして取得する画像取得ステップと、前記被評価画像データを２次元周波数解析し周波数強度を算出する周波数解析ステップと、前記周波数強度のうち特定の角度方向の周波数強度に基づく評価データを表示するステップと、を備えている。
【０００９】
このような構成により、被評価画像を周波数解析した結果である周波数強度のうち、周波数特性が顕著に表れる角度方向の周波数強度のみに基づく評価データを表示することができる。これにより、評価者は、表示された評価データが所定の条件を充足している場合には、形成された画像に問題はないと評価でき、条件を充足していない場合には、的確に原因となる周波数特性を把握することができる。
【００１０】
通常、画像記録媒体に形成されるテストパターン画像におけるムラは、主走査方向もしくは副走査方向に表れる。そのようなテストパターン画像から取得された被評価画像データの周波数分析結果では、周波数空間におけるｘ軸もしくはｙ軸上に特徴が顕著に現れる。そのため、周波数空間におけるｘ軸もしくはｙ軸上の周波数強度のみに着目することで、画像のムラの特性を知ることができる。しかしながら、画像記録媒体をフラットベッドスキャナ等に傾いて載置したことにより、周波数空間において特徴が顕著に表れる角度方向がｘ軸又はy軸から若干傾く場合がある。
【００１１】
そのため、本発明の画像評価方法の好適な実施形態の一つでは、前記特定の角度方向は周波数空間における一の周波数成分を０とした角度方向であり、前記表示ステップは、前記周波数空間において前記特定の角度方向に直交する方向に所定幅を持つ領域に含まれる周波数強度に基づく評価データを表示する。この構成では、特定の角度方向だけでなく、特定の角度方向と直交する方向に所定幅を持つ領域に含まれる周波数強度に基づく評価データが表示されるため、付加的な演算をすることなく、傾きの影響を吸収することができる。
【００１２】
また、テストパターン画像が形成された画像記録媒体をフラットベッドスキャナ等の画像読み取り装置に傾いて載置した場合等には、周波数特性が最も顕著に表れる角度方向は、周波数空間の軸方向とは一致しない。このような場合には、周波数特性が最も顕著に表れる角度方向を求めることが必要である。
【００１３】
そのため、本発明の画像評価方法の好適な実施形態の一つでは、前記周波数強度を角度毎に積算することにより角度方向分布を算出し、当該角度方向分布が極大となる角度を前記特定の角度方向として決定する角度決定ステップを備えている。この構成により、角度方向分布から周波数特性が顕著に表れる角度方向を決定することができる。
【００１４】
また、画像記録媒体に形成されたテストパターン画像には、様々な要因による周波数特性が含まれていることがある。しかしながら、画像評価には全ての周波数特性は必要ではない。特に、上述の角度方向分布を算出する際に、全ての周波数の周波数特性に基づき算出した場合には、予期せぬ周波数の周波数特性のために精度が低下する恐れがある。
【００１５】
そのため、本発明の画像評価方法の好適な実施形態の一つでは、前記周波数強度を動径距離毎に積算することにより動径方向分布を算出し、当該動径方向分布に基づき動径距離閾値を決定する動径距離閾値決定ステップを備え、前記角度決定ステップは、決定された前記動径距離閾値に応じた周波数強度を用いて前記角度方向分布を算出する。この構成により、動径方向分布に基づき動径距離閾値が決定され、決定された動径距離閾値を満たす周波数の周波数強度から角度方向分布が決定される。これにより、不要な周波数の周波数特性が角度方向分布に混入することを回避でき、精度の高い角度方向分布を算出することができる。
【００１６】
また、本発明の画像評価装置は、単一の濃淡画素値を有するテストパターンデータを画像記録媒体にテストパターン画像として形成する画像形成部と、前記テストパターン画像を被評価画像データとして取得する画像取得部と、前記被評価画像データを２次元周波数解析し周波数強度を算出する周波数解析部と、前記周波数強度のうち特定の角度方向の周波数強度に基づく評価データを表示する表示部と、を備えている。当然ながら、このような画像評価装置も、上述した画像評価方法と同様の作用効果を得ることができ、上述した付加的構成を備えることもできる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
〔第１実施形態〕
以下に、本発明の画像評価方法および画像評価装置の第１実施形態を図面に基づいて説明する。
【００１８】
図１に示す写真プリント装置（画像評価装置の一例）は、暗箱構造の筐体１０を有し、この筐体１０の内部には画像記録媒体Ｐに画像を形成する画像形成部Ｅｘと、画像が形成された画像記録媒体Ｐを筐体１０の端部の排出部１１から排出し、搬送ベルト１２で受け止めて水平方向に搬送し、複数のトレイ１３Ａの何れかにオーダ単位で回収可能なソータ１３を備えている。
【００１９】
また、筐体１０の外部には、オペレータが画像データの取得と、プリント処理に必要な操作とを行う操作端末として機能するオペレート部Ａが設置されている。オペレート部Ａには、操作テーブル２０に設置された汎用コンピュータで成る画像処理装置２１と、画像処理装置２１の上面に設置されたディスプレイ２２と、現像処理後の写真フィルムＦのコマ画像から画像データを取得するフィルムスキャナ２３と、２つのキーボード２４と１つのマウス２５と、画像記録媒体Ｐから画像データを取得するためのフラットベッドスキャナ２７と、を備えている。画像処理装置２１の前面には各種の半導体型の記憶媒体（不図示）、あるいは、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ、ＭＯ等の磁気式や光学式の記憶媒体（不図示）等から画像データを取得する複数のメディアドライブ２６を備えている。
【００２０】
なお、画像形成部Ｅｘとして、インクジェット方式、レーザ露光方式等、様々な方式を用いることができる。
【００２１】
図２に示すように、画像処理装置２１には本発明の画像評価装置に係る各機能要素として、フラットベッドスキャナ２７を機能させてテストパターン画像を被評価画像データとして取得する画像取得部３１、取得した被評価画像データにテストパターン以外のパターンが存在するか否かを判定し、存在すると判定した際にはそのテストパターン以外のパターンを除去するはみ出し処理部３２、被評価画像データを周波数解析し、周波数強度を算出する周波数解析部３３、周波数解析部３３により算出された周波数強度のうち特定角度方向の周波数強度を可視化して表示する表示部３６が備えられている。
【００２２】
画像取得部３１は、画像記録媒体Ｐに形成されたテストパターン画像をフラットベッドスキャナ２７によりデジタル化し、被評価画像データとして取得する。取得した被評価画像データはメモリ４０に記憶させる。
【００２３】
