発光制御装置
【目的】 レーザ光の発光駆動によって生ずる高周波ノイズを国際規格及び各国のＥＭＩ規格の規格内に収められるようにする。
【構成】 レーザ光を発光するＬＤ１０と、ＬＤ１０にレーザ光を発光させるための駆動電流を供給するＬＤＤＲ１１と、ＬＤＤＲ１１によって供給する駆動電流に高周波電流を重畳する発振回路２４と、ＬＤ１０から発光されたレーザ光を受光して発光量に応じた信号が検出され、その検出された信号のレベルに基づいてＬＤＤＲ１１に対してＬＤ１０に供給する駆動電流量を制御するＣＰＵ５と、発振回路２４によって重畳される高周波電流の発振周波数を計測する発振周波数カウンタ２６とを有し、上記ＣＰＵ５が、発振周波数カウンタ２６によって計測された発振周波数が予め設定した目標周波数よりも大きくなるように発振回路２４に対して重畳する高周波電流の発振周波数を可変させる。
【構成】 レーザ光を発光するＬＤ１０と、ＬＤ１０にレーザ光を発光させるための駆動電流を供給するＬＤＤＲ１１と、ＬＤＤＲ１１によって供給する駆動電流に高周波電流を重畳する発振回路２４と、ＬＤ１０から発光されたレーザ光を受光して発光量に応じた信号が検出され、その検出された信号のレベルに基づいてＬＤＤＲ１１に対してＬＤ１０に供給する駆動電流量を制御するＣＰＵ５と、発振回路２４によって重畳される高周波電流の発振周波数を計測する発振周波数カウンタ２６とを有し、上記ＣＰＵ５が、発振周波数カウンタ２６によって計測された発振周波数が予め設定した目標周波数よりも大きくなるように発振回路２４に対して重畳する高周波電流の発振周波数を可変させる。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、ＣＤ−ＲＯＭドライブ、ＣＤ−Ｒドライブ、ＣＤ−ＲＷドライブ、ＤＶＤ−Ｒドライブ、ＤＶＤ−ＲＷドライブ、ＤＶＤ＋Ｒドライブ、ＤＶＤ＋ＲＷドライブ、ＤＶＤ−ＲＡＭドライブ、ＭＯドライブ等の光ディスク装置に内蔵される光ピックアップの発光を制御する発光制御装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
現在、記録可能で高密度な光ディスクとしては、レーザ光を用いて記録及び再生する方式の追記型（Ｗｒｉｔｅ Ｏｎｃｅ）と書換え可能型（Ｒｅ−ｗｒｉｔａｂｌｅ）の光ディスク又は光磁気ディスクがある。例えば、追記型の光ディスクには、ＣＤ−Ｒディスク、ＤＶＤ−Ｒディスク、ＤＶＤ＋Ｒディスク等がある。また、書換え可能型の光ディスクには、ＣＤ−ＲＷディスク、ＤＶＤ−ＲＷディスク、ＤＶＤ＋ＲＷディスク、ＤＶＤ−ＲＡＭディスク等がある。さらに、光磁気ディスクとしてはＭＯディスク等がある。
例えば、追記型の光ディスク、書き換え可能型の光ディスクに対して用いられる光ピックアップは、情報を記録する時にレーザダイオード（ＬＤ）から間欠的に光ビームを射出して、予め所定の変調パターンが記録された光ディスクの記録面にその光ビームを照射することによって所望の情報を記録する。
【０００３】
また、光ピックアップは、光ディスク上に記録された情報を再生するとき、光ディスクに照射した光ビームの反射光を受光し、その受光によって得られた信号に基づいて情報を再生する。
光ピックアップは、上記光ビームを照射したり受光するための光学系を一体化しており、そのような光ピックアップを搭載した光ディスク装置では、光ピックアップを光ディスクの半径方向に移動させて、光ディスクの所望のトラックに光ビームを照射することによって情報を記録し、トラックから情報を再生する（例えば、特許文献１参照）。
ところで、上述のような光ピックアップによって光ディスクの情報を再生するとき、ＬＤの端面に対して光ディスク側からの戻り光や、光ピックアップ内での乱反射、迷光成分があると、ＬＤのレーザ発振が変調されてしまい、ＬＤのレーザ発振の異常動作を誘発して誤動作を起こし、ＬＤに対して正常なレーザパワー制御ができなくなり、再生品質の劣化だけでなく、光ディスクに誤情報を書き込んでしまう虞もある。
【０００４】
そこで従来、光ピックアップは、ＬＤの端面への戻り光の影響をキャンセルするための高周波重畳電流を発生させる高周波重畳回路を備えている。
従来、光ピックアップの発光制御回路（発光制御装置）は、ＬＤのリード（再生）時の発光を制御する電流制御回路（リード発光制御回路）と、ＬＤのライト（記録）時の発光を制御する電流制御回路（ライト発光制御回路）と、再生時のＬＤの端面への戻り光の影響をキャンセルするための高周波重畳電流を発生させる高周波重畳電流発生回路とからなり、上記３回路の出力する電流を組み合わせた和電流をＬＤに流すようにしており、リード時、ライト時等の使用用途によってどの回路の電流を足しこむかを決めている。
【０００５】
例えば、ライト時にＬＤをライト発光させる場合は、３回路を同時にＯＮにして３回路の出力する全電流の和電流をＬＤに流し、リード時にＬＤをリード発光させる場合は、ライト発光制御回路以外をＯＮにしてリード発光制御回路と高周波重畳電流発生回路の２回路の出力する電流の和電流をＬＤに流している。
なお、ライト発光時の発光パターンは光ディスク等の特性に応じて種々の発光パターンと発光レベルを発生させている。
【０００６】
ところで、上記高周波重畳電流発生回路で発生させる高周波重畳電流の周波数は、光ピックアップ装置の読み取り性能や駆動回路の性能により異なるが、一般的には２５０ＭＨｚ以上であり、電流値は５０ｍＡｐ−ｐ以上を要する（なお、ＬＤの特性によっては１００ｍＡに達する場合もある）。
【特許文献１】特開２００３−１３２５８５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、従来の発光制御装置のような高周波重畳電流を発生させると、光ディスク装置から外部に発せられる電磁波を、国際規格又は各国で決められた電磁波妨害（ＥＭＩ）レベル内（ＥＭＩ規格内）に収めることが困難になるという問題があった。
例えば、図１８に示すように、国際規格であるＣＩＳＰＲ２２では、電子機器から発生される電磁波は３０ＭＨｚから１ＧＨｚまでの周波数範囲に収めるように決められており、これを満足しなければならない。
【０００８】
従来の発光制御装置の高周波重畳電流発生回路の特性上のばらつきにより、発振周波数が装置毎にばらつくと、ある装置では２５０ＭＨｚ、またある装置では３００ＭＨｚとなり、前者の装置の３次高調波は７５０ＭＨｚとなり１ＧＨｚ以下であるため、高度な技術を要し、且つ高価な対策を実施しなければならなくなる。
特に周波数が１ＧＨｚ近傍になると、電磁波の発振源の構造そのものから直接放射されるだけに電磁波妨害を防ぐことが非常に困難になる。
また、長時間使用すると、ＬＤ電流駆動回路とその周辺の発熱により、周波数変動が顕著に現れてしまって安定しない。
この発明は上記の点に鑑みてなされたものであり、レーザ光の発光駆動によって生ずる高周波ノイズを国際規格及び各国のＥＭＩ規格の規格内に収められるようにすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
この発明は上記の目的を達成するため、次の発光制御装置を提供する。
（１）レーザ光を発光する光源と、その光源にレーザ光を発光させるための駆動電流を供給する駆動電流供給手段と、その駆動電流供給手段によって供給する駆動電流に高周波電流を重畳する高周波電流重畳手段と、上記光源から発光されたレーザ光を受光して発光量に応じた信号を検出する信号検出手段と、その信号検出手段によって検出された信号のレベルに基づいて上記駆動電流供給手段に対して上記光源に供給する駆動電流量を制御する駆動電流量制御手段と、上記高周波電流重畳手段によって重畳される高周波電流の発振周波数を計測する発振周波数計測手段と、その発振周波数計測手段によって計測された発振周波数が予め設定した目標周波数よりも大きくなるように上記高周波電流重畳手段に対して重畳する高周波電流の発振周波数を可変させる発振周波数可変手段を備えた発光制御装置。
【００１０】
（２）レーザ光を発光する光源と、その光源にレーザ光を発光させるための駆動電流を供給する駆動電流供給手段と、その駆動電流供給手段によって供給する駆動電流に高周波電流を重畳する高周波電流重畳手段と、上記光源から発光されたレーザ光を受光して発光量に応じた信号を検出する信号検出手段と、その信号検出手段によって検出された信号のレベルに基づいて上記駆動電流供給手段に対して上記光源に供給する駆動電流量を制御する駆動電流量制御手段と、上記信号検出手段によって検出された信号の発振周波数を計測する発振周波数計測手段と、その発振周波数計測手段によって計測された発振周波数が予め設定した目標周波数よりも大きくなるように上記高周波電流重畳手段に対して重畳する高周波電流の発振周波数を可変させる発振周波数可変手段を備えた発光制御装置。
【００１１】
（３）上記（１）又は（２）の発光制御装置において、上記レーザ光を照射する記録媒体の種類を判別し、その判別結果に基づいて上記高周波電流重畳手段によって重畳する高周波電流の発振周波数を最適値に設定する手段を設けた発光制御装置。
（４）上記（１）又は（２）の発光制御装置において、装置製造時に上記発振周波数可変手段によって可変させて予め設定した目標周波数よりも大きくなった発振周波数を記憶して実動作時に参照する手段を設けた発光制御装置。
（５）上記（１）〜（３）のいずれかの発光制御装置において、上記レーザ光を照射する記録媒体がマウントされる毎に上記発振周波数可変手段によって可変させて予め設定した目標周波数よりも大きくなった発振周波数を記憶して実動作時に参照する手段を設けた発光制御装置。
【００１２】
（６）上記（１）〜（５）のいずれかの発光制御装置において、上記発振周波数可変手段によって可変させた発振周波数を予め設定した時間間隔で再調整する手段を設けた発光制御装置。
（７）上記（１）〜（５）のいずれかの発光制御装置において、上記高周波電流重畳手段の周辺の温度を検出する温度検出手段と、その温度検出手段によって検出した温度が予め設定した温度よりも高くなったとき、上記発振周波数可変手段によって可変させた発振周波数を予め設定した時間間隔で再調整する手段を設けた発光制御装置。
（８）上記（１）〜（５）のいずれかの発光制御装置において、上記光源に供給される駆動電流量を検出する駆動電流量検出手段と、その駆動電流量検出手段によって検出した駆動電流量に基づく電流変動量が予め設定した電流量よりも多くなったとき、上記発振周波数可変手段によって可変させた発振周波数を予め設定した時間間隔で再調整する手段を設けた発光制御装置。
【発明の効果】
【００１３】
この発明による発光制御装置は、レーザ光の発光駆動によって生ずる高周波ノイズを国際規格及び各国のＥＭＩ規格の規格内に容易に収めることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、この発明を実施するための最良の形態を図面に基づいて具体的に説明する。
〔実施例１〕
図１は、この発明の実施例１の発光制御装置を内蔵した光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
図２は、図１に示した光ディスク装置の発光制御装置の構成を示すブロック図である。
図３は、図１及び図２に示すＬＤＤＲの内部構成を示すブロック図である。
