表示装置及びその検査方法
【課題】不良率及び製造費用を減少させうる感知素子を内蔵する表示装置とその検査方法を提供する。
【解決手段】複数の第１、第２表示信号線、第１、第２表示信号線に連結される複数の画素、複数の第１、第２感知信号線、第１感知信号線と連結する複数の第１感知信号出力部、第２感知信号線と連結する複数の第２感知信号出力部、第１表示信号線と連結する複数の第１検査用スイッチング素子、第２表示信号線と連結する複数の第２検査用スイッチング素子、第１検査用スイッチング素子に感知信号を伝達する第１検査線、第２検査用スイッチング素子に感知信号を伝達する第２検査線を有し、同一画素行の集合に含まれる第１表示信号線に連結される第１検査用スイッチング素子は、同一第１感知信号出力部に連結され、同一画素列の集合に含まれる第２表示信号線に連結される第２検査用スイッチング素子は、同一第２感知信号出力部に連結される。
【解決手段】複数の第１、第２表示信号線、第１、第２表示信号線に連結される複数の画素、複数の第１、第２感知信号線、第１感知信号線と連結する複数の第１感知信号出力部、第２感知信号線と連結する複数の第２感知信号出力部、第１表示信号線と連結する複数の第１検査用スイッチング素子、第２表示信号線と連結する複数の第２検査用スイッチング素子、第１検査用スイッチング素子に感知信号を伝達する第１検査線、第２検査用スイッチング素子に感知信号を伝達する第２検査線を有し、同一画素行の集合に含まれる第１表示信号線に連結される第１検査用スイッチング素子は、同一第１感知信号出力部に連結され、同一画素列の集合に含まれる第２表示信号線に連結される第２検査用スイッチング素子は、同一第２感知信号出力部に連結される。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、表示装置及びその検査方法に関し、特に、感知素子を内蔵する表示装置の不良率及び製造費用を減少させることのできる表示装置及びその検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
表示装置のうちの代表格である液晶表示装置（ｌｉｑｕｉｄ ｃｒｙｓｔａｌ ｄｉｓｐｌａｙ：ＬＣＤ）は、画素電極及び共通電極が形成されている二つの表示板、及びその間に挿入されている誘電率異方性（ｄｉｅｌｅｃｔｒｉｃ ａｎｉｓｏｔｒｏｐｙ）を有する液晶層を含む。
画素電極は、行列形態に配列されていて、薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）などのスイッチング素子に連結されて、一行ずつ順次にデータ電圧の印加を受ける。共通電極は、表示板の全面に形成されていて、共通電圧の印加を受ける。画素電極、共通電極、及びその間の液晶層は、回路的に見る時、液晶キャパシタを構成し、液晶キャパシタはこれに連結されているスイッチング素子と共に、画素を構成する基本単位となる。
このような液晶表示装置では、二つの電極に電圧を印加して液晶層に電界を生成し、この電界の強さを調節して液晶層を通過する光の透過率を調節することによって、所望の画像を表示する。
【０００３】
タッチスクリーンパネル（ｔｏｕｃｈ ｓｃｒｅｅｎ ｐａｎｅｌ）は、画面上に指またはタッチペン（ｔｏｕｃｈ ｐｅｎ、ｓｔｙｌｕｓ）などを接触させて文字や絵を書いたりアイコンを実行させて、コンピュータなどの機械に所望の命令を行わせる装置である。タッチスクリーンパネルが付着された液晶表示装置は、使用者の指またはタッチペンなどの画面への接触有無及び接触位置情報を判断することができる。しかし、このような液晶表示装置は、タッチスクリーンパネルの付着によって、原価の上昇、タッチスクリーンパネルを液晶表示板組立体に付着する工程の追加による収率の減少、液晶表示板組立体の輝度の低下、製品の厚さの増加などの問題がある。
【０００４】
したがって、このような問題を解決するために、タッチスクリーンパネルの代りに感知素子を液晶表示装置に内蔵する技術が開発されてきている。感知素子は、使用者の指などが画面に加える光または圧力の変化を感知することによって、液晶表示装置が使用者の指などの画面への接触有無及び接触位置情報を判断することができるようにする。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
一方、このような液晶表示装置に内蔵された感知素子の動作を検査するために、ＶＩ（ｖｉｓｕａｌ ｉｎｓｐｅｃｔｉｏｎ）検査が行われる。しかし、感知素子に連結されて感知信号を出力する感知信号出力部に対する検査が製造工程中に行われないため、液晶表示装置の不良率が増加して、製造費用が増加する問題が発生する。
【０００６】
そこで、本発明は上記従来の表示装置における問題点に鑑みてなされたものであって、本発明の目的は、感知素子を内蔵する表示装置の不良率及び製造費用を減少させることのできる表示装置及びその検査方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するためになされた本発明による表示装置は、複数の第１表示信号線と、前記第１表示信号線と交差する複数の第２表示信号線と、前記第１表示信号線のうちの一つ及び前記第２表示信号線のうちの一つに各々連結される複数の画素と、所定の個数の隣接する画素行（以下、画素行の集合と称す）ごとに一つずつ形成され、前記第１表示信号線と平行な複数の第１感知信号線と、所定の個数の隣接する画素列（以下、画素列の集合と称す）ごとに一つずつ形成され、前記第２表示信号線と平行な複数の第２感知信号線と、前記第１感知信号線に各々連結される複数の第１感知信号出力部と、前記第２感知信号線に各々連結される複数の第２感知信号出力部と、前記複数の第１表示信号線に各々連結される複数の第１検査用スイッチング素子と、前記複数の第２表示信号線に各々連結される複数の第２検査用スイッチング素子と、前記複数の第１検査用スイッチング素子に外部からの感知信号を伝達する第１検査線と、前記第１検査線に連結され、前記複数の第２検査用スイッチング素子に前記感知信号を伝達する第２検査線とを有し、同一の前記画素行の集合に含まれる第１表示信号線に連結される第１検査用スイッチング素子は、同一の第１感知信号出力部に連結され、同一の前記画素列の集合に含まれる第２表示信号線に連結される第２検査用スイッチング素子は、同一の第２感知信号出力部に連結されることを特徴とする。
【０００８】
前記第１検査線は、外部から前記検査信号の伝達を受ける検査パッドを含むのが好ましい。
前記検査パッドに連結され、駆動電圧を伝達する信号線と、該信号線に連結される第１出力パッドをさらに有するのが好ましい。
前記第２表示信号線、前記第１及び第２感知信号線に各々電気的に連結される駆動チップをさらに有するのが好ましい。
前記第１出力パッドは、前記駆動チップに連結され、前記駆動電圧は、前記第１及び第２検査用スイッチング素子をターンオフさせるのが好ましい。
前記第１及び第２表示信号線と、前記画素とから離隔し、前記第２表示信号線に検査信号を伝達する少なくとも一つの第３検査線をさらに有し、前記第３検査線は、前記検査信号の伝達を受ける検査パッドを含むのが好ましい。
前記少なくとも一つの第３検査線は、二つ以上の第３検査線を含み、各第３検査線は、前記第２表示信号線に交互に連結されているのが好ましい。
前記第２表示信号線及び前記第３検査線の連結を切る切断線をさらに有するのが好ましい。
前記第２表示信号線に各々電気的に連結される第１駆動チップと、前記第１及び第２感知信号線に各々電気的に連結される第２駆動チップをさらに有するのが好ましい。、
前記駆動電圧を伝達して、前記第１検査線に連結される第２出力パッドをさらに有するのが好ましい。
前記第２出力パッドは、前記第２駆動チップに連結され、前記駆動電圧は、前記第１及び第２検査用スイッチング素子をターンオフさせるのが好ましい。
前記第１及び第２表示信号線と、前記画素とから離隔し、前記第２表示信号線に検査信号を伝達するための少なくとも一つの第３検査線をさらに有し、前記第３検査線は、前記検査信号の伝達を受ける検査パッドを含むのが好ましい。
前記少なくとも一つの第３検査線は、二つ以上の検査線を含み、各検査線は、前記第２表示信号線に交互に連結されているのが好ましい。
前記第２表示信号線及び前記第３検査線の連結を切る切断線をさらに有するのが好ましい。
前記第１及び第２感知信号出力部の各々は、第１リセット電圧及び第１リセット制御信号が印加される第１リセットトランジスタと、該第１リセットトランジスタ及び第１または第２検査用スイッチング素子に連結される出力トランジスタと、前記第２リセット電圧及び第２リセット制御信号が印加され、前記出力トランジスタに連結される第２リセットトランジスタを含むのが好ましい。
【０００９】
上記目的を達成するためになされた本発明による表示装置の検査方法は、複数の第１表示信号線と、複数の第２表示信号線と、前記第１表示信号線及び前記第２表示信号線に連結される複数の画素と、所定の個数の隣接する画素行ごとに一つずつ形成される複数の第１感知信号線と、所定の個数の隣接する画素列ごとに一つずつ形成される複数の第２感知信号線と、前記第１感知信号線に連結される複数の第１感知信号出力部と、前記第２感知信号線に連結される複数の第２感知信号出力部と、前記複数の第１表示信号線に連結される複数の第１検査用スイッチング素子と、前記複数の第２表示信号線に連結される複数の第２検査用スイッチング素子と、前記複数の第１検査用スイッチング素子に外部からの感知信号を伝達する第１検査線と、前記第１検査線に連結され、前記複数の第２検査用スイッチング素子に前記感知信号を伝達する第２検査線とを有し、前記第１及び第２感知信号出力部の各々は、第１リセットトランジスタと、該第１リセットトランジスタに連結される出力トランジスタと、該出力トランジスタに連結される第２リセットトランジスタとを含む表示装置の検査方法であって、前記第１リセットトランジスタ及び出力トランジスタを駆動させる段階と、前記第１及び第２検査線に検査信号を印加して、前記出力トランジスタを通じて伝達される信号が前記第１及び第２検査用スイッチング素子を通じて前記第１表示信号線及び前記第２表示信号線に印加されて、前記画素を動作させる段階と、前記第１リセットトランジスタの駆動を中止させる段階と、前記第２リセットトランジスタを駆動させる段階と、前記第１及び第２検査線に検査信号を印加して、前記出力トランジスタを通じて伝達される信号が前記第１及び第２検査用スイッチング素子を通じて前記第１表示信号線及び前記第２表示信号線に印加されて、前記画素を動作させる段階とを有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明に係る表示装置及びその検査方法によれば、検査用スイッチング素子を形成して、駆動ＩＣが実装される前に感知信号を出力する感知信号出力部の状態をＶＩ検査する。これによって、高価な駆動ＩＣが装着される前に感知信号出力部の状態を検査するので、完成した表示装置の不良率が減少して、製造費用が減少するという効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
次に、本発明に係る表示装置及びその検査方法を実施するための最良の形態の具体例を図面を参照しながら説明する。
【００１２】
図面では、各層及び領域を明確に表現するために、厚さを拡大して示した。明細書全体を通して類似した部分については、同一の図面符号を付けた。層、膜、領域、板などの部分が他の部分の“上”にあるとする時、これは他の部分の“真上”にある場合だけでなく、その中間に他の部分がある場合も意味する。反対に、ある部分が他の部分の“真上”にあるとする時、これはその中間に他の部分がない場合を意味する。
【００１３】
本発明による表示装置の一実施形態である液晶表示装置について、図１〜図５を参照して詳細に説明する。
図１は本発明の一実施形態による液晶表示装置の概略ブロック図であって、画素の観点で示した図面であり、図２は本発明の一実施形態による液晶表示装置の一つの画素に対する等価回路図である。図３は本発明の一実施形態による液晶表示装置の概略ブロック図であって、感知部の観点で示した図面であり、図４は本発明の一実施形態による液晶表示装置の一つの感知部に対する等価回路図である。図５は本発明の一実施形態による感知信号出力部の回路図である。図６は、本発明の一実施形態による液晶表示装置の概略図である。
【００１４】
図１及び図３を参照すると、本発明の一実施形態による液晶表示装置は、液晶表示板組立体（ｌｉｑｕｉｄ ｃｒｙｓｔａｌ ｐａｎｅｌ ａｓｓｅｍｂｌｙ）３００、これに連結されている画像走査部４００、画像データ駆動部５００、感知信号処理部８００、画像データ駆動部５００に連結されている階調電圧生成部５５０、感知信号処理部８００に連結されている接触判断部７００、そしてこれらを制御する信号制御部６００を含む。
【００１５】
図１〜図５を参照すると、液晶表示板組立体３００は、複数の表示信号線（Ｇ１−Ｇｎ、Ｄ１−Ｄｍ）、これに連結されていて、ほぼ行列形態に配列された複数の画素（ＰＸ）、そして複数の感知信号線（ＳＹ１−ＳＹＮ、ＳＸ１−ＳＸＭ、ＲＬ）、これに連結されていて、ほぼ行列形態に配列された複数の感知部（ＳＵ）、各感知信号線（ＳＹ１−ＳＹＮ、ＳＸ１−ＳＸＭ）に連結されている複数の感知信号出力部（ＳＯＵＴ）、そして各感知信号出力部（ＳＯＵＴ）に連結されている複数の出力データ線（ＯＹ１−ＯＹＮ、ＯＸ１−ＯＸＭ）を含む。
【００１６】
図２及び図６を参照すると、液晶表示板組立体３００は、互いに対向する薄膜トランジスタ表示板１００及び共通電極表示板２００、その間に挿入されている液晶層３、そして二つの表示板（１００、２００）の間に間隙を形成して、ある程度圧縮変形される間隔材（図示せず）を含む。
【００１７】
表示信号線（Ｇ１−Ｇｎ、Ｄ１−Ｄｍ）は、画像走査信号を伝達する複数の画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）及び画像データ信号を伝達する画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）を含み、感知信号線（ＳＹ１−ＳＹＮ、ＳＸ１−ＳＸＭ、ＲＬ）は、感知信号を伝達する複数の横感知信号線（ＳＹ１−ＳＹＮ）及び複数の縦感知信号線（ＳＸ１−ＳＸＭ）、そして基準電圧を伝達する複数の基準電圧線（ＲＬ）を含む。基準電圧線（ＲＬ）は、必要に応じて省略することができる。
【００１８】
画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）及び横感知信号線（ＳＹ１−ＳＹＮ）は、ほぼ行方向にのびていて、互いにほぼ平行であり、画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）及び縦感知信号線（ＳＸ１−ＳＸＭ）は、ほぼ列方向にのびていて、互いにほぼ平行である。基準電圧線（ＲＬ）は、行または列方向にのびている。
【００１９】
各画素（ＰＸ）は、表示信号線（Ｇ１−Ｇｎ、Ｄ１−Ｄｍ）に連結されているスイッチング素子（Ｑ）、これに連結されている液晶キャパシタ（ｌｉｑｕｉｄ ｃｒｙｓｔａｌ ｃａｐａｃｉｔｏｒ）（Ｃｌｃ）及びストレージキャパシタ（ｓｔｏｒａｇｅ ｃａｐａｃｉｔｏｒ）（Ｃｓｔ）を含む。ストレージキャパシタ（Ｃｓｔ）は、必要に応じて省略することができる。
【００２０】
スイッチング素子（Ｑ）は、薄膜トランジスタ表示板１００に形成されている薄膜トランジスタなどの三端子素子であって、その制御端子は画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）に連結されており、入力端子は画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）に連結されており、出力端子は液晶キャパシタ（Ｃｌｃ）及びストレージキャパシタ（Ｃｓｔ）に連結されている。この時、薄膜トランジスタは、非晶質シリコン（ａｍｏｒｐｈｏｕｓ ｓｉｌｉｃｏｎ）または多結晶シリコン（ｐｏｌｙ ｃｒｙｓｔａｌｌｉｎｅ ｓｉｌｉｃｏｎ）を含む。
【００２１】
液晶キャパシタ（Ｃｌｃ）は、薄膜トランジスタ表示板１００の画素電極１９１及び共通電極表示板２００の共通電極２７０を二つの端子とし、二つの電極（１９１、２７０）の間の液晶層３は誘電体として機能する。画素電極１９１は、スイッチング素子（Ｑ）に連結されており、共通電極２７０は、共通電極表示板２００の全面に形成されていて、共通電圧（Ｖｃｏｍ）の印加を受ける。図２とは異なって、共通電極２７０が薄膜トランジスタ表示板１００に形成される場合もあり、この時には、二つの電極（１９１、２７０）のうちの少なくとも一つが線形状または棒形状に形成される。
【００２２】
液晶キャパシタ（Ｃｌｃ）の補助的な役割を果たすストレージキャパシタ（Ｃｓｔ）は、薄膜トランジスタ表示板１００に形成されている別個の信号線（図示せず）及び画素電極１９１が絶縁体を間において重畳して構成され、この別個の信号線には、共通電圧（Ｖｃｏｍ）などの決められた電圧が印加される。しかし、ストレージキャパシタ（ＣＳＴ）は、画素電極１９１及びその真上の前段画像走査線が絶縁体を間において重畳して構成することもできる。
【００２３】
一方、色表示を実現するためには、各画素（ＰＸ）が基本色（ｐｒｉｍａｒｙ ｃｏｌｏｒ）のうちの一つを固有に表示したり（空間分割）、各画素（ＰＸ）が時間によって交互に基本色を表示するようにして（時間分割）、これら基本色の空間的、時間的合計によって所望の色相が認識されるようにする。基本色の例としては、赤色、緑色、青色などの三原色がある。図２は空間分割の一例として、各画素（ＰＸ）が、画素電極１９１に対応する共通電極表示板２００の領域に基本色のうちの一つを表示する色フィルタ２３０が形成されていることを示している。図２とは異なって、色フィルタ２３０は、薄膜トランジスタ表示板１００の画素電極１９１上または下に形成することもできる。
液晶表示板組立体３００の外側面には、光を偏光させる少なくとも一つの偏光子（図示せず）が付着されている。
【００２４】
図４に示すように、感知部（ＳＵ）は、図面符号ＳＬで示した横または縦感知信号線（以下、感知信号線とする）に連結されている可変キャパシタ（Ｃｖ）、及び感知信号線（ＳＬ）及び基準電圧線（ＲＬ）の間に連結されている基準キャパシタ（Ｃｐ）を含む。
【００２５】