はみ出し処理部３２は、テストパターン画像データが他の画像データの一部として構成されている場合に、取得した被評価画像データに他の画像データが存在するか否かを判定し、他の画像データが存在する際には、後述する方法により、その他の画像データの除去を行う。
【００２４】
周波数解析部３３は、被評価画像データに対して２次元周波数解析を行い、周波数強度を算出する。本実施形態では、２次元周波数解析として２次元フーリエ変換を用いるが、他の周波数解析手法を用いても構わない。
【００２５】
表示部３６は、周波数解析部３３により算出された周波数強度のうち特定角度の周波数強度をグラフ化して表示する。
【００２６】
次に、図３のフローチャートに基づき本発明に係る画像評価の詳細な処理の流れを説明する。なお、以下の処理に先立ち、メモリ４０上に記憶されているテストパターン画像データは、画像形成部Ｅｘにより画像記録媒体Ｐ上にテストパターン画像として形成されているものとする。また、本発明におけるテストパターン画像データは、単一の濃淡画素値を持つ画素から構成されているが、テストパターン画像データのみで一の画像データを構成していてもよいし、テストパターン画像データが他の画像の一部として構成されていても構わない。後者の場合には、一のテストプリントにおいて種々のテストパターン画像を形成でき、種々のテストを効率的に行うことができるため、好適である。また、後者の場合には、後述する画像の読み取り時に、本発明に用いるテストパターン画像の範囲を指定して被評価画像データを取得する、読み取った画像から、本発明に用いるテストパターン画像の範囲を指定する等の構成とすると、付加的な処理が不要となる。
【００２７】
まず、ユーザは上述のテストパターン画像が形成された画像記録媒体Ｐをフラットベッドスキャナ２７に載置した後、画像処理装置２１を操作し、画像評価処理の実行を指示する。フラットベッドスキャナ２７は、画像をデジタル化した被評価画像データを画像処理装置２１に送る。
【００２８】
画像取得部３１は、フラットベッドスキャナ２７から被評価画像データを取得し、メモリ４０に記憶させる（＃０１）。このとき、取得した被評価画像データうち、精度の低い周辺画素を除外しておくと、画像評価精度の向上が期待でき好適である。例えば、取得した被評価画像データの大きさが幅Ｗ、高さＨであるとすると、周辺１０％を除去した（０．１Ｗ，０．１Ｈ）−（０．９Ｗ，０．９Ｈ）により規定される矩形領域を被評価画像データとする。また、フラットベッドスキャナ２７によりカラー画像データとしてデジタル化された場合には、公知の方法によりカラー画像データの輝度成分に基づき、カラー画像データを濃淡画像データに変換しておく。以下、被評価画像データとは、濃淡画像データに変換されたものを指す。
【００２９】
画像記録媒体Ｐをフラットベッドスキャナ２７に傾いて載置する等により、被評価画像データに不要な画素（以下、はみ出し部分と称する）が含まれている場合がある。そのため、はみ出し処理部３２は、メモリ４０から被評価画像データを取得し、はみ出し処理を行う。具体的には、まず、被評価画像データの全画素値が所定の濃淡値範囲にあるかが判定される（＃０２）。この所定の濃淡値範囲は、テストパターン画像データの画素値に基づき決定されている。上述の条件を充足しない場合（＃０３のNo分岐）には、以下の処理によりはみ出し部分の画素値を後述する所定の濃淡値に置換することによる変更が行われ（＃０４）、条件を充足した場合（＃０３のYes分岐）には、はみ出し部分の画素値の変更処理はスキップされる。
【００３０】
まず、被評価画像データから濃淡ヒストグラムＨ[ ]を作成し、濃淡ヒストグラムＨ[ ]のピーク値を与える濃淡値ｄを求める。濃淡値ｄの算出は、単に濃淡ヒストグラムＨの最大値を与える濃淡値を求めるのではなく、濃淡値ｉ−１、ｉ、ｉ＋１に対する濃淡ヒストグラムＨの和すなわちＨ［ｉ−１］＋Ｈ［ｉ］＋Ｈ［ｉ＋１］が最大となる濃淡値ｉをピーク値を与える濃淡値ｄとする。このように、濃淡値ｄを求めることにより、例えば白画素を持つはみ出し部分が存在した場合にも、正しい濃淡値ｄを求めることができる。
【００３１】
次に、濃淡値ｄを中心とする所定の濃淡値範囲に対する濃淡ヒストグラムＨ[ ]の積算値を求める。すなわち、所定の濃淡値範囲を[ｄ−ｒ，ｄ＋ｒ]とすると積算値ｓは式（１）で得られる。そして、積算値ｓの被評価画像データの画素数に対する割合が所定の閾値と比較され、所定の閾値以上であれば、所定の濃淡値範囲[ｄ−ｒ，ｄ＋ｒ]外の画素値を持つ画素をはみ出し部分を構成する画素と判定する。本実施形態では、式（２）により得られる所定の濃度値範囲における平均濃淡値ｄ’によりはみ出し部分の画素値を置換する。
【数１】
【数２】
【００３２】
一方、上述の割合が所定の閾値以下であれば、はみ出し部分が多く、十分な評価ができないため、再度画像取得する旨を操作者に通知する。
【００３３】
図４（ａ）は、はみ出し部分Ｘを有する被評価画像Ｔの例であり、この被評価画像Ｔの周波数強度を画像化すると図５（ａ）のようになる。図から明らかなように、周波数特性には、はみ出し部分Ｘの周波数特性が表れている。一方、上述の処理によりはみ出し部分Ｘの画素値を変更すると図４（ｂ）に示す被評価画像Ｔとなり、この被評価画像Ｔの周波数強度を画像化すると図５（ｂ）となり、はみ出し部分Ｘの周波数特性が低減されているのが分かる。
【００３４】
このように、はみ出し部分の画素値を変更することにより、はみ出し部分の周波数特性を低減し、以降の処理において、的確に被評価画像データの周波数特性を解析することができる。
【００３５】
次に、周波数解析部３３は、メモリ４０から被評価画像データを取得し、２次元フーリエ変換により周波数強度を算出する（＃０５）。本発明は、画像データに対してフーリエ変換（ＦＴ：Fourier Transformation）を行うものであり、画像データは離散データであるため２次元離散フーリエ変換（ＤＦＴ：Discrete Fourier Transformation）が用いられる。また、実際の演算には高速に演算が可能な離散高速フーリエ変換（ＤＦＦＴ：Discrete Fast Fourier Transformation）アルゴリズムが用いられる。
【００３６】
表示部３６は、周波数解析部３３により算出された周波数強度の特定角度方向の周波数強度を可視化し、評価データとしてディスプレイ２２に表示する（＃１０）。
【００３７】
