非破壊検査装置および非破壊検査装置のコイルの設計方法
【課題】断熱材で保温等がなされている配管についても、非接触で配管の腐食部および肉厚が測定できる非破壊検査装置を提供する。
【解決手段】非破壊検査装置10は、断熱材22に覆われた配管21に対して、断熱材22を介して配管21の上に載置されるセンサ11と、センサ11を駆動する測定装置19とを含む。センサ11は、所定の距離離れた位置にある配管21の腐食部の寸法を測定可能であり、測定装置19はセンサ11からの出力を入力して配管21の腐食部の厚さを演算するパソコン18を含む。
【解決手段】非破壊検査装置10は、断熱材22に覆われた配管21に対して、断熱材22を介して配管21の上に載置されるセンサ11と、センサ11を駆動する測定装置19とを含む。センサ11は、所定の距離離れた位置にある配管21の腐食部の寸法を測定可能であり、測定装置19はセンサ11からの出力を入力して配管21の腐食部の厚さを演算するパソコン18を含む。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
この発明は、配管等の内部の腐食、穴などのへこみを測定可能な非破壊検査装置および非破壊検査装置のコイルの設計方法に関し、特に、非接触で配管等の内部の腐食、穴などのへこみを精度良く測定可能な非破壊検査装置および非破壊検査装置のコイルの設計方法に関する。
【背景技術】
【0002】
配管を非破壊で検査する装置が、たとえば、特開2000−329890号公報(特許文献1)に記載されている。同公報によれば、配管の屈曲部近傍に走行レールを設け、その上に超音波探触子を有する走行台車を設置して、配管の屈曲部の肉厚を測定している。
【特許文献1】特開2000−329890号公報(段落番号0011等)
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0003】
従来の配管の肉厚測定は、上記のように行なわれていた。配管に断熱材が巻かれていない屈曲部であれば、接触子を直接配管に接触可能であるため、その肉厚の測定が可能であるが、断熱材が巻かれていると、配管に直接接触できないため、測定ができないという問題があった。
【0004】
この発明は、上記のような問題点に鑑みてなされたもので、断熱材で保温材等が具備されている配管等の被測定物についても、非接触でその内部の腐食、穴等のへこみの寸法を測定できる非破壊検査装置および非破壊検査装置のコイルの設計方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0005】
この発明にかかる非破壊検査装置は、断熱材に覆われた被測定物に対して、断熱材を介して被測定物の上に載置されるSQUID探触子と、SQUID探触子を駆動するSQUID駆動装置とを含み、SQUID探触子は、磁場の変化に基づいて、所定の距離離れた位置にある被測定物の寸法を測定可能であり、SQUID駆動装置は、SQUID探触子からの出力を解析して被測定物の微少な穴等、すなわち、内部の寸法を演算する演算手段を含む。
【0006】
SQUID探触子は、磁場の変化に基づいて、所定の距離離れた位置にある被測定物の内部の寸法を測定可能であるため、たとえば、断熱材で保温等がなされている配管等の被測定物についても、非接触でその内部の腐食、穴等のへこみの寸法を測定できる非破壊検査装置を提供できる。
【0007】
好ましくは、SQUID探触子を断熱材の上で、被測定物に沿って移動する手段をさらに含む。
【0008】
この発明の一実施の形態においては、SQUID探触子は被測定物の上に相互に間隔を開けて複数個載置され、移動手段は、複数のSQUID探触子を相互に間隔を開けて被測定物上を走査する。
【0009】
この発明の他の実施の形態においては、SQUID探触子は複数個準備され、少なくとも1個のSQUID探触子は被測定物の上に載置され、少なくとも他の1個のSQUID探触子は、被測定物の周囲環境の磁場を測定する。
【0010】
さらに好ましくは、被測定物は配管であり、被測定物の内部の寸法は、配管の腐食部の厚さか、または、配管の寸法である。