基準キャパシタ（Ｃｐ）は、薄膜トランジスタ表示板１００の基準電圧線（ＲＬ）及び感知信号線（ＳＬ）が絶縁体（図示せず）を間において重畳して構成される。
可変キャパシタ（Ｃｖ）は、薄膜トランジスタ表示板１００の感知信号線（ＳＬ）及び共通電極表示板２００の共通電極２７０を二つの端子とし、二つの端子の間の液晶層３は誘電体として機能する。可変キャパシタ（Ｃｖ）の静電容量（ｃａｐａｃｉｔａｎｃｅ）は、液晶表示板組立体３００に加えられる使用者の接触（ｔｏｕｃｈ）などの外部刺激によって値が変化する。
【００２６】
このような外部刺激としては、圧力を例にあげることができ、共通電極表示板２００に圧力が加えられると、間隔材が圧縮変形されて二つの端子の間の距離が変化して、可変キャパシタ（Ｃｖ）の静電容量が変化する。静電容量が変化すると、静電容量の大きさに依存する、基準キャパシタ（Ｃｐ）及び可変キャパシタ（Ｃｖ）の間の接続点電圧（Ｖｎ）の大きさが変化する。接続点電圧（Ｖｎ）は、感知信号として感知信号線（ＳＬ）を通じて流れ、これに基づいて接触有無を判断することができる。この時、基準キャパシタ（Ｃｐ）は静電容量が固定されていて、基準キャパシタ（Ｃｐ）に印加される基準電圧は電圧値が一定であるので、接続点電圧（Ｖｎ）は一定の範囲で変化する。したがって、感知信号が常に一定の範囲の電圧レベルであるので、接触有無及び接触位置を容易に判断することができる。
【００２７】
感知部（ＳＵ）は、隣接する二つの画素（ＰＸ）の間に配置される。横及び縦感知信号線（ＳＹ１−ＳＹＮ、ＳＸ１−ＳＸＭ）に各々連結されていて（図３参照）、これらが交差する領域に隣接して配置されている一対の感知部（ＳＵ）の密度は、例えばドット（ｄｏｔ）の密度の約１／４である。ここで、一つのドットは、例えば平行に配列されていて、赤色、緑色、青色などの三原色を表示する三つの画素（ＰＸ）を含み、一つの色相を表示して、液晶表示装置の解像度を示す基本単位となる。しかし、一つのドットは、四つ以上の画素（ＰＸ）を含むこともでき、この場合、各画素（ＰＸ）は、三原色及び白色（ｗｈｉｔｅ）のうちの一つを表示することができる。
【００２８】
一対の感知部（ＳＵ）の密度がドットの密度の１／４である例としては、一対の感知部（ＳＵ）の横及び縦解像度が各々液晶表示装置の横及び縦解像度の１／２である場合がある。この場合、感知部（ＳＵ）が配置されていない画素行及び画素列があることもある。
感知部（ＳＵ）の密度及びドットの密度をこの程度に調整すれば、文字認識のように精密度が高い応用分野にも、このような液晶表示装置を適用することができる。もちろん、感知部（ＳＵ）の解像度は、必要に応じてこれより高くても低くてもよい。
このように、本発明の実施形態による感知部（ＳＵ）によれば、感知部（ＳＵ）及び感知信号線（ＳＬ）が占める空間が相対的に小さいので、画素（ＰＸ）の開口率の減少を最少化することができる。
【００２９】
複数の感知信号出力部（ＳＯＵＴ）は、全て同一の構造からなる。図５を参照して、任意の一つの感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の構造について説明する。
図５では、任意の一つの感知信号線（ＳＬ）（図３では、ＳＹ１−ＳＹＮ、ＳＸ１−ＳＸＭ）に連結されている感知部（ＳＵ）は、説明の便宜のために一つだけ示したが、実際には複数の感知部が連結されている。
図５に示すように、感知信号出力部（ＳＯＵＴ）は、第１及び第２リセットトランジスタ（Ｑｒ１、Ｑｒ２）及び出力トランジスタ（Ｑｓ）を含む。これらトランジスタ（Ｑｒ１、Ｑｒ２、Ｑｓ）は、薄膜トランジスタなどの三端子素子である。
【００３０】
第１リセットトランジスタ（Ｑｒ１）の制御端子はリセット制御信号（ＲＳＴ１）に連結されており、入力端子はリセット電圧（Ｖｒ１）に連結されており、出力端子は感知信号線（ＳＬ）に連結されている。第２リセットトランジスタ（Ｑｒ２）の制御端子はリセット制御信号（ＲＳＴ２）に連結されており、入力端子はリセット電圧（Ｖｒ２）に連結されており、出力端子は感知信号線（ＳＬ）に連結されている。
また、出力トランジスタ（Ｑｓ）の制御端子は感知信号線（ＳＬ）に連結されており、入力端子は入力電圧（ＶＤＤ）に連結されており、出力端子は出力データ線（ＯＬ）（図３ではＯＹ１−ＯＹＮ、ＯＸ１−ＯＸＭ）に連結されている。
【００３１】
出力データ線（ＯＹ１−ＯＹＮ、ＯＸ１−ＯＸＭ）は、該当感知信号出力部（ＳＯＵＴ）を通じて横及び縦感知信号線（ＳＹ１−ＳＹＮ、ＳＸ１−ＳＸＭ）に各々連結されている複数の横及び縦出力データ線（ＯＹ１−ＯＹＮ、ＯＸ１−ＯＸＭ）を含む（図３参照）。出力データ線（ＯＹ１−ＯＹＮ、ＯＸ１−ＯＸＭ）は、感知信号処理部８００に連結されていて、感知信号出力部（ＳＯＵＴ）からの出力信号を感知信号処理部８００に伝達する。横及び縦出力データ線（ＯＹ１−ＯＹＮ、ＯＸ１−ＯＸＭ）は、ほぼ列方向にのびていて、互いにほぼ平行である。
【００３２】
再び図１及び図３を参照すると、階調電圧生成部５５０は、画素の透過率に関する二組の階調電圧の集合（または基準階調電圧の集合）を生成する。二組のうちの一組は共通電圧（Ｖｃｏｍ）に対して正の値を有し、他の一組は負の値を有する。
画像走査部４００は、液晶表示板組立体３００の画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）に連結されていて、スイッチング素子（Ｑ）をターンオンさせるゲートオン電圧（Ｖｏｎ）及びターンオフさせるゲートオフ電圧（Ｖｏｆｆ）の組み合わせからなる画像走査信号を画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）に印加する。
【００３３】
画像データ駆動部５００は、液晶表示板組立体３００の画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）に連結されていて、階調電圧生成部５５０からの階調電圧を選択して、これを画像データ信号として画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）に印加する。しかし、階調電圧生成部５５０が全ての階調に対する電圧を提供せずに決められた数の基準階調電圧のみを提供する場合に、画像データ駆動部５００は、基準階調電圧を分圧して全ての階調に対する階調電圧を生成して、この中から画像データ信号を選択する。
【００３４】
感知信号処理部８００は、液晶表示板組立体３００の出力データ線（ＯＹ１−ＯＹＮ、ＯＸ１−ＯＸＭ）に連結されていて、出力データ線（ＯＹ１−ＯＹＮ、ＯＸ１−ＯＸＭ）を通じて出力信号の伝達を受けて、増幅などの信号処理を行ってアナログ感知信号を生成した後、アナログ−デジタル変換器（図示せず）などを利用してデジタル信号に変換して、デジタル感知信号（ＤＳＮ）を生成する。
【００３５】
接触判断部７００は、感知信号処理部８００からデジタル感知信号（ＤＳＮ）の印加を受けて、所定の演算処理を行って接触有無及び接触位置を判断した後、接触情報（ＩＮＦ）を外部装置に出力する。接触判断部７００は、デジタル感知信号（ＤＳＮ）に基づいて感知部（ＳＵ）の動作状態を監視して、これらに印加される信号を制御することができる。
【００３６】
信号制御部６００は、画像走査部４００、画像データ駆動部５００、階調電圧生成部５５０、そして感知信号処理部８００などの動作を制御する。
【００３７】
このような駆動装置（４００、５００、５５０、６００、７００、８００）の各々は、少なくとも一つの集積回路チップの形態で液晶表示板組立体３００上に直接装着されたり、可撓性印刷回路膜（ｆｌｅｘｉｂｌｅ ｐｒｉｎｔｅｄ ｃｉｒｃｕｉｔ ｆｉｌｍ）（図示せず）上に装着されてＴＣＰ（ｔａｐｅ ｃａｒｒｉｅｒ ｐａｃｋａｇｅ）の形態で液晶表示板組立体３００に付着されたり、別途の印刷回路基板（ｐｒｉｎｔｅｄ ｃｉｒｃｕｉｔ ｂｏａｒｄ）（図示せず）上に装着することもできる。これとは異なって、これら駆動装置（４００、５００、５５０、６００、７００、８００）は、信号線（Ｇ１−Ｇｎ、Ｄ１−Ｄｍ、ＳＹ１−ＳＹＮ、ＳＸ１−ＳＸＭ、ＯＹ１−ＯＹＮ、ＯＸ１−ＯＸＭ、ＲＬ）及び薄膜トランジスタ（Ｑ）などと共に、液晶表示板組立体３００に集積することもできる。
【００３８】
図６を参照すると、液晶表示板組立体３００は、表示領域（Ｐ１）、周縁領域（Ｐ２）、及び露出領域（Ｐ３）に分れている。表示領域（Ｐ１）には、画素（ＰＸ）、感知部（ＳＵ）及び信号線（Ｇ１−Ｇｎ、Ｄ１−Ｄｍ、ＳＹ１−ＳＹＮ、ＳＸ１−ＳＸＭ、ＲＬ）などが形成されている。共通電極表示板２００は、ブラックマトリックスのような遮光部材（図示せず）を含み、遮光部材は、周縁領域（Ｐ２）の大部分を覆って外部からの光を遮断し、周縁領域（Ｐ２）には、感知信号出力部（ＳＯＵＴ）及び出力データ線（ＯＹ１−ＯＹＮ、ＯＸ１−ＯＸＭ）などが形成されている。
【００３９】
共通電極表示板２００は、薄膜トランジスタ表示板１００より大きさが小さくて、薄膜トランジスタ表示板１００の一部が露出されて露出領域（Ｐ３）を構成し、露出領域（Ｐ３）には、単一チップ６１０が実装されて、ＦＰＣ基板（ｆｌｅｘｉｂｌｅ ｐｒｉｎｔｅｄ ｃｉｒｃｕｉｔ ｂｏａｒｄ）６２０が付着される。
【００４０】
単一チップ６１０は、液晶表示装置を駆動するための駆動装置、つまり画像走査部４００、画像データ駆動部５００、階調電圧生成部５５０、信号制御部６００、接触判断部７００、そして感知信号処理部８００を含む。このような駆動装置（４００、５００、５５０、６００、７００、８００）を単一チップ６１０内に集積することによって、実装面積を減少させることができ、消費電力も低減させることができる。もちろん、必要に応じてこれらのうちの少なくとも一つまたはこれらを構成する少なくとも一つの回路素子が単一チップ６１０外に位置することもある。
【００４１】
表示信号線（Ｇ１−Ｇｎ、Ｄ１−Ｄｍ）及び出力データ線（ＯＹ１−ＯＹＮ、ＯＸ１−ＯＸＭ）は、露出領域（Ｐ３）までのびて、該当駆動装置（４００、５００、８００）に連結されている。
ＦＰＣ基板６２０は、外部装置から信号の伝達を受けて、単一チップ６１０または液晶表示板組立体３００に伝達し、外部装置との接続を容易にするために、端部は通常のコネクタ（図示せず）からなる。
【００４２】
次に、上述の液晶表示装置の表示動作及び感知動作について、より詳細に説明する。
図１及び図３を参照すると、信号制御部６００は、外部装置（図示せず）から入力画像信号（Ｒ、Ｇ、Ｂ）及びその表示を制御する入力制御信号の伝達を受ける。入力画像信号（Ｒ、Ｇ、Ｂ）は、各画素（ＰＸ）の輝度（ｌｕｍｉｎａｎｃｅ）情報を含み、輝度は、決められた数、例えば１０２４（＝２１０）、２５６（＝２８）、または６４（＝２６）個の階調（ｇｒａｙ−ｓｃａｌｅ）を有している。入力制御信号の例としては、垂直同期信号（Ｖｓｙｎｃ）及び水平同期信号（Ｈｓｙｎｃ）、メインクロック（ＭＣＬＫ）、データイネーブル信号（ＤＥ）などがある。
【００４３】
信号制御部６００は、入力画像信号（Ｒ、Ｇ、Ｂ）及び入力制御信号に基づいて入力画像信号（Ｒ、Ｇ、Ｂ）を液晶表示板組立体３００及び画像データ駆動部５００の動作条件に合うように適切に処理を行って、画像走査制御信号（ＣＯＮＴ１）、画像データ制御信号（ＣＯＮＴ２）、及び感知データ制御信号（ＣＯＮＴ３）などを生成した後、画像走査制御信号（ＣＯＮＴ１）を画像走査部４００に出力し、画像データ制御信号（ＣＯＮＴ２）及び処理した画像データ信号（ＤＡＴ）を画像データ駆動部５００に出力し、感知データ制御信号（ＣＯＮＴ３）を感知信号処理部８００に出力する。
【００４４】
画像走査制御信号（ＣＯＮＴ１）は、走査の開始を指示する走査開始信号（ＳＴＶ）、及びゲートオン電圧（Ｖｏｎ）の出力を制御する少なくとも一つのクロック信号を含む。画像走査制御信号（ＣＯＮＴ１）は、また、ゲートオン電圧（Ｖｏｎ）の持続時間を限定する出力イネーブル信号（ＯＥ）をさらに含むことができる。
【００４５】
画像データ制御信号（ＣＯＮＴ２）は、一つの画素行の画像データ信号（ＤＡＴ）の伝送開始を知らせる水平同期開始信号（ＳＴＨ）、画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）に画像データ信号の印加を指示するロード信号（ＬＯＡＤ）、及びデータクロック信号（ＨＣＬＫ）を含む。画像データ制御信号（ＣＯＮＴ２）は、また、共通電圧（Ｖｃｏｍ）に対する画像データ信号の電圧極性（以下、「共通電圧に対する画像データ信号の電圧極性」を略して「画像データ信号の極性」とする）を反転させる反転信号（ＲＶＳ）をさらに含むことができる。
【００４６】
信号制御部６００からの画像データ制御信号（ＣＯＮＴ２）によって、画像データ駆動部５００は、一つの画素行の画素（ＰＸ）に対するデジタル画像データ信号（ＤＡＴ）の伝達を受けて、各デジタル画像データ信号（ＤＡＴ）に対応する階調電圧を選択することによって、デジタル画像データ信号（ＤＡＴ）をアナログ画像データ信号に変換した後、これを該当画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）に印加する。
【００４７】
画像走査部４００は、信号制御部６００からの画像走査制御信号（ＣＯＮＴ１）によって、ゲートオン電圧（Ｖｏｎ）を画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）に印加して、この画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）に連結されているスイッチング素子（Ｑ）をターンオンさせる。そうすると、画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）に印加された画像データ信号がターンオンされたスイッチング素子（Ｑ）を通じて該当画素（ＰＸ）に印加される。
【００４８】
画素（ＰＸ）に印加された画像データ信号の電圧と共通電圧（Ｖｃｏｍ）との差は、液晶キャパシタ（Ｃｌｃ）の充電電圧、つまり画素電圧として現れる。液晶分子は、画素電圧の大きさによってその配向が異なり、それによって液晶層３を通過する光の偏光が変化する。このような偏光の変化は、液晶表示板組立体３００に付着された偏光子によって光の透過率の変化として現れて、これを通じて所望の画像を表示することができる。
【００４９】
１水平周期［１Ｈともいい、水平同期信号（Ｈｓｙｎｃ）及びデータイネーブル信号（ＤＥ）の一周期と同一である］を単位にしてこのような過程を繰返すことによって、全ての画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）に対して順次にゲートオン電圧（Ｖｏｎ）を印加し、全ての画素（ＰＸ）に画像データ信号を印加して、１フレーム（ｆｒａｍｅ）の画像を表示する。
１フレームが終わると次のフレームが始まって、各画素（ＰＸ）に印加される画像データ信号の極性が直前のフレームで画素に印加される画像データ信号の極性と反対になるように、画像データ駆動部５００に印加される反転信号（ＲＶＳ）の状態が制御される（フレーム反転）。この時、１フレーム内でも、反転信号（ＲＶＳ）の特性によって、一つの画像データ線を通じて流れる画像データ信号の極性が反転したり（例：行反転、点反転）、一つの画素行に印加される画像データ信号の極性が互いに反転することがある（例：列反転、点反転）。
【００５０】
感知信号処理部８００は、感知データ制御信号（ＣＯＮＴ３）によって、毎フレームごとに１度ずつフレーム及びフレームの間のポーチ（ｐｏｒｃｈ）区間で出力データ線（ＯＹ１−ＯＹＮ、ＯＸ１−ＯＸＭ）を通じて印加される感知信号を読取る。ポーチ区間では、感知信号が画像走査部４００及び画像データ駆動部５００などからの駆動信号の影響をあまり受けないので、感知信号の信頼度が高まる。しかし、このような読取り動作は、毎フレームごとに必ず行われる必要はなく、必要に応じて複数のフレームごとに１度ずつ行うこともできる。また、ポーチ区間内で２度以上の読取り動作を行うこともできる。
【００５１】
感知信号処理部８００による感知信号の読取り区間になると、感知信号出力部（ＳＯＵＴ）は、感知信号線（ＳＹ１−ＳＹＮ、ＳＸ１−ＳＸＭ）からの感知信号を出力データ線（ＯＹ１−ＯＹＮ、ＯＸ１−ＯＸＭ）に伝達する。
【００５２】
次に、上述の感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の動作を図７を参照して説明する。
図７は本発明の一実施形態による感知信号出力部の動作タイミング図面である。
図７に示すように、本実施形態による液晶表示装置は、上述と同様に、フレーム及びフレームの間のポーチ区間で感知動作を行い、特に垂直同期信号（Ｖｓｙｎｃ）より先のフロントポーチ（ｆｒｏｎｔ ｐｏｒｃｈ）区間で感知動作を行うのが好ましい。
【００５３】
共通電圧（Ｖｃｏｍ）は、高レベル及び低レベルを有して、１Ｈごとに高レベル及び低レベルをスウィングする。
第１及び第２リセット制御信号（ＲＳＴ１、ＲＳＴ２）は、第１及び第２リセットトランジスタ（Ｑｒ１、Ｑｒ２）を各々ターンオンさせるターンオン電圧（Ｔｏｎ）及びターンオフさせるターンオフ電圧（Ｔｏｆｆ）を含む。ターンオン電圧（Ｔｏｎ）は、ゲートオン電圧（Ｖｏｎ）を使用することができ、ターンオフ電圧（Ｔｏｆｆ）は、ゲートオフ電圧（Ｖｏｆｆ）を使用することができる。第１リセット制御信号（ＲＳＴ１）のターンオン電圧（Ｔｏｎ）は、共通電圧（Ｖｃｏｍ）が高レベルである時に印加される。
【００５４】
各感知信号線（ＳＬ）（図３では、ＳＹ１−ＳＹＮ、ＳＸ１−ＳＸＭ）を通じて流れる感知信号の読取り動作が始まれば、まず、第１リセットトランジスタ（Ｑｒ１）の制御端子にターンオン電圧（Ｔｏｎ）が印加され、第１リセットトランジスタ（Ｑｒ１）をターンオンさせる。これによって、第１リセットトランジスタ（Ｑｒ１）の入力端子に印加されるリセット電圧（Ｖｒ１）を感知信号線（ＳＬ）に印加して、リセット電圧（Ｖｒ１）で感知信号線（ＳＬ）を初期化する。
【００５５】
このように、感知信号線（ＳＬ）の初期化動作が終われば、感知信号出力部（ＳＯＵＴ）は、該当感知信号線（ＳＬ）から伝達される感知信号を出力する。