通常、画像に生じる印刷ムラは、搬送ムラやインクの吐出ムラ、画像形成装置の構成部品の固有振動数等に起因している。このようなムラを有する被評価画像データを周波数解析すると、周波数空間におけるｘ軸またはｙ軸方向において強い周波数強度を有している。そのため、本実施形態では、特定の角度方向として、一方の周波数を０とした角度方向を用いている。例えば、図６の被評価画像データでは副走査方向（被評価画像データにおけるｙ軸方向）にムラを生じており、この被評価画像データの周波数強度を画像化すると図７となる。この場合には、特定の角度はｘ軸方向の周波数が０となる角度方向となる。すなわち、ｘ軸方向の周波数をｆ1、ｙ軸方向の周波数をｆ2、ｘ軸方向の周波数ｆ1およびｙ軸方向の周波数ｆ2の周波数強度をＳ（ｆ1，ｆ2）とすると、Ｓ（０、ｆ2）となる周波数強度が可視化される。一方、主走査方向（被評価画像データにおけるｘ軸方向）にムラが生じている場合には、ｙ軸方向の周波数が０となる角度方向の周波数強度、すなわちＳ（ｆ1，０）となる周波数強度が可視化される。
【００３８】
なお、テストパターン画像が形成された画像記録媒体Ｐをフラットベッドスキャナ２７に載置する際に若干傾く恐れがある。この場合には、算出された周波数強度は、図９に示すように図７の周波数強度を回転させたものとなっており、このように傾いた周波数強度に対して上述の可視化を行っても正しい結果は得られない。このような場合には、一方の周波数を０とした線上の周波数強度だけでなく、その両側に所定の幅を持つ領域内の周波数強度を可視化する。例えば、副走査方向にムラが生じている場合には、各々の副操作方向の周波数ｆ2に対して、式（３）によりＳ（ｆ2）を算出し、このＳ（ｆ2）を可視化する。このように可視化すると、傾きの影響を低減できるため好適である。
【数３】
【００３９】
可視化の方法は種々考えられるが、例えば図８に示すように、横軸を動径距離、縦軸を周波数強度としたグラフを用いることができる。操作者は、このグラフに基づきムラの周波数特性を把握することができる。
【００４０】
このように、本実施形態によれば、周波数強度のうち特定の角度方向のみの周波数強度が用いられるため、周波数強度の特徴を顕著に表すことができ、操作者は的確に被評価画像データの周波数特性を把握することができる。
【００４１】
〔第２実施形態〕
以下に図面を用いて、本発明の画像評価方法および画像評価装置の第２実施形態を説明する。図１０は、本実施形態における各機能部を表す機能ブロック図であり、第１実施形態と同様の機能部には同一の符号を付している。本実施形態は、周波数強度の角度毎の周波数強度を積算することにより角度方向分布を算出し、角度方向分布が極大となる角度を決定する角度決定部３５を備えている点において第１実施形態と異なっている。
【００４２】
角度決定部３５は、周波数解析部３３により算出された周波数強度を角度毎に積算することにより角度方向分布を算出し、算出した角度方向分布に基づき角度を決定する。なお、角度とは、ｔａｎ-1（ｆ2／ｆ1）で表される値である。
【００４３】
次に、図１１のフローチャートに基づき本実施形態の処理の流れを説明する。なお、第１実施形態と同様の処理には同一の符号を付しており、詳細な説明は省略する。
【００４４】
角度決定部３５は、周波数解析部３３により算出された周波数強度を取得し、角度毎に積算することにより角度方向分布を算出する（＃０８）。角度方向分布算出の具体的な処理は以下の通りである。まず、角度決定部３５は、メモリ４０上に角度方向分布を表す１次元配列Ｄ1[ ]を確保し、０で初期化する。次に、角度決定部３５は、周波数強度の一の値Ｓ（ｆ1，ｆ2）を取得し、角度θ＝ｔａｎ-1（ｆ2／ｆ1）を計算する。本実施形態では、θはラジアンから度に変換した後、整数に丸め、θをＤ1の配列番号として用いるが、小数値θから所定の演算によりＤ1の配列番号を算出する構成としても構わない。次に、Ｄ1[θ]＋＝Ｓ（ｆ1，ｆ2）として、Ｄ1を更新する。この処理を全ての周波数強度に対して行う。
【００４５】
次に、角度決定部３５は、上述の処理により算出した角度方向分布に基づき、特定の角度を決定する（＃０９）。具体的には、角度方向分布から極大となる角度を抽出し、特定の角度として決定する。なお、通常、２次元周波数解析における周波数強度は、双方の周波数が０となる点を中心とした点対称となるため、特定の角度は２つであり、それらの角度差は１８０°である。そのため、３以上の極大点が存在する場合には、Ｄ1[θ]＋ Ｄ1[θ＋１８０]が最大となる角度θおよびθ＋１８０を特定の角度として決定する。
【００４６】
図６の被評価画像データから算出された周波数強度を用いて、上述の処理により算出された角度方向分布をグラフ化した例を図１２に示す。図から明らかなように、ｙ軸方向にムラを有する被評価画像データの周波数強度は、ｙ軸方向、すなわち、角度方向が９０°および２７０°に強い周波数強度が分布している。
【００４７】
表示部３６は、周波数解析部３３により算出された周波数強度のうち、角度特定部３５により決定された特定の角度方向の周波数強度を可視化し、ディスプレイ２２に表示する（＃１０）。
【００４８】
このように、本実施形態によれば、被評価画像データから算出された周波数強度から、角度方向分布が算出され、角度方向分布に基づき特定の角度を決定することができるため、テストパターン画像が形成された画像記録媒体Ｐがフラットベッドスキャナ２７に傾いて載置される等、被評価画像データに傾きが含まれている場合にも、的確に観察すべき角度方向を特定することができる。
【００４９】
〔第３実施形態〕
以下に図面を用いて、本発明の画像評価方法および画像評価装置の第３実施形態を説明する。図１３は、本実施形態における各機能部を表す機能ブロック図であり、第２実施形態と同様の機能部には同一の符号を付している。本実施形態は、周波数強度の動径距離毎の周波数強度を積算することにより動径方向分布を算出し、動径方向分布に基づき動径距離閾値を決定する動径距離閾値決定部３４を備え、前記角度決定部３５は動径距離閾値決定部３４により決定された動径距離閾値範囲内の動径距離を持つ周波数強度に基づき角度を決定する点において第２実施形態と異なっている。
【００５０】
動径距離閾値決定部３４は、周波数解析部３３により算出された周波数強度を動径距離毎に積算することにより動径方向分布を算出し、算出した動径方向分布に基づき動径距離閾値を決定する。なお、動径距離とは、（ｆ12＋ｆ22）1/2で表される値である。
【００５１】
次に、図１４のフローチャートに基づき本実施形態の処理の流れを説明する。なお、第２実施形態と同様の処理には同一の符号を付しており、詳細な説明は省略する。
【００５２】
動径距離閾値決定部３４は、周波数解析部３３により算出された周波数強度を取得し、動径距離毎に積算することにより動径方向分布を算出する（＃０６）。動径方向分布算出の具体的な処理は以下の通りである。まず、動径距離閾値決定部３４は、メモリ４０上に動径方向分布を表す１次元配列Ｄ2[ ]を確保し、０で初期化する。次に、動径距離閾値決定部３４は、周波数強度の一の値Ｓ（ｆ1，ｆ2）を取得し、動径距離Ｌ＝（ｆ12＋ｆ22）1/2を計算する。本実施形態では、Ｌは整数に丸め、ＬをＤ2の配列番号として用いるが、小数値Ｌから所定の演算によりＤ2の配列番号を算出する構成としても構わない。次に、Ｄ2[Ｌ]＋＝Ｓ（ｆ1，ｆ2）として、Ｄ2を更新する。この処理を全ての周波数強度に対して行う。