この光ディスク装置には、ＣＤ−ＲＯＭドライブ、ＣＤ−Ｒドライブ、ＣＤ−ＲＷドライブ、ＤＶＤ−Ｒドライブ、ＤＶＤ−ＲＷドライブ、ＤＶＤ＋Ｒドライブ、ＤＶＤ＋ＲＷドライブ、ＤＶＤ−ＲＡＭドライブ、ＭＯドライブ等の装置がある。
【００１５】
図１に示すように、この光ディスク装置は、光ピックアップユニット（Ｐｉｃｋ Ｕｐ ｕｎｉｔ：ＰＵＵ）１を有し、その光ピックアップユニット１は、記録媒体である光ディスク（図示を省略）に対してデータ（情報）を読み書き（再生及び記録）するために照射するレーザ光を発光する光源のレーザダイオード（ＬＤ）１０と、ＬＤ１０にレーザ光を発光させるための駆動電流を供給する駆動電流供給手段であるレーザダイオードドライバ（ＬＤＤＲ）１１と、ＬＤ１０から発振（発光）されたレーザ光の直接光を受光し、その発光パワーを電流振幅に変換するフォトダイオード（ＰＤ）１２と、ＰＤ１２の出力信号の処理と種々のパワー制御を行うアナログフロントエンドプロセッサ（ＡＦＥＰ）１３と、ＰＵＵ１のレンズ（公知なので図示を省略）の半径方向とフォーカス方向の位置制御するアクチュエータ（Ａｃｔｕａｔｏｒ：Ａｃｔ）１４を備えている。
【００１６】
また、ＬＤＤＲ１１に対して電流値を設定するＤＡコンバータ（ＤＡＣ）２と、光ディスクに対するデータの再生（読み出し）と記録（書き込み）の動作のコントロールとデータ処理を行うデジタルフロントエンドプロセッサ（ＤＦＥＰ）３と、この光ディスク装置の全体の制御を行うと共に、この発明に係る機能を実現する中央演算処理装置（ＣＰＵ）５と、ＣＰＵ５が各種の処理を実行する際の作業領域として使用し、各種の設定値等を記憶するメモリ４も備えている。
さらに、ＰＵＵ１のスレッジ方向への移動を制御するスレッジモータ（Ｓｌｅｄｇｅ Ｍｏｔｏｒ：「ステッピングモータ」とも称する）６と、光ディスクのディスク回転を制御するスピンドルモータ（Ｓｐｉｎｄｌｅ Ｍｏｔｏｒ）７と、スレッジモータ６，スピンドルモータ７及びアクチュエータ１４の駆動を制御するモータ・アクチュエータドライブ（Ｍｏｔｏｒ・Ａｃｔ・ＤＲ）８を備えている。
【００１７】
発光制御装置は、図２に示すように、ＤＡＣ２、ＣＰＵ５、ＬＤＤＲ１１、ＰＤ１２、ＡＦＦＰ１３からなり、そのＰＤ１２は、ＬＤ１０から発光されたレーザ光を受光して発光量に応じた信号をサンプル＆ホールド回路４１へ出力するパワーモニタセンサ３１と、同じくＬＤ１０から発光されたレーザ光を受光して発光量に応じた信号を和信号回路４０へ出力するＲＦモニタセンサ３０とからなる。
ＡＦＦＰ１３は、ＲＦモニタセンサ３０から出力された信号を合算してディスク情報信号であるサーボ信号とＲＦ信号（再生信号）とをＣＰＵ５へ出力する和信号回路４０と、パワーモニタセンサ３１から出力された信号をサンプル＆ホールドしてパワー制御回路４２へ出力するサンプル＆ホールド回路４１と、サンプル＆ホールド回路４１から出力された信号をＣＰＵ５へ出力するパワー制御回路４２とからなる。このパワーモニタセンサ３１、サンプル＆ホールド回路４１、パワー制御回路４２がＬＤ１０から発光されたレーザ光を受光して発光量に応じた信号を検出する信号検出手段に相当する。
【００１８】
ＬＤＤＲ１１は、ＣＰＵ５が演算した結果に基づいてＤＡＣ２を設定し、その設定されたアナログ量に比例したＬＤ１０の駆動電流を出力するものであり、図３に示すように、複数段（複数のチャンネル）の電流源である電流増幅回路２０〜２３を有し、それぞれＤＡＣ２から出力されるＩＩＮＲ信号、ＩＩＮ１信号、ＩＩＮ２信号、ＩＩＮ３信号のレベルによって出力する駆動電流量が制御される。
リード発光電流経路にはＣＰＵ５からの重畳発振周波数設定信号に基づいて電流増幅回路２０から出力される駆動電流の発振周波数を自由に可変させて制御する発振回路２４がある。重畳発振周波数設定信号は、ＣＰＵ５のレジスタ設定などによって発振回路２４へ出力できる。この電流増幅回路２０と発振回路２４がＬＤ１０に供給する駆動電流に高周波電流を重畳する高周波電流重畳手段に相当する。
【００１９】
発振周波数カウンタ２６は、発振回路２４の発振周波数をカウントし、そのカウント結果を発振周波数検出信号としてＣＰＵ５へ出力する。この発振周波数カウンタ２６が高周波電流重畳手段によって重畳される高周波電流の発振周波数を計測する発振周波数計測手段に相当する。
スイッチ（ＳＷ）１〜４は、それぞれＣＰＵ５が出力するＯＳＣパルス信号、ＥＦＭ１パルス信号、ＥＦＭ２パルス信号、ＥＦＭ３パルス信号によって開閉し、それぞれ電流増幅回路２０〜２３から出力された駆動電流を加算回路２５へ出力する各チャンネルの駆動電流の出力タイミングを制御する。
加算回路２５は、入力された駆動電流を加算してＬＤ１０へ供給する。
【００２０】
ＣＰＵ５は、重畳発振周波数設定信号によってＬＤＤＲ１１の発振回路２４の発振周波数を設定し、パワー制御回路４２から入力した信号のレベルとＬＤＤＲ１１から入力した発振周波数検出信号とに基づいてＤＡＣ２が出力する電流量制御信号を設定し、ＯＳＣパルス信号、ＥＦＭ１パルス信号、ＥＦＭ２パルス信号、ＥＦＭ３パルス信号によってスイッチ１〜４の開閉を制御する。ＣＰＵ５とＤＡＣ２が、信号検出手段によって検出された信号のレベルに基づいて駆動電流供給手段に対して光源に供給する駆動電流量を制御する駆動電流量制御手段の機能を果たし、ＣＰＵ５と発振回路２４が、発振周波数計測手段によって計測された発振周波数が予め設定した目標周波数よりも大きくなるように高周波電流重畳手段に対して重畳する高周波電流の発振周波数を可変させる発振周波数可変手段の機能を果たす。
【００２１】
次に、この発振制御装置における発光制御の処理について説明する。
この発光制御は、光ディスクを再生又は記録を開始する以前に所望のパワー制御を行うことで、一定の発光パワーを確保し、ＬＤ発光の重畳周波数をカウンターにてカウントして現状発生している周波数を検出し、検出された周波数が目標の設定値に近づくように、重畳周波数を可変させる。
【００２２】
図４は、実施例１の発振制御装置における発光制御の処理を示すフローチャート図である。
ＣＰＵ５は、光ディスクの再生又は記録の開始前、ステップ（図中「Ｓ」で示す）１で、ＬＤをリード発光し、ステップ２で初期値をＬＤＤＲに設定して重畳発振を開始し、その発振周波数がＬＤＤＲ内の発振周波数カウンタによって読み取られ、ステップ３で発振周波数カウンタからの発振周波数検出信号を検出すると、ステップ４で発振周波数（高周波電流の発振周波数）が予め設定した目標周波数の３３３ＭＨｚよりも大きいか否かを判断し、３３３ＭＨｚ以下ならば、ステップ５で発振回路の重畳発振周波数を上昇させて、ステップ３へ戻って上述の処理を繰り返す。上記初期値は、例えば、２００ＭＨｚ又は２００ＭＨｚの近傍の値にすると良い。
【００２３】
一方、ステップ４の判断で発振周波数が予め設定した目標周波数の３３３ＭＨｚよりも大きいなら、ステップ６で発振回路の重畳発振周波数を現在値に固定し、ステップ７でその固定した重畳発振周波数をメモリに記憶し、この処理を終了する。
なお、光ディスク装置に限らず、他の電子機器でも装置から出る不要輻射で、ノイズ源の周波数の３倍高調波対策がよく問題になる。ＥＭＩの国際規格では１ＧＨｚ以上のノイズは、測定方法（アンテナや測定器など）が異なり、実際には規格レベルが緩和されるので、仮に基本波が３３４ＭＨｚの場合、３倍波は１ＧＨｚ以上になるので、ＥＭＩ対策がはるかに容易になる。実際に光ディスク装置に実施する場合では、周波数変動やばらつきによる誤差を見込んで上記目標周波数を３５０ＭＨｚに設定して、煩雑なＥＭＩ対策を逃れるようにするとよい。
【００２４】
このようにして、光ディスクの再生又は記録を行う前に、ＬＤの発光と同時に発振周波数カウンタの値を読み取り、一定の発振周波数に近づけるような制御をするので、装置のばらつきによらず駆動電流に重畳する高周波電流の発振周波数を固定させることが可能になり、深刻なＥＭＩ問題となる３次高調波が規格周波数の上限を上回るので、規制に反することなく安定した装置が提供できる。
【００２５】
〔実施例２〕
次に、この発明の実施例２について説明する。
図５は、この発明の実施例２の発光制御装置の構成を示すブロック図であり、図２と共通する部分には同一符号を付してその説明を省略する。
図６は、図５に示すＬＤＤＲの内部構成を示すブロック図であり、図３と共通する部分には同一符号を付してその説明を省略する。
この実施例２の発光制御装置では、ＬＤＤＲとＡＦＦＰの内部構成が実施例１のものと異なり、ＣＰＵの機能も若干異なる。
図５に示すように、ＡＦＥＰ１３′には、ＬＤ１０から発光されたレーザ光を受光して発光量に応じた信号を検出する信号検出手段と並列に配置した出射パワーモニタ回路を構成するハイパスフィルタ（ＨＰＦ）４３、２値化回路４４、発振周波数カウンタ４５を新たに設けている。
【００２６】
ＨＰＦ４３は、パワーモニタセンサ３１からの信号から３３３ＭＨｚ以上の周波数成分のみを抽出して２値化回路４４へ出力する。
２値化回路４４は、ＨＰＦ４３からの信号をデジタル化して発振周波数カウンタ４５へ出力する。
発振周波数カウンタ４５は、２値化回路４４からの信号の発振周波数をカウントし、その発振周波数を示す発振周波数検出信号をＣＰＵ５０へ送る。
この出射パワーモニタ回路が、光源から発光されたレーザ光を受光して発光量に応じた信号を検出する信号検出手段によって検出された信号の発振周波数を計測する発振周波数計測手段の機能を果たす。
ＬＤＤＲ１１′は、図６に示すように、複数段（複数のチャンネル）の電流源である電流増幅回路２０〜２３を有し、それぞれＤＡＣ２から出力されるＩＩＮＲ信号、ＩＩＮ１信号、ＩＩＮ２信号、ＩＩＮ３信号のレベルによって出力する駆動電流量が制御される。
【００２７】
リード発光電流経路にはＣＰＵ５からの重畳発振周波数設定信号に基づいて電流増幅回路２０から出力される駆動電流の発振周波数を自由に可変させて制御する発振回路２４がある。重畳発振周波数設定信号は、ＣＰＵ５のレジスタ設定などによって発振回路２４へ出力できる。この電流増幅回路２０と発振回路２４がＬＤ１０に供給する駆動電流に高周波電流を重畳する高周波電流重畳手段に相当する。
ＣＰＵ５０は、重畳発振周波数設定信号によってＬＤＤＲ１１′の発振回路２４の発振周波数を設定し、パワー制御回路４２から入力した信号のレベルと発振周波数カウンタ４５から入力した発振周波数検出信号とに基づいてＤＡＣ２が出力する電流量制御信号を設定し、ＯＳＣパルス信号、ＥＦＭ１パルス信号、ＥＦＭ２パルス信号、ＥＦＭ３パルス信号によってスイッチ１〜４の開閉を制御する。
この実施例２では、ＣＰＵ５０が、発振周波数計測手段によって計測された発振周波数が予め設定した目標周波数よりも大きくなるように高周波電流重畳手段に対して重畳する高周波電流の発振周波数を可変させる発振周波数可変手段の機能を果たす。
【００２８】
次に、この発振制御装置における発光制御の処理について説明する。
この発光制御は、ＣＰＵ５０が、光ディスクの再生又は記録の開始前、ＬＤ１０をリード発光し、初期値をＬＤＤＲ１１′に設定して重畳発振を開始し、その発振周波数がＡＦＥＰ１３′内の発振周波数カウンタ４５によって読み取られ、発振周波数カウンタ４５からの発振周波数検出信号を検出すると、発振周波数（高周波電流の発振周波数）が予め設定した目標周波数の３３３ＭＨｚよりも大きいか否かを判断し、３３３ＭＨｚ以下ならば、ＤＡＣ２を介してＬＤＤＲ１１′内の発振回路２４の重畳発振周波数を上昇させて上述の処理を繰り返す。上記初期値は、例えば、２００ＭＨｚ又は２００ＭＨｚの近傍の値にすると良い。上記重畳発振周波数を上昇させるには、ＣＰＵ５０内のレジスタ値を可変させるとよい。