したがって、初期化動作が終わって第１リセット制御信号（ＲＳＴ１）がターンオフ電圧（Ｔｏｆｆ）になると、感知信号線（ＳＬ）はフローティング状態になり、感知部（ＳＵ）への接触有無による可変キャパシタ（Ｃｖ）の静電容量の変化及び共通電圧（Ｖｃｏｍ）の変化に基づいて、出力トランジスタ（Ｑｓ）の制御端子に印加される電圧が変化する。このような電圧の変化によって、出力トランジスタ（Ｑｓ）を流れる感知信号の電流が変化して、出力データ線（ＯＬ）（図３で、ＯＹ１−ＯＹＮ、ＯＸ１−ＯＸＭ）を通じて感知信号を出力する。
【００５６】
したがって、感知信号処理部８００は、各感知信号線（ＳＬ）を通じて印加される感知信号を読取る。この時、感知信号を読取る時間は、第１リセット制御信号（ＲＳＴ１）がターンオフ電圧（Ｔｏｆｆ）になってから１Ｈ時間以内に設定するのが好ましい。つまり、共通電圧（Ｖｃｏｍ）が再び高レベルに変化する前に感知信号を読取るのが好ましい。これは、共通電圧（Ｖｃｏｍ）のレベルの変化によって感知信号も変化するためである。
感知信号がリセット電圧（Ｖｒ１）を基準に変化するので、感知信号が常に一定の範囲の電圧レベルを有することができ、それによって接触有無及び接触位置を容易に判断することができる。
【００５７】
感知信号処理部８００が感知信号を読取った後、第２リセット制御信号（ＲＳＴ２）はターンオン電圧（Ｔｏｎ）になって、第２リセットトランジスタ（Ｑｒ２）をターンオンさせる。そうすると、第２リセット電圧（Ｖｒ２）が感知信号線（ＳＬ）に印加される。この時、第２リセット電圧（Ｖｒ２）は接地電圧（ＧＮＤ）であるので、感知信号線（ＳＬ）は接地電圧でリセットされる。第２リセット電圧（Ｖｒ２）は、第１リセット電圧（Ｖｒ１）が感知信号線（ＳＬ）に印加されるまで維持される。それによって、次の第１リセット電圧（Ｖｒ１）が印加されるまで、出力トランジスタ（Ｑｓ）はターンオフされた状態が維持されて、不必要な動作による電力の消耗を減少させる。
【００５８】
第１リセット制御信号（ＲＳＴ１）のターンオン電圧（Ｔｏｎ）は、共通電圧（Ｖｃｏｍ）が低レベルである時に印加され、この時、共通電圧（Ｖｃｏｍ）が高レベルに変化してから再び低レベルになる前に感知信号を読取る。また、第１リセット制御信号（ＲＳＴ１）を最後の画像走査線（Ｇｎ）に印加される画像走査信号に同期させることもできる。
第２リセット制御信号（ＲＳＴ２）は、感知信号を読取ってからすぐ次の１Ｈ区間でターンオン電圧（Ｔｏｎ）になることもでき、その後の１Ｈ区間でターンオン電圧（Ｔｏｎ）になることもできる。
【００５９】
このように、アナログ感知信号を読取った感知信号処理部８００は、感知信号に対して各増幅部（図示せず）などを利用して増幅などの信号処理を行った後、デジタル感知信号（ＤＳＮ）に変換して、接触判断部７００に出力する。
接触判断部７００は、デジタル感知信号（ＤＳＮ）の印加を受けて、適切な演算処理を行って、接触有無及び接触位置を判断して、これを外部装置に伝送し、外部装置は、これに基づいた画像信号（Ｒ、Ｇ、Ｂ）を液晶表示装置に伝送する。
【００６０】
次に、上述のような過程を通じて表示動作及び感知動作を行う液晶表示装置において、感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の状態を検査するＶＩ検査の方法について説明する。
まず、図８を参照して、感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の状態を検査するための液晶表示板組立体の構造について説明する。
図８は本発明の一実施形態による感知信号出力部の状態を検査するための複数の検査用スイッチング素子、複数の検査線、及び検査パッドが形成された液晶表示板組立体の概略的なブロック配置図である。
【００６１】
図８に示すように、感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の状態を検査するために、液晶表示板組立体は、出力データ線（ＯＹ１−ＯＹＮ）及びこれに隣接する画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）の間に入力端子及び出力端子が連結されている複数の検査用スイッチング素子（ＴＹ１−ＴＹＮ）、出力データ線（ＯＸ１−ＯＸＭ）及びこれに隣接する画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）の間に入力端子及び出力端子が連結されている複数の検査用スイッチング素子（ＴＸ１−ＴＸＭ）、単一チップ６１０からのスイッチング素子オフ電圧（Ｖｓｓ）を伝達する信号線（Ｌ１）、信号線（Ｌ１）に連結されている検査パッド（ＩＰ３）、検査パッド（ＩＰ３）及び検査用スイッチング素子（ＴＹ１−ＴＹＮ）の全ての制御端子に連結されている検査線（Ｌ２）、検査用スイッチング素子（ＴＸ１−ＴＸＭ）の全ての制御端子に連結されていて、接触部（Ｃ３）を通じて検査線（Ｌ２）に連結されている検査線（Ｌ３）を含む。
【００６２】
また、単一チップ６１０下には、接触部（Ｃ１）を通じて奇数番目の画像データ線（Ｄ１、Ｄ３）に連結されている検査線（ＩＬ２）、接触部（Ｃ２）を通じて偶数番目の画像データ線（Ｄ２、Ｄ４）に連結されている検査線（ＩＬ１）、検査線（ＩＬ１）に連結されている検査パッド（ＩＰ１）、検査線（ＩＬ２）に連結されている検査パッド（ＩＰ２）、信号線（Ｌ１）に連結されていて、スイッチング素子オフ電圧（Ｖｓｓ）を出力する出力パッド（ＶＰ）、出力データ線（ＯＹ１−ＯＹＮ、ＯＸ１−ＯＸＭ）に各々連結されている入力パッド（ＰＹ１−ＰＹＮ、ＰＸ１−ＰＸＭ）が形成されている。
【００６３】
検査用スイッチング素子（ＴＹ１−ＴＹＮ、ＴＸ１−ＴＸＭ）、信号線（Ｌ１）、検査線（Ｌ２、Ｌ３）、及び検査パッド（ＩＰ３）は、周縁領域（Ｐ２）に形成されている。
【００６４】
次に、感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の状態を検査するＶＩ検査の方法について説明する。
感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の状態を検査する前に、画素（ＰＸ）、画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）、及び画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）の状態を先に検査する。
画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）及び画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）のＶＩ検査は類似しているので、図８を参照して、画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）のＶＩ検査についてのみ説明する。この場合、画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）は全て正常であると仮定する。
【００６５】
液晶表示板組立体を製造した後、検査装置（図示せず）を利用して画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）にゲートオン電圧（Ｖｏｎ）を印加して、相当するスイッチング素子（Ｑ）を全てターンオンさせる。この時、単一チップ６１０は、液晶表示板組立体に実装されていない状態である。
【００６６】
このような状態で、検査装置のプローブを利用して検査パッド（ＩＰ２）に画像データ線検査信号を印加すれば、検査信号は、検査線（ＩＬ２）及び接触部（Ｃ１）を通じて該当画像データ線、つまり奇数番目の画像データ線（Ｄ１、Ｄ３）に伝達される。したがって、ゲートオン電圧（Ｖｏｎ）が供給された画像走査線に連結されている画素は、画像データ線検査信号の電圧値に対応する明るさを有する。検査者は、画面の明るさなどの表示状態を目で確認して、該当画像データ線の断線有無や画素の動作状態などを検査した後、検査信号の供給を中断する。
【００６７】
次に、検査装置のプローブを利用して検査パッド（ＩＰ１）に画像データ線検査信号を印加すれば、検査信号は、検査線（ＩＬ１）及び接触部（Ｃ２）を通じて該当画像データ線、つまり偶数番目の画像データ線（Ｄ２、Ｄ４）に伝達される。検査者は、画面の明るさなどの表示状態を目で確認して、該当信号線の断線有無や画素の動作状態などを検査した後、検査信号の供給を中断する。
【００６８】
全ての画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）に対するＶＩ検査が完了すれば、レーザートリミング（ｌａｓｅｒ ｔｒｉｍｍｉｎｇ）装置などを利用して検査パッド（ＩＰ１、ＩＰ２）及び画像データ線の間に連結されている検査線（ＩＬ１、ＩＬ２）を切断線（Ｌ１１）に沿って切断する。
【００６９】
次に、感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の状態を検査する。
まず、感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の第１リセットトランジスタ（Ｑｒ１）及び出力トランジスタ（Ｑｓ）の状態を感知する動作について説明する。
【００７０】
検査装置（図示せず）を利用して感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の第１リセットトランジスタ（Ｑｒ１）の入力端子及び制御端子、そして出力トランジスタ（Ｑｓ）の入力端子に高レベル電圧、例えばゲートオン電圧（Ｖｏｎ）を印加し、第２リセットトランジスタ（Ｑｒ２）の入力端子及び制御端子に低レベル電圧、例えばゲートオフ電圧（Ｖｏｆｆ）を印加する。これによって、第１リセットトランジスタ（Ｑｒ１）及び出力トランジスタ（Ｑｓ）がターンオンされる（図５参照）。
【００７１】
次に、検査装置を利用して検査パッド（ＩＰ３）に検査用スイッチング素子（ＴＹ１−ＴＹＮ、ＴＸ１−ＴＸＭ）をターンオンさせる検査信号を印加して、検査用スイッチング素子（ＴＹ１−ＴＹＮ、ＴＸ１−ＴＸＭ）をターンオンさせる。
したがって、各感知信号出力部（ＳＯＵＴ）のターンオンされた出力トランジスタ（Ｑｓ）の入力端子に印加されるゲートオン電圧（Ｖｏｎ）が、ターンオンされた各検査用スイッチング素子（ＴＹ１−ＴＹＮ、ＴＸ１−ＴＸＭ）を通じて画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）及び画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）に印加され、スイッチング素子（Ｑ）をターンオンさせるゲートオン電圧（Ｖｏｎ）及びデータ信号として印加されて、画素（ＰＸ）を動作させる。
【００７２】
この時、横感知信号線（ＳＹ１−ＳＹＮ）に連結されている感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の第１リセットトランジスタ（Ｑｒ１）や出力トランジスタ（Ｑｓ）が正常に動作しない場合、該当行の画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）にゲートオン電圧（Ｖｏｎ）が印加されないので、該当行の画素（ＰＸ）は動作しない。また、縦感知信号線（ＳＸ１−ＳＸＮ）に連結されている感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の第１リセットトランジスタ（Ｑｒ１）や出力トランジスタ（Ｑｓ）が正常に動作しない場合、該当列の画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）にゲートオン電圧（Ｖｏｎ）がデータ電圧として印加されないので、他の画素列と異なる輝度状態を示す。
【００７３】
したがって、検査者は、画素の動作有無や画面の明るさなどの表示状態を目で確認して、各感知信号出力部（ＳＯＵＴ）や感知信号線（ＳＹ１−ＳＹＮ、ＳＸ１−ＳＸＭ）などを検査して、第１リセットトランジスタ（Ｑｒ１）、出力トランジスタ（Ｑｓ）、及び検査パッド（ＩＰ３）に印加される検査信号の供給を中断する。
【００７４】
次に、感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の第２リセットトランジスタ（Ｑｒ２）の状態を感知する動作について説明する。
【００７５】
検査装置を利用して第１リセットトランジスタ（Ｑｒ１）の入力端子及び制御端子に低レベル状態であるゲートオフ電圧（Ｖｏｆｆ）を印加し、出力トランジスタ（Ｑｓ）の入力端子に高レベル状態であるゲートオン電圧（Ｖｏｎ）を印加する。また、第２リセットトランジスタ（Ｑｒ２）の入力端子及び制御端子に高レベル状態であるゲートオン電圧（Ｖｏｎ）を印加する。
【００７６】
これによって、第１リセットトランジスタ（Ｑｒ１）はターンオフされ、第２リセットトランジスタ（Ｑｒ２）及び出力トランジスタ（Ｑｓ）はターンオンされる。この時、出力トランジスタ（Ｑｓ）は、既に行われたＶＩ検査で正常であると判断されている。
次に、検査装置を利用して検査パッド（ＩＰ３）に検査用スイッチング素子（ＴＹ１−ＴＹＮ、ＴＸ１−ＴＸＭ）をターンオンさせる検査信号を印加して、検査用スイッチング素子（ＴＹ１−ＴＹＮ、ＴＸ１−ＴＸＭ）をターンオンさせる。
【００７７】
これによって、ターンオンされた検査用スイッチング素子（ＴＹ１−ＴＹＮ、ＴＸ１−ＴＸＭ）を通じて各画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）及び画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）に印加される信号によって、画素（ＰＸ）の動作が決められる。
【００７８】
この時、横感知信号線（ＳＹ１−ＳＹＮ）に連結されている感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の第２リセットトランジスタ（Ｑｒ２）が正常に動作しない場合、出力トランジスタ（Ｑｓ）がターンオンされずに、該当行の画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）にゲートオン電圧（Ｖｏｎ）が印加されないので、該当行の画素（ＰＸ）は動作しない。また、縦感知信号線（ＳＸ１−ＳＸＭ）に連結されている感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の第２リセットトランジスタ（Ｑｒ２）が正常に動作しない場合、該当列の画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）にゲートオン電圧（Ｖｏｎ）がデータ電圧として印加されないので、他の画素列と異なる輝度状態を示す。
【００７９】
したがって、検査者は、画素の動作有無や画面の明るさなどの表示状態を目で確認して、各感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の出力トランジスタ（Ｑｓ）の状態を検査して、感知信号出力部（ＳＯＵＴ）及び検査パッド（ＩＰ３）に印加される検査信号の供給を中断する。
【００８０】
全ての感知信号出力部（ＳＯＵＴ）に対するＶＩ検査が完了すれば、単一チップ６１０が装着され、単一チップ６１０は、出力パッド（ＶＰ）を通じてスイッチング素子オフ電圧（Ｖｓｓ）を出力する。したがって、信号線（Ｌ１）及び検査パッド（ＩＰ３）を通じて検査線（Ｌ２、Ｌ３）にスイッチング素子オフ電圧（Ｖｓｓ）が伝達されて、検査用スイッチング素子（ＴＹ１−ＴＹＮ、ＴＸ１−ＴＸＭ）はターンオフされた状態を維持する。これによって、単一チップ６１０などの制御によって正常に画素が動作する。
【００８１】
次に、図９を参照して、本発明の他の実施形態による感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の状態を検査する方法について説明する。
図９は、本発明の他の実施形態による感知信号出力部の状態を検査するための複数の検査用スイッチング素子、複数の検査線、及び検査パッドが形成された液晶表示板組立体の概略的なブロック配置図である。
【００８２】
図８と比較する時、図９の単一チップ６１０’には、感知信号処理部８００が内蔵されていないで、別個のチップで形成されて、液晶表示板組立体（図示せず）上に実装される。これによって、図９に示すように、各出力データ線（ＯＹ１−ＯＹＮ、ＯＸ１−ＯＸＭ）に連結されている入力パッド（ＰＹ１−ＰＹＮ、ＰＸ１−ＰＸＭ）が感知信号処理部８００に形成される。また、図８と比較する時、図９には、単一チップ６１０’下に形成されて、スイッチング素子オフ電圧（Ｖｓｓ）を検査パッド（ＩＰ３）に出力する出力パッド（ＶＰ１１）以外にも、感知信号処理部８００下に形成されて、スイッチング素子オフ電圧（Ｖｓｓ）を検査線（Ｌ２）に伝達する出力パッド（ＶＰ１２）がさらに形成されている。これらの点を除けば、図８に示した構造と同一であるので、同一の機能を行う構成要素については、図８と同一の図面符号を付け、これらに対する詳細な説明は省略する。
【００８３】
次に、感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の状態を検査するＶＩ検査の方法について説明する。本実施形態による感知信号出力部（ＳＯＵＴ）のＶＩ検査の方法も、図８に示したものと類似している。
【００８４】
上記のように、単一チップ６１０’及び感知信号処理部８００が実装されていない状態で、画素（ＰＸ）、画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）、及び画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）の状態をＶＩ検査した後、レーザートリミング装置などを利用して検査パッド（ＩＰ１、ＩＰ２）及び画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）の間に連結されている検査線（ＩＬ１、ＩＬ２）を切断線（Ｌ１１に沿って切断する。
【００８５】
次に、感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の状態を検査する。
まず、感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の第１リセットトランジスタ（Ｑｒ１）及び出力トランジスタ（Ｑｓ）の状態を感知する動作について説明する。