【００５３】
次に、動径距離閾値決定部３４は、上述の処理により算出した動径方向分布に基づき、動径距離閾値を決定する（＃０７）。具体的には、動径方向分布を距離の短い方から積算し、その積算値の全体の積算値に対する割合が所定の割合となる動径距離を動径距離閾値として決定する。
【００５４】
次に、角度決定部３５は、動径距離閾値決定部３４により決定された動径距離閾値に基づき特定の角度を決定する。具体的には、角度決定部３５は、角度方向分布を算出する際に、（ｆ12＋ｆ22）1/2≦動径距離閾値となる周波数強度Ｓ（ｆ1，ｆ2）のみを用いる。
【００５５】
なお、動径距離閾値の決定方法は上述の方法に限定されるものではなく、他の方法を用いても構わない。また、上述の方法では、動径距離閾値決定部３４は、一の動径距離閾値を決定したが、２つの動径距離閾値Ｌ1およびＬ2を決定し、角度決定部３５は、Ｌ1≦（ｆ12＋ｆ22）1/2≦Ｌ2となる周波数強度Ｓ（ｆ1，ｆ2）のみを用いて、角度方向分布を算出する構成としても構わない。
【００５６】
このように、本実施形態によれば、被評価画像データから算出された周波数強度から、動径方向分布が算出され、動径方向分布に基づき動径距離閾値が決定され、さらに動径距離閾値に基づき角度方向分布が決定されるため、不要な周波数を除外した周波数特性のみを表示することができる。
【図面の簡単な説明】
【００５７】
【図１】本発明の実施形態における写真プリント装置の概観図
【図２】本発明の第１実施形態における写真プリント装置のコントローラ内に構築される機能要素を示す機能ブロック図
【図３】本発明の第１実施形態における処理の流れを表すフローチャート
【図４】被評価画像の例
【図５】被評価画像の周波数強度を画像化した例
【図６】本発明の実施形態における被評価画像データの例
【図７】図６の被評価画像データの周波数強度を画像化した例
【図８】本発明の実施形態における周波数強度を可視化した例
【図９】傾いて取得された被評価画像データの周波数強度を画像化した例
【図１０】本発明の第２実施形態における写真プリント装置のコントローラ内に構築される機能要素を示す機能ブロック図
【図１１】本発明の第２実施形態における処理の流れを表すフローチャート
【図１２】周波数強度の角度方向分布をグラフ化した例
【図１３】本発明の第３実施形態における写真プリント装置のコントローラ内に構築される機能要素を示す機能ブロック図
【図１４】本発明の第３実施形態における処理の流れを表すフローチャート
【符号の説明】
【００５８】
２１：画像処理装置
２２：ディスプレイ
２７：フラットベッドスキャナ
３１：画像取得部
３２：はみ出し処理部
３３：周波数解析部
３４：動径距離閾値決定部
３５：特定角度決定部
３６：表示部
４０：メモリ
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像形成装置により画像記録媒体に形成される画像の評価技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
プリンタや複写機等の画像記録装置では、搬送ムラやインクの吐出ムラ等に起因して、形成される画像にスジやムラ等の欠陥が生じることが知られている。そのため、操作者がテストプリントを行い、目視により画像の欠陥の有無を判定することが行われている。
【０００３】
また、自動的に画像の品質を評価するための様々な方法も検討されている。例えば、縞模様のテスト原稿を読み取り、その読み取った画像の濃度変化を検出し、その検出結果から周波数スペクトルを算出し、周波数スペクトルのピーク値に対応する周波数と複写機の各構成要素の固有振動数を比較し、ピーク値に対応する固有振動数を持つ構成要素を特定する方法がある（特許文献１参照）。
【０００４】
特許文献１の技術では、読み取った縞模様のテスト原稿を周波数解析することにより、特徴が顕著な周波数を特定し、その周波数と同一の固有振動数を持つ構成部品を特定することができる。これにより、画像のムラ等を生じさせている構成部品を特定することができるものである。
【０００５】
【特許文献１】特開平４−３３５３６３号公報（段落番号０００４−０００６）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
操作者が目視で欠陥の有無を判定する場合には、操作者間で評価のばらつきが生じるため、安定した品質を保つことが困難であり、また、操作者への負担も大きい。また、特許文献１の技術では、読み取ったテスト原稿を周波数解析することにより、画像に欠陥を生じさせる原因となっている構成部品を特定することができるものではあるが、解析結果には様々な要因の周波数特性が混在しており、画像の品質を低下させる要因を正確に特定することは困難である。また、テスト原稿は縞模様であるため、主走査方向もしくは副走査方向の周波数特性しか解析することができない。
【０００７】
このような問題点に鑑み、本発明の課題は、画像形成装置により形成された画像の周波数特性に基づき的確に画像評価を実現する技術を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の画像評価方法は、単一の濃淡画素値を有するテストパターンデータを画像記録媒体にテストパターン画像として形成する画像形成ステップと、前記テストパターン画像を被評価画像データとして取得する画像取得ステップと、前記被評価画像データを２次元周波数解析し周波数強度を算出する周波数解析ステップと、前記周波数強度のうち特定の角度方向の周波数強度に基づく評価データを表示するステップと、を備えている。
【０００９】
このような構成により、被評価画像を周波数解析した結果である周波数強度のうち、周波数特性が顕著に表れる角度方向の周波数強度のみに基づく評価データを表示することができる。これにより、評価者は、表示された評価データが所定の条件を充足している場合には、形成された画像に問題はないと評価でき、条件を充足していない場合には、的確に原因となる周波数特性を把握することができる。
【００１０】
通常、画像記録媒体に形成されるテストパターン画像におけるムラは、主走査方向もしくは副走査方向に表れる。そのようなテストパターン画像から取得された被評価画像データの周波数分析結果では、周波数空間におけるｘ軸もしくはｙ軸上に特徴が顕著に現れる。そのため、周波数空間におけるｘ軸もしくはｙ軸上の周波数強度のみに着目することで、画像のムラの特性を知ることができる。しかしながら、画像記録媒体をフラットベッドスキャナ等に傾いて載置したことにより、周波数空間において特徴が顕著に表れる角度方向がｘ軸又はy軸から若干傾く場合がある。