【0011】
この発明のある実施の形態によれば、非破壊検査装置は、外部から磁場を印加する手段をさらに含む。
【0012】
なお、所定の距離yと、配管の計測可能な配管の穴の寸法dとは、d>(y/1000)で表される。
【0013】
なお、SQUID探触子は、相互に近接して配置された2個のコイルを含むのが好ましい。
【0014】
この発明の他の局面においては、コイルを内蔵したSQUID探触子を用いて被測定物の欠陥を遠隔で検査する非破壊検査装置用のコイルの設計方法は、SQUID探触子と被測定物との間の距離に応じて、コイルに流す電流値と巻数との少なくともいずれか一方を変化させる。
【0015】
この発明のさらに他の局面においては、相互に隣接して配置された一対のコイルを内蔵したSQUID探触子を用いて被測定物の欠陥を遠隔で検査する非破壊検査装置用のコイルの設計方法は、SQUID探触子と被測定物との間の距離に応じて、コイルの径を大きくする。
【0016】
この発明のさらに他の局面においては、相互に隣接して配置された一対のコイルを内蔵したSQUID探触子を用いて被測定物の欠陥を遠隔で検査する非破壊検査装置用のコイルの設計方法は、SQUID探触子と被測定物との間の距離に応じて、一対のコイル間のコイル幅を広げる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0017】
以下、図面を参照して、この発明の一実施形態について説明する。図1は、この発明に係る非破壊検査装置の発明者が、SQUID探触子(以下、「センサ」という)11を用いて鉄粉25がどの程度離れていてもその有無の検出可能であるかを測定する実験を行なった状態を示す図であり、センサ11と、被測定物の一例としての、鉄粉25との位置関係を示す図である。なお、ここでは、SQUID駆動装置や演算装置については図示を省略している。
【0018】
図1を参照して、直径dmmの鉄粉25とセンサ11との距離をyとすると、発明者は、複数回の実験を行ない、計測可能寸法な鉄粉25の直径dはd>(y/1000)とする必要がある、という実験式を得た。
【0019】
このことは、逆に考えると、たとえば、距離yが1m以下であれば、1mmより大きい径の鉄粉25であれば測定可能であることを示している。
【0020】
これを適用すると、断熱材に覆われた配管の内部の腐食、穴などのへこみ等の測定に利用可能になる。次にこの原理について説明する。図2は、断熱材22に覆われた配管21の内径部において、径が約1mmの鉄粉26が脱落した状態を示している。この場合、上記したように、図示のないセンサ11は、配管21の内径および断熱材22の厚さを含めて、d=(y/1000)の寸法まで測定可能であることから、断熱材22と配管21の内径の厚さの和が100mmであれば、d>100/1000として、d=0.1mmより大きい径の鉄粉の脱落(すなわち、配管の穴寸法、または、腐食部の厚さ等)を検出可能であることを意味する。
【0021】
以上の知見に基づいた、センサ11を用いた、断熱材に覆われた配管の、非破壊検査装置の概要について説明する。センサ11を用いた非破壊検査装置には、コイルを用いない無誘導方式と、コイルを用いる誘導方式とが存在する。無誘導方式および誘導方式のいずれにおいても、センサが1つの方式と、センサが2つの方式とが存在する。また、センサが2つの方式においては、それぞれのセンサを、間隔をあけて被測定物上を走査する方式と、一方のセンサで被測定物を走査し、他方のセンサで周囲の環境ノイズを検出する方式とが存在する。以下、具体的に説明する。
【0022】
(1)無誘導方式
図3は、無誘導方式において1つのセンサ11を用いた場合の非破壊検査装置10の概略構成を示すブロック図である。図3を参照して、非破壊検査装置10は、被測定物(ここでは配管21と断熱材22とを含む)20の外面に沿って図中矢印で示すように、配管20の円周方向(図中Bで示す方向)および長さ方向(図中Aで示す方向)に移動可能に設けられ、配管21の内部の肉厚を検出するセンサ11と、SQUID駆動装置として作動する測定装置19とを含む。
【0023】