【００８６】
検査装置を利用して出力信号出力部（ＳＯＵＴ）の第１リセットトランジスタ（Ｑｒ１）の入力端子及び制御端子に高レベル状態であるゲートオン電圧（Ｖｏｎ）を印加し、出力トランジスタ（Ｑｓ）の入力端子にゲートオン電圧（Ｖｏｎ）を印加して、第１リセットトランジスタ（Ｑｒ１）及び出力トランジスタ（Ｑｓ）をターンオンさせ、第２リセットトランジスタ（Ｑｒ２）の入力端子及び制御端子に低レベル状態であるゲートオフ電圧（Ｖｏｆｆ）を印加して、第２リセットトランジスタ（Ｑｒ２）をターンオフさせる（図５参照）。
【００８７】
次に、検査装置を利用して検査パッド（ＩＰ３）に検査用スイッチング素子（ＴＹ１−ＴＹＮ、ＴＸ１−ＴＸＭ）をターンオンさせる検査信号を印加して、検査用スイッチング素子（ＴＹ１−ＴＹＮ、ＴＸ１−ＴＸＭ）をターンオンさせる。
したがって、各感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の出力トランジスタ（Ｑｓ）を通じて出力される信号がターンオンされた各検査スイッチング素子（ＴＹ１−ＴＹＮ、ＴＸ１−ＴＸＭ）を通じて画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）及び画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）に印加されて、該当画素（ＰＸ）を動作させる。
【００８８】
つまり、横感知信号線（ＳＹ１−ＳＹＮ）に連結されている感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の第１リセットトランジスタ（Ｑｒ１）や出力トランジスタ（Ｑｓ）が正常に動作しない場合、該当行の画素（ＰＸ）は動作しない。また、縦感知信号線（ＳＸ１−ＳＸＮ）に連結されている感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の第１リセットトランジスタ（Ｑｒ２）や出力トランジスタ（Ｑｓ）が正常に動作しない場合、該当画素列は他の画素列と異なる輝度状態を示す。
【００８９】
したがって、検査者は、画素の動作有無や画面の明るさなどの表示状態を目で確認して、各第１リセットトランジスタ（Ｑｒ１）及び出力トランジスタ（Ｑｓ）を検査し、感知信号出力部（ＳＯＵＴ）及び検査パッド（ＩＰ３）に印加される検査信号の供給を中断する。
【００９０】
次に、感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の第２リセットトランジスタ（Ｑｒ２）の状態を感知する動作について説明する。
検査装置を利用して第１リセットトランジスタ（Ｑｒ１）の入力端子及び制御端子に低レベル状態であるゲートオフ電圧（Ｖｏｆｆ）を印加し、出力トランジスタ（Ｑｓ）の入力端子に高レベル状態であるゲートオン電圧（Ｖｏｎ）を印加する。また、第２リセットトランジスタ（Ｑｒ２）の入力端子及び制御端子に高レベル状態であるゲートオン電圧（Ｖｏｎ）を印加する。
【００９１】
これによって、第１リセットトランジスタ（Ｑｒ１）はターンオフされ、第２リセットトランジスタ（Ｑｒ２）及び出力トランジスタ（Ｑｓ）はターンオンされる。この時、出力トランジスタ（Ｑｓ）は既に行われたＶＩ検査で正常であると判断されている。
【００９２】
次に、検査装置を利用して検査パッド（ＩＰ３）に検査用スイッチング素子（ＴＹ１−ＴＹＮ、ＴＸ１−ＴＸＭ）をターンオンさせる検査信号を印加して、検査用スイッチング素子（ＴＹ１−ＴＹＮ、ＴＸ１−ＴＸＭ）をターンオンさせる。
これによって、ターンオンされた検査用スイッチング素子（ＴＹ１−ＴＹＮ、ＴＸ１−ＴＸＭ）を通じて各画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）及び画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）に印加される信号によって、画素（ＰＸ）が動作する。
【００９３】
この時、横感知信号線（ＳＹ１−ＳＹＮ）に連結されている感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の第２リセットトランジスタ（Ｑｒ２）が正常に動作しない場合、該当行の画素（ＰＸ）は動作せず、縦感知信号線（ＳＸ１−ＳＸＭ）に連結されている感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の第２リセットトランジスタ（Ｑｒ２）が正常に動作しない場合、該当画素列は他の画素列と異なる輝度状態を示す。
【００９４】
したがって、検査者は、画素の動作有無や画面の明るさなどの表示状態を目で確認して、各感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の出力トランジスタ（Ｑｓ）の状態を検査し、感知信号出力部（ＳＯＵＴ）及び検査パッド（ＩＰ３）に印加される検査信号の供給を中断する。
【００９５】
全ての感知信号出力部（ＳＯＵＴ）に対するＶＩ検査が完了すれば、単一チップ６１０’及び感知信号処理部８００が装着され、単一チップ６１０’及び感知信号処理部８００は、出力パッド（ＶＰ１１、ＶＰ１２）を通じてスイッチング素子オフ電圧（Ｖｓｓ）を出力する。したがって、信号線（Ｌ１）及び検査パッド（ＩＰ３）を通じて検査線（Ｌ２、Ｌ３）にスイッチング素子オフ電圧（Ｖｓｓ）が伝達されて、検査用スイッチング素子（ＴＹ１−ＴＹＮ、ＴＸ１−ＴＸＭ）はターンオフされた状態を維持する。これによって、単一チップ６１０’及び感知信号処理部８００などによる正常な画素の動作が行われる。
【００９６】
次に、図１０を参照して、画素の解像度及び感知部の解像度が互いに異なる場合の、検査用スイッチング素子と画像走査線及び画像データ線との連結関係について見てみる。
図１０は本発明の実施形態による感知信号出力部を検査する時の、画素の解像度が感知部の解像度より大きい場合の検査用スイッチング素子と画像走査線及び画像データ線との連結関係を示す概略的なブロック配置図である。
【００９７】
図１０に示すように、感知部（ＳＵ）の解像度が画素（ＰＸ）の解像度より小さいので、所定の個数、例えば連続する二つの画素行（以下、画素行の集合とする）及び画素列（以下、画素列の集合とする）ごとに感知信号線（ＳＸ１、ＳＸ２、・・・、ＳＹ１、ＳＹ２）が一つずつ形成されている。この場合、検査用スイッチング素子（ＴＸ１−ＴＸＭ）は、各画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）に出力端子が連結され、検査線（Ｌ３）に制御端子が連結されており、検査用スイッチング素子（ＴＹ１−ＴＹＮ）は、各画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）に出力端子が連結され、検査線（Ｌ２）に制御端子が連結されている。つまり、検査用スイッチング素子（ＴＹ１−ＴＹＮ、ＴＸ１−ＴＸＭ）は、各画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）及び画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）に一つずつ連結されている。
【００９８】
しかし、同一の画素行の集合及び画素列の集合に含まれた検査用スイッチング素子（ＴＸ１−ＴＸＭ、ＴＹ１−ＴＹＮ）は、同一の出力データ線に連結されている。例えば、図１０に示すように、第１及び第２画像データ線（Ｄ１、Ｄ２）に連結されている検査用スイッチング素子（ＴＸ１、ＴＸ２）は出力データ線（ＯＸ１）に連結され、第３及び第４画像データ線（Ｄ３、Ｄ４）に連結されている検査用スイッチング素子（ＴＸ３、ＴＸ４）は出力データ線（ＯＸ２）に連結されている。また、第１及び第２画像走査線（Ｇ１、Ｇ２）に連結されている検査用スイッチング素子（ＴＹ１、ＴＹ２）は上側に位置した出力データ線（ＯＹ１）に連結され、第３及び第４画像走査線（Ｇ３、Ｇ４）に連結されている検査用スイッチング素子（ＴＹ３、ＴＹ４）は上側に位置した出力データ線（ＯＹ２）に連結されている。
【００９９】
図１０では、感知信号線（ＳＸ１−ＳＸＭ）は、画素列の集合の左側に形成されているが、右側に形成することもでき、感知信号線（ＳＹ１−ＳＹＮ）は、画素行の集合の上側に形成されているが、下側に形成することもできる。これとは異なって、感知信号線（ＳＸ１−ＳＸＭ、ＳＹ１−ＳＹＮ）は、他の形態に形成することもできる。
【０１００】
これによって、感知信号出力部（ＳＯＵＴ）のＶＩ検査時に、一つの感知信号出力部（ＳＯＵＴ）から出力される信号は、各々連結されている検査用スイッチング素子を通じて同一の画素行の集合または画素列の集合に含まれた複数の画像走査線または画像データ線に印加されて、ＶＩ検査のために画素を動作させる。
【０１０１】
したがって、任意の一つの感知信号出力部（ＳＯＵＴ）が正常な状態でない場合、これに連結されている画素行の集合の画素が正常に動作しなかったり、画素列の集合の画素が正常に動作しないので、検査者は、これら画素行の集合または画素列の集合に連結されている感知信号出力部（ＳＯＵＴ）を非正常な状態であると判断する。
【０１０２】
図１０では、二つの画素行及び二つの画素列ごとに一つの感知信号線が形成されている場合について説明したが、これに限定されず、三つ以上の画素行及び画素列ごとに一つの感知信号線が形成される場合もありえる。
【０１０３】
上記で説明した実施形態では、感知部として可変キャパシタ及び基準キャパシタを例にあげて説明したが、これに限定されず、これと異なる形態の感知素子を適用することもできる。
また、本発明の実施形態では、表示装置として液晶表示装置を例にあげて説明したが、これに限定されず、プラズマ表示装置（ｐｌａｓｍａ ｄｉｓｐｌａｙ ｄｅｖｉｃｅ）、有機発光表示装置（ｏｒｇａｎｉｃ ｌｉｇｈｔ ｅｍｉｔｔｉｎｇ ｄｉｓｐｌａｙ）などのような平板表示装置にも同一に適用することができる。
【０１０４】
尚、本発明は、上述の実施形態に限られるものではない。本発明の技術的範囲から逸脱しない範囲内で多様に変更実施することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【０１０５】
【図１】本発明の一実施形態による液晶表示装置の概略ブロック図であって、画素の観点で示した図面である。
【図２】本発明の一実施形態による液晶表示装置の一つの画素に対する等価回路図である。
【図３】本発明の一実施形態による液晶表示装置の概略ブロック図であって、感知部の観点で示した図面である。
【図４】本発明の一実施形態による液晶表示装置の一つの感知部に対する等価回路図である。
【図５】本発明の一実施形態による感知信号出力部の回路図である。
【図６】本発明の一実施形態による液晶表示装置の概略図である。
【図７】本発明の一実施形態による感知信号出力部の動作タイミング図である。
【図８】本発明の一実施形態による感知信号出力部の状態を検査するための複数の検査用スイッチング素子、複数の検査線、及び検査パッドが形成された液晶表示板組立体の概略的なブロック配置図である。
【図９】本発明の他の実施形態によって感知信号出力部の状態を検査するための複数の検査用スイッチング素子、複数の検査線、及び検査パッドが形成された液晶表示板組立体の概略的なブロック配置図である。
【図１０】本発明の実施形態による感知信号出力部を検査する時の、画素の解像度が感知部の解像度より大きい場合の検査用スイッチング素子と画像走査線及び画像データ線との連結関係を示す概略的なブロック配置図である。
【符号の説明】
【０１０６】
３ 液晶層
１００ 薄膜トランジスタ表示板
１９１ 画素電極
２００ 共通電極表示板
２３０ 色フィルタ
２７０ 共通電極
３００ 液晶表示板組立体
４００ 画像走査部
５００ 画像データ駆動部
５５０ 階調電圧生成部
６００ 信号制御部
６１０、６１０’ 単一チップ
６２０ ＦＰＣ基板
７００ 接触判断部
８００ 感知信号処理部
Ｑ スイッチング素子
ＰＸ 画素
ＳＵ 感知部
ＳＯＵＴ 感知信号出力部
Ｃｖ 可変キャパシタ
Ｃｐ 基準キャパシタ
Ｇ１−Ｇｎ 画像走査線
Ｄ１−Ｄｍ 画像データ線
ＳＹ１−ＳＹＮ、ＳＸ１−ＳＸＭ （横、縦）感知信号線
ＯＹ１−ＯＹＮ、ＯＸ１−ＯＸＭ （横、縦）出力データ線
Ｖｃｏｍ 共通電圧
Ｖｏｎ ゲートオン電圧
Ｖｏｆｆ ゲートオフ電圧
【技術分野】
【０００１】
本発明は、表示装置及びその検査方法に関し、特に、感知素子を内蔵する表示装置の不良率及び製造費用を減少させることのできる表示装置及びその検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
表示装置のうちの代表格である液晶表示装置（ｌｉｑｕｉｄ ｃｒｙｓｔａｌ ｄｉｓｐｌａｙ：ＬＣＤ）は、画素電極及び共通電極が形成されている二つの表示板、及びその間に挿入されている誘電率異方性（ｄｉｅｌｅｃｔｒｉｃ ａｎｉｓｏｔｒｏｐｙ）を有する液晶層を含む。
画素電極は、行列形態に配列されていて、薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）などのスイッチング素子に連結されて、一行ずつ順次にデータ電圧の印加を受ける。共通電極は、表示板の全面に形成されていて、共通電圧の印加を受ける。画素電極、共通電極、及びその間の液晶層は、回路的に見る時、液晶キャパシタを構成し、液晶キャパシタはこれに連結されているスイッチング素子と共に、画素を構成する基本単位となる。
このような液晶表示装置では、二つの電極に電圧を印加して液晶層に電界を生成し、この電界の強さを調節して液晶層を通過する光の透過率を調節することによって、所望の画像を表示する。
【０００３】
タッチスクリーンパネル（ｔｏｕｃｈ ｓｃｒｅｅｎ ｐａｎｅｌ）は、画面上に指またはタッチペン（ｔｏｕｃｈ ｐｅｎ、ｓｔｙｌｕｓ）などを接触させて文字や絵を書いたりアイコンを実行させて、コンピュータなどの機械に所望の命令を行わせる装置である。タッチスクリーンパネルが付着された液晶表示装置は、使用者の指またはタッチペンなどの画面への接触有無及び接触位置情報を判断することができる。しかし、このような液晶表示装置は、タッチスクリーンパネルの付着によって、原価の上昇、タッチスクリーンパネルを液晶表示板組立体に付着する工程の追加による収率の減少、液晶表示板組立体の輝度の低下、製品の厚さの増加などの問題がある。
【０００４】
したがって、このような問題を解決するために、タッチスクリーンパネルの代りに感知素子を液晶表示装置に内蔵する技術が開発されてきている。感知素子は、使用者の指などが画面に加える光または圧力の変化を感知することによって、液晶表示装置が使用者の指などの画面への接触有無及び接触位置情報を判断することができるようにする。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
一方、このような液晶表示装置に内蔵された感知素子の動作を検査するために、ＶＩ（ｖｉｓｕａｌ ｉｎｓｐｅｃｔｉｏｎ）検査が行われる。しかし、感知素子に連結されて感知信号を出力する感知信号出力部に対する検査が製造工程中に行われないため、液晶表示装置の不良率が増加して、製造費用が増加する問題が発生する。
【０００６】
そこで、本発明は上記従来の表示装置における問題点に鑑みてなされたものであって、本発明の目的は、感知素子を内蔵する表示装置の不良率及び製造費用を減少させることのできる表示装置及びその検査方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するためになされた本発明による表示装置は、複数の第１表示信号線と、前記第１表示信号線と交差する複数の第２表示信号線と、前記第１表示信号線のうちの一つ及び前記第２表示信号線のうちの一つに各々連結される複数の画素と、所定の個数の隣接する画素行（以下、画素行の集合と称す）ごとに一つずつ形成され、前記第１表示信号線と平行な複数の第１感知信号線と、所定の個数の隣接する画素列（以下、画素列の集合と称す）ごとに一つずつ形成され、前記第２表示信号線と平行な複数の第２感知信号線と、前記第１感知信号線に各々連結される複数の第１感知信号出力部と、前記第２感知信号線に各々連結される複数の第２感知信号出力部と、前記複数の第１表示信号線に各々連結される複数の第１検査用スイッチング素子と、前記複数の第２表示信号線に各々連結される複数の第２検査用スイッチング素子と、前記複数の第１検査用スイッチング素子に外部からの感知信号を伝達する第１検査線と、前記第１検査線に連結され、前記複数の第２検査用スイッチング素子に前記感知信号を伝達する第２検査線とを有し、同一の前記画素行の集合に含まれる第１表示信号線に連結される第１検査用スイッチング素子は、同一の第１感知信号出力部に連結され、同一の前記画素列の集合に含まれる第２表示信号線に連結される第２検査用スイッチング素子は、同一の第２感知信号出力部に連結されることを特徴とする。
【０００８】
前記第１検査線は、外部から前記検査信号の伝達を受ける検査パッドを含むのが好ましい。
前記検査パッドに連結され、駆動電圧を伝達する信号線と、該信号線に連結される第１出力パッドをさらに有するのが好ましい。
前記第２表示信号線、前記第１及び第２感知信号線に各々電気的に連結される駆動チップをさらに有するのが好ましい。
前記第１出力パッドは、前記駆動チップに連結され、前記駆動電圧は、前記第１及び第２検査用スイッチング素子をターンオフさせるのが好ましい。
前記第１及び第２表示信号線と、前記画素とから離隔し、前記第２表示信号線に検査信号を伝達する少なくとも一つの第３検査線をさらに有し、前記第３検査線は、前記検査信号の伝達を受ける検査パッドを含むのが好ましい。
前記少なくとも一つの第３検査線は、二つ以上の第３検査線を含み、各第３検査線は、前記第２表示信号線に交互に連結されているのが好ましい。
前記第２表示信号線及び前記第３検査線の連結を切る切断線をさらに有するのが好ましい。
前記第２表示信号線に各々電気的に連結される第１駆動チップと、前記第１及び第２感知信号線に各々電気的に連結される第２駆動チップをさらに有するのが好ましい。、
前記駆動電圧を伝達して、前記第１検査線に連結される第２出力パッドをさらに有するのが好ましい。