【００１１】
そのため、本発明の画像評価方法の好適な実施形態の一つでは、前記特定の角度方向は周波数空間における一の周波数成分を０とした角度方向であり、前記表示ステップは、前記周波数空間において前記特定の角度方向に直交する方向に所定幅を持つ領域に含まれる周波数強度に基づく評価データを表示する。この構成では、特定の角度方向だけでなく、特定の角度方向と直交する方向に所定幅を持つ領域に含まれる周波数強度に基づく評価データが表示されるため、付加的な演算をすることなく、傾きの影響を吸収することができる。
【００１２】
また、テストパターン画像が形成された画像記録媒体をフラットベッドスキャナ等の画像読み取り装置に傾いて載置した場合等には、周波数特性が最も顕著に表れる角度方向は、周波数空間の軸方向とは一致しない。このような場合には、周波数特性が最も顕著に表れる角度方向を求めることが必要である。
【００１３】
そのため、本発明の画像評価方法の好適な実施形態の一つでは、前記周波数強度を角度毎に積算することにより角度方向分布を算出し、当該角度方向分布が極大となる角度を前記特定の角度方向として決定する角度決定ステップを備えている。この構成により、角度方向分布から周波数特性が顕著に表れる角度方向を決定することができる。
【００１４】
また、画像記録媒体に形成されたテストパターン画像には、様々な要因による周波数特性が含まれていることがある。しかしながら、画像評価には全ての周波数特性は必要ではない。特に、上述の角度方向分布を算出する際に、全ての周波数の周波数特性に基づき算出した場合には、予期せぬ周波数の周波数特性のために精度が低下する恐れがある。
【００１５】
そのため、本発明の画像評価方法の好適な実施形態の一つでは、前記周波数強度を動径距離毎に積算することにより動径方向分布を算出し、当該動径方向分布に基づき動径距離閾値を決定する動径距離閾値決定ステップを備え、前記角度決定ステップは、決定された前記動径距離閾値に応じた周波数強度を用いて前記角度方向分布を算出する。この構成により、動径方向分布に基づき動径距離閾値が決定され、決定された動径距離閾値を満たす周波数の周波数強度から角度方向分布が決定される。これにより、不要な周波数の周波数特性が角度方向分布に混入することを回避でき、精度の高い角度方向分布を算出することができる。
【００１６】
また、本発明の画像評価装置は、単一の濃淡画素値を有するテストパターンデータを画像記録媒体にテストパターン画像として形成する画像形成部と、前記テストパターン画像を被評価画像データとして取得する画像取得部と、前記被評価画像データを２次元周波数解析し周波数強度を算出する周波数解析部と、前記周波数強度のうち特定の角度方向の周波数強度に基づく評価データを表示する表示部と、を備えている。当然ながら、このような画像評価装置も、上述した画像評価方法と同様の作用効果を得ることができ、上述した付加的構成を備えることもできる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
〔第１実施形態〕
以下に、本発明の画像評価方法および画像評価装置の第１実施形態を図面に基づいて説明する。
【００１８】
図１に示す写真プリント装置（画像評価装置の一例）は、暗箱構造の筐体１０を有し、この筐体１０の内部には画像記録媒体Ｐに画像を形成する画像形成部Ｅｘと、画像が形成された画像記録媒体Ｐを筐体１０の端部の排出部１１から排出し、搬送ベルト１２で受け止めて水平方向に搬送し、複数のトレイ１３Ａの何れかにオーダ単位で回収可能なソータ１３を備えている。
【００１９】
また、筐体１０の外部には、オペレータが画像データの取得と、プリント処理に必要な操作とを行う操作端末として機能するオペレート部Ａが設置されている。オペレート部Ａには、操作テーブル２０に設置された汎用コンピュータで成る画像処理装置２１と、画像処理装置２１の上面に設置されたディスプレイ２２と、現像処理後の写真フィルムＦのコマ画像から画像データを取得するフィルムスキャナ２３と、２つのキーボード２４と１つのマウス２５と、画像記録媒体Ｐから画像データを取得するためのフラットベッドスキャナ２７と、を備えている。画像処理装置２１の前面には各種の半導体型の記憶媒体（不図示）、あるいは、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ、ＭＯ等の磁気式や光学式の記憶媒体（不図示）等から画像データを取得する複数のメディアドライブ２６を備えている。
【００２０】
なお、画像形成部Ｅｘとして、インクジェット方式、レーザ露光方式等、様々な方式を用いることができる。
【００２１】
図２に示すように、画像処理装置２１には本発明の画像評価装置に係る各機能要素として、フラットベッドスキャナ２７を機能させてテストパターン画像を被評価画像データとして取得する画像取得部３１、取得した被評価画像データにテストパターン以外のパターンが存在するか否かを判定し、存在すると判定した際にはそのテストパターン以外のパターンを除去するはみ出し処理部３２、被評価画像データを周波数解析し、周波数強度を算出する周波数解析部３３、周波数解析部３３により算出された周波数強度のうち特定角度方向の周波数強度を可視化して表示する表示部３６が備えられている。
【００２２】
画像取得部３１は、画像記録媒体Ｐに形成されたテストパターン画像をフラットベッドスキャナ２７によりデジタル化し、被評価画像データとして取得する。取得した被評価画像データはメモリ４０に記憶させる。
【００２３】
はみ出し処理部３２は、テストパターン画像データが他の画像データの一部として構成されている場合に、取得した被評価画像データに他の画像データが存在するか否かを判定し、他の画像データが存在する際には、後述する方法により、その他の画像データの除去を行う。
【００２４】
周波数解析部３３は、被評価画像データに対して２次元周波数解析を行い、周波数強度を算出する。本実施形態では、２次元周波数解析として２次元フーリエ変換を用いるが、他の周波数解析手法を用いても構わない。
【００２５】
表示部３６は、周波数解析部３３により算出された周波数強度のうち特定角度の周波数強度をグラフ化して表示する。
【００２６】