【００２９】
一方、上記判断で発振周波数が予め設定した目標周波数の３３３ＭＨｚよりも大きいなら、発振回路２４の重畳発振周波数を現在値に固定し、その固定した重畳発振周波数をメモリ４に記憶し、この処理を終了する。
このようにして、光ディスクの再生又は記録を行う前に、ＬＤの発光と同時に発振周波数カウンタの値を読み取り、一定の発振周波数に近づけるような制御するので、装置のばらつきによらず駆動電流に重畳する高周波電流の発振周波数を固定させることが可能になり、深刻なＥＭＩ問題となる３次高調波が規格周波数の上限を上回るので、規制に反することなく安定した装置が提供できる。
【００３０】
〔実施例３〕
次に、この発明の実施例３について説明する。
この発光制御装置は、上記実施例１の発光制御装置と略同じであるが、ＣＰＵ５の処理が若干異なる。この実施例３のＣＰＵ５は、レーザ光を照射する記録媒体の種類を判別し、その判別結果に基づいて高周波電流重畳手段によって重畳する高周波電流の発振周波数を最適値に設定する手段の機能も果たす。
【００３１】
一般的に重畳する高周波電流の発振周波数は使用する光ディスクの種類によって異なる設定値であることが好ましい場合がある。例えば、図７に示すように、ＤＶＤの読み取り性能の最良点に対応する発振周波数ｆｄｖｄと、ＣＤの読み取り性能の最良点に対応する発振周波数ｆｃｄとは異なる。
そこで、レーザ光を照射する光ディスクの種類を判別し、その判別結果に基づいて高周波電流重畳手段によって重畳する高周波電流の発振周波数を最適値に設定するとよい。
【００３２】
図８は、実施例３の発振制御装置における発光制御の処理を示すフローチャート図である。
ＣＰＵ５は、光ディスクの再生又は記録の開始前、ステップ（図中「Ｓ」で示す）１１で、ＬＤをリード発光し、ステップ１２で重畳発振を開始し、ステップ１３で光ディスクがＣＤかＤＶＤかを判定する。その判別は、光ディスクからの反射光量による判別、もしくは光ディスクのイナーシャ測定による判別によって行うと良い。
ステップ１３の判定でＣＤの場合、ステップ１５で発振回路にＣＤ用重畳発振周波数（ｆｏｓｃ＝ｆｃｄ）を設定し、ステップ１６でリード処理を実行し、この処理を終了する。
【００３３】
また、ステップ１３の判定でＤＶＤの場合、ステップ１４で発振回路にＤＶＤ用重畳発振周波数（ｆｏｓｃ＝ｆｄｖｄ）を設定し、ステップ１６でリード処理を実行し、この処理を終了する。上記ＣＤ用重畳発振周波数ｆｃｄとＤＶＤ用重畳発振周波数ｆｄｖｄは、予め発光制御装置の開発段階において条件出しを行って求め、その値をメモリ４に記憶し、ＣＰＵ５が参照して設定するようにするとよい。
このようにして、光ディスクの種類に応じて最適な高周波電流の発振周波数を設定してリード処理を行えるので、３次高調波のＥＭＩ問題が容易に回避することができる。
【００３４】
〔実施例４〕
次に、この発明の実施例４について説明する。
この発光制御装置は、上記実施例２の発光制御装置と略同じであるが、ＣＰＵ５０の処理が若干異なる。この実施例４のＣＰＵ５０は、レーザ光を照射する記録媒体の種類を判別し、その判別結果に基づいて高周波電流重畳手段によって重畳する高周波電流の発振周波数を最適値に設定する手段の機能も果たす。
【００３５】
この発光制御は、ＣＰＵ５が、光ディスクの再生又は記録の開始前、ＬＤ１０をリード発光し、重畳発振を開始し、光ディスクがＣＤかＤＶＤかを判定する。その判別は、光ディスクからの反射光量による判別、もしくは光ディスクのイナーシャ測定による判別によって行うと良い。
上記判定でＣＤの場合、発振回路２４にＣＤ用重畳発振周波数（ｆｏｓｃ＝ｆｃｄ）を設定し、リード処理を実行し、この処理を終了する。
また、上記判定でＤＶＤの場合、発振回路２４にＤＶＤ用重畳発振周波数（ｆｏｓｃ＝ｆｄｖｄ）を設定し、リード処理を実行し、この処理を終了する。
【００３６】
上記ＣＤ用重畳発振周波数ｆｃｄとＤＶＤ用重畳発振周波数ｆｄｖｄは、予め発光制御装置の開発段階において条件出しを行って求め、その値をメモリ４に記憶し、ＣＰＵ５が参照して設定するようにするとよい。
このようにして、光ディスクの種類に応じて最適な高周波電流の発振周波数を設定してリード処理を行えるので、３次高調波のＥＭＩ問題が容易に回避することができる。
【００３７】
〔実施例５〕
次に、この発明の実施例５について説明する。
この発光制御装置は、上記実施例１又は２の発光制御装置と略同じであるが、発光制御装置の生産工程で最適な発振周波数を求め、その発振周波数を実動作時に用いる点が異なる。
この実施例５では、ＣＰＵ５とＣＰＵ５０が、発光制御装置の製造時に発振周波数可変手段によって可変させて予め設定した目標周波数よりも大きくなった発振周波数を記憶して実動作時に参照する手段の機能を果たす。
【００３８】
発光制御装置の生産する工程において、ＣＤならば予め設定した目標周波数よりも大きくなった発振周波数をＣＤ用重畳発振周波数ｆｃｄとして、ＤＶＤならば予め設定した目標周波数よりも大きくなった発振周波数をＤＶＤ用重畳発振周波数ｆｄｖｄとして決定し、その決定した各値をメモリ４に記憶する。
そして、ＣＰＵ５又はＣＰＵ５０が実動作時に光ディスクの種類を判別し、その判別結果に応じてＣＤならばメモリ４に記憶されているＣＤ用重畳発振周波数ｆｃｄを、ＤＶＤならばメモリ４に記憶されているＤＶＤ用重畳発振周波数ｆｄｖｄをそれぞれ読み出して設定し、リード処理を行う。
このようにして、発光制御装置の製造工程で光ディスクの種類毎の最適な高周波電流の発振周波数を求め、実動作時に発振周波数を設定してリード処理を素早く行えるので、各発振制御装置のばらつきを抑えることができ、安定したＥＭＩ対策が可能になる。
【００３９】
〔実施例６〕
次に、この発明の実施例６について説明する。
この発光制御装置は、上記実施例１又は２の発光制御装置と略同じであるが、光ディスクがマウントされる毎に高周波電流の発振周波数を調整する点が異なる。
この実施例６では、ＣＰＵ５とＣＰＵ５０が、レーザ光を照射する記録媒体がマウントされる毎に発振周波数可変手段によって可変させて予め設定した目標周波数よりも大きくなった発振周波数を記憶して実動作時に参照する手段の機能を果たす。
【００４０】
光ディスク装置に光ディスクが装着される毎に、発光制御装置は、ＣＰＵ５又はＣＰＵ５０が、装着後の光ディスクの種類の判別を行い、ＣＤならばメモリ４に記憶されているＣＤ用重畳発振周波数ｆｃｄになるように発振周波数を制御し、ＤＶＤならばメモリ４に記憶されているＤＶＤ用重畳発振周波数ｆｄｖｄになるように発振周波数を制御し、リード処理を行う。
このようにして、光ディスクを装着する度に光ディスクの種類毎の最適な高周波電流の発振周波数に調整するので、環境温度や経時変化による装置のばらつきを抑えることができ、安定したＥＭＩ対策が可能になる。
【００４１】
〔実施例７〕
次に、この発明の実施例７について説明する。
この発光制御装置は、上記実施例１〜６の発光制御装置のいずれかと略同じであるが、長時間使用する場合は、予め決めた時間間隔で高周波電流の発振周波数を再調整して周波数変動を抑える。
図９は、実施例７の発光制御装置における発光制御の処理を示すフローチャート図である。
図１０は、同じ重畳周波数を連続使用したときの周波数の変移の様子を示す波形図である。
図１１は、発光制御装置を連続して使用したときにＣＰＵが設定レジスタの値を変化させた場合の発振周波数の変移の様子を示す波形図である。
【００４２】
上記実施例１〜６の発光制御装置で発振周波数を一旦設定して長時間使用すると、発振回路２４の自己発熱及びＬＤ等の熱源による環境温度によって、図１０に示すように、発振周波数が低下していく。
そこで、ＬＤ１０の点灯が長時間に及ぶ場合、予め設定した一定の時間間隔（所定時間毎）で発振周波数のカウンタ値を読み取り、その発振周波数が３３３ＭＨｚよりも大きいか否かを判断し、３３３ＭＨｚ以下の場合は再度発振周波数を再調整する。
この場合、ＣＰＵ５，５０が、発振周波数可変手段によって可変させた発振周波数を予め設定した時間間隔で再調整する手段の機能を果たす。
【００４３】
図９に示すように、ＣＰＵ５，５０は、ステップ２１でタイマのタイム（ｔ）を検出し、ステップ２２でタイム（ｔ）が予め設定したＴを超えたか否かを判断し、超えたら、ステップ２３で発振周波数検出信号を検出し、ステップ２４で発振周波数が３３３ＭＨｚよりも大きいか否かを判断し、大きいなら、ステップ２６でその発振周波数を固定して、この処理を終了する。
一方、ステップ２４の判断で発振周波数が３３３ＭＨｚ以下なら、ステップ２５で重畳発振周波数を上昇させてステップ２３へ戻り、上述の処理を繰り返す。
上記重畳発振周波数の上昇は、ＣＰＵの設定レジスタの値を段階的に上昇させ、その各値を発振回路２４に設定すると良い。
【００４４】
上記重畳発振周波数の上昇を繰り返すことにより、図１１に示すように、発振周波数値が時間の経過に従って低下してきても、所定時間毎に設定レジスタ値を段階的に上昇させて再度発振周波数値を上げることにより、発振周波数値のレベルを所定範囲内に維持することができる。
このようにして、一旦重畳発振周波数を調整した後でも、さらに長時間の変動成分も補正するので、深刻なＥＭＩ問題となる３次高調波が規格周波数の上限を上回るので、規制に反することなく安定した発光制御装置を提供できる。
【００４５】
〔実施例８〕
次に、この発明の実施例８について説明する。
この発光制御装置は、上記実施例１〜６の発光制御装置のいずれかと略同じであるが、長時間使用する場合は、発振回路周辺の検出温度の変化量が一定値を超えた場合に発振周波数を再調整し、実際の周波数変動を抑える。
図１２は、実施例８の発光制御装置の構成を示すブロック図であり、上記各実施例と共通する部分には同一符号を付してその説明を省略する。
【００４６】
この発光制御装置では、ＬＤＤＲ１１の近傍に温度センサ１５を設け、温度センサ１５によって発振回路２４の周辺温度を検出し、その温度検出信号をＣＰＵ５′へ送る。
ＣＰＵ５′は、温度センサ１５から温度検出信号に基づいて発振回路周辺の検出温度の変化量が一定値を超えた場合に発振周波数を再調整する。
上記温度センサ１５が高周波電流重畳手段の周辺の温度を検出する温度検出手段の機能を果たし、上記ＣＰＵ５′が、温度検出手段によって検出した温度が予め設定した温度よりも高くなったとき、発振周波数可変手段によって可変させた発振周波数を予め設定した時間間隔で再調整する手段の機能を果たす。
【００４７】
図１３は、実施例８の発光制御装置の他の構成を示すブロック図であり、上記各実施例と共通する部分には同一符号を付してその説明を省略する。
この発光制御装置では、ＬＤＤＲ１１′の近傍に温度センサ１５を設け、温度センサ１５によって発振回路２４の周辺温度を検出し、その温度検出信号をＣＰＵ５０′へ送る。
ＣＰＵ５０′は、温度センサ１５から温度検出信号に基づいて発振回路周辺の検出温度の変化量が一定値を超えた場合に発振周波数を再調整する。
上記温度センサ１５が高周波電流重畳手段の周辺の温度を検出する温度検出手段の機能を果たし、上記ＣＰＵ５０′が、温度検出手段によって検出した温度が予め設定した温度よりも高くなったとき、発振周波数可変手段によって可変させた発振周波数を予め設定した時間間隔で再調整する手段の機能を果たす。