前記第２出力パッドは、前記第２駆動チップに連結され、前記駆動電圧は、前記第１及び第２検査用スイッチング素子をターンオフさせるのが好ましい。
前記第１及び第２表示信号線と、前記画素とから離隔し、前記第２表示信号線に検査信号を伝達するための少なくとも一つの第３検査線をさらに有し、前記第３検査線は、前記検査信号の伝達を受ける検査パッドを含むのが好ましい。
前記少なくとも一つの第３検査線は、二つ以上の検査線を含み、各検査線は、前記第２表示信号線に交互に連結されているのが好ましい。
前記第２表示信号線及び前記第３検査線の連結を切る切断線をさらに有するのが好ましい。
前記第１及び第２感知信号出力部の各々は、第１リセット電圧及び第１リセット制御信号が印加される第１リセットトランジスタと、該第１リセットトランジスタ及び第１または第２検査用スイッチング素子に連結される出力トランジスタと、前記第２リセット電圧及び第２リセット制御信号が印加され、前記出力トランジスタに連結される第２リセットトランジスタを含むのが好ましい。
【０００９】
上記目的を達成するためになされた本発明による表示装置の検査方法は、複数の第１表示信号線と、複数の第２表示信号線と、前記第１表示信号線及び前記第２表示信号線に連結される複数の画素と、所定の個数の隣接する画素行ごとに一つずつ形成される複数の第１感知信号線と、所定の個数の隣接する画素列ごとに一つずつ形成される複数の第２感知信号線と、前記第１感知信号線に連結される複数の第１感知信号出力部と、前記第２感知信号線に連結される複数の第２感知信号出力部と、前記複数の第１表示信号線に連結される複数の第１検査用スイッチング素子と、前記複数の第２表示信号線に連結される複数の第２検査用スイッチング素子と、前記複数の第１検査用スイッチング素子に外部からの感知信号を伝達する第１検査線と、前記第１検査線に連結され、前記複数の第２検査用スイッチング素子に前記感知信号を伝達する第２検査線とを有し、前記第１及び第２感知信号出力部の各々は、第１リセットトランジスタと、該第１リセットトランジスタに連結される出力トランジスタと、該出力トランジスタに連結される第２リセットトランジスタとを含む表示装置の検査方法であって、前記第１リセットトランジスタ及び出力トランジスタを駆動させる段階と、前記第１及び第２検査線に検査信号を印加して、前記出力トランジスタを通じて伝達される信号が前記第１及び第２検査用スイッチング素子を通じて前記第１表示信号線及び前記第２表示信号線に印加されて、前記画素を動作させる段階と、前記第１リセットトランジスタの駆動を中止させる段階と、前記第２リセットトランジスタを駆動させる段階と、前記第１及び第２検査線に検査信号を印加して、前記出力トランジスタを通じて伝達される信号が前記第１及び第２検査用スイッチング素子を通じて前記第１表示信号線及び前記第２表示信号線に印加されて、前記画素を動作させる段階とを有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明に係る表示装置及びその検査方法によれば、検査用スイッチング素子を形成して、駆動ＩＣが実装される前に感知信号を出力する感知信号出力部の状態をＶＩ検査する。これによって、高価な駆動ＩＣが装着される前に感知信号出力部の状態を検査するので、完成した表示装置の不良率が減少して、製造費用が減少するという効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
次に、本発明に係る表示装置及びその検査方法を実施するための最良の形態の具体例を図面を参照しながら説明する。
【００１２】
図面では、各層及び領域を明確に表現するために、厚さを拡大して示した。明細書全体を通して類似した部分については、同一の図面符号を付けた。層、膜、領域、板などの部分が他の部分の“上”にあるとする時、これは他の部分の“真上”にある場合だけでなく、その中間に他の部分がある場合も意味する。反対に、ある部分が他の部分の“真上”にあるとする時、これはその中間に他の部分がない場合を意味する。
【００１３】
本発明による表示装置の一実施形態である液晶表示装置について、図１〜図５を参照して詳細に説明する。
図１は本発明の一実施形態による液晶表示装置の概略ブロック図であって、画素の観点で示した図面であり、図２は本発明の一実施形態による液晶表示装置の一つの画素に対する等価回路図である。図３は本発明の一実施形態による液晶表示装置の概略ブロック図であって、感知部の観点で示した図面であり、図４は本発明の一実施形態による液晶表示装置の一つの感知部に対する等価回路図である。図５は本発明の一実施形態による感知信号出力部の回路図である。図６は、本発明の一実施形態による液晶表示装置の概略図である。
【００１４】
図１及び図３を参照すると、本発明の一実施形態による液晶表示装置は、液晶表示板組立体（ｌｉｑｕｉｄ ｃｒｙｓｔａｌ ｐａｎｅｌ ａｓｓｅｍｂｌｙ）３００、これに連結されている画像走査部４００、画像データ駆動部５００、感知信号処理部８００、画像データ駆動部５００に連結されている階調電圧生成部５５０、感知信号処理部８００に連結されている接触判断部７００、そしてこれらを制御する信号制御部６００を含む。
【００１５】
図１〜図５を参照すると、液晶表示板組立体３００は、複数の表示信号線（Ｇ１−Ｇｎ、Ｄ１−Ｄｍ）、これに連結されていて、ほぼ行列形態に配列された複数の画素（ＰＸ）、そして複数の感知信号線（ＳＹ１−ＳＹＮ、ＳＸ１−ＳＸＭ、ＲＬ）、これに連結されていて、ほぼ行列形態に配列された複数の感知部（ＳＵ）、各感知信号線（ＳＹ１−ＳＹＮ、ＳＸ１−ＳＸＭ）に連結されている複数の感知信号出力部（ＳＯＵＴ）、そして各感知信号出力部（ＳＯＵＴ）に連結されている複数の出力データ線（ＯＹ１−ＯＹＮ、ＯＸ１−ＯＸＭ）を含む。
【００１６】
図２及び図６を参照すると、液晶表示板組立体３００は、互いに対向する薄膜トランジスタ表示板１００及び共通電極表示板２００、その間に挿入されている液晶層３、そして二つの表示板（１００、２００）の間に間隙を形成して、ある程度圧縮変形される間隔材（図示せず）を含む。
【００１７】
表示信号線（Ｇ１−Ｇｎ、Ｄ１−Ｄｍ）は、画像走査信号を伝達する複数の画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）及び画像データ信号を伝達する画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）を含み、感知信号線（ＳＹ１−ＳＹＮ、ＳＸ１−ＳＸＭ、ＲＬ）は、感知信号を伝達する複数の横感知信号線（ＳＹ１−ＳＹＮ）及び複数の縦感知信号線（ＳＸ１−ＳＸＭ）、そして基準電圧を伝達する複数の基準電圧線（ＲＬ）を含む。基準電圧線（ＲＬ）は、必要に応じて省略することができる。
【００１８】
画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）及び横感知信号線（ＳＹ１−ＳＹＮ）は、ほぼ行方向にのびていて、互いにほぼ平行であり、画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）及び縦感知信号線（ＳＸ１−ＳＸＭ）は、ほぼ列方向にのびていて、互いにほぼ平行である。基準電圧線（ＲＬ）は、行または列方向にのびている。
【００１９】
各画素（ＰＸ）は、表示信号線（Ｇ１−Ｇｎ、Ｄ１−Ｄｍ）に連結されているスイッチング素子（Ｑ）、これに連結されている液晶キャパシタ（ｌｉｑｕｉｄ ｃｒｙｓｔａｌ ｃａｐａｃｉｔｏｒ）（Ｃｌｃ）及びストレージキャパシタ（ｓｔｏｒａｇｅ ｃａｐａｃｉｔｏｒ）（Ｃｓｔ）を含む。ストレージキャパシタ（Ｃｓｔ）は、必要に応じて省略することができる。
【００２０】
スイッチング素子（Ｑ）は、薄膜トランジスタ表示板１００に形成されている薄膜トランジスタなどの三端子素子であって、その制御端子は画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）に連結されており、入力端子は画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）に連結されており、出力端子は液晶キャパシタ（Ｃｌｃ）及びストレージキャパシタ（Ｃｓｔ）に連結されている。この時、薄膜トランジスタは、非晶質シリコン（ａｍｏｒｐｈｏｕｓ ｓｉｌｉｃｏｎ）または多結晶シリコン（ｐｏｌｙ ｃｒｙｓｔａｌｌｉｎｅ ｓｉｌｉｃｏｎ）を含む。
【００２１】
液晶キャパシタ（Ｃｌｃ）は、薄膜トランジスタ表示板１００の画素電極１９１及び共通電極表示板２００の共通電極２７０を二つの端子とし、二つの電極（１９１、２７０）の間の液晶層３は誘電体として機能する。画素電極１９１は、スイッチング素子（Ｑ）に連結されており、共通電極２７０は、共通電極表示板２００の全面に形成されていて、共通電圧（Ｖｃｏｍ）の印加を受ける。図２とは異なって、共通電極２７０が薄膜トランジスタ表示板１００に形成される場合もあり、この時には、二つの電極（１９１、２７０）のうちの少なくとも一つが線形状または棒形状に形成される。
【００２２】
液晶キャパシタ（Ｃｌｃ）の補助的な役割を果たすストレージキャパシタ（Ｃｓｔ）は、薄膜トランジスタ表示板１００に形成されている別個の信号線（図示せず）及び画素電極１９１が絶縁体を間において重畳して構成され、この別個の信号線には、共通電圧（Ｖｃｏｍ）などの決められた電圧が印加される。しかし、ストレージキャパシタ（ＣＳＴ）は、画素電極１９１及びその真上の前段画像走査線が絶縁体を間において重畳して構成することもできる。
【００２３】
一方、色表示を実現するためには、各画素（ＰＸ）が基本色（ｐｒｉｍａｒｙ ｃｏｌｏｒ）のうちの一つを固有に表示したり（空間分割）、各画素（ＰＸ）が時間によって交互に基本色を表示するようにして（時間分割）、これら基本色の空間的、時間的合計によって所望の色相が認識されるようにする。基本色の例としては、赤色、緑色、青色などの三原色がある。図２は空間分割の一例として、各画素（ＰＸ）が、画素電極１９１に対応する共通電極表示板２００の領域に基本色のうちの一つを表示する色フィルタ２３０が形成されていることを示している。図２とは異なって、色フィルタ２３０は、薄膜トランジスタ表示板１００の画素電極１９１上または下に形成することもできる。
液晶表示板組立体３００の外側面には、光を偏光させる少なくとも一つの偏光子（図示せず）が付着されている。
【００２４】
図４に示すように、感知部（ＳＵ）は、図面符号ＳＬで示した横または縦感知信号線（以下、感知信号線とする）に連結されている可変キャパシタ（Ｃｖ）、及び感知信号線（ＳＬ）及び基準電圧線（ＲＬ）の間に連結されている基準キャパシタ（Ｃｐ）を含む。
【００２５】
基準キャパシタ（Ｃｐ）は、薄膜トランジスタ表示板１００の基準電圧線（ＲＬ）及び感知信号線（ＳＬ）が絶縁体（図示せず）を間において重畳して構成される。
可変キャパシタ（Ｃｖ）は、薄膜トランジスタ表示板１００の感知信号線（ＳＬ）及び共通電極表示板２００の共通電極２７０を二つの端子とし、二つの端子の間の液晶層３は誘電体として機能する。可変キャパシタ（Ｃｖ）の静電容量（ｃａｐａｃｉｔａｎｃｅ）は、液晶表示板組立体３００に加えられる使用者の接触（ｔｏｕｃｈ）などの外部刺激によって値が変化する。
【００２６】
このような外部刺激としては、圧力を例にあげることができ、共通電極表示板２００に圧力が加えられると、間隔材が圧縮変形されて二つの端子の間の距離が変化して、可変キャパシタ（Ｃｖ）の静電容量が変化する。静電容量が変化すると、静電容量の大きさに依存する、基準キャパシタ（Ｃｐ）及び可変キャパシタ（Ｃｖ）の間の接続点電圧（Ｖｎ）の大きさが変化する。接続点電圧（Ｖｎ）は、感知信号として感知信号線（ＳＬ）を通じて流れ、これに基づいて接触有無を判断することができる。この時、基準キャパシタ（Ｃｐ）は静電容量が固定されていて、基準キャパシタ（Ｃｐ）に印加される基準電圧は電圧値が一定であるので、接続点電圧（Ｖｎ）は一定の範囲で変化する。したがって、感知信号が常に一定の範囲の電圧レベルであるので、接触有無及び接触位置を容易に判断することができる。
【００２７】
感知部（ＳＵ）は、隣接する二つの画素（ＰＸ）の間に配置される。横及び縦感知信号線（ＳＹ１−ＳＹＮ、ＳＸ１−ＳＸＭ）に各々連結されていて（図３参照）、これらが交差する領域に隣接して配置されている一対の感知部（ＳＵ）の密度は、例えばドット（ｄｏｔ）の密度の約１／４である。ここで、一つのドットは、例えば平行に配列されていて、赤色、緑色、青色などの三原色を表示する三つの画素（ＰＸ）を含み、一つの色相を表示して、液晶表示装置の解像度を示す基本単位となる。しかし、一つのドットは、四つ以上の画素（ＰＸ）を含むこともでき、この場合、各画素（ＰＸ）は、三原色及び白色（ｗｈｉｔｅ）のうちの一つを表示することができる。
【００２８】
一対の感知部（ＳＵ）の密度がドットの密度の１／４である例としては、一対の感知部（ＳＵ）の横及び縦解像度が各々液晶表示装置の横及び縦解像度の１／２である場合がある。この場合、感知部（ＳＵ）が配置されていない画素行及び画素列があることもある。
感知部（ＳＵ）の密度及びドットの密度をこの程度に調整すれば、文字認識のように精密度が高い応用分野にも、このような液晶表示装置を適用することができる。もちろん、感知部（ＳＵ）の解像度は、必要に応じてこれより高くても低くてもよい。
このように、本発明の実施形態による感知部（ＳＵ）によれば、感知部（ＳＵ）及び感知信号線（ＳＬ）が占める空間が相対的に小さいので、画素（ＰＸ）の開口率の減少を最少化することができる。
【００２９】
複数の感知信号出力部（ＳＯＵＴ）は、全て同一の構造からなる。図５を参照して、任意の一つの感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の構造について説明する。
図５では、任意の一つの感知信号線（ＳＬ）（図３では、ＳＹ１−ＳＹＮ、ＳＸ１−ＳＸＭ）に連結されている感知部（ＳＵ）は、説明の便宜のために一つだけ示したが、実際には複数の感知部が連結されている。
図５に示すように、感知信号出力部（ＳＯＵＴ）は、第１及び第２リセットトランジスタ（Ｑｒ１、Ｑｒ２）及び出力トランジスタ（Ｑｓ）を含む。これらトランジスタ（Ｑｒ１、Ｑｒ２、Ｑｓ）は、薄膜トランジスタなどの三端子素子である。
【００３０】
第１リセットトランジスタ（Ｑｒ１）の制御端子はリセット制御信号（ＲＳＴ１）に連結されており、入力端子はリセット電圧（Ｖｒ１）に連結されており、出力端子は感知信号線（ＳＬ）に連結されている。第２リセットトランジスタ（Ｑｒ２）の制御端子はリセット制御信号（ＲＳＴ２）に連結されており、入力端子はリセット電圧（Ｖｒ２）に連結されており、出力端子は感知信号線（ＳＬ）に連結されている。
また、出力トランジスタ（Ｑｓ）の制御端子は感知信号線（ＳＬ）に連結されており、入力端子は入力電圧（ＶＤＤ）に連結されており、出力端子は出力データ線（ＯＬ）（図３ではＯＹ１−ＯＹＮ、ＯＸ１−ＯＸＭ）に連結されている。
【００３１】
出力データ線（ＯＹ１−ＯＹＮ、ＯＸ１−ＯＸＭ）は、該当感知信号出力部（ＳＯＵＴ）を通じて横及び縦感知信号線（ＳＹ１−ＳＹＮ、ＳＸ１−ＳＸＭ）に各々連結されている複数の横及び縦出力データ線（ＯＹ１−ＯＹＮ、ＯＸ１−ＯＸＭ）を含む（図３参照）。出力データ線（ＯＹ１−ＯＹＮ、ＯＸ１−ＯＸＭ）は、感知信号処理部８００に連結されていて、感知信号出力部（ＳＯＵＴ）からの出力信号を感知信号処理部８００に伝達する。横及び縦出力データ線（ＯＹ１−ＯＹＮ、ＯＸ１−ＯＸＭ）は、ほぼ列方向にのびていて、互いにほぼ平行である。
【００３２】
再び図１及び図３を参照すると、階調電圧生成部５５０は、画素の透過率に関する二組の階調電圧の集合（または基準階調電圧の集合）を生成する。二組のうちの一組は共通電圧（Ｖｃｏｍ）に対して正の値を有し、他の一組は負の値を有する。
画像走査部４００は、液晶表示板組立体３００の画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）に連結されていて、スイッチング素子（Ｑ）をターンオンさせるゲートオン電圧（Ｖｏｎ）及びターンオフさせるゲートオフ電圧（Ｖｏｆｆ）の組み合わせからなる画像走査信号を画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）に印加する。
【００３３】
画像データ駆動部５００は、液晶表示板組立体３００の画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）に連結されていて、階調電圧生成部５５０からの階調電圧を選択して、これを画像データ信号として画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）に印加する。しかし、階調電圧生成部５５０が全ての階調に対する電圧を提供せずに決められた数の基準階調電圧のみを提供する場合に、画像データ駆動部５００は、基準階調電圧を分圧して全ての階調に対する階調電圧を生成して、この中から画像データ信号を選択する。
【００３４】
感知信号処理部８００は、液晶表示板組立体３００の出力データ線（ＯＹ１−ＯＹＮ、ＯＸ１−ＯＸＭ）に連結されていて、出力データ線（ＯＹ１−ＯＹＮ、ＯＸ１−ＯＸＭ）を通じて出力信号の伝達を受けて、増幅などの信号処理を行ってアナログ感知信号を生成した後、アナログ−デジタル変換器（図示せず）などを利用してデジタル信号に変換して、デジタル感知信号（ＤＳＮ）を生成する。
【００３５】
接触判断部７００は、感知信号処理部８００からデジタル感知信号（ＤＳＮ）の印加を受けて、所定の演算処理を行って接触有無及び接触位置を判断した後、接触情報（ＩＮＦ）を外部装置に出力する。接触判断部７００は、デジタル感知信号（ＤＳＮ）に基づいて感知部（ＳＵ）の動作状態を監視して、これらに印加される信号を制御することができる。
【００３６】
信号制御部６００は、画像走査部４００、画像データ駆動部５００、階調電圧生成部５５０、そして感知信号処理部８００などの動作を制御する。
【００３７】