次に、図３のフローチャートに基づき本発明に係る画像評価の詳細な処理の流れを説明する。なお、以下の処理に先立ち、メモリ４０上に記憶されているテストパターン画像データは、画像形成部Ｅｘにより画像記録媒体Ｐ上にテストパターン画像として形成されているものとする。また、本発明におけるテストパターン画像データは、単一の濃淡画素値を持つ画素から構成されているが、テストパターン画像データのみで一の画像データを構成していてもよいし、テストパターン画像データが他の画像の一部として構成されていても構わない。後者の場合には、一のテストプリントにおいて種々のテストパターン画像を形成でき、種々のテストを効率的に行うことができるため、好適である。また、後者の場合には、後述する画像の読み取り時に、本発明に用いるテストパターン画像の範囲を指定して被評価画像データを取得する、読み取った画像から、本発明に用いるテストパターン画像の範囲を指定する等の構成とすると、付加的な処理が不要となる。
【００２７】
まず、ユーザは上述のテストパターン画像が形成された画像記録媒体Ｐをフラットベッドスキャナ２７に載置した後、画像処理装置２１を操作し、画像評価処理の実行を指示する。フラットベッドスキャナ２７は、画像をデジタル化した被評価画像データを画像処理装置２１に送る。
【００２８】
画像取得部３１は、フラットベッドスキャナ２７から被評価画像データを取得し、メモリ４０に記憶させる（＃０１）。このとき、取得した被評価画像データうち、精度の低い周辺画素を除外しておくと、画像評価精度の向上が期待でき好適である。例えば、取得した被評価画像データの大きさが幅Ｗ、高さＨであるとすると、周辺１０％を除去した（０．１Ｗ，０．１Ｈ）−（０．９Ｗ，０．９Ｈ）により規定される矩形領域を被評価画像データとする。また、フラットベッドスキャナ２７によりカラー画像データとしてデジタル化された場合には、公知の方法によりカラー画像データの輝度成分に基づき、カラー画像データを濃淡画像データに変換しておく。以下、被評価画像データとは、濃淡画像データに変換されたものを指す。
【００２９】
画像記録媒体Ｐをフラットベッドスキャナ２７に傾いて載置する等により、被評価画像データに不要な画素（以下、はみ出し部分と称する）が含まれている場合がある。そのため、はみ出し処理部３２は、メモリ４０から被評価画像データを取得し、はみ出し処理を行う。具体的には、まず、被評価画像データの全画素値が所定の濃淡値範囲にあるかが判定される（＃０２）。この所定の濃淡値範囲は、テストパターン画像データの画素値に基づき決定されている。上述の条件を充足しない場合（＃０３のNo分岐）には、以下の処理によりはみ出し部分の画素値を後述する所定の濃淡値に置換することによる変更が行われ（＃０４）、条件を充足した場合（＃０３のYes分岐）には、はみ出し部分の画素値の変更処理はスキップされる。
【００３０】
まず、被評価画像データから濃淡ヒストグラムＨ[ ]を作成し、濃淡ヒストグラムＨ[ ]のピーク値を与える濃淡値ｄを求める。濃淡値ｄの算出は、単に濃淡ヒストグラムＨの最大値を与える濃淡値を求めるのではなく、濃淡値ｉ−１、ｉ、ｉ＋１に対する濃淡ヒストグラムＨの和すなわちＨ［ｉ−１］＋Ｈ［ｉ］＋Ｈ［ｉ＋１］が最大となる濃淡値ｉをピーク値を与える濃淡値ｄとする。このように、濃淡値ｄを求めることにより、例えば白画素を持つはみ出し部分が存在した場合にも、正しい濃淡値ｄを求めることができる。
【００３１】
次に、濃淡値ｄを中心とする所定の濃淡値範囲に対する濃淡ヒストグラムＨ[ ]の積算値を求める。すなわち、所定の濃淡値範囲を[ｄ−ｒ，ｄ＋ｒ]とすると積算値ｓは式（１）で得られる。そして、積算値ｓの被評価画像データの画素数に対する割合が所定の閾値と比較され、所定の閾値以上であれば、所定の濃淡値範囲[ｄ−ｒ，ｄ＋ｒ]外の画素値を持つ画素をはみ出し部分を構成する画素と判定する。本実施形態では、式（２）により得られる所定の濃度値範囲における平均濃淡値ｄ’によりはみ出し部分の画素値を置換する。
【数１】
【数２】
【００３２】
一方、上述の割合が所定の閾値以下であれば、はみ出し部分が多く、十分な評価ができないため、再度画像取得する旨を操作者に通知する。
【００３３】
図４（ａ）は、はみ出し部分Ｘを有する被評価画像Ｔの例であり、この被評価画像Ｔの周波数強度を画像化すると図５（ａ）のようになる。図から明らかなように、周波数特性には、はみ出し部分Ｘの周波数特性が表れている。一方、上述の処理によりはみ出し部分Ｘの画素値を変更すると図４（ｂ）に示す被評価画像Ｔとなり、この被評価画像Ｔの周波数強度を画像化すると図５（ｂ）となり、はみ出し部分Ｘの周波数特性が低減されているのが分かる。
【００３４】
このように、はみ出し部分の画素値を変更することにより、はみ出し部分の周波数特性を低減し、以降の処理において、的確に被評価画像データの周波数特性を解析することができる。
【００３５】
次に、周波数解析部３３は、メモリ４０から被評価画像データを取得し、２次元フーリエ変換により周波数強度を算出する（＃０５）。本発明は、画像データに対してフーリエ変換（ＦＴ：Fourier Transformation）を行うものであり、画像データは離散データであるため２次元離散フーリエ変換（ＤＦＴ：Discrete Fourier Transformation）が用いられる。また、実際の演算には高速に演算が可能な離散高速フーリエ変換（ＤＦＦＴ：Discrete Fast Fourier Transformation）アルゴリズムが用いられる。
【００３６】
表示部３６は、周波数解析部３３により算出された周波数強度の特定角度方向の周波数強度を可視化し、評価データとしてディスプレイ２２に表示する（＃１０）。
【００３７】
通常、画像に生じる印刷ムラは、搬送ムラやインクの吐出ムラ、画像形成装置の構成部品の固有振動数等に起因している。このようなムラを有する被評価画像データを周波数解析すると、周波数空間におけるｘ軸またはｙ軸方向において強い周波数強度を有している。そのため、本実施形態では、特定の角度方向として、一方の周波数を０とした角度方向を用いている。例えば、図６の被評価画像データでは副走査方向（被評価画像データにおけるｙ軸方向）にムラを生じており、この被評価画像データの周波数強度を画像化すると図７となる。この場合には、特定の角度はｘ軸方向の周波数が０となる角度方向となる。すなわち、ｘ軸方向の周波数をｆ1、ｙ軸方向の周波数をｆ2、ｘ軸方向の周波数ｆ1およびｙ軸方向の周波数ｆ2の周波数強度をＳ（ｆ1，ｆ2）とすると、Ｓ（０、ｆ2）となる周波数強度が可視化される。一方、主走査方向（被評価画像データにおけるｘ軸方向）にムラが生じている場合には、ｙ軸方向の周波数が０となる角度方向の周波数強度、すなわちＳ（ｆ1，０）となる周波数強度が可視化される。
【００３８】
なお、テストパターン画像が形成された画像記録媒体Ｐをフラットベッドスキャナ２７に載置する際に若干傾く恐れがある。この場合には、算出された周波数強度は、図９に示すように図７の周波数強度を回転させたものとなっており、このように傾いた周波数強度に対して上述の可視化を行っても正しい結果は得られない。このような場合には、一方の周波数を０とした線上の周波数強度だけでなく、その両側に所定の幅を持つ領域内の周波数強度を可視化する。例えば、副走査方向にムラが生じている場合には、各々の副操作方向の周波数ｆ2に対して、式（３）によりＳ（ｆ2）を算出し、このＳ（ｆ2）を可視化する。このように可視化すると、傾きの影響を低減できるため好適である。