【００４８】
図１４は、図１２及び図１３に示す発光制御装置における発光制御処理を示すフローチャート図である。
この処理は、初期調整結果から得られる発振周波数設定値で通常動作を開始し、ステップ３１で温度センサが温度（ｔｎ）を検出すると、ステップ３２で温度センサから検出される温度（ｔｎ）により、次の数１に示す温度変動量Δｔを求める。
【００４９】
（数１）Δｔ＝ｔ（ｎ）＝ｔ（ｎ−１） ｛ｎは検出の時系列（０、１、ｎ−２、ｎ−１、ｎ）｝
【００５０】
ステップ３３でΔｔが、予め設定した温度Ｔよりも大きいか否かを判断し、大きいなら発振周波数の再調整時と判断し、ステップ３４で発振周波数検出信号を検出し、ステップ３５で発振周波数が３３３ＭＨｚよりも大きいか否かを判断し、大きいなら、ステップ３７で発振回路の重畳発振周波数を固定し、この処理を終了する。
また、ステップ３５の判断で発振周波数が３３３ＭＨｚ以下ならば、ステップ３６で発振回路の重畳発振周波数を上昇させ、ステップ３４へ戻って上述の処理を繰り返す。
このようにして、一旦重畳発振周波数を調整した後でも、発振周波数の温度が所定温度よりも大きくなったときの変動成分も補正するので、深刻なＥＭＩ問題となる３次高調波が規格周波数の上限を上回るので、規制に反することなく安定した発光制御装置を提供できる。
【００５１】
〔実施例９〕
次に、この発明の実施例９について説明する。
通常、ＬＤに流す電流値は、オートパワーコントロール（ＡＰＣ）回路によって発光パワーが一定となるように制御しているが、その状態で電流量が増加することは、発熱によって発光効率（電流−パワーの関係）が落ちていることと同等である。
したがって、長時間使用による重畳発振の周波数も変動している虞がある。
そこで、この発光制御装置は、上記実施例１〜６の発光制御装置のいずれかと略同じであるが、長時間使用する場合は、ＬＤＤＲの出力する駆動電流の変化量が一定値を超えた場合に発振周波数を再調整し、実際の周波数変動を抑える。
【００５２】
図１５は、実施例９の発光制御装置の構成を示すブロック図であり、上記各実施例と共通する部分には同一符号を付してその説明を省略する。
この発光制御装置では、ＬＤＤＲ１１の駆動電流の出力側に電流センサ１６を設け、ＬＤ１０に流れる電流値を検出し、その電流検出信号をＣＰＵ５″へ送る。
ＣＰＵ５″は、電流センサ１６からの電流検出信号に基づいて駆動電流の変化量が一定値を超えた場合に発振周波数を再調整する。
上記電流センサ１６が光源に供給される駆動電流量を検出する駆動電流量検出手段の機能を果たし、上記ＣＰＵ５″が、駆動電流量検出手段によって検出した駆動電流量に基づく電流変動量が予め設定した電流量よりも多くなったとき、発振周波数可変手段によって可変させた発振周波数を予め設定した時間間隔で再調整する手段の機能を果たす。
【００５３】
図１６は、実施例９の発光制御装置の他の構成を示すブロック図であり、上記各実施例と共通する部分には同一符号を付してその説明を省略する。
この発光制御装置では、ＬＤＤＲ１１′の駆動電流の出力側に電流センサ１６を設け、ＬＤ１０に流れる電流値を検出し、その電流検出信号をＣＰＵ５０″へ送る。
ＣＰＵ５０″は、電流センサ１６からの電流検出信号に基づいて駆動電流の変化量が一定値を超えた場合に発振周波数を再調整する。
上記電流センサ１６が光源に供給される駆動電流量を検出する駆動電流量検出手段の機能を果たし、上記ＣＰＵ５０″が、駆動電流量検出手段によって検出した駆動電流量に基づく電流変動量が予め設定した電流量よりも多くなったとき、発振周波数可変手段によって可変させた発振周波数を予め設定した時間間隔で再調整する手段の機能を果たす。
【００５４】
図１７は、図１５及び図１６に示す発光制御装置における発光制御処理を示すフローチャート図である。
この処理は、初期調整結果から得られる発振周波数設定値で通常動作を開始し、ステップ４１で電流センサが電流（Ｉｎ）を検出すると、ステップ４２で電流センサから検出される電流（Ｉｎ）により、次の数２に示す電流変動量ΔＩを求める。
【００５５】
（数２）ΔＩ＝Ｉ（ｎ）＝Ｉ（ｎ−１） ｛ｎは検出の時系列（０、１、ｎ−２、ｎ−１、ｎ）｝
【００５６】
ステップ４３でΔＩが、予め設定した電流値Ｃよりも大きいか否かを判断し、大きいなら発振周波数の再調整時と判断し、ステップ４４で発振周波数検出信号を検出し、ステップ４５で発振周波数が３３３ＭＨｚよりも大きいか否かを判断し、大きいなら、ステップ４７で発振回路の重畳発振周波数を固定し、この処理を終了する。
また、ステップ４５の判断で発振周波数が３３３ＭＨｚ以下ならば、ステップ４６で発振回路の重畳発振周波数を上昇させ、ステップ４４へ戻って上述の処理を繰り返す。
このようにして、一旦重畳発振周波数を調整した後でも、駆動電流が所定値よりも大きくなったときの変動成分も補正するので、深刻なＥＭＩ問題となる３次高調波が規格周波数の上限を上回るので、規制に反することなく安定した発光制御装置を提供できる。
【産業上の利用可能性】
【００５７】
この発明による発光制御装置は、光源を用いる装置全般において適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００５８】
【図１】この発明の実施例１の発光制御装置を内蔵した光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】図１に示す光ディスク装置の発光制御装置の構成を示すブロック図である。
【図３】図１及び図２に示すＬＤＤＲの内部構成を示すブロック図である。
【図４】この発明の実施例１の発光制御装置における発光制御の処理を示すフローチャート図である。
【図５】この発明の実施例２の発光制御装置の構成を示すブロック図である。
【００５９】
【図６】図５に示すＬＤＤＲの内部構成を示すブロック図である。
【図７】ＣＤとＤＶＤにおける重畳発振周波数と読み取り性能との関係を示す波形図である。
【図８】この発明の実施例３の発光制御装置における発光制御の処理を示すフローチャート図である。
【図９】この発明の実施例７の発光制御装置における発光制御の処理を示すフローチャート図である。
【図１０】同じ重畳周波数を連続使用したときの周波数の変移の様子を示す波形図である。
【００６０】
【図１１】この発明の実施例７の発光制御装置を連続して使用したときにＣＰＵが設定レジスタの値を変化させた場合の発振周波数の変移の様子を示す波形図である。
【図１２】この発明の実施例８の発光制御装置の構成を示すブロック図である。
【図１３】この発明の実施例８の発光制御装置の他の構成を示すブロック図である。
【図１４】図１２及び図１３に示す発光制御装置における発光制御処理を示すフローチャート図である。
【図１５】この発明の実施例９の発光制御装置の構成を示すブロック図である。
【００６１】
【図１６】この発明の実施例９の発光制御装置の他の構成を示すブロック図である。
【図１７】図１５及び図１６に示す発光制御装置における発光制御処理を示すフローチャート図である。
【図１８】ＣＩＳＰＲ２２によって規定された電子機器から発生される３０ＭＨｚから１ＧＨｚまでの電磁波の周波数範囲を示す波形図である。
【符号の説明】
【００６２】
１：光ピックアップユニット ２：ＤＡＣ ３：ＤＦＥＰ ４：メモリ ５，５′，５″，５０，５０′，５０″：ＣＰＵ ６：スレッジモータ ７：スピンドルモータ ８：モータ・アクチュエータドライブ １０：ＬＤ １１，１１′：ＬＤＤＲ １２：ＰＤ １３，１３′：ＡＦＥＰ １４：アクチュエータ ２０〜２３：電流増幅回路 ２４：発振回路 ２５：加算回路 ２６，４５：発振周波数カウンタ ３０：ＲＦモニタセンサ ３１：パワーモニタセンサ ４０：和信号回路 ４１：サンプル＆ホールド回路 ４２：パワー制御回路 ４３：ＨＰＦ ４４：２値化回路 ４５：発振周波数カウンタ ＳＷ１〜ＳＷ４：スイッチ１〜４
【技術分野】
【０００１】
この発明は、ＣＤ−ＲＯＭドライブ、ＣＤ−Ｒドライブ、ＣＤ−ＲＷドライブ、ＤＶＤ−Ｒドライブ、ＤＶＤ−ＲＷドライブ、ＤＶＤ＋Ｒドライブ、ＤＶＤ＋ＲＷドライブ、ＤＶＤ−ＲＡＭドライブ、ＭＯドライブ等の光ディスク装置に内蔵される光ピックアップの発光を制御する発光制御装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
現在、記録可能で高密度な光ディスクとしては、レーザ光を用いて記録及び再生する方式の追記型（Ｗｒｉｔｅ Ｏｎｃｅ）と書換え可能型（Ｒｅ−ｗｒｉｔａｂｌｅ）の光ディスク又は光磁気ディスクがある。例えば、追記型の光ディスクには、ＣＤ−Ｒディスク、ＤＶＤ−Ｒディスク、ＤＶＤ＋Ｒディスク等がある。また、書換え可能型の光ディスクには、ＣＤ−ＲＷディスク、ＤＶＤ−ＲＷディスク、ＤＶＤ＋ＲＷディスク、ＤＶＤ−ＲＡＭディスク等がある。さらに、光磁気ディスクとしてはＭＯディスク等がある。
例えば、追記型の光ディスク、書き換え可能型の光ディスクに対して用いられる光ピックアップは、情報を記録する時にレーザダイオード（ＬＤ）から間欠的に光ビームを射出して、予め所定の変調パターンが記録された光ディスクの記録面にその光ビームを照射することによって所望の情報を記録する。
【０００３】
また、光ピックアップは、光ディスク上に記録された情報を再生するとき、光ディスクに照射した光ビームの反射光を受光し、その受光によって得られた信号に基づいて情報を再生する。
光ピックアップは、上記光ビームを照射したり受光するための光学系を一体化しており、そのような光ピックアップを搭載した光ディスク装置では、光ピックアップを光ディスクの半径方向に移動させて、光ディスクの所望のトラックに光ビームを照射することによって情報を記録し、トラックから情報を再生する（例えば、特許文献１参照）。
ところで、上述のような光ピックアップによって光ディスクの情報を再生するとき、ＬＤの端面に対して光ディスク側からの戻り光や、光ピックアップ内での乱反射、迷光成分があると、ＬＤのレーザ発振が変調されてしまい、ＬＤのレーザ発振の異常動作を誘発して誤動作を起こし、ＬＤに対して正常なレーザパワー制御ができなくなり、再生品質の劣化だけでなく、光ディスクに誤情報を書き込んでしまう虞もある。
【０００４】
そこで従来、光ピックアップは、ＬＤの端面への戻り光の影響をキャンセルするための高周波重畳電流を発生させる高周波重畳回路を備えている。
従来、光ピックアップの発光制御回路（発光制御装置）は、ＬＤのリード（再生）時の発光を制御する電流制御回路（リード発光制御回路）と、ＬＤのライト（記録）時の発光を制御する電流制御回路（ライト発光制御回路）と、再生時のＬＤの端面への戻り光の影響をキャンセルするための高周波重畳電流を発生させる高周波重畳電流発生回路とからなり、上記３回路の出力する電流を組み合わせた和電流をＬＤに流すようにしており、リード時、ライト時等の使用用途によってどの回路の電流を足しこむかを決めている。
【０００５】
例えば、ライト時にＬＤをライト発光させる場合は、３回路を同時にＯＮにして３回路の出力する全電流の和電流をＬＤに流し、リード時にＬＤをリード発光させる場合は、ライト発光制御回路以外をＯＮにしてリード発光制御回路と高周波重畳電流発生回路の２回路の出力する電流の和電流をＬＤに流している。