このような駆動装置（４００、５００、５５０、６００、７００、８００）の各々は、少なくとも一つの集積回路チップの形態で液晶表示板組立体３００上に直接装着されたり、可撓性印刷回路膜（ｆｌｅｘｉｂｌｅ ｐｒｉｎｔｅｄ ｃｉｒｃｕｉｔ ｆｉｌｍ）（図示せず）上に装着されてＴＣＰ（ｔａｐｅ ｃａｒｒｉｅｒ ｐａｃｋａｇｅ）の形態で液晶表示板組立体３００に付着されたり、別途の印刷回路基板（ｐｒｉｎｔｅｄ ｃｉｒｃｕｉｔ ｂｏａｒｄ）（図示せず）上に装着することもできる。これとは異なって、これら駆動装置（４００、５００、５５０、６００、７００、８００）は、信号線（Ｇ１−Ｇｎ、Ｄ１−Ｄｍ、ＳＹ１−ＳＹＮ、ＳＸ１−ＳＸＭ、ＯＹ１−ＯＹＮ、ＯＸ１−ＯＸＭ、ＲＬ）及び薄膜トランジスタ（Ｑ）などと共に、液晶表示板組立体３００に集積することもできる。
【００３８】
図６を参照すると、液晶表示板組立体３００は、表示領域（Ｐ１）、周縁領域（Ｐ２）、及び露出領域（Ｐ３）に分れている。表示領域（Ｐ１）には、画素（ＰＸ）、感知部（ＳＵ）及び信号線（Ｇ１−Ｇｎ、Ｄ１−Ｄｍ、ＳＹ１−ＳＹＮ、ＳＸ１−ＳＸＭ、ＲＬ）などが形成されている。共通電極表示板２００は、ブラックマトリックスのような遮光部材（図示せず）を含み、遮光部材は、周縁領域（Ｐ２）の大部分を覆って外部からの光を遮断し、周縁領域（Ｐ２）には、感知信号出力部（ＳＯＵＴ）及び出力データ線（ＯＹ１−ＯＹＮ、ＯＸ１−ＯＸＭ）などが形成されている。
【００３９】
共通電極表示板２００は、薄膜トランジスタ表示板１００より大きさが小さくて、薄膜トランジスタ表示板１００の一部が露出されて露出領域（Ｐ３）を構成し、露出領域（Ｐ３）には、単一チップ６１０が実装されて、ＦＰＣ基板（ｆｌｅｘｉｂｌｅ ｐｒｉｎｔｅｄ ｃｉｒｃｕｉｔ ｂｏａｒｄ）６２０が付着される。
【００４０】
単一チップ６１０は、液晶表示装置を駆動するための駆動装置、つまり画像走査部４００、画像データ駆動部５００、階調電圧生成部５５０、信号制御部６００、接触判断部７００、そして感知信号処理部８００を含む。このような駆動装置（４００、５００、５５０、６００、７００、８００）を単一チップ６１０内に集積することによって、実装面積を減少させることができ、消費電力も低減させることができる。もちろん、必要に応じてこれらのうちの少なくとも一つまたはこれらを構成する少なくとも一つの回路素子が単一チップ６１０外に位置することもある。
【００４１】
表示信号線（Ｇ１−Ｇｎ、Ｄ１−Ｄｍ）及び出力データ線（ＯＹ１−ＯＹＮ、ＯＸ１−ＯＸＭ）は、露出領域（Ｐ３）までのびて、該当駆動装置（４００、５００、８００）に連結されている。
ＦＰＣ基板６２０は、外部装置から信号の伝達を受けて、単一チップ６１０または液晶表示板組立体３００に伝達し、外部装置との接続を容易にするために、端部は通常のコネクタ（図示せず）からなる。
【００４２】
次に、上述の液晶表示装置の表示動作及び感知動作について、より詳細に説明する。
図１及び図３を参照すると、信号制御部６００は、外部装置（図示せず）から入力画像信号（Ｒ、Ｇ、Ｂ）及びその表示を制御する入力制御信号の伝達を受ける。入力画像信号（Ｒ、Ｇ、Ｂ）は、各画素（ＰＸ）の輝度（ｌｕｍｉｎａｎｃｅ）情報を含み、輝度は、決められた数、例えば１０２４（＝２１０）、２５６（＝２８）、または６４（＝２６）個の階調（ｇｒａｙ−ｓｃａｌｅ）を有している。入力制御信号の例としては、垂直同期信号（Ｖｓｙｎｃ）及び水平同期信号（Ｈｓｙｎｃ）、メインクロック（ＭＣＬＫ）、データイネーブル信号（ＤＥ）などがある。
【００４３】
信号制御部６００は、入力画像信号（Ｒ、Ｇ、Ｂ）及び入力制御信号に基づいて入力画像信号（Ｒ、Ｇ、Ｂ）を液晶表示板組立体３００及び画像データ駆動部５００の動作条件に合うように適切に処理を行って、画像走査制御信号（ＣＯＮＴ１）、画像データ制御信号（ＣＯＮＴ２）、及び感知データ制御信号（ＣＯＮＴ３）などを生成した後、画像走査制御信号（ＣＯＮＴ１）を画像走査部４００に出力し、画像データ制御信号（ＣＯＮＴ２）及び処理した画像データ信号（ＤＡＴ）を画像データ駆動部５００に出力し、感知データ制御信号（ＣＯＮＴ３）を感知信号処理部８００に出力する。
【００４４】
画像走査制御信号（ＣＯＮＴ１）は、走査の開始を指示する走査開始信号（ＳＴＶ）、及びゲートオン電圧（Ｖｏｎ）の出力を制御する少なくとも一つのクロック信号を含む。画像走査制御信号（ＣＯＮＴ１）は、また、ゲートオン電圧（Ｖｏｎ）の持続時間を限定する出力イネーブル信号（ＯＥ）をさらに含むことができる。
【００４５】
画像データ制御信号（ＣＯＮＴ２）は、一つの画素行の画像データ信号（ＤＡＴ）の伝送開始を知らせる水平同期開始信号（ＳＴＨ）、画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）に画像データ信号の印加を指示するロード信号（ＬＯＡＤ）、及びデータクロック信号（ＨＣＬＫ）を含む。画像データ制御信号（ＣＯＮＴ２）は、また、共通電圧（Ｖｃｏｍ）に対する画像データ信号の電圧極性（以下、「共通電圧に対する画像データ信号の電圧極性」を略して「画像データ信号の極性」とする）を反転させる反転信号（ＲＶＳ）をさらに含むことができる。
【００４６】
信号制御部６００からの画像データ制御信号（ＣＯＮＴ２）によって、画像データ駆動部５００は、一つの画素行の画素（ＰＸ）に対するデジタル画像データ信号（ＤＡＴ）の伝達を受けて、各デジタル画像データ信号（ＤＡＴ）に対応する階調電圧を選択することによって、デジタル画像データ信号（ＤＡＴ）をアナログ画像データ信号に変換した後、これを該当画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）に印加する。
【００４７】
画像走査部４００は、信号制御部６００からの画像走査制御信号（ＣＯＮＴ１）によって、ゲートオン電圧（Ｖｏｎ）を画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）に印加して、この画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）に連結されているスイッチング素子（Ｑ）をターンオンさせる。そうすると、画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）に印加された画像データ信号がターンオンされたスイッチング素子（Ｑ）を通じて該当画素（ＰＸ）に印加される。
【００４８】
画素（ＰＸ）に印加された画像データ信号の電圧と共通電圧（Ｖｃｏｍ）との差は、液晶キャパシタ（Ｃｌｃ）の充電電圧、つまり画素電圧として現れる。液晶分子は、画素電圧の大きさによってその配向が異なり、それによって液晶層３を通過する光の偏光が変化する。このような偏光の変化は、液晶表示板組立体３００に付着された偏光子によって光の透過率の変化として現れて、これを通じて所望の画像を表示することができる。
【００４９】
１水平周期［１Ｈともいい、水平同期信号（Ｈｓｙｎｃ）及びデータイネーブル信号（ＤＥ）の一周期と同一である］を単位にしてこのような過程を繰返すことによって、全ての画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）に対して順次にゲートオン電圧（Ｖｏｎ）を印加し、全ての画素（ＰＸ）に画像データ信号を印加して、１フレーム（ｆｒａｍｅ）の画像を表示する。
１フレームが終わると次のフレームが始まって、各画素（ＰＸ）に印加される画像データ信号の極性が直前のフレームで画素に印加される画像データ信号の極性と反対になるように、画像データ駆動部５００に印加される反転信号（ＲＶＳ）の状態が制御される（フレーム反転）。この時、１フレーム内でも、反転信号（ＲＶＳ）の特性によって、一つの画像データ線を通じて流れる画像データ信号の極性が反転したり（例：行反転、点反転）、一つの画素行に印加される画像データ信号の極性が互いに反転することがある（例：列反転、点反転）。
【００５０】
感知信号処理部８００は、感知データ制御信号（ＣＯＮＴ３）によって、毎フレームごとに１度ずつフレーム及びフレームの間のポーチ（ｐｏｒｃｈ）区間で出力データ線（ＯＹ１−ＯＹＮ、ＯＸ１−ＯＸＭ）を通じて印加される感知信号を読取る。ポーチ区間では、感知信号が画像走査部４００及び画像データ駆動部５００などからの駆動信号の影響をあまり受けないので、感知信号の信頼度が高まる。しかし、このような読取り動作は、毎フレームごとに必ず行われる必要はなく、必要に応じて複数のフレームごとに１度ずつ行うこともできる。また、ポーチ区間内で２度以上の読取り動作を行うこともできる。
【００５１】
感知信号処理部８００による感知信号の読取り区間になると、感知信号出力部（ＳＯＵＴ）は、感知信号線（ＳＹ１−ＳＹＮ、ＳＸ１−ＳＸＭ）からの感知信号を出力データ線（ＯＹ１−ＯＹＮ、ＯＸ１−ＯＸＭ）に伝達する。
【００５２】
次に、上述の感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の動作を図７を参照して説明する。
図７は本発明の一実施形態による感知信号出力部の動作タイミング図面である。
図７に示すように、本実施形態による液晶表示装置は、上述と同様に、フレーム及びフレームの間のポーチ区間で感知動作を行い、特に垂直同期信号（Ｖｓｙｎｃ）より先のフロントポーチ（ｆｒｏｎｔ ｐｏｒｃｈ）区間で感知動作を行うのが好ましい。
【００５３】
共通電圧（Ｖｃｏｍ）は、高レベル及び低レベルを有して、１Ｈごとに高レベル及び低レベルをスウィングする。
第１及び第２リセット制御信号（ＲＳＴ１、ＲＳＴ２）は、第１及び第２リセットトランジスタ（Ｑｒ１、Ｑｒ２）を各々ターンオンさせるターンオン電圧（Ｔｏｎ）及びターンオフさせるターンオフ電圧（Ｔｏｆｆ）を含む。ターンオン電圧（Ｔｏｎ）は、ゲートオン電圧（Ｖｏｎ）を使用することができ、ターンオフ電圧（Ｔｏｆｆ）は、ゲートオフ電圧（Ｖｏｆｆ）を使用することができる。第１リセット制御信号（ＲＳＴ１）のターンオン電圧（Ｔｏｎ）は、共通電圧（Ｖｃｏｍ）が高レベルである時に印加される。
【００５４】
各感知信号線（ＳＬ）（図３では、ＳＹ１−ＳＹＮ、ＳＸ１−ＳＸＭ）を通じて流れる感知信号の読取り動作が始まれば、まず、第１リセットトランジスタ（Ｑｒ１）の制御端子にターンオン電圧（Ｔｏｎ）が印加され、第１リセットトランジスタ（Ｑｒ１）をターンオンさせる。これによって、第１リセットトランジスタ（Ｑｒ１）の入力端子に印加されるリセット電圧（Ｖｒ１）を感知信号線（ＳＬ）に印加して、リセット電圧（Ｖｒ１）で感知信号線（ＳＬ）を初期化する。
【００５５】
このように、感知信号線（ＳＬ）の初期化動作が終われば、感知信号出力部（ＳＯＵＴ）は、該当感知信号線（ＳＬ）から伝達される感知信号を出力する。
したがって、初期化動作が終わって第１リセット制御信号（ＲＳＴ１）がターンオフ電圧（Ｔｏｆｆ）になると、感知信号線（ＳＬ）はフローティング状態になり、感知部（ＳＵ）への接触有無による可変キャパシタ（Ｃｖ）の静電容量の変化及び共通電圧（Ｖｃｏｍ）の変化に基づいて、出力トランジスタ（Ｑｓ）の制御端子に印加される電圧が変化する。このような電圧の変化によって、出力トランジスタ（Ｑｓ）を流れる感知信号の電流が変化して、出力データ線（ＯＬ）（図３で、ＯＹ１−ＯＹＮ、ＯＸ１−ＯＸＭ）を通じて感知信号を出力する。
【００５６】
したがって、感知信号処理部８００は、各感知信号線（ＳＬ）を通じて印加される感知信号を読取る。この時、感知信号を読取る時間は、第１リセット制御信号（ＲＳＴ１）がターンオフ電圧（Ｔｏｆｆ）になってから１Ｈ時間以内に設定するのが好ましい。つまり、共通電圧（Ｖｃｏｍ）が再び高レベルに変化する前に感知信号を読取るのが好ましい。これは、共通電圧（Ｖｃｏｍ）のレベルの変化によって感知信号も変化するためである。
感知信号がリセット電圧（Ｖｒ１）を基準に変化するので、感知信号が常に一定の範囲の電圧レベルを有することができ、それによって接触有無及び接触位置を容易に判断することができる。
【００５７】
感知信号処理部８００が感知信号を読取った後、第２リセット制御信号（ＲＳＴ２）はターンオン電圧（Ｔｏｎ）になって、第２リセットトランジスタ（Ｑｒ２）をターンオンさせる。そうすると、第２リセット電圧（Ｖｒ２）が感知信号線（ＳＬ）に印加される。この時、第２リセット電圧（Ｖｒ２）は接地電圧（ＧＮＤ）であるので、感知信号線（ＳＬ）は接地電圧でリセットされる。第２リセット電圧（Ｖｒ２）は、第１リセット電圧（Ｖｒ１）が感知信号線（ＳＬ）に印加されるまで維持される。それによって、次の第１リセット電圧（Ｖｒ１）が印加されるまで、出力トランジスタ（Ｑｓ）はターンオフされた状態が維持されて、不必要な動作による電力の消耗を減少させる。
【００５８】
第１リセット制御信号（ＲＳＴ１）のターンオン電圧（Ｔｏｎ）は、共通電圧（Ｖｃｏｍ）が低レベルである時に印加され、この時、共通電圧（Ｖｃｏｍ）が高レベルに変化してから再び低レベルになる前に感知信号を読取る。また、第１リセット制御信号（ＲＳＴ１）を最後の画像走査線（Ｇｎ）に印加される画像走査信号に同期させることもできる。
第２リセット制御信号（ＲＳＴ２）は、感知信号を読取ってからすぐ次の１Ｈ区間でターンオン電圧（Ｔｏｎ）になることもでき、その後の１Ｈ区間でターンオン電圧（Ｔｏｎ）になることもできる。
【００５９】
このように、アナログ感知信号を読取った感知信号処理部８００は、感知信号に対して各増幅部（図示せず）などを利用して増幅などの信号処理を行った後、デジタル感知信号（ＤＳＮ）に変換して、接触判断部７００に出力する。
接触判断部７００は、デジタル感知信号（ＤＳＮ）の印加を受けて、適切な演算処理を行って、接触有無及び接触位置を判断して、これを外部装置に伝送し、外部装置は、これに基づいた画像信号（Ｒ、Ｇ、Ｂ）を液晶表示装置に伝送する。
【００６０】
次に、上述のような過程を通じて表示動作及び感知動作を行う液晶表示装置において、感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の状態を検査するＶＩ検査の方法について説明する。
まず、図８を参照して、感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の状態を検査するための液晶表示板組立体の構造について説明する。
図８は本発明の一実施形態による感知信号出力部の状態を検査するための複数の検査用スイッチング素子、複数の検査線、及び検査パッドが形成された液晶表示板組立体の概略的なブロック配置図である。
【００６１】
図８に示すように、感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の状態を検査するために、液晶表示板組立体は、出力データ線（ＯＹ１−ＯＹＮ）及びこれに隣接する画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）の間に入力端子及び出力端子が連結されている複数の検査用スイッチング素子（ＴＹ１−ＴＹＮ）、出力データ線（ＯＸ１−ＯＸＭ）及びこれに隣接する画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）の間に入力端子及び出力端子が連結されている複数の検査用スイッチング素子（ＴＸ１−ＴＸＭ）、単一チップ６１０からのスイッチング素子オフ電圧（Ｖｓｓ）を伝達する信号線（Ｌ１）、信号線（Ｌ１）に連結されている検査パッド（ＩＰ３）、検査パッド（ＩＰ３）及び検査用スイッチング素子（ＴＹ１−ＴＹＮ）の全ての制御端子に連結されている検査線（Ｌ２）、検査用スイッチング素子（ＴＸ１−ＴＸＭ）の全ての制御端子に連結されていて、接触部（Ｃ３）を通じて検査線（Ｌ２）に連結されている検査線（Ｌ３）を含む。
【００６２】
また、単一チップ６１０下には、接触部（Ｃ１）を通じて奇数番目の画像データ線（Ｄ１、Ｄ３）に連結されている検査線（ＩＬ２）、接触部（Ｃ２）を通じて偶数番目の画像データ線（Ｄ２、Ｄ４）に連結されている検査線（ＩＬ１）、検査線（ＩＬ１）に連結されている検査パッド（ＩＰ１）、検査線（ＩＬ２）に連結されている検査パッド（ＩＰ２）、信号線（Ｌ１）に連結されていて、スイッチング素子オフ電圧（Ｖｓｓ）を出力する出力パッド（ＶＰ）、出力データ線（ＯＹ１−ＯＹＮ、ＯＸ１−ＯＸＭ）に各々連結されている入力パッド（ＰＹ１−ＰＹＮ、ＰＸ１−ＰＸＭ）が形成されている。
【００６３】
検査用スイッチング素子（ＴＹ１−ＴＹＮ、ＴＸ１−ＴＸＭ）、信号線（Ｌ１）、検査線（Ｌ２、Ｌ３）、及び検査パッド（ＩＰ３）は、周縁領域（Ｐ２）に形成されている。
【００６４】
次に、感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の状態を検査するＶＩ検査の方法について説明する。
感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の状態を検査する前に、画素（ＰＸ）、画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）、及び画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）の状態を先に検査する。
画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）及び画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）のＶＩ検査は類似しているので、図８を参照して、画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）のＶＩ検査についてのみ説明する。この場合、画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）は全て正常であると仮定する。
【００６５】
液晶表示板組立体を製造した後、検査装置（図示せず）を利用して画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）にゲートオン電圧（Ｖｏｎ）を印加して、相当するスイッチング素子（Ｑ）を全てターンオンさせる。この時、単一チップ６１０は、液晶表示板組立体に実装されていない状態である。
【００６６】
このような状態で、検査装置のプローブを利用して検査パッド（ＩＰ２）に画像データ線検査信号を印加すれば、検査信号は、検査線（ＩＬ２）及び接触部（Ｃ１）を通じて該当画像データ線、つまり奇数番目の画像データ線（Ｄ１、Ｄ３）に伝達される。したがって、ゲートオン電圧（Ｖｏｎ）が供給された画像走査線に連結されている画素は、画像データ線検査信号の電圧値に対応する明るさを有する。検査者は、画面の明るさなどの表示状態を目で確認して、該当画像データ線の断線有無や画素の動作状態などを検査した後、検査信号の供給を中断する。