ここで、センサ11は、図示のない任意の移動手段によって移動されることにより、被測定物上を走査する。
【0024】
センサ11は、上記したように、被測定物20を構成する配管21に直接接触していなくても、配管21の内面までの距離を検出可能であるため、断熱材22で覆われた配管21の内部の、腐食等による肉厚の減少を検出する。
【0025】
測定装置19は、センサ11を駆動するための、SQUID駆動回路12と、SQUID駆動回路12に接続され、配管内部の腐食、穴径などの肉厚減等を演算する演算手段となる、パーソナルコンピュータ(以下、「パソコン」という)18とを含む。
【0026】
この無誘導方式においては、センサ11は、配管の有する磁場のみを用いて磁場の変化を検出する。したがって、断熱材22がアルミのような金属シールドで覆われていても、配管21の内部の、腐食等による肉厚の減少を検出できる。
【0027】
次に無誘導方式において、2つのセンサを用いる測定方法について説明する。図4は、この場合の測定方法を示す図である。図4(A)は2つのセンサ11a,11bを相互に一定間隔aだけあけて、被測定物を走査する場合の例を示す図であり、図4(B)は、2つのセンサ11a,11bのうち、一方のセンサ11aで被測定物の測定を行ない、他方のセンサ11cで周囲の環境ノイズを検出する場合の例を示す図である。なお、図4(A)、(B)においては、センサ11a,11bのみを示し、測定装置については図示を省略している。
【0028】
図4(A)を参照して、2つのセンサ(センサ11a,11b)を相互に一定間隔aだけあけて、所定の速度vで図中矢印方向に移動する。すなわち、センサ11a,11bをΔt=a/vだけずらして移動し、その時得られた両信号の同期を検出して、両信号が同期してかつ異常があれば、その異常が欠陥を表わしているとして、パソコン18で判定する。
【0029】
次に、図4(B)を参照して、この場合は、被測定物20に沿って欠陥を検出するセンサ11aと、これとは別に設けられ、周囲の外乱ノイズのみを検出するセンサ11bとを設け、センサ11aで得られた信号から、センサ11cで得られた信号を差し引いて外乱ノイズをキャンセルする。
【0030】
(2)誘導方式
次に、誘導方式について説明する。図5は誘導方式において、単一のセンサ11を用いた場合の非破壊検査装置30を示す図である。図5を参照して、誘導方式においては、
被測定物にコイルを用いて電流を流し、その電流による磁場を用いて計測を行なう。そのために、外部から磁場を印加する手段(後に説明する磁場印加コイル)と、周辺の環境ノイズを除去する装置(後に説明するキャンセリングコイル)が加えられている。
【0031】
図5を参照して、この実施の形態においては、センサ部24と測定装置29とを含む。センサ部24は、センサ11と、磁場印加コイル17と、キャンセリングコイル23とを含む。測定装置29は、先の実施の形態における要素である、センサ11を駆動するためのSQUID駆動回路12とパソコン18に加えて、SQUID駆動回路12に接続されたロックインアンプ13と、ロックインアンプ13に接続された発信器14と、発信器14に接続された電圧/電流変換器15、16と、電圧/電流変換器15に接続された磁場印加コイル17と、電圧/電流変換器16に接続されたキャンセリングコイル23と、を含む。
【0032】
発信器14からの電圧出力は、電圧/電流変換器15により電流に交換され、センサ11の近傍に設けられた磁場印加コイル17に交流電流を流す。交流電流が流れた磁場印加コイル17は、配管21に磁場を印加する。磁場が印加された配管21には電磁誘導作用により、磁束の通過と垂直方向の渦電流が流れる。センサ11は、磁場印加コイル17からの磁束と渦電流からの磁束との和に相当する磁束信号を検出して、ロックインアンプ13を介してパソコン18へ送信し、そこで、配管等の内部の微少な穴径等の内部寸法を演算する。
【0033】