なお、ライト発光時の発光パターンは光ディスク等の特性に応じて種々の発光パターンと発光レベルを発生させている。
【０００６】
ところで、上記高周波重畳電流発生回路で発生させる高周波重畳電流の周波数は、光ピックアップ装置の読み取り性能や駆動回路の性能により異なるが、一般的には２５０ＭＨｚ以上であり、電流値は５０ｍＡｐ−ｐ以上を要する（なお、ＬＤの特性によっては１００ｍＡに達する場合もある）。
【特許文献１】特開２００３−１３２５８５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、従来の発光制御装置のような高周波重畳電流を発生させると、光ディスク装置から外部に発せられる電磁波を、国際規格又は各国で決められた電磁波妨害（ＥＭＩ）レベル内（ＥＭＩ規格内）に収めることが困難になるという問題があった。
例えば、図１８に示すように、国際規格であるＣＩＳＰＲ２２では、電子機器から発生される電磁波は３０ＭＨｚから１ＧＨｚまでの周波数範囲に収めるように決められており、これを満足しなければならない。
【０００８】
従来の発光制御装置の高周波重畳電流発生回路の特性上のばらつきにより、発振周波数が装置毎にばらつくと、ある装置では２５０ＭＨｚ、またある装置では３００ＭＨｚとなり、前者の装置の３次高調波は７５０ＭＨｚとなり１ＧＨｚ以下であるため、高度な技術を要し、且つ高価な対策を実施しなければならなくなる。
特に周波数が１ＧＨｚ近傍になると、電磁波の発振源の構造そのものから直接放射されるだけに電磁波妨害を防ぐことが非常に困難になる。
また、長時間使用すると、ＬＤ電流駆動回路とその周辺の発熱により、周波数変動が顕著に現れてしまって安定しない。
この発明は上記の点に鑑みてなされたものであり、レーザ光の発光駆動によって生ずる高周波ノイズを国際規格及び各国のＥＭＩ規格の規格内に収められるようにすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
この発明は上記の目的を達成するため、次の発光制御装置を提供する。
（１）レーザ光を発光する光源と、その光源にレーザ光を発光させるための駆動電流を供給する駆動電流供給手段と、その駆動電流供給手段によって供給する駆動電流に高周波電流を重畳する高周波電流重畳手段と、上記光源から発光されたレーザ光を受光して発光量に応じた信号を検出する信号検出手段と、その信号検出手段によって検出された信号のレベルに基づいて上記駆動電流供給手段に対して上記光源に供給する駆動電流量を制御する駆動電流量制御手段と、上記高周波電流重畳手段によって重畳される高周波電流の発振周波数を計測する発振周波数計測手段と、その発振周波数計測手段によって計測された発振周波数が予め設定した目標周波数よりも大きくなるように上記高周波電流重畳手段に対して重畳する高周波電流の発振周波数を可変させる発振周波数可変手段を備えた発光制御装置。
【００１０】
（２）レーザ光を発光する光源と、その光源にレーザ光を発光させるための駆動電流を供給する駆動電流供給手段と、その駆動電流供給手段によって供給する駆動電流に高周波電流を重畳する高周波電流重畳手段と、上記光源から発光されたレーザ光を受光して発光量に応じた信号を検出する信号検出手段と、その信号検出手段によって検出された信号のレベルに基づいて上記駆動電流供給手段に対して上記光源に供給する駆動電流量を制御する駆動電流量制御手段と、上記信号検出手段によって検出された信号の発振周波数を計測する発振周波数計測手段と、その発振周波数計測手段によって計測された発振周波数が予め設定した目標周波数よりも大きくなるように上記高周波電流重畳手段に対して重畳する高周波電流の発振周波数を可変させる発振周波数可変手段を備えた発光制御装置。
【００１１】
（３）上記（１）又は（２）の発光制御装置において、上記レーザ光を照射する記録媒体の種類を判別し、その判別結果に基づいて上記高周波電流重畳手段によって重畳する高周波電流の発振周波数を最適値に設定する手段を設けた発光制御装置。
（４）上記（１）又は（２）の発光制御装置において、装置製造時に上記発振周波数可変手段によって可変させて予め設定した目標周波数よりも大きくなった発振周波数を記憶して実動作時に参照する手段を設けた発光制御装置。
（５）上記（１）〜（３）のいずれかの発光制御装置において、上記レーザ光を照射する記録媒体がマウントされる毎に上記発振周波数可変手段によって可変させて予め設定した目標周波数よりも大きくなった発振周波数を記憶して実動作時に参照する手段を設けた発光制御装置。
【００１２】
（６）上記（１）〜（５）のいずれかの発光制御装置において、上記発振周波数可変手段によって可変させた発振周波数を予め設定した時間間隔で再調整する手段を設けた発光制御装置。
（７）上記（１）〜（５）のいずれかの発光制御装置において、上記高周波電流重畳手段の周辺の温度を検出する温度検出手段と、その温度検出手段によって検出した温度が予め設定した温度よりも高くなったとき、上記発振周波数可変手段によって可変させた発振周波数を予め設定した時間間隔で再調整する手段を設けた発光制御装置。
（８）上記（１）〜（５）のいずれかの発光制御装置において、上記光源に供給される駆動電流量を検出する駆動電流量検出手段と、その駆動電流量検出手段によって検出した駆動電流量に基づく電流変動量が予め設定した電流量よりも多くなったとき、上記発振周波数可変手段によって可変させた発振周波数を予め設定した時間間隔で再調整する手段を設けた発光制御装置。
【発明の効果】
【００１３】
この発明による発光制御装置は、レーザ光の発光駆動によって生ずる高周波ノイズを国際規格及び各国のＥＭＩ規格の規格内に容易に収めることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、この発明を実施するための最良の形態を図面に基づいて具体的に説明する。
〔実施例１〕
図１は、この発明の実施例１の発光制御装置を内蔵した光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
図２は、図１に示した光ディスク装置の発光制御装置の構成を示すブロック図である。
図３は、図１及び図２に示すＬＤＤＲの内部構成を示すブロック図である。
この光ディスク装置には、ＣＤ−ＲＯＭドライブ、ＣＤ−Ｒドライブ、ＣＤ−ＲＷドライブ、ＤＶＤ−Ｒドライブ、ＤＶＤ−ＲＷドライブ、ＤＶＤ＋Ｒドライブ、ＤＶＤ＋ＲＷドライブ、ＤＶＤ−ＲＡＭドライブ、ＭＯドライブ等の装置がある。
【００１５】
図１に示すように、この光ディスク装置は、光ピックアップユニット（Ｐｉｃｋ Ｕｐ ｕｎｉｔ：ＰＵＵ）１を有し、その光ピックアップユニット１は、記録媒体である光ディスク（図示を省略）に対してデータ（情報）を読み書き（再生及び記録）するために照射するレーザ光を発光する光源のレーザダイオード（ＬＤ）１０と、ＬＤ１０にレーザ光を発光させるための駆動電流を供給する駆動電流供給手段であるレーザダイオードドライバ（ＬＤＤＲ）１１と、ＬＤ１０から発振（発光）されたレーザ光の直接光を受光し、その発光パワーを電流振幅に変換するフォトダイオード（ＰＤ）１２と、ＰＤ１２の出力信号の処理と種々のパワー制御を行うアナログフロントエンドプロセッサ（ＡＦＥＰ）１３と、ＰＵＵ１のレンズ（公知なので図示を省略）の半径方向とフォーカス方向の位置制御するアクチュエータ（Ａｃｔｕａｔｏｒ：Ａｃｔ）１４を備えている。
【００１６】
また、ＬＤＤＲ１１に対して電流値を設定するＤＡコンバータ（ＤＡＣ）２と、光ディスクに対するデータの再生（読み出し）と記録（書き込み）の動作のコントロールとデータ処理を行うデジタルフロントエンドプロセッサ（ＤＦＥＰ）３と、この光ディスク装置の全体の制御を行うと共に、この発明に係る機能を実現する中央演算処理装置（ＣＰＵ）５と、ＣＰＵ５が各種の処理を実行する際の作業領域として使用し、各種の設定値等を記憶するメモリ４も備えている。
さらに、ＰＵＵ１のスレッジ方向への移動を制御するスレッジモータ（Ｓｌｅｄｇｅ Ｍｏｔｏｒ：「ステッピングモータ」とも称する）６と、光ディスクのディスク回転を制御するスピンドルモータ（Ｓｐｉｎｄｌｅ Ｍｏｔｏｒ）７と、スレッジモータ６，スピンドルモータ７及びアクチュエータ１４の駆動を制御するモータ・アクチュエータドライブ（Ｍｏｔｏｒ・Ａｃｔ・ＤＲ）８を備えている。
【００１７】
発光制御装置は、図２に示すように、ＤＡＣ２、ＣＰＵ５、ＬＤＤＲ１１、ＰＤ１２、ＡＦＦＰ１３からなり、そのＰＤ１２は、ＬＤ１０から発光されたレーザ光を受光して発光量に応じた信号をサンプル＆ホールド回路４１へ出力するパワーモニタセンサ３１と、同じくＬＤ１０から発光されたレーザ光を受光して発光量に応じた信号を和信号回路４０へ出力するＲＦモニタセンサ３０とからなる。
ＡＦＦＰ１３は、ＲＦモニタセンサ３０から出力された信号を合算してディスク情報信号であるサーボ信号とＲＦ信号（再生信号）とをＣＰＵ５へ出力する和信号回路４０と、パワーモニタセンサ３１から出力された信号をサンプル＆ホールドしてパワー制御回路４２へ出力するサンプル＆ホールド回路４１と、サンプル＆ホールド回路４１から出力された信号をＣＰＵ５へ出力するパワー制御回路４２とからなる。このパワーモニタセンサ３１、サンプル＆ホールド回路４１、パワー制御回路４２がＬＤ１０から発光されたレーザ光を受光して発光量に応じた信号を検出する信号検出手段に相当する。
【００１８】
ＬＤＤＲ１１は、ＣＰＵ５が演算した結果に基づいてＤＡＣ２を設定し、その設定されたアナログ量に比例したＬＤ１０の駆動電流を出力するものであり、図３に示すように、複数段（複数のチャンネル）の電流源である電流増幅回路２０〜２３を有し、それぞれＤＡＣ２から出力されるＩＩＮＲ信号、ＩＩＮ１信号、ＩＩＮ２信号、ＩＩＮ３信号のレベルによって出力する駆動電流量が制御される。
リード発光電流経路にはＣＰＵ５からの重畳発振周波数設定信号に基づいて電流増幅回路２０から出力される駆動電流の発振周波数を自由に可変させて制御する発振回路２４がある。重畳発振周波数設定信号は、ＣＰＵ５のレジスタ設定などによって発振回路２４へ出力できる。この電流増幅回路２０と発振回路２４がＬＤ１０に供給する駆動電流に高周波電流を重畳する高周波電流重畳手段に相当する。
【００１９】
発振周波数カウンタ２６は、発振回路２４の発振周波数をカウントし、そのカウント結果を発振周波数検出信号としてＣＰＵ５へ出力する。この発振周波数カウンタ２６が高周波電流重畳手段によって重畳される高周波電流の発振周波数を計測する発振周波数計測手段に相当する。
スイッチ（ＳＷ）１〜４は、それぞれＣＰＵ５が出力するＯＳＣパルス信号、ＥＦＭ１パルス信号、ＥＦＭ２パルス信号、ＥＦＭ３パルス信号によって開閉し、それぞれ電流増幅回路２０〜２３から出力された駆動電流を加算回路２５へ出力する各チャンネルの駆動電流の出力タイミングを制御する。
加算回路２５は、入力された駆動電流を加算してＬＤ１０へ供給する。
【００２０】