【数３】
【００３９】
可視化の方法は種々考えられるが、例えば図８に示すように、横軸を動径距離、縦軸を周波数強度としたグラフを用いることができる。操作者は、このグラフに基づきムラの周波数特性を把握することができる。
【００４０】
このように、本実施形態によれば、周波数強度のうち特定の角度方向のみの周波数強度が用いられるため、周波数強度の特徴を顕著に表すことができ、操作者は的確に被評価画像データの周波数特性を把握することができる。
【００４１】
〔第２実施形態〕
以下に図面を用いて、本発明の画像評価方法および画像評価装置の第２実施形態を説明する。図１０は、本実施形態における各機能部を表す機能ブロック図であり、第１実施形態と同様の機能部には同一の符号を付している。本実施形態は、周波数強度の角度毎の周波数強度を積算することにより角度方向分布を算出し、角度方向分布が極大となる角度を決定する角度決定部３５を備えている点において第１実施形態と異なっている。
【００４２】
角度決定部３５は、周波数解析部３３により算出された周波数強度を角度毎に積算することにより角度方向分布を算出し、算出した角度方向分布に基づき角度を決定する。なお、角度とは、ｔａｎ-1（ｆ2／ｆ1）で表される値である。
【００４３】
次に、図１１のフローチャートに基づき本実施形態の処理の流れを説明する。なお、第１実施形態と同様の処理には同一の符号を付しており、詳細な説明は省略する。
【００４４】
角度決定部３５は、周波数解析部３３により算出された周波数強度を取得し、角度毎に積算することにより角度方向分布を算出する（＃０８）。角度方向分布算出の具体的な処理は以下の通りである。まず、角度決定部３５は、メモリ４０上に角度方向分布を表す１次元配列Ｄ1[ ]を確保し、０で初期化する。次に、角度決定部３５は、周波数強度の一の値Ｓ（ｆ1，ｆ2）を取得し、角度θ＝ｔａｎ-1（ｆ2／ｆ1）を計算する。本実施形態では、θはラジアンから度に変換した後、整数に丸め、θをＤ1の配列番号として用いるが、小数値θから所定の演算によりＤ1の配列番号を算出する構成としても構わない。次に、Ｄ1[θ]＋＝Ｓ（ｆ1，ｆ2）として、Ｄ1を更新する。この処理を全ての周波数強度に対して行う。
【００４５】
次に、角度決定部３５は、上述の処理により算出した角度方向分布に基づき、特定の角度を決定する（＃０９）。具体的には、角度方向分布から極大となる角度を抽出し、特定の角度として決定する。なお、通常、２次元周波数解析における周波数強度は、双方の周波数が０となる点を中心とした点対称となるため、特定の角度は２つであり、それらの角度差は１８０°である。そのため、３以上の極大点が存在する場合には、Ｄ1[θ]＋ Ｄ1[θ＋１８０]が最大となる角度θおよびθ＋１８０を特定の角度として決定する。
【００４６】
図６の被評価画像データから算出された周波数強度を用いて、上述の処理により算出された角度方向分布をグラフ化した例を図１２に示す。図から明らかなように、ｙ軸方向にムラを有する被評価画像データの周波数強度は、ｙ軸方向、すなわち、角度方向が９０°および２７０°に強い周波数強度が分布している。
【００４７】
表示部３６は、周波数解析部３３により算出された周波数強度のうち、角度特定部３５により決定された特定の角度方向の周波数強度を可視化し、ディスプレイ２２に表示する（＃１０）。
【００４８】
このように、本実施形態によれば、被評価画像データから算出された周波数強度から、角度方向分布が算出され、角度方向分布に基づき特定の角度を決定することができるため、テストパターン画像が形成された画像記録媒体Ｐがフラットベッドスキャナ２７に傾いて載置される等、被評価画像データに傾きが含まれている場合にも、的確に観察すべき角度方向を特定することができる。
【００４９】
〔第３実施形態〕
以下に図面を用いて、本発明の画像評価方法および画像評価装置の第３実施形態を説明する。図１３は、本実施形態における各機能部を表す機能ブロック図であり、第２実施形態と同様の機能部には同一の符号を付している。本実施形態は、周波数強度の動径距離毎の周波数強度を積算することにより動径方向分布を算出し、動径方向分布に基づき動径距離閾値を決定する動径距離閾値決定部３４を備え、前記角度決定部３５は動径距離閾値決定部３４により決定された動径距離閾値範囲内の動径距離を持つ周波数強度に基づき角度を決定する点において第２実施形態と異なっている。
【００５０】
動径距離閾値決定部３４は、周波数解析部３３により算出された周波数強度を動径距離毎に積算することにより動径方向分布を算出し、算出した動径方向分布に基づき動径距離閾値を決定する。なお、動径距離とは、（ｆ12＋ｆ22）1/2で表される値である。
【００５１】
次に、図１４のフローチャートに基づき本実施形態の処理の流れを説明する。なお、第２実施形態と同様の処理には同一の符号を付しており、詳細な説明は省略する。
【００５２】
動径距離閾値決定部３４は、周波数解析部３３により算出された周波数強度を取得し、動径距離毎に積算することにより動径方向分布を算出する（＃０６）。動径方向分布算出の具体的な処理は以下の通りである。まず、動径距離閾値決定部３４は、メモリ４０上に動径方向分布を表す１次元配列Ｄ2[ ]を確保し、０で初期化する。次に、動径距離閾値決定部３４は、周波数強度の一の値Ｓ（ｆ1，ｆ2）を取得し、動径距離Ｌ＝（ｆ12＋ｆ22）1/2を計算する。本実施形態では、Ｌは整数に丸め、ＬをＤ2の配列番号として用いるが、小数値Ｌから所定の演算によりＤ2の配列番号を算出する構成としても構わない。次に、Ｄ2[Ｌ]＋＝Ｓ（ｆ1，ｆ2）として、Ｄ2を更新する。この処理を全ての周波数強度に対して行う。
【００５３】
次に、動径距離閾値決定部３４は、上述の処理により算出した動径方向分布に基づき、動径距離閾値を決定する（＃０７）。具体的には、動径方向分布を距離の短い方から積算し、その積算値の全体の積算値に対する割合が所定の割合となる動径距離を動径距離閾値として決定する。
【００５４】
次に、角度決定部３５は、動径距離閾値決定部３４により決定された動径距離閾値に基づき特定の角度を決定する。具体的には、角度決定部３５は、角度方向分布を算出する際に、（ｆ12＋ｆ22）1/2≦動径距離閾値となる周波数強度Ｓ（ｆ1，ｆ2）のみを用いる。
【００５５】
なお、動径距離閾値の決定方法は上述の方法に限定されるものではなく、他の方法を用いても構わない。また、上述の方法では、動径距離閾値決定部３４は、一の動径距離閾値を決定したが、２つの動径距離閾値Ｌ1およびＬ2を決定し、角度決定部３５は、Ｌ1≦（ｆ12＋ｆ22）1/2≦Ｌ2となる周波数強度Ｓ（ｆ1，ｆ2）のみを用いて、角度方向分布を算出する構成としても構わない。