発信器14からの電圧出力は、電圧/電流変換器16により電流に交換され、センサ11の近傍に設けられたキャンセリングコイル23に交流電流を流す。交流電流が流れたキャンセリングコイル23は、コイル17によるセンサ11への磁場を除去する。したがって、コイル17による磁場が除去された信号がロックインアンプ13を経てパソコン18に入力され、配管21内部の欠陥を検出する。
【0034】
この実施の形態による非破壊検査装置30は、無誘導方式に比べて、被測定物20の検出精度は高い。
【0035】
次に誘導方式において、2つのセンサ部を用いる測定方法について説明する。図6は、この場合の測定方法を示す図である。図6(A)は2つの測定装置29a,29bを相互に一定間隔aだけあけて、被測定物を走査する場合の例を示す図であり、無誘導方式における図4(A)に対応する図である。図6(B)は、無誘導方式における図4(B)に対応する図である。図6(A)においては、2つのセンサ部24a,24bで被測定物を走査して測定を行なうのに対し、図6(B)においては、一方のセンサ部24aで被測定物の測定を行ない、他方のセンサ部24cで周囲の環境ノイズを検出する。
【0036】
この場合、測定装置29a,29bで取得した信号の差分をとる差分回路41を設け、その出力をパソコンに入力する。差分信号を取得することで、図6(A)のように、センサを速度vで動かしている場合、差分信号は、表面計測時のノイズを定常的に取り除くとともに、t=a/vの時間で同期する信号のみをとらえることで、精度の高い計測が可能となる。
【0037】
図6(B)では、センサ24cでとらえた環境ノイズをセンサ24aの周囲の環境ノイズと同一視して、差分回路42で環境ノイズを取り除き、計測の精度を上げることができる。
【0038】
ここで、測定装置29a,29bの取得した信号は、図5においてロックインアンプ13からパソコン18に出力される信号であり、この信号がパソコンで処理される。
【0039】
次に、誘導方式の他の実施の形態について説明する。図7は、誘導方式の他の実施の形態を示すブロック図である。図7を参照して、この実施の形態においては被測定物20の内部に存在する配管の腐食部等を検出するためのセンサ部31には測定装置49が接続されている。被測定物20の内部に存在する配管の腐食部等を検出するためのセンサ部31の走査方向(図中矢印で示す方向)の前後にはコイル36a、36bが設けられている。
【0040】
図7を参照して、この測定装置49は測定装置29と同様の構成を有しており、SQUID駆動回路12、ロックインアンプ13、発信器14、図示の無いキャンセリングコイル23を駆動する電圧/電流変換器16およびPC18に加えて、被測定物20に交流磁場を印加するための交流磁場印加回路35を有している。交流磁場印加回路35は、センサ部31の周囲において、被測定物20全体に交流磁場を印加するために被測定物20全体を覆って移動可能に設けられるコイル36a、36bに交流磁場を印加する。
【0041】
なお。この誘導方式における具体的な交流磁場としてたとえば、150Hz以下の周波数の低い磁場を印加する。通常の測定装置においては、測定感度を上げるには、周波数を上げるが、通常、周波数を上げると被測定物の表面しか検出できない。これに対して、SQUIDを用いたセンサにおいては、周波数を下げると、断熱材に覆われた配管の内部等(たとえば、断熱材が10mmで配管厚みが10mm程度の場合)の腐食等を検出可能になる。
【0042】
次に図7に示すセンサ部を2個用いた測定方法について説明する。図8は、この場合の測定方法を示す図である。図8(A)は2つのセンサ部31a,31bを相互に一定間隔aだけあけて、被測定物20を走査する場合の例を示す図であり、先の誘導方式における図6(A)に対応する図である。図8(B)は、先の実施の形態における図6(B)に対応する図である。図8(A)においては、2つのセンサ部31a,31bで被測定物20を走査して測定を行なうのに対し、図8(B)においては、一方のセンサ部31aで被測定物20の測定を行ない、他方のセンサ部31cで周囲の環境ノイズを検出するのは、先の実施の形態と同じである。
【0043】
なお、図8(A)に示すコイルは、センサごとに設けているが、図8(C)に示すように、配管の両端にコイル37a,37bを設けて共通化することも可能である。