ＣＰＵ５は、重畳発振周波数設定信号によってＬＤＤＲ１１の発振回路２４の発振周波数を設定し、パワー制御回路４２から入力した信号のレベルとＬＤＤＲ１１から入力した発振周波数検出信号とに基づいてＤＡＣ２が出力する電流量制御信号を設定し、ＯＳＣパルス信号、ＥＦＭ１パルス信号、ＥＦＭ２パルス信号、ＥＦＭ３パルス信号によってスイッチ１〜４の開閉を制御する。ＣＰＵ５とＤＡＣ２が、信号検出手段によって検出された信号のレベルに基づいて駆動電流供給手段に対して光源に供給する駆動電流量を制御する駆動電流量制御手段の機能を果たし、ＣＰＵ５と発振回路２４が、発振周波数計測手段によって計測された発振周波数が予め設定した目標周波数よりも大きくなるように高周波電流重畳手段に対して重畳する高周波電流の発振周波数を可変させる発振周波数可変手段の機能を果たす。
【００２１】
次に、この発振制御装置における発光制御の処理について説明する。
この発光制御は、光ディスクを再生又は記録を開始する以前に所望のパワー制御を行うことで、一定の発光パワーを確保し、ＬＤ発光の重畳周波数をカウンターにてカウントして現状発生している周波数を検出し、検出された周波数が目標の設定値に近づくように、重畳周波数を可変させる。
【００２２】
図４は、実施例１の発振制御装置における発光制御の処理を示すフローチャート図である。
ＣＰＵ５は、光ディスクの再生又は記録の開始前、ステップ（図中「Ｓ」で示す）１で、ＬＤをリード発光し、ステップ２で初期値をＬＤＤＲに設定して重畳発振を開始し、その発振周波数がＬＤＤＲ内の発振周波数カウンタによって読み取られ、ステップ３で発振周波数カウンタからの発振周波数検出信号を検出すると、ステップ４で発振周波数（高周波電流の発振周波数）が予め設定した目標周波数の３３３ＭＨｚよりも大きいか否かを判断し、３３３ＭＨｚ以下ならば、ステップ５で発振回路の重畳発振周波数を上昇させて、ステップ３へ戻って上述の処理を繰り返す。上記初期値は、例えば、２００ＭＨｚ又は２００ＭＨｚの近傍の値にすると良い。
【００２３】
一方、ステップ４の判断で発振周波数が予め設定した目標周波数の３３３ＭＨｚよりも大きいなら、ステップ６で発振回路の重畳発振周波数を現在値に固定し、ステップ７でその固定した重畳発振周波数をメモリに記憶し、この処理を終了する。
なお、光ディスク装置に限らず、他の電子機器でも装置から出る不要輻射で、ノイズ源の周波数の３倍高調波対策がよく問題になる。ＥＭＩの国際規格では１ＧＨｚ以上のノイズは、測定方法（アンテナや測定器など）が異なり、実際には規格レベルが緩和されるので、仮に基本波が３３４ＭＨｚの場合、３倍波は１ＧＨｚ以上になるので、ＥＭＩ対策がはるかに容易になる。実際に光ディスク装置に実施する場合では、周波数変動やばらつきによる誤差を見込んで上記目標周波数を３５０ＭＨｚに設定して、煩雑なＥＭＩ対策を逃れるようにするとよい。
【００２４】
このようにして、光ディスクの再生又は記録を行う前に、ＬＤの発光と同時に発振周波数カウンタの値を読み取り、一定の発振周波数に近づけるような制御をするので、装置のばらつきによらず駆動電流に重畳する高周波電流の発振周波数を固定させることが可能になり、深刻なＥＭＩ問題となる３次高調波が規格周波数の上限を上回るので、規制に反することなく安定した装置が提供できる。
【００２５】
〔実施例２〕
次に、この発明の実施例２について説明する。
図５は、この発明の実施例２の発光制御装置の構成を示すブロック図であり、図２と共通する部分には同一符号を付してその説明を省略する。
図６は、図５に示すＬＤＤＲの内部構成を示すブロック図であり、図３と共通する部分には同一符号を付してその説明を省略する。
この実施例２の発光制御装置では、ＬＤＤＲとＡＦＦＰの内部構成が実施例１のものと異なり、ＣＰＵの機能も若干異なる。
図５に示すように、ＡＦＥＰ１３′には、ＬＤ１０から発光されたレーザ光を受光して発光量に応じた信号を検出する信号検出手段と並列に配置した出射パワーモニタ回路を構成するハイパスフィルタ（ＨＰＦ）４３、２値化回路４４、発振周波数カウンタ４５を新たに設けている。
【００２６】
ＨＰＦ４３は、パワーモニタセンサ３１からの信号から３３３ＭＨｚ以上の周波数成分のみを抽出して２値化回路４４へ出力する。
２値化回路４４は、ＨＰＦ４３からの信号をデジタル化して発振周波数カウンタ４５へ出力する。
発振周波数カウンタ４５は、２値化回路４４からの信号の発振周波数をカウントし、その発振周波数を示す発振周波数検出信号をＣＰＵ５０へ送る。
この出射パワーモニタ回路が、光源から発光されたレーザ光を受光して発光量に応じた信号を検出する信号検出手段によって検出された信号の発振周波数を計測する発振周波数計測手段の機能を果たす。
ＬＤＤＲ１１′は、図６に示すように、複数段（複数のチャンネル）の電流源である電流増幅回路２０〜２３を有し、それぞれＤＡＣ２から出力されるＩＩＮＲ信号、ＩＩＮ１信号、ＩＩＮ２信号、ＩＩＮ３信号のレベルによって出力する駆動電流量が制御される。
【００２７】
リード発光電流経路にはＣＰＵ５からの重畳発振周波数設定信号に基づいて電流増幅回路２０から出力される駆動電流の発振周波数を自由に可変させて制御する発振回路２４がある。重畳発振周波数設定信号は、ＣＰＵ５のレジスタ設定などによって発振回路２４へ出力できる。この電流増幅回路２０と発振回路２４がＬＤ１０に供給する駆動電流に高周波電流を重畳する高周波電流重畳手段に相当する。
ＣＰＵ５０は、重畳発振周波数設定信号によってＬＤＤＲ１１′の発振回路２４の発振周波数を設定し、パワー制御回路４２から入力した信号のレベルと発振周波数カウンタ４５から入力した発振周波数検出信号とに基づいてＤＡＣ２が出力する電流量制御信号を設定し、ＯＳＣパルス信号、ＥＦＭ１パルス信号、ＥＦＭ２パルス信号、ＥＦＭ３パルス信号によってスイッチ１〜４の開閉を制御する。
この実施例２では、ＣＰＵ５０が、発振周波数計測手段によって計測された発振周波数が予め設定した目標周波数よりも大きくなるように高周波電流重畳手段に対して重畳する高周波電流の発振周波数を可変させる発振周波数可変手段の機能を果たす。
【００２８】
次に、この発振制御装置における発光制御の処理について説明する。
この発光制御は、ＣＰＵ５０が、光ディスクの再生又は記録の開始前、ＬＤ１０をリード発光し、初期値をＬＤＤＲ１１′に設定して重畳発振を開始し、その発振周波数がＡＦＥＰ１３′内の発振周波数カウンタ４５によって読み取られ、発振周波数カウンタ４５からの発振周波数検出信号を検出すると、発振周波数（高周波電流の発振周波数）が予め設定した目標周波数の３３３ＭＨｚよりも大きいか否かを判断し、３３３ＭＨｚ以下ならば、ＤＡＣ２を介してＬＤＤＲ１１′内の発振回路２４の重畳発振周波数を上昇させて上述の処理を繰り返す。上記初期値は、例えば、２００ＭＨｚ又は２００ＭＨｚの近傍の値にすると良い。上記重畳発振周波数を上昇させるには、ＣＰＵ５０内のレジスタ値を可変させるとよい。
【００２９】
一方、上記判断で発振周波数が予め設定した目標周波数の３３３ＭＨｚよりも大きいなら、発振回路２４の重畳発振周波数を現在値に固定し、その固定した重畳発振周波数をメモリ４に記憶し、この処理を終了する。
このようにして、光ディスクの再生又は記録を行う前に、ＬＤの発光と同時に発振周波数カウンタの値を読み取り、一定の発振周波数に近づけるような制御するので、装置のばらつきによらず駆動電流に重畳する高周波電流の発振周波数を固定させることが可能になり、深刻なＥＭＩ問題となる３次高調波が規格周波数の上限を上回るので、規制に反することなく安定した装置が提供できる。
【００３０】
〔実施例３〕
次に、この発明の実施例３について説明する。
この発光制御装置は、上記実施例１の発光制御装置と略同じであるが、ＣＰＵ５の処理が若干異なる。この実施例３のＣＰＵ５は、レーザ光を照射する記録媒体の種類を判別し、その判別結果に基づいて高周波電流重畳手段によって重畳する高周波電流の発振周波数を最適値に設定する手段の機能も果たす。
【００３１】
一般的に重畳する高周波電流の発振周波数は使用する光ディスクの種類によって異なる設定値であることが好ましい場合がある。例えば、図７に示すように、ＤＶＤの読み取り性能の最良点に対応する発振周波数ｆｄｖｄと、ＣＤの読み取り性能の最良点に対応する発振周波数ｆｃｄとは異なる。
そこで、レーザ光を照射する光ディスクの種類を判別し、その判別結果に基づいて高周波電流重畳手段によって重畳する高周波電流の発振周波数を最適値に設定するとよい。
【００３２】
図８は、実施例３の発振制御装置における発光制御の処理を示すフローチャート図である。
ＣＰＵ５は、光ディスクの再生又は記録の開始前、ステップ（図中「Ｓ」で示す）１１で、ＬＤをリード発光し、ステップ１２で重畳発振を開始し、ステップ１３で光ディスクがＣＤかＤＶＤかを判定する。その判別は、光ディスクからの反射光量による判別、もしくは光ディスクのイナーシャ測定による判別によって行うと良い。
ステップ１３の判定でＣＤの場合、ステップ１５で発振回路にＣＤ用重畳発振周波数（ｆｏｓｃ＝ｆｃｄ）を設定し、ステップ１６でリード処理を実行し、この処理を終了する。
【００３３】
また、ステップ１３の判定でＤＶＤの場合、ステップ１４で発振回路にＤＶＤ用重畳発振周波数（ｆｏｓｃ＝ｆｄｖｄ）を設定し、ステップ１６でリード処理を実行し、この処理を終了する。上記ＣＤ用重畳発振周波数ｆｃｄとＤＶＤ用重畳発振周波数ｆｄｖｄは、予め発光制御装置の開発段階において条件出しを行って求め、その値をメモリ４に記憶し、ＣＰＵ５が参照して設定するようにするとよい。
このようにして、光ディスクの種類に応じて最適な高周波電流の発振周波数を設定してリード処理を行えるので、３次高調波のＥＭＩ問題が容易に回避することができる。
【００３４】
〔実施例４〕
次に、この発明の実施例４について説明する。
この発光制御装置は、上記実施例２の発光制御装置と略同じであるが、ＣＰＵ５０の処理が若干異なる。この実施例４のＣＰＵ５０は、レーザ光を照射する記録媒体の種類を判別し、その判別結果に基づいて高周波電流重畳手段によって重畳する高周波電流の発振周波数を最適値に設定する手段の機能も果たす。
【００３５】
この発光制御は、ＣＰＵ５が、光ディスクの再生又は記録の開始前、ＬＤ１０をリード発光し、重畳発振を開始し、光ディスクがＣＤかＤＶＤかを判定する。その判別は、光ディスクからの反射光量による判別、もしくは光ディスクのイナーシャ測定による判別によって行うと良い。
上記判定でＣＤの場合、発振回路２４にＣＤ用重畳発振周波数（ｆｏｓｃ＝ｆｃｄ）を設定し、リード処理を実行し、この処理を終了する。
また、上記判定でＤＶＤの場合、発振回路２４にＤＶＤ用重畳発振周波数（ｆｏｓｃ＝ｆｄｖｄ）を設定し、リード処理を実行し、この処理を終了する。
【００３６】
上記ＣＤ用重畳発振周波数ｆｃｄとＤＶＤ用重畳発振周波数ｆｄｖｄは、予め発光制御装置の開発段階において条件出しを行って求め、その値をメモリ４に記憶し、ＣＰＵ５が参照して設定するようにするとよい。
このようにして、光ディスクの種類に応じて最適な高周波電流の発振周波数を設定してリード処理を行えるので、３次高調波のＥＭＩ問題が容易に回避することができる。
【００３７】
〔実施例５〕
次に、この発明の実施例５について説明する。
この発光制御装置は、上記実施例１又は２の発光制御装置と略同じであるが、発光制御装置の生産工程で最適な発振周波数を求め、その発振周波数を実動作時に用いる点が異なる。
この実施例５では、ＣＰＵ５とＣＰＵ５０が、発光制御装置の製造時に発振周波数可変手段によって可変させて予め設定した目標周波数よりも大きくなった発振周波数を記憶して実動作時に参照する手段の機能を果たす。
【００３８】