【００６７】
次に、検査装置のプローブを利用して検査パッド（ＩＰ１）に画像データ線検査信号を印加すれば、検査信号は、検査線（ＩＬ１）及び接触部（Ｃ２）を通じて該当画像データ線、つまり偶数番目の画像データ線（Ｄ２、Ｄ４）に伝達される。検査者は、画面の明るさなどの表示状態を目で確認して、該当信号線の断線有無や画素の動作状態などを検査した後、検査信号の供給を中断する。
【００６８】
全ての画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）に対するＶＩ検査が完了すれば、レーザートリミング（ｌａｓｅｒ ｔｒｉｍｍｉｎｇ）装置などを利用して検査パッド（ＩＰ１、ＩＰ２）及び画像データ線の間に連結されている検査線（ＩＬ１、ＩＬ２）を切断線（Ｌ１１）に沿って切断する。
【００６９】
次に、感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の状態を検査する。
まず、感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の第１リセットトランジスタ（Ｑｒ１）及び出力トランジスタ（Ｑｓ）の状態を感知する動作について説明する。
【００７０】
検査装置（図示せず）を利用して感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の第１リセットトランジスタ（Ｑｒ１）の入力端子及び制御端子、そして出力トランジスタ（Ｑｓ）の入力端子に高レベル電圧、例えばゲートオン電圧（Ｖｏｎ）を印加し、第２リセットトランジスタ（Ｑｒ２）の入力端子及び制御端子に低レベル電圧、例えばゲートオフ電圧（Ｖｏｆｆ）を印加する。これによって、第１リセットトランジスタ（Ｑｒ１）及び出力トランジスタ（Ｑｓ）がターンオンされる（図５参照）。
【００７１】
次に、検査装置を利用して検査パッド（ＩＰ３）に検査用スイッチング素子（ＴＹ１−ＴＹＮ、ＴＸ１−ＴＸＭ）をターンオンさせる検査信号を印加して、検査用スイッチング素子（ＴＹ１−ＴＹＮ、ＴＸ１−ＴＸＭ）をターンオンさせる。
したがって、各感知信号出力部（ＳＯＵＴ）のターンオンされた出力トランジスタ（Ｑｓ）の入力端子に印加されるゲートオン電圧（Ｖｏｎ）が、ターンオンされた各検査用スイッチング素子（ＴＹ１−ＴＹＮ、ＴＸ１−ＴＸＭ）を通じて画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）及び画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）に印加され、スイッチング素子（Ｑ）をターンオンさせるゲートオン電圧（Ｖｏｎ）及びデータ信号として印加されて、画素（ＰＸ）を動作させる。
【００７２】
この時、横感知信号線（ＳＹ１−ＳＹＮ）に連結されている感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の第１リセットトランジスタ（Ｑｒ１）や出力トランジスタ（Ｑｓ）が正常に動作しない場合、該当行の画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）にゲートオン電圧（Ｖｏｎ）が印加されないので、該当行の画素（ＰＸ）は動作しない。また、縦感知信号線（ＳＸ１−ＳＸＮ）に連結されている感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の第１リセットトランジスタ（Ｑｒ１）や出力トランジスタ（Ｑｓ）が正常に動作しない場合、該当列の画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）にゲートオン電圧（Ｖｏｎ）がデータ電圧として印加されないので、他の画素列と異なる輝度状態を示す。
【００７３】
したがって、検査者は、画素の動作有無や画面の明るさなどの表示状態を目で確認して、各感知信号出力部（ＳＯＵＴ）や感知信号線（ＳＹ１−ＳＹＮ、ＳＸ１−ＳＸＭ）などを検査して、第１リセットトランジスタ（Ｑｒ１）、出力トランジスタ（Ｑｓ）、及び検査パッド（ＩＰ３）に印加される検査信号の供給を中断する。
【００７４】
次に、感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の第２リセットトランジスタ（Ｑｒ２）の状態を感知する動作について説明する。
【００７５】
検査装置を利用して第１リセットトランジスタ（Ｑｒ１）の入力端子及び制御端子に低レベル状態であるゲートオフ電圧（Ｖｏｆｆ）を印加し、出力トランジスタ（Ｑｓ）の入力端子に高レベル状態であるゲートオン電圧（Ｖｏｎ）を印加する。また、第２リセットトランジスタ（Ｑｒ２）の入力端子及び制御端子に高レベル状態であるゲートオン電圧（Ｖｏｎ）を印加する。
【００７６】
これによって、第１リセットトランジスタ（Ｑｒ１）はターンオフされ、第２リセットトランジスタ（Ｑｒ２）及び出力トランジスタ（Ｑｓ）はターンオンされる。この時、出力トランジスタ（Ｑｓ）は、既に行われたＶＩ検査で正常であると判断されている。
次に、検査装置を利用して検査パッド（ＩＰ３）に検査用スイッチング素子（ＴＹ１−ＴＹＮ、ＴＸ１−ＴＸＭ）をターンオンさせる検査信号を印加して、検査用スイッチング素子（ＴＹ１−ＴＹＮ、ＴＸ１−ＴＸＭ）をターンオンさせる。
【００７７】
これによって、ターンオンされた検査用スイッチング素子（ＴＹ１−ＴＹＮ、ＴＸ１−ＴＸＭ）を通じて各画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）及び画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）に印加される信号によって、画素（ＰＸ）の動作が決められる。
【００７８】
この時、横感知信号線（ＳＹ１−ＳＹＮ）に連結されている感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の第２リセットトランジスタ（Ｑｒ２）が正常に動作しない場合、出力トランジスタ（Ｑｓ）がターンオンされずに、該当行の画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）にゲートオン電圧（Ｖｏｎ）が印加されないので、該当行の画素（ＰＸ）は動作しない。また、縦感知信号線（ＳＸ１−ＳＸＭ）に連結されている感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の第２リセットトランジスタ（Ｑｒ２）が正常に動作しない場合、該当列の画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）にゲートオン電圧（Ｖｏｎ）がデータ電圧として印加されないので、他の画素列と異なる輝度状態を示す。
【００７９】
したがって、検査者は、画素の動作有無や画面の明るさなどの表示状態を目で確認して、各感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の出力トランジスタ（Ｑｓ）の状態を検査して、感知信号出力部（ＳＯＵＴ）及び検査パッド（ＩＰ３）に印加される検査信号の供給を中断する。
【００８０】
全ての感知信号出力部（ＳＯＵＴ）に対するＶＩ検査が完了すれば、単一チップ６１０が装着され、単一チップ６１０は、出力パッド（ＶＰ）を通じてスイッチング素子オフ電圧（Ｖｓｓ）を出力する。したがって、信号線（Ｌ１）及び検査パッド（ＩＰ３）を通じて検査線（Ｌ２、Ｌ３）にスイッチング素子オフ電圧（Ｖｓｓ）が伝達されて、検査用スイッチング素子（ＴＹ１−ＴＹＮ、ＴＸ１−ＴＸＭ）はターンオフされた状態を維持する。これによって、単一チップ６１０などの制御によって正常に画素が動作する。
【００８１】
次に、図９を参照して、本発明の他の実施形態による感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の状態を検査する方法について説明する。
図９は、本発明の他の実施形態による感知信号出力部の状態を検査するための複数の検査用スイッチング素子、複数の検査線、及び検査パッドが形成された液晶表示板組立体の概略的なブロック配置図である。
【００８２】
図８と比較する時、図９の単一チップ６１０’には、感知信号処理部８００が内蔵されていないで、別個のチップで形成されて、液晶表示板組立体（図示せず）上に実装される。これによって、図９に示すように、各出力データ線（ＯＹ１−ＯＹＮ、ＯＸ１−ＯＸＭ）に連結されている入力パッド（ＰＹ１−ＰＹＮ、ＰＸ１−ＰＸＭ）が感知信号処理部８００に形成される。また、図８と比較する時、図９には、単一チップ６１０’下に形成されて、スイッチング素子オフ電圧（Ｖｓｓ）を検査パッド（ＩＰ３）に出力する出力パッド（ＶＰ１１）以外にも、感知信号処理部８００下に形成されて、スイッチング素子オフ電圧（Ｖｓｓ）を検査線（Ｌ２）に伝達する出力パッド（ＶＰ１２）がさらに形成されている。これらの点を除けば、図８に示した構造と同一であるので、同一の機能を行う構成要素については、図８と同一の図面符号を付け、これらに対する詳細な説明は省略する。
【００８３】
次に、感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の状態を検査するＶＩ検査の方法について説明する。本実施形態による感知信号出力部（ＳＯＵＴ）のＶＩ検査の方法も、図８に示したものと類似している。
【００８４】
上記のように、単一チップ６１０’及び感知信号処理部８００が実装されていない状態で、画素（ＰＸ）、画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）、及び画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）の状態をＶＩ検査した後、レーザートリミング装置などを利用して検査パッド（ＩＰ１、ＩＰ２）及び画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）の間に連結されている検査線（ＩＬ１、ＩＬ２）を切断線（Ｌ１１に沿って切断する。
【００８５】
次に、感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の状態を検査する。
まず、感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の第１リセットトランジスタ（Ｑｒ１）及び出力トランジスタ（Ｑｓ）の状態を感知する動作について説明する。
【００８６】
検査装置を利用して出力信号出力部（ＳＯＵＴ）の第１リセットトランジスタ（Ｑｒ１）の入力端子及び制御端子に高レベル状態であるゲートオン電圧（Ｖｏｎ）を印加し、出力トランジスタ（Ｑｓ）の入力端子にゲートオン電圧（Ｖｏｎ）を印加して、第１リセットトランジスタ（Ｑｒ１）及び出力トランジスタ（Ｑｓ）をターンオンさせ、第２リセットトランジスタ（Ｑｒ２）の入力端子及び制御端子に低レベル状態であるゲートオフ電圧（Ｖｏｆｆ）を印加して、第２リセットトランジスタ（Ｑｒ２）をターンオフさせる（図５参照）。
【００８７】
次に、検査装置を利用して検査パッド（ＩＰ３）に検査用スイッチング素子（ＴＹ１−ＴＹＮ、ＴＸ１−ＴＸＭ）をターンオンさせる検査信号を印加して、検査用スイッチング素子（ＴＹ１−ＴＹＮ、ＴＸ１−ＴＸＭ）をターンオンさせる。
したがって、各感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の出力トランジスタ（Ｑｓ）を通じて出力される信号がターンオンされた各検査スイッチング素子（ＴＹ１−ＴＹＮ、ＴＸ１−ＴＸＭ）を通じて画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）及び画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）に印加されて、該当画素（ＰＸ）を動作させる。
【００８８】
つまり、横感知信号線（ＳＹ１−ＳＹＮ）に連結されている感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の第１リセットトランジスタ（Ｑｒ１）や出力トランジスタ（Ｑｓ）が正常に動作しない場合、該当行の画素（ＰＸ）は動作しない。また、縦感知信号線（ＳＸ１−ＳＸＮ）に連結されている感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の第１リセットトランジスタ（Ｑｒ２）や出力トランジスタ（Ｑｓ）が正常に動作しない場合、該当画素列は他の画素列と異なる輝度状態を示す。
【００８９】
したがって、検査者は、画素の動作有無や画面の明るさなどの表示状態を目で確認して、各第１リセットトランジスタ（Ｑｒ１）及び出力トランジスタ（Ｑｓ）を検査し、感知信号出力部（ＳＯＵＴ）及び検査パッド（ＩＰ３）に印加される検査信号の供給を中断する。
【００９０】
次に、感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の第２リセットトランジスタ（Ｑｒ２）の状態を感知する動作について説明する。
検査装置を利用して第１リセットトランジスタ（Ｑｒ１）の入力端子及び制御端子に低レベル状態であるゲートオフ電圧（Ｖｏｆｆ）を印加し、出力トランジスタ（Ｑｓ）の入力端子に高レベル状態であるゲートオン電圧（Ｖｏｎ）を印加する。また、第２リセットトランジスタ（Ｑｒ２）の入力端子及び制御端子に高レベル状態であるゲートオン電圧（Ｖｏｎ）を印加する。
【００９１】
これによって、第１リセットトランジスタ（Ｑｒ１）はターンオフされ、第２リセットトランジスタ（Ｑｒ２）及び出力トランジスタ（Ｑｓ）はターンオンされる。この時、出力トランジスタ（Ｑｓ）は既に行われたＶＩ検査で正常であると判断されている。
【００９２】
次に、検査装置を利用して検査パッド（ＩＰ３）に検査用スイッチング素子（ＴＹ１−ＴＹＮ、ＴＸ１−ＴＸＭ）をターンオンさせる検査信号を印加して、検査用スイッチング素子（ＴＹ１−ＴＹＮ、ＴＸ１−ＴＸＭ）をターンオンさせる。
これによって、ターンオンされた検査用スイッチング素子（ＴＹ１−ＴＹＮ、ＴＸ１−ＴＸＭ）を通じて各画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）及び画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）に印加される信号によって、画素（ＰＸ）が動作する。
【００９３】
この時、横感知信号線（ＳＹ１−ＳＹＮ）に連結されている感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の第２リセットトランジスタ（Ｑｒ２）が正常に動作しない場合、該当行の画素（ＰＸ）は動作せず、縦感知信号線（ＳＸ１−ＳＸＭ）に連結されている感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の第２リセットトランジスタ（Ｑｒ２）が正常に動作しない場合、該当画素列は他の画素列と異なる輝度状態を示す。
【００９４】
したがって、検査者は、画素の動作有無や画面の明るさなどの表示状態を目で確認して、各感知信号出力部（ＳＯＵＴ）の出力トランジスタ（Ｑｓ）の状態を検査し、感知信号出力部（ＳＯＵＴ）及び検査パッド（ＩＰ３）に印加される検査信号の供給を中断する。
【００９５】
全ての感知信号出力部（ＳＯＵＴ）に対するＶＩ検査が完了すれば、単一チップ６１０’及び感知信号処理部８００が装着され、単一チップ６１０’及び感知信号処理部８００は、出力パッド（ＶＰ１１、ＶＰ１２）を通じてスイッチング素子オフ電圧（Ｖｓｓ）を出力する。したがって、信号線（Ｌ１）及び検査パッド（ＩＰ３）を通じて検査線（Ｌ２、Ｌ３）にスイッチング素子オフ電圧（Ｖｓｓ）が伝達されて、検査用スイッチング素子（ＴＹ１−ＴＹＮ、ＴＸ１−ＴＸＭ）はターンオフされた状態を維持する。これによって、単一チップ６１０’及び感知信号処理部８００などによる正常な画素の動作が行われる。
【００９６】
次に、図１０を参照して、画素の解像度及び感知部の解像度が互いに異なる場合の、検査用スイッチング素子と画像走査線及び画像データ線との連結関係について見てみる。
図１０は本発明の実施形態による感知信号出力部を検査する時の、画素の解像度が感知部の解像度より大きい場合の検査用スイッチング素子と画像走査線及び画像データ線との連結関係を示す概略的なブロック配置図である。
【００９７】
図１０に示すように、感知部（ＳＵ）の解像度が画素（ＰＸ）の解像度より小さいので、所定の個数、例えば連続する二つの画素行（以下、画素行の集合とする）及び画素列（以下、画素列の集合とする）ごとに感知信号線（ＳＸ１、ＳＸ２、・・・、ＳＹ１、ＳＹ２）が一つずつ形成されている。この場合、検査用スイッチング素子（ＴＸ１−ＴＸＭ）は、各画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）に出力端子が連結され、検査線（Ｌ３）に制御端子が連結されており、検査用スイッチング素子（ＴＹ１−ＴＹＮ）は、各画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）に出力端子が連結され、検査線（Ｌ２）に制御端子が連結されている。つまり、検査用スイッチング素子（ＴＹ１−ＴＹＮ、ＴＸ１−ＴＸＭ）は、各画像走査線（Ｇ１−Ｇｎ）及び画像データ線（Ｄ１−Ｄｍ）に一つずつ連結されている。
【００９８】
しかし、同一の画素行の集合及び画素列の集合に含まれた検査用スイッチング素子（ＴＸ１−ＴＸＭ、ＴＹ１−ＴＹＮ）は、同一の出力データ線に連結されている。例えば、図１０に示すように、第１及び第２画像データ線（Ｄ１、Ｄ２）に連結されている検査用スイッチング素子（ＴＸ１、ＴＸ２）は出力データ線（ＯＸ１）に連結され、第３及び第４画像データ線（Ｄ３、Ｄ４）に連結されている検査用スイッチング素子（ＴＸ３、ＴＸ４）は出力データ線（ＯＸ２）に連結されている。また、第１及び第２画像走査線（Ｇ１、Ｇ２）に連結されている検査用スイッチング素子（ＴＹ１、ＴＹ２）は上側に位置した出力データ線（ＯＹ１）に連結され、第３及び第４画像走査線（Ｇ３、Ｇ４）に連結されている検査用スイッチング素子（ＴＹ３、ＴＹ４）は上側に位置した出力データ線（ＯＹ２）に連結されている。