【0044】
また、印加する交流磁場の周波数としては、当然、50Hzや60Hzは避けるものとする。また、上記実施の形態においては、非破壊検査装置を断熱材で覆われた配管の内部の腐食部の厚さの測定に適用した場合について説明したが、これに限らず、任意の被測定物について、厚さ等の寸法を非接触で測定可能になる。
【0045】
また、上記実施の形態においては、2個のセンサを用いて、2個のセンサを相互に間隔を開けて被測定物を走査するか、または1個のセンサで被測定物を走査し、残りのセンサで周囲環境を測定する例について説明したが、これに限らず、3個以上のセンサを用いて被測定物を走査したり、2個のセンサで走査し、かつ、別のセンサで周囲環境を測定するようにしてもよい。
【0046】
また、上記実施の形態においては、配管内の腐食や、異物の当接による脱落等による配管内の寸法減を検出する場合について説明したが、これに限らず、配管内において、異物との衝突によってその部分の性質が変化している部分(たとえば、非磁性体が疲労等によって磁性を得たような、材質の変化部分)の厚さの検出や、異物(配管材料と組成の異なるもの)の検出に適用してもよい。
【0047】
次に、この発明の一実施の形態に係る実験例について説明する。図9(A)は、この実験の基本原理を説明するための図である。図9(A)を参照して、センサ51を被測定物60に近づけると、センサ51のコイルによる磁場52により被測定物60の表面に渦電流53が発生し、それによって渦電流53による誘導磁場59が発生する。センサ51を図中Aで示す方向に移動させることによって、被測定物60上に存在する凹部によって渦電流の歪みが生じて誘導磁場59も変化する。この変化をセンサ51で検出する。なお、センサ51の被測定物60側には交流磁場を印加するためのコイル54が設けられている。
【0048】
このコイル54は、図9(B)に示すように、D型のコイルを2つその直線部が対向するように並べた形状であり、以下、WDコイル54という。WDコイル54に電流を流すと、中心線51a上ではコイルから生じる磁場は打ち消されて、中心線51aでセンサ51の送信信号からの影響を無視できる。なお、図9(B)に示すように、WDコイル54には、図中矢印56で示す方向に電流が流れ、矢印55で示す方向に磁場が形成される。
【0049】
図10はこの実験で用いた測定機器を示す図である。基本的な構成は図5で示したものと同じである。図5および図10を参照して、センサ51は、図5に示したSQUID駆動回路12に接続され、WDコイル54は図5に示した電圧/電流変換器15に接続され、キャンセリングコイル57は図5に示した電圧/電流変換器16に接続されている。ここで、キャンセリングコイル57を設けているのは、センサ51がWDコイル54の中心線51aよりわずかにずれていると、センサ51の送信コイルからの磁場が直接入るため、これをキャンセルするために設けている。
【0050】
図11は、この実験で用いたセンサ51と、WDコイル54と、被測定物60との位置関係を示す図である。図11を参照して、センサ51から5mmの間隔をあけてWDコイル54が設けられている。この測定装置を用いて、直径10mmの貫通孔61を有する厚さ12mmの被測定物60の上に、距離hをあけてWDコイル54を位置させ、その距離hを変化させてそのときに得られる磁場を検出した。なお、ここで用いたWDコイル54の巻数は3、電流は150mA、周波数は200Hz、コイル幅(WDコイル54を構成する2個のコイルの中心間の距離)は約0.1mmである。その結果を図12に示す。
【0051】
図12(A)〜(C)は、それぞれ、距離hを1mm,5mm,10mmと変化させた場合の磁場の検出結果(上段)と、距離による磁場の変化の様子を示したグラフである。図12に示すように、それぞれにおいて、貫通孔による磁場の変化が検出されている。なお、この実験では、hが15mm程度まで貫通孔の存在を検出可能であったが、20mmを超えると測定不能であった。
【0052】