【００５６】
このように、本実施形態によれば、被評価画像データから算出された周波数強度から、動径方向分布が算出され、動径方向分布に基づき動径距離閾値が決定され、さらに動径距離閾値に基づき角度方向分布が決定されるため、不要な周波数を除外した周波数特性のみを表示することができる。
【図面の簡単な説明】
【００５７】
【図１】本発明の実施形態における写真プリント装置の概観図
【図２】本発明の第１実施形態における写真プリント装置のコントローラ内に構築される機能要素を示す機能ブロック図
【図３】本発明の第１実施形態における処理の流れを表すフローチャート
【図４】被評価画像の例
【図５】被評価画像の周波数強度を画像化した例
【図６】本発明の実施形態における被評価画像データの例
【図７】図６の被評価画像データの周波数強度を画像化した例
【図８】本発明の実施形態における周波数強度を可視化した例
【図９】傾いて取得された被評価画像データの周波数強度を画像化した例
【図１０】本発明の第２実施形態における写真プリント装置のコントローラ内に構築される機能要素を示す機能ブロック図
【図１１】本発明の第２実施形態における処理の流れを表すフローチャート
【図１２】周波数強度の角度方向分布をグラフ化した例
【図１３】本発明の第３実施形態における写真プリント装置のコントローラ内に構築される機能要素を示す機能ブロック図
【図１４】本発明の第３実施形態における処理の流れを表すフローチャート
【符号の説明】
【００５８】
２１：画像処理装置
２２：ディスプレイ
２７：フラットベッドスキャナ
３１：画像取得部
３２：はみ出し処理部
３３：周波数解析部
３４：動径距離閾値決定部
３５：特定角度決定部
３６：表示部
４０：メモリ
【特許請求の範囲】
【請求項１】
単一の濃淡画素値を有するテストパターンデータを画像記録媒体にテストパターン画像として形成する画像形成ステップと、
前記テストパターン画像を被評価画像データとして取得する画像取得ステップと、
前記被評価画像データを２次元周波数解析し周波数強度を算出する周波数解析ステップと、
前記周波数強度のうち特定の角度方向の周波数強度に基づく評価データを表示するステップと、を備えたことを特徴とする画像評価方法。
【請求項２】
前記特定の角度方向は周波数空間における一の周波数成分を０とした角度方向であり、
前記表示ステップは、前記周波数空間において前記特定の角度方向に直交する方向に所定幅を持つ領域に含まれる周波数強度に基づく評価データを表示することを特徴とする請求項１記載の画像評価方法。
【請求項３】
前記周波数強度を角度毎に積算することにより角度方向分布を算出し、当該角度方向分布が極大となる角度を前記特定の角度方向として決定する角度決定ステップを備えたことを特徴とする請求項１記載の画像評価方法。
【請求項４】
前記周波数強度を動径距離毎に積算することにより動径方向分布を算出し、当該動径方向分布に基づき動径距離閾値を決定する動径距離閾値決定ステップを備え、
前記角度決定ステップは、決定された前記動径距離閾値に応じた周波数強度を用いて前記角度方向分布を算出することを特徴とする請求項３記載の画像評価方法。
【請求項５】
単一の濃淡画素値を有するテストパターンデータを画像記録媒体にテストパターン画像として形成する画像形成部と、
前記テストパターン画像を被評価画像データとして取得する画像取得部と、
前記被評価画像データを２次元周波数解析し周波数強度を算出する周波数解析部と、
前記周波数強度のうち特定の角度方向の周波数強度に基づく評価データを表示する表示部と、を備えたことを特徴とする画像評価装置。
【請求項１】
単一の濃淡画素値を有するテストパターンデータを画像記録媒体にテストパターン画像として形成する画像形成ステップと、
前記テストパターン画像を被評価画像データとして取得する画像取得ステップと、
前記被評価画像データを２次元周波数解析し周波数強度を算出する周波数解析ステップと、
前記周波数強度のうち特定の角度方向の周波数強度に基づく評価データを表示するステップと、を備えたことを特徴とする画像評価方法。
【請求項２】
前記特定の角度方向は周波数空間における一の周波数成分を０とした角度方向であり、
前記表示ステップは、前記周波数空間において前記特定の角度方向に直交する方向に所定幅を持つ領域に含まれる周波数強度に基づく評価データを表示することを特徴とする請求項１記載の画像評価方法。
【請求項３】
前記周波数強度を角度毎に積算することにより角度方向分布を算出し、当該角度方向分布が極大となる角度を前記特定の角度方向として決定する角度決定ステップを備えたことを特徴とする請求項１記載の画像評価方法。
【請求項４】
前記周波数強度を動径距離毎に積算することにより動径方向分布を算出し、当該動径方向分布に基づき動径距離閾値を決定する動径距離閾値決定ステップを備え、
前記角度決定ステップは、決定された前記動径距離閾値に応じた周波数強度を用いて前記角度方向分布を算出することを特徴とする請求項３記載の画像評価方法。
【請求項５】
単一の濃淡画素値を有するテストパターンデータを画像記録媒体にテストパターン画像として形成する画像形成部と、
前記テストパターン画像を被評価画像データとして取得する画像取得部と、
前記被評価画像データを２次元周波数解析し周波数強度を算出する周波数解析部と、
前記周波数強度のうち特定の角度方向の周波数強度に基づく評価データを表示する表示部と、を備えたことを特徴とする画像評価装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図２】
【図３】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【公開番号】特開２００９−２９０４７１（Ｐ２００９−２９０４７１Ａ）
【公開日】平成２１年１２月１０日（２００９．１２．１０）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００８−１３９８４６（Ｐ２００８−１３９８４６）
【出願日】平成２０年５月２８日（２００８．５．２８）
【出願人】（０００１３５３１３）ノーリツ鋼機株式会社 (1,824)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２１年１２月１０日（２００９．１２．１０）
【国際特許分類】
【出願日】平成２０年５月２８日（２００８．５．２８）
【出願人】（０００１３５３１３）ノーリツ鋼機株式会社 (1,824)
【Ｆターム（参考）】
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