発光制御装置の生産する工程において、ＣＤならば予め設定した目標周波数よりも大きくなった発振周波数をＣＤ用重畳発振周波数ｆｃｄとして、ＤＶＤならば予め設定した目標周波数よりも大きくなった発振周波数をＤＶＤ用重畳発振周波数ｆｄｖｄとして決定し、その決定した各値をメモリ４に記憶する。
そして、ＣＰＵ５又はＣＰＵ５０が実動作時に光ディスクの種類を判別し、その判別結果に応じてＣＤならばメモリ４に記憶されているＣＤ用重畳発振周波数ｆｃｄを、ＤＶＤならばメモリ４に記憶されているＤＶＤ用重畳発振周波数ｆｄｖｄをそれぞれ読み出して設定し、リード処理を行う。
このようにして、発光制御装置の製造工程で光ディスクの種類毎の最適な高周波電流の発振周波数を求め、実動作時に発振周波数を設定してリード処理を素早く行えるので、各発振制御装置のばらつきを抑えることができ、安定したＥＭＩ対策が可能になる。
【００３９】
〔実施例６〕
次に、この発明の実施例６について説明する。
この発光制御装置は、上記実施例１又は２の発光制御装置と略同じであるが、光ディスクがマウントされる毎に高周波電流の発振周波数を調整する点が異なる。
この実施例６では、ＣＰＵ５とＣＰＵ５０が、レーザ光を照射する記録媒体がマウントされる毎に発振周波数可変手段によって可変させて予め設定した目標周波数よりも大きくなった発振周波数を記憶して実動作時に参照する手段の機能を果たす。
【００４０】
光ディスク装置に光ディスクが装着される毎に、発光制御装置は、ＣＰＵ５又はＣＰＵ５０が、装着後の光ディスクの種類の判別を行い、ＣＤならばメモリ４に記憶されているＣＤ用重畳発振周波数ｆｃｄになるように発振周波数を制御し、ＤＶＤならばメモリ４に記憶されているＤＶＤ用重畳発振周波数ｆｄｖｄになるように発振周波数を制御し、リード処理を行う。
このようにして、光ディスクを装着する度に光ディスクの種類毎の最適な高周波電流の発振周波数に調整するので、環境温度や経時変化による装置のばらつきを抑えることができ、安定したＥＭＩ対策が可能になる。
【００４１】
〔実施例７〕
次に、この発明の実施例７について説明する。
この発光制御装置は、上記実施例１〜６の発光制御装置のいずれかと略同じであるが、長時間使用する場合は、予め決めた時間間隔で高周波電流の発振周波数を再調整して周波数変動を抑える。
図９は、実施例７の発光制御装置における発光制御の処理を示すフローチャート図である。
図１０は、同じ重畳周波数を連続使用したときの周波数の変移の様子を示す波形図である。
図１１は、発光制御装置を連続して使用したときにＣＰＵが設定レジスタの値を変化させた場合の発振周波数の変移の様子を示す波形図である。
【００４２】
上記実施例１〜６の発光制御装置で発振周波数を一旦設定して長時間使用すると、発振回路２４の自己発熱及びＬＤ等の熱源による環境温度によって、図１０に示すように、発振周波数が低下していく。
そこで、ＬＤ１０の点灯が長時間に及ぶ場合、予め設定した一定の時間間隔（所定時間毎）で発振周波数のカウンタ値を読み取り、その発振周波数が３３３ＭＨｚよりも大きいか否かを判断し、３３３ＭＨｚ以下の場合は再度発振周波数を再調整する。
この場合、ＣＰＵ５，５０が、発振周波数可変手段によって可変させた発振周波数を予め設定した時間間隔で再調整する手段の機能を果たす。
【００４３】
図９に示すように、ＣＰＵ５，５０は、ステップ２１でタイマのタイム（ｔ）を検出し、ステップ２２でタイム（ｔ）が予め設定したＴを超えたか否かを判断し、超えたら、ステップ２３で発振周波数検出信号を検出し、ステップ２４で発振周波数が３３３ＭＨｚよりも大きいか否かを判断し、大きいなら、ステップ２６でその発振周波数を固定して、この処理を終了する。
一方、ステップ２４の判断で発振周波数が３３３ＭＨｚ以下なら、ステップ２５で重畳発振周波数を上昇させてステップ２３へ戻り、上述の処理を繰り返す。
上記重畳発振周波数の上昇は、ＣＰＵの設定レジスタの値を段階的に上昇させ、その各値を発振回路２４に設定すると良い。
【００４４】
上記重畳発振周波数の上昇を繰り返すことにより、図１１に示すように、発振周波数値が時間の経過に従って低下してきても、所定時間毎に設定レジスタ値を段階的に上昇させて再度発振周波数値を上げることにより、発振周波数値のレベルを所定範囲内に維持することができる。
このようにして、一旦重畳発振周波数を調整した後でも、さらに長時間の変動成分も補正するので、深刻なＥＭＩ問題となる３次高調波が規格周波数の上限を上回るので、規制に反することなく安定した発光制御装置を提供できる。
【００４５】
〔実施例８〕
次に、この発明の実施例８について説明する。
この発光制御装置は、上記実施例１〜６の発光制御装置のいずれかと略同じであるが、長時間使用する場合は、発振回路周辺の検出温度の変化量が一定値を超えた場合に発振周波数を再調整し、実際の周波数変動を抑える。
図１２は、実施例８の発光制御装置の構成を示すブロック図であり、上記各実施例と共通する部分には同一符号を付してその説明を省略する。
【００４６】
この発光制御装置では、ＬＤＤＲ１１の近傍に温度センサ１５を設け、温度センサ１５によって発振回路２４の周辺温度を検出し、その温度検出信号をＣＰＵ５′へ送る。
ＣＰＵ５′は、温度センサ１５から温度検出信号に基づいて発振回路周辺の検出温度の変化量が一定値を超えた場合に発振周波数を再調整する。
上記温度センサ１５が高周波電流重畳手段の周辺の温度を検出する温度検出手段の機能を果たし、上記ＣＰＵ５′が、温度検出手段によって検出した温度が予め設定した温度よりも高くなったとき、発振周波数可変手段によって可変させた発振周波数を予め設定した時間間隔で再調整する手段の機能を果たす。
【００４７】
図１３は、実施例８の発光制御装置の他の構成を示すブロック図であり、上記各実施例と共通する部分には同一符号を付してその説明を省略する。
この発光制御装置では、ＬＤＤＲ１１′の近傍に温度センサ１５を設け、温度センサ１５によって発振回路２４の周辺温度を検出し、その温度検出信号をＣＰＵ５０′へ送る。
ＣＰＵ５０′は、温度センサ１５から温度検出信号に基づいて発振回路周辺の検出温度の変化量が一定値を超えた場合に発振周波数を再調整する。
上記温度センサ１５が高周波電流重畳手段の周辺の温度を検出する温度検出手段の機能を果たし、上記ＣＰＵ５０′が、温度検出手段によって検出した温度が予め設定した温度よりも高くなったとき、発振周波数可変手段によって可変させた発振周波数を予め設定した時間間隔で再調整する手段の機能を果たす。
【００４８】
図１４は、図１２及び図１３に示す発光制御装置における発光制御処理を示すフローチャート図である。
この処理は、初期調整結果から得られる発振周波数設定値で通常動作を開始し、ステップ３１で温度センサが温度（ｔｎ）を検出すると、ステップ３２で温度センサから検出される温度（ｔｎ）により、次の数１に示す温度変動量Δｔを求める。
【００４９】
（数１）Δｔ＝ｔ（ｎ）＝ｔ（ｎ−１） ｛ｎは検出の時系列（０、１、ｎ−２、ｎ−１、ｎ）｝
【００５０】
ステップ３３でΔｔが、予め設定した温度Ｔよりも大きいか否かを判断し、大きいなら発振周波数の再調整時と判断し、ステップ３４で発振周波数検出信号を検出し、ステップ３５で発振周波数が３３３ＭＨｚよりも大きいか否かを判断し、大きいなら、ステップ３７で発振回路の重畳発振周波数を固定し、この処理を終了する。
また、ステップ３５の判断で発振周波数が３３３ＭＨｚ以下ならば、ステップ３６で発振回路の重畳発振周波数を上昇させ、ステップ３４へ戻って上述の処理を繰り返す。
このようにして、一旦重畳発振周波数を調整した後でも、発振周波数の温度が所定温度よりも大きくなったときの変動成分も補正するので、深刻なＥＭＩ問題となる３次高調波が規格周波数の上限を上回るので、規制に反することなく安定した発光制御装置を提供できる。
【００５１】
〔実施例９〕
次に、この発明の実施例９について説明する。
通常、ＬＤに流す電流値は、オートパワーコントロール（ＡＰＣ）回路によって発光パワーが一定となるように制御しているが、その状態で電流量が増加することは、発熱によって発光効率（電流−パワーの関係）が落ちていることと同等である。
したがって、長時間使用による重畳発振の周波数も変動している虞がある。
そこで、この発光制御装置は、上記実施例１〜６の発光制御装置のいずれかと略同じであるが、長時間使用する場合は、ＬＤＤＲの出力する駆動電流の変化量が一定値を超えた場合に発振周波数を再調整し、実際の周波数変動を抑える。
【００５２】
図１５は、実施例９の発光制御装置の構成を示すブロック図であり、上記各実施例と共通する部分には同一符号を付してその説明を省略する。
この発光制御装置では、ＬＤＤＲ１１の駆動電流の出力側に電流センサ１６を設け、ＬＤ１０に流れる電流値を検出し、その電流検出信号をＣＰＵ５″へ送る。
ＣＰＵ５″は、電流センサ１６からの電流検出信号に基づいて駆動電流の変化量が一定値を超えた場合に発振周波数を再調整する。
上記電流センサ１６が光源に供給される駆動電流量を検出する駆動電流量検出手段の機能を果たし、上記ＣＰＵ５″が、駆動電流量検出手段によって検出した駆動電流量に基づく電流変動量が予め設定した電流量よりも多くなったとき、発振周波数可変手段によって可変させた発振周波数を予め設定した時間間隔で再調整する手段の機能を果たす。
【００５３】
図１６は、実施例９の発光制御装置の他の構成を示すブロック図であり、上記各実施例と共通する部分には同一符号を付してその説明を省略する。
この発光制御装置では、ＬＤＤＲ１１′の駆動電流の出力側に電流センサ１６を設け、ＬＤ１０に流れる電流値を検出し、その電流検出信号をＣＰＵ５０″へ送る。
ＣＰＵ５０″は、電流センサ１６からの電流検出信号に基づいて駆動電流の変化量が一定値を超えた場合に発振周波数を再調整する。
上記電流センサ１６が光源に供給される駆動電流量を検出する駆動電流量検出手段の機能を果たし、上記ＣＰＵ５０″が、駆動電流量検出手段によって検出した駆動電流量に基づく電流変動量が予め設定した電流量よりも多くなったとき、発振周波数可変手段によって可変させた発振周波数を予め設定した時間間隔で再調整する手段の機能を果たす。
【００５４】
図１７は、図１５及び図１６に示す発光制御装置における発光制御処理を示すフローチャート図である。
この処理は、初期調整結果から得られる発振周波数設定値で通常動作を開始し、ステップ４１で電流センサが電流（Ｉｎ）を検出すると、ステップ４２で電流センサから検出される電流（Ｉｎ）により、次の数２に示す電流変動量ΔＩを求める。
【００５５】
（数２）ΔＩ＝Ｉ（ｎ）＝Ｉ（ｎ−１） ｛ｎは検出の時系列（０、１、ｎ−２、ｎ−１、ｎ）｝
【００５６】
ステップ４３でΔＩが、予め設定した電流値Ｃよりも大きいか否かを判断し、大きいなら発振周波数の再調整時と判断し、ステップ４４で発振周波数検出信号を検出し、ステップ４５で発振周波数が３３３ＭＨｚよりも大きいか否かを判断し、大きいなら、ステップ４７で発振回路の重畳発振周波数を固定し、この処理を終了する。
また、ステップ４５の判断で発振周波数が３３３ＭＨｚ以下ならば、ステップ４６で発振回路の重畳発振周波数を上昇させ、ステップ４４へ戻って上述の処理を繰り返す。
このようにして、一旦重畳発振周波数を調整した後でも、駆動電流が所定値よりも大きくなったときの変動成分も補正するので、深刻なＥＭＩ問題となる３次高調波が規格周波数の上限を上回るので、規制に反することなく安定した発光制御装置を提供できる。