【００９９】
図１０では、感知信号線（ＳＸ１−ＳＸＭ）は、画素列の集合の左側に形成されているが、右側に形成することもでき、感知信号線（ＳＹ１−ＳＹＮ）は、画素行の集合の上側に形成されているが、下側に形成することもできる。これとは異なって、感知信号線（ＳＸ１−ＳＸＭ、ＳＹ１−ＳＹＮ）は、他の形態に形成することもできる。
【０１００】
これによって、感知信号出力部（ＳＯＵＴ）のＶＩ検査時に、一つの感知信号出力部（ＳＯＵＴ）から出力される信号は、各々連結されている検査用スイッチング素子を通じて同一の画素行の集合または画素列の集合に含まれた複数の画像走査線または画像データ線に印加されて、ＶＩ検査のために画素を動作させる。
【０１０１】
したがって、任意の一つの感知信号出力部（ＳＯＵＴ）が正常な状態でない場合、これに連結されている画素行の集合の画素が正常に動作しなかったり、画素列の集合の画素が正常に動作しないので、検査者は、これら画素行の集合または画素列の集合に連結されている感知信号出力部（ＳＯＵＴ）を非正常な状態であると判断する。
【０１０２】
図１０では、二つの画素行及び二つの画素列ごとに一つの感知信号線が形成されている場合について説明したが、これに限定されず、三つ以上の画素行及び画素列ごとに一つの感知信号線が形成される場合もありえる。
【０１０３】
上記で説明した実施形態では、感知部として可変キャパシタ及び基準キャパシタを例にあげて説明したが、これに限定されず、これと異なる形態の感知素子を適用することもできる。
また、本発明の実施形態では、表示装置として液晶表示装置を例にあげて説明したが、これに限定されず、プラズマ表示装置（ｐｌａｓｍａ ｄｉｓｐｌａｙ ｄｅｖｉｃｅ）、有機発光表示装置（ｏｒｇａｎｉｃ ｌｉｇｈｔ ｅｍｉｔｔｉｎｇ ｄｉｓｐｌａｙ）などのような平板表示装置にも同一に適用することができる。
【０１０４】
尚、本発明は、上述の実施形態に限られるものではない。本発明の技術的範囲から逸脱しない範囲内で多様に変更実施することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【０１０５】
【図１】本発明の一実施形態による液晶表示装置の概略ブロック図であって、画素の観点で示した図面である。
【図２】本発明の一実施形態による液晶表示装置の一つの画素に対する等価回路図である。
【図３】本発明の一実施形態による液晶表示装置の概略ブロック図であって、感知部の観点で示した図面である。
【図４】本発明の一実施形態による液晶表示装置の一つの感知部に対する等価回路図である。
【図５】本発明の一実施形態による感知信号出力部の回路図である。
【図６】本発明の一実施形態による液晶表示装置の概略図である。
【図７】本発明の一実施形態による感知信号出力部の動作タイミング図である。
【図８】本発明の一実施形態による感知信号出力部の状態を検査するための複数の検査用スイッチング素子、複数の検査線、及び検査パッドが形成された液晶表示板組立体の概略的なブロック配置図である。
【図９】本発明の他の実施形態によって感知信号出力部の状態を検査するための複数の検査用スイッチング素子、複数の検査線、及び検査パッドが形成された液晶表示板組立体の概略的なブロック配置図である。
【図１０】本発明の実施形態による感知信号出力部を検査する時の、画素の解像度が感知部の解像度より大きい場合の検査用スイッチング素子と画像走査線及び画像データ線との連結関係を示す概略的なブロック配置図である。
【符号の説明】
【０１０６】
３ 液晶層
１００ 薄膜トランジスタ表示板
１９１ 画素電極
２００ 共通電極表示板
２３０ 色フィルタ
２７０ 共通電極
３００ 液晶表示板組立体
４００ 画像走査部
５００ 画像データ駆動部
５５０ 階調電圧生成部
６００ 信号制御部
６１０、６１０’ 単一チップ
６２０ ＦＰＣ基板
７００ 接触判断部
８００ 感知信号処理部
Ｑ スイッチング素子
ＰＸ 画素
ＳＵ 感知部
ＳＯＵＴ 感知信号出力部
Ｃｖ 可変キャパシタ
Ｃｐ 基準キャパシタ
Ｇ１−Ｇｎ 画像走査線
Ｄ１−Ｄｍ 画像データ線
ＳＹ１−ＳＹＮ、ＳＸ１−ＳＸＭ （横、縦）感知信号線
ＯＹ１−ＯＹＮ、ＯＸ１−ＯＸＭ （横、縦）出力データ線
Ｖｃｏｍ 共通電圧
Ｖｏｎ ゲートオン電圧
Ｖｏｆｆ ゲートオフ電圧
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の第１表示信号線と、
前記第１表示信号線と交差する複数の第２表示信号線と、
前記第１表示信号線のうちの一つ及び前記第２表示信号線のうちの一つに各々連結される複数の画素と、
所定の個数の隣接する画素行（以下、画素行の集合と称す）ごとに一つずつ形成され、前記第１表示信号線と平行な複数の第１感知信号線と、
所定の個数の隣接する画素列（以下、画素列の集合と称す）ごとに一つずつ形成され、前記第２表示信号線と平行な複数の第２感知信号線と、
前記第１感知信号線に各々連結される複数の第１感知信号出力部と、
前記第２感知信号線に各々連結される複数の第２感知信号出力部と、
前記複数の第１表示信号線に各々連結される複数の第１検査用スイッチング素子と、
前記複数の第２表示信号線に各々連結される複数の第２検査用スイッチング素子と、
前記複数の第１検査用スイッチング素子に外部からの感知信号を伝達する第１検査線と、
前記第１検査線に連結され、前記複数の第２検査用スイッチング素子に前記感知信号を伝達する第２検査線とを有し、
同一の前記画素行の集合に含まれる第１表示信号線に連結される第１検査用スイッチング素子は、同一の第１感知信号出力部に連結され、同一の前記画素列の集合に含まれる第２表示信号線に連結される第２検査用スイッチング素子は、同一の第２感知信号出力部に連結されることを特徴とする表示装置。
【請求項２】
前記第１検査線は、外部から前記検査信号の伝達を受ける検査パッドを含むことを特徴とする請求項１に記載の表示装置。
【請求項３】
前記検査パッドに連結され、駆動電圧を伝達する信号線と、該信号線に連結される第１出力パッドをさらに有することを特徴とする請求項２に記載の表示装置。
【請求項４】
前記第２表示信号線、前記第１及び第２感知信号線に各々電気的に連結される駆動チップをさらに有することを特徴とする請求項３に記載の表示装置。
【請求項５】
前記第１出力パッドは、前記駆動チップに連結され、前記駆動電圧は、前記第１及び第２検査用スイッチング素子をターンオフさせることを特徴とする請求項４に記載の表示装置。
【請求項６】
前記第１及び第２表示信号線と、前記画素とから離隔し、前記第２表示信号線に検査信号を伝達する少なくとも一つの第３検査線をさらに有し、
前記第３検査線は、前記検査信号の伝達を受ける検査パッドを含むことを特徴とする請求項４に記載の表示装置。
【請求項７】
前記少なくとも一つの第３検査線は、二つの第３検査線を含み、各第３検査線は、前記第２表示信号線に交互に連結されていることを特徴とする請求項６に記載の表示装置。
【請求項８】
前記第２表示信号線及び前記第３検査線の連結を切る切断線をさらに有することを特徴とする請求項７に記載の表示装置。
【請求項９】
前記第２表示信号線に各々電気的に連結される第１駆動チップと、前記第１及び第２感知信号線に各々電気的に連結される第２駆動チップをさらに有することを特徴とする請求項３に記載の表示装置。
【請求項１０】
前記駆動電圧を伝達して、前記第１検査線に連結される第２出力パッドをさらに有することを特徴とする請求項９に記載の表示装置。
【請求項１１】
前記第２出力パッドは、前記第２駆動チップに連結され、前記駆動電圧は、前記第１及び第２検査用スイッチング素子をターンオフさせることを特徴とする請求項１０に記載の表示装置。
【請求項１２】
前記第１及び第２表示信号線と、前記画素とから離隔し、前記第２表示信号線に検査信号を伝達するための少なくとも一つの第３検査線をさらに有し、
前記第３検査線は、前記検査信号の伝達を受ける検査パッドを含むことを特徴とする請求項９に記載の表示装置。
【請求項１３】
前記少なくとも一つの第３検査線は、二つ以上の検査線を含み、各検査線は、前記第２表示信号線に交互に連結されていることを特徴とする請求項１２に記載の表示装置。
【請求項１４】
前記第２表示信号線及び前記第３検査線の連結を切る切断線をさらに有することを特徴とする請求項１３に記載の表示装置。
【請求項１５】
前記第１及び第２感知信号出力部の各々は、第１リセット電圧及び第１リセット制御信号が印加される第１リセットトランジスタと、
前記第１リセットトランジスタ及び、第１または第２検査用スイッチング素子に連結される出力トランジスタと、
第２リセット電圧及び第２リセット制御信号が印加され、前記出力トランジスタに連結される第２リセットトランジスタを含むことを特徴とする請求項１に記載の表示装置。
【請求項１６】
複数の第１表示信号線と、複数の第２表示信号線と、前記第１表示信号線及び前記第２表示信号線に連結される複数の画素と、所定の個数の隣接する画素行ごとに一つずつ形成される複数の第１感知信号線と、所定の個数の隣接する画素列ごとに一つずつ形成される複数の第２感知信号線と、前記第１感知信号線に連結される複数の第１感知信号出力部と、前記第２感知信号線に連結される複数の第２感知信号出力部と、前記複数の第１表示信号線に連結される複数の第１検査用スイッチング素子と、前記複数の第２表示信号線に連結される複数の第２検査用スイッチング素子と、前記複数の第１検査用スイッチング素子に外部からの感知信号を伝達する第１検査線と、前記第１検査線に連結され、前記複数の第２検査用スイッチング素子に前記感知信号を伝達する第２検査線とを有し、前記第１及び第２感知信号出力部の各々は、第１リセットトランジスタと、該第１リセットトランジスタに連結される出力トランジスタと、該出力トランジスタに連結される第２リセットトランジスタとを含む表示装置の検査方法であって、
前記第１リセットトランジスタ及び出力トランジスタを駆動させる段階と、
前記第１及び第２検査線に検査信号を印加して、前記出力トランジスタを通じて伝達される信号が前記第１及び第２検査用スイッチング素子を通じて前記第１表示信号線及び前記第２表示信号線に印加されて、前記画素を動作させる段階と、
前記第１リセットトランジスタの駆動を中止させる段階と、
前記第２リセットトランジスタを駆動させる段階と、
前記第１及び第２検査線に検査信号を印加して、前記出力トランジスタを通じて伝達される信号が前記第１及び第２検査用スイッチング素子を通じて前記第１表示信号線及び前記第２表示信号線に印加されて、前記画素を動作させる段階とを有することを特徴とする表示装置の検査方法。
【請求項１】
複数の第１表示信号線と、
前記第１表示信号線と交差する複数の第２表示信号線と、
前記第１表示信号線のうちの一つ及び前記第２表示信号線のうちの一つに各々連結される複数の画素と、
所定の個数の隣接する画素行（以下、画素行の集合と称す）ごとに一つずつ形成され、前記第１表示信号線と平行な複数の第１感知信号線と、
所定の個数の隣接する画素列（以下、画素列の集合と称す）ごとに一つずつ形成され、前記第２表示信号線と平行な複数の第２感知信号線と、
前記第１感知信号線に各々連結される複数の第１感知信号出力部と、
前記第２感知信号線に各々連結される複数の第２感知信号出力部と、
前記複数の第１表示信号線に各々連結される複数の第１検査用スイッチング素子と、
前記複数の第２表示信号線に各々連結される複数の第２検査用スイッチング素子と、
前記複数の第１検査用スイッチング素子に外部からの感知信号を伝達する第１検査線と、
前記第１検査線に連結され、前記複数の第２検査用スイッチング素子に前記感知信号を伝達する第２検査線とを有し、
同一の前記画素行の集合に含まれる第１表示信号線に連結される第１検査用スイッチング素子は、同一の第１感知信号出力部に連結され、同一の前記画素列の集合に含まれる第２表示信号線に連結される第２検査用スイッチング素子は、同一の第２感知信号出力部に連結されることを特徴とする表示装置。
【請求項２】
前記第１検査線は、外部から前記検査信号の伝達を受ける検査パッドを含むことを特徴とする請求項１に記載の表示装置。
【請求項３】
前記検査パッドに連結され、駆動電圧を伝達する信号線と、該信号線に連結される第１出力パッドをさらに有することを特徴とする請求項２に記載の表示装置。
【請求項４】
前記第２表示信号線、前記第１及び第２感知信号線に各々電気的に連結される駆動チップをさらに有することを特徴とする請求項３に記載の表示装置。
【請求項５】
前記第１出力パッドは、前記駆動チップに連結され、前記駆動電圧は、前記第１及び第２検査用スイッチング素子をターンオフさせることを特徴とする請求項４に記載の表示装置。
【請求項６】
前記第１及び第２表示信号線と、前記画素とから離隔し、前記第２表示信号線に検査信号を伝達する少なくとも一つの第３検査線をさらに有し、
前記第３検査線は、前記検査信号の伝達を受ける検査パッドを含むことを特徴とする請求項４に記載の表示装置。
【請求項７】
前記少なくとも一つの第３検査線は、二つの第３検査線を含み、各第３検査線は、前記第２表示信号線に交互に連結されていることを特徴とする請求項６に記載の表示装置。
【請求項８】
前記第２表示信号線及び前記第３検査線の連結を切る切断線をさらに有することを特徴とする請求項７に記載の表示装置。
【請求項９】
前記第２表示信号線に各々電気的に連結される第１駆動チップと、前記第１及び第２感知信号線に各々電気的に連結される第２駆動チップをさらに有することを特徴とする請求項３に記載の表示装置。
【請求項１０】
前記駆動電圧を伝達して、前記第１検査線に連結される第２出力パッドをさらに有することを特徴とする請求項９に記載の表示装置。
【請求項１１】
前記第２出力パッドは、前記第２駆動チップに連結され、前記駆動電圧は、前記第１及び第２検査用スイッチング素子をターンオフさせることを特徴とする請求項１０に記載の表示装置。
【請求項１２】
前記第１及び第２表示信号線と、前記画素とから離隔し、前記第２表示信号線に検査信号を伝達するための少なくとも一つの第３検査線をさらに有し、
前記第３検査線は、前記検査信号の伝達を受ける検査パッドを含むことを特徴とする請求項９に記載の表示装置。
【請求項１３】
前記少なくとも一つの第３検査線は、二つ以上の検査線を含み、各検査線は、前記第２表示信号線に交互に連結されていることを特徴とする請求項１２に記載の表示装置。
【請求項１４】
前記第２表示信号線及び前記第３検査線の連結を切る切断線をさらに有することを特徴とする請求項１３に記載の表示装置。
【請求項１５】
前記第１及び第２感知信号出力部の各々は、第１リセット電圧及び第１リセット制御信号が印加される第１リセットトランジスタと、
前記第１リセットトランジスタ及び、第１または第２検査用スイッチング素子に連結される出力トランジスタと、
第２リセット電圧及び第２リセット制御信号が印加され、前記出力トランジスタに連結される第２リセットトランジスタを含むことを特徴とする請求項１に記載の表示装置。
【請求項１６】
複数の第１表示信号線と、複数の第２表示信号線と、前記第１表示信号線及び前記第２表示信号線に連結される複数の画素と、所定の個数の隣接する画素行ごとに一つずつ形成される複数の第１感知信号線と、所定の個数の隣接する画素列ごとに一つずつ形成される複数の第２感知信号線と、前記第１感知信号線に連結される複数の第１感知信号出力部と、前記第２感知信号線に連結される複数の第２感知信号出力部と、前記複数の第１表示信号線に連結される複数の第１検査用スイッチング素子と、前記複数の第２表示信号線に連結される複数の第２検査用スイッチング素子と、前記複数の第１検査用スイッチング素子に外部からの感知信号を伝達する第１検査線と、前記第１検査線に連結され、前記複数の第２検査用スイッチング素子に前記感知信号を伝達する第２検査線とを有し、前記第１及び第２感知信号出力部の各々は、第１リセットトランジスタと、該第１リセットトランジスタに連結される出力トランジスタと、該出力トランジスタに連結される第２リセットトランジスタとを含む表示装置の検査方法であって、
前記第１リセットトランジスタ及び出力トランジスタを駆動させる段階と、
前記第１及び第２検査線に検査信号を印加して、前記出力トランジスタを通じて伝達される信号が前記第１及び第２検査用スイッチング素子を通じて前記第１表示信号線及び前記第２表示信号線に印加されて、前記画素を動作させる段階と、
前記第１リセットトランジスタの駆動を中止させる段階と、
前記第２リセットトランジスタを駆動させる段階と、
前記第１及び第２検査線に検査信号を印加して、前記出力トランジスタを通じて伝達される信号が前記第１及び第２検査用スイッチング素子を通じて前記第１表示信号線及び前記第２表示信号線に印加されて、前記画素を動作させる段階とを有することを特徴とする表示装置の検査方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【公開番号】特開２００７−１５６４６９（Ｐ２００７−１５６４６９Ａ）
【公開日】平成１９年６月２１日（２００７．６．２１）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００６−３２２５２８（Ｐ２００６−３２２５２８）
【出願日】平成１８年１１月２９日（２００６．１１．２９）
【出願人】（３９００１９８３９）三星電子株式会社 (8,520)
【氏名又は名称原語表記】Ｓａｍｓｕｎｇ Ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃｓ Ｃｏ．，Ｌｔｄ．
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成１９年６月２１日（２００７．６．２１）
【国際特許分類】
【出願日】平成１８年１１月２９日（２００６．１１．２９）
【出願人】（３９００１９８３９）三星電子株式会社 (8,520)
【氏名又は名称原語表記】Ｓａｍｓｕｎｇ Ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃｓ Ｃｏ．，Ｌｔｄ．
【Ｆターム（参考）】
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