【産業上の利用可能性】
【００５７】
この発明による発光制御装置は、光源を用いる装置全般において適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００５８】
【図１】この発明の実施例１の発光制御装置を内蔵した光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】図１に示す光ディスク装置の発光制御装置の構成を示すブロック図である。
【図３】図１及び図２に示すＬＤＤＲの内部構成を示すブロック図である。
【図４】この発明の実施例１の発光制御装置における発光制御の処理を示すフローチャート図である。
【図５】この発明の実施例２の発光制御装置の構成を示すブロック図である。
【００５９】
【図６】図５に示すＬＤＤＲの内部構成を示すブロック図である。
【図７】ＣＤとＤＶＤにおける重畳発振周波数と読み取り性能との関係を示す波形図である。
【図８】この発明の実施例３の発光制御装置における発光制御の処理を示すフローチャート図である。
【図９】この発明の実施例７の発光制御装置における発光制御の処理を示すフローチャート図である。
【図１０】同じ重畳周波数を連続使用したときの周波数の変移の様子を示す波形図である。
【００６０】
【図１１】この発明の実施例７の発光制御装置を連続して使用したときにＣＰＵが設定レジスタの値を変化させた場合の発振周波数の変移の様子を示す波形図である。
【図１２】この発明の実施例８の発光制御装置の構成を示すブロック図である。
【図１３】この発明の実施例８の発光制御装置の他の構成を示すブロック図である。
【図１４】図１２及び図１３に示す発光制御装置における発光制御処理を示すフローチャート図である。
【図１５】この発明の実施例９の発光制御装置の構成を示すブロック図である。
【００６１】
【図１６】この発明の実施例９の発光制御装置の他の構成を示すブロック図である。
【図１７】図１５及び図１６に示す発光制御装置における発光制御処理を示すフローチャート図である。
【図１８】ＣＩＳＰＲ２２によって規定された電子機器から発生される３０ＭＨｚから１ＧＨｚまでの電磁波の周波数範囲を示す波形図である。
【符号の説明】
【００６２】
１：光ピックアップユニット ２：ＤＡＣ ３：ＤＦＥＰ ４：メモリ ５，５′，５″，５０，５０′，５０″：ＣＰＵ ６：スレッジモータ ７：スピンドルモータ ８：モータ・アクチュエータドライブ １０：ＬＤ １１，１１′：ＬＤＤＲ １２：ＰＤ １３，１３′：ＡＦＥＰ １４：アクチュエータ ２０〜２３：電流増幅回路 ２４：発振回路 ２５：加算回路 ２６，４５：発振周波数カウンタ ３０：ＲＦモニタセンサ ３１：パワーモニタセンサ ４０：和信号回路 ４１：サンプル＆ホールド回路 ４２：パワー制御回路 ４３：ＨＰＦ ４４：２値化回路 ４５：発振周波数カウンタ ＳＷ１〜ＳＷ４：スイッチ１〜４
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光を発光する光源と、該光源にレーザ光を発光させるための駆動電流を供給する駆動電流供給手段と、該駆動電流供給手段によって供給する駆動電流に高周波電流を重畳する高周波電流重畳手段と、前記光源から発光されたレーザ光を受光して発光量に応じた信号を検出する信号検出手段と、該信号検出手段によって検出された信号のレベルに基づいて前記駆動電流供給手段に対して前記光源に供給する駆動電流量を制御する駆動電流量制御手段と、前記高周波電流重畳手段によって重畳される高周波電流の発振周波数を計測する発振周波数計測手段と、該発振周波数計測手段によって計測された発振周波数が予め設定した目標周波数よりも大きくなるように前記高周波電流重畳手段に対して重畳する高周波電流の発振周波数を可変させる発振周波数可変手段とを備えたことを特徴とする発光制御装置。
【請求項２】
レーザ光を発光する光源と、該光源にレーザ光を発光させるための駆動電流を供給する駆動電流供給手段と、該駆動電流供給手段によって供給する駆動電流に高周波電流を重畳する高周波電流重畳手段と、前記光源から発光されたレーザ光を受光して発光量に応じた信号を検出する信号検出手段と、該信号検出手段によって検出された信号のレベルに基づいて前記駆動電流供給手段に対して前記光源に供給する駆動電流量を制御する駆動電流量制御手段と、前記信号検出手段によって検出された信号の発振周波数を計測する発振周波数計測手段と、該発振周波数計測手段によって計測された発振周波数が予め設定した目標周波数よりも大きくなるように前記高周波電流重畳手段に対して重畳する高周波電流の発振周波数を可変させる発振周波数可変手段とを備えたことを特徴とする発光制御装置。
【請求項３】
請求項１又は２記載の発光制御装置において、前記レーザ光を照射する記録媒体の種類を判別し、該判別結果に基づいて前記高周波電流重畳手段によって重畳する高周波電流の発振周波数を最適値に設定する手段を設けたことを特徴とする発光制御装置。
【請求項４】
請求項１乃至３のいずれか一項に記載の発光制御装置において、装置製造時に前記発振周波数可変手段によって可変させて予め設定した目標周波数よりも大きくなった発振周波数を記憶して実動作時に参照する手段を設けたことを特徴とする発光制御装置。
【請求項５】
請求項１乃至３のいずれか一項に記載の発光制御装置において、前記レーザ光を照射する記録媒体がマウントされる毎に前記発振周波数可変手段によって可変させて予め設定した目標周波数よりも大きくなった発振周波数を記憶して実動作時に参照する手段を設けたことを特徴とする発光制御装置。
【請求項６】
請求項１乃至５のいずれか一項に記載の発光制御装置において、前記発振周波数可変手段によって可変させた発振周波数を予め設定した時間間隔で再調整する手段を設けたことを特徴とする発光制御装置。
【請求項７】
請求項１乃至５のいずれか一項に記載の発光制御装置において、前記高周波電流重畳手段の周辺の温度を検出する温度検出手段と、該温度検出手段によって検出した温度が予め設定した温度よりも高くなったとき、前記発振周波数可変手段によって可変させた発振周波数を予め設定した時間間隔で再調整する手段を設けたことを特徴とする発光制御装置。
【請求項８】
請求項１乃至５のいずれか一項に記載の発光制御装置において、前記光源に供給される駆動電流量を検出する駆動電流量検出手段と、該駆動電流量検出手段によって検出した駆動電流量に基づく電流変動量が予め設定した電流量よりも多くなったとき、前記発振周波数可変手段によって可変させた発振周波数を予め設定した時間間隔で再調整する手段を設けたことを特徴とする発光制御装置。
【請求項１】
レーザ光を発光する光源と、該光源にレーザ光を発光させるための駆動電流を供給する駆動電流供給手段と、該駆動電流供給手段によって供給する駆動電流に高周波電流を重畳する高周波電流重畳手段と、前記光源から発光されたレーザ光を受光して発光量に応じた信号を検出する信号検出手段と、該信号検出手段によって検出された信号のレベルに基づいて前記駆動電流供給手段に対して前記光源に供給する駆動電流量を制御する駆動電流量制御手段と、前記高周波電流重畳手段によって重畳される高周波電流の発振周波数を計測する発振周波数計測手段と、該発振周波数計測手段によって計測された発振周波数が予め設定した目標周波数よりも大きくなるように前記高周波電流重畳手段に対して重畳する高周波電流の発振周波数を可変させる発振周波数可変手段とを備えたことを特徴とする発光制御装置。
【請求項２】
レーザ光を発光する光源と、該光源にレーザ光を発光させるための駆動電流を供給する駆動電流供給手段と、該駆動電流供給手段によって供給する駆動電流に高周波電流を重畳する高周波電流重畳手段と、前記光源から発光されたレーザ光を受光して発光量に応じた信号を検出する信号検出手段と、該信号検出手段によって検出された信号のレベルに基づいて前記駆動電流供給手段に対して前記光源に供給する駆動電流量を制御する駆動電流量制御手段と、前記信号検出手段によって検出された信号の発振周波数を計測する発振周波数計測手段と、該発振周波数計測手段によって計測された発振周波数が予め設定した目標周波数よりも大きくなるように前記高周波電流重畳手段に対して重畳する高周波電流の発振周波数を可変させる発振周波数可変手段とを備えたことを特徴とする発光制御装置。
【請求項３】
請求項１又は２記載の発光制御装置において、前記レーザ光を照射する記録媒体の種類を判別し、該判別結果に基づいて前記高周波電流重畳手段によって重畳する高周波電流の発振周波数を最適値に設定する手段を設けたことを特徴とする発光制御装置。
【請求項４】
請求項１乃至３のいずれか一項に記載の発光制御装置において、装置製造時に前記発振周波数可変手段によって可変させて予め設定した目標周波数よりも大きくなった発振周波数を記憶して実動作時に参照する手段を設けたことを特徴とする発光制御装置。
【請求項５】
請求項１乃至３のいずれか一項に記載の発光制御装置において、前記レーザ光を照射する記録媒体がマウントされる毎に前記発振周波数可変手段によって可変させて予め設定した目標周波数よりも大きくなった発振周波数を記憶して実動作時に参照する手段を設けたことを特徴とする発光制御装置。
【請求項６】
請求項１乃至５のいずれか一項に記載の発光制御装置において、前記発振周波数可変手段によって可変させた発振周波数を予め設定した時間間隔で再調整する手段を設けたことを特徴とする発光制御装置。
【請求項７】
請求項１乃至５のいずれか一項に記載の発光制御装置において、前記高周波電流重畳手段の周辺の温度を検出する温度検出手段と、該温度検出手段によって検出した温度が予め設定した温度よりも高くなったとき、前記発振周波数可変手段によって可変させた発振周波数を予め設定した時間間隔で再調整する手段を設けたことを特徴とする発光制御装置。
【請求項８】
請求項１乃至５のいずれか一項に記載の発光制御装置において、前記光源に供給される駆動電流量を検出する駆動電流量検出手段と、該駆動電流量検出手段によって検出した駆動電流量に基づく電流変動量が予め設定した電流量よりも多くなったとき、前記発振周波数可変手段によって可変させた発振周波数を予め設定した時間間隔で再調整する手段を設けたことを特徴とする発光制御装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【公開番号】特開２００６−２０９８１２（Ｐ２００６−２０９８１２Ａ）
【公開日】平成１８年８月１０日（２００６．８．１０）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００５−１６２７０（Ｐ２００５−１６２７０）
【出願日】平成１７年１月２５日（２００５．１．２５）
【出願人】（０００００６７４７）株式会社リコー (37,907)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成１８年８月１０日（２００６．８．１０）
【国際特許分類】
【出願日】平成１７年１月２５日（２００５．１．２５）
【出願人】（０００００６７４７）株式会社リコー (37,907)
【Ｆターム（参考）】
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