さらに、上記のように、WDコイルでは、hが20mmを超えると測定不能であることから、コイルの形状としては、WDコイル(図13(A))よりも2つの通常のコイル(Wコイル、図13(B))の方が好ましいことがわかる。
【0053】
次に、コイルパラメータを検討した。コイルパラメータとしては、コイルの巻数とコイルに流す電流値とを変化させてその影響を調べた。
【0054】
図14は、この場合における実験結果を示す図である。ここでは、コイルの巻数を3回、10回、30回と変化させるとともに、電流値を0.15A、0.3A、0.45Aに変化させたときの、距離hと磁場との関係を示す図である。図14を参照して、■で示した、電流値×巻数が0.45であれば、距離hはせいぜい20mmであるのに対して、黒の菱形で示した電流値×巻数が13.5であれば、距離hは50mmでも検出が可能であることがわかる。また、電流値×巻数が大きくなるほど、信号強度が大きくなる傾向にあることがわかる。
【0055】
以上から、センサ51を構成する一対のコイルの仕様としては、より離れた距離hからの測定を可能にするためには、コイルの巻数を上げ、電流値を上げることによって、励起磁場(巻数×電流値)をあげるのがよいことがわかる。言い換えると、センサ51を設計する場合に使用する一対のコイルの仕様としては、使用する距離hに応じて、コイルの巻数および電流値のいずれか一方を変化させればよいことがわかる。
【0056】
次に、2つの通常のコイル58a、58bとからなるWコイル58を用いた場合の、Wコイルの中心間の距離(コイル幅)dを一定として個々のコイルの径を変更した場合における、コイルの径と取得信号との関係について説明する。図15(A)は、Wコイル58a,58b間のコイル幅dを一定としてコイル58a,58bの径φを変化させる状態を示す図である。
【0057】
図16は、この場合の測定結果を示す図であり、Wコイル58を構成する個々のコイルの58a,58bの径を10mm、20mm,30mmと変化させたときのWコイル58と被測定物60との間の距離hと取得信号(磁場)との関係を示す図である。図16を参照して、コイルの径が大きくなるほど、信号強度が大きくなる傾向にあることがわかる。
【0058】
次に、コイル58a,58bの径φを一定とした場合における、Wコイル間のコイル幅dと取得信号との関係について説明する。この場合の測定状態を図15(B)に示す。図15(B)に示すように、Wコイル58a,58bと被測定物60との間の距離hを変化させるとともに、Wコイル58a,58b間の距離(コイル幅)dを変化させた。
【0059】
この場合の測定結果を図17に示す。図17は、Wコイル58の巻数が30回、電流値が300mA、コイルの径が30mmの場合の、距離hを20mm、30mm,40mmと変化させたときのコイル幅dと取得信号(磁場)との関係を示す図である。
【0060】
図17を参照して、距離hが大きくなれば、Wコイルのコイル幅dを広げると信号強度が大きくなることがわかる。
【0061】
以上、図面を参照してこの発明の実施形態を説明したが、この発明は、図示した実施形態のものに限定されない。図示された実施形態に対して、この発明と同一の範囲内において、あるいは均等の範囲内において、種々の修正や変形を加えることが可能である。
【図面の簡単な説明】
【0062】
【図1】センサと、被測定物である鉄粉との位置関係を示す図である。
【図2】配管の内径において、鉄粉が脱落した状態を示す図である。
【図3】無誘導方式を用いた非破壊検査装置の概略構成を示すブロック図である。
【図4】無誘導方式において、複数のセンサを用いた場合の測定方法を示すブロック図である。
【図5】誘導方式を用いた非破壊検査装置の概略構成を示すブロック図である。
【図6】図5に示した非破壊検査装置を複数用いた場合の測定方法を示すブロック図である。
【図7】誘導コイルを配管に巻いた誘導方式を用いた非破壊検査装置の概略構成を示すブロック図である。
【図8】図7に示した非破壊検査装置を複数用いた場合の測定方法を示すブロック図である。
【図9】この発明の一実施の形態に係る実験例を説明するための図である。
【図10】この実験で用いた測定機器を示す図である。
【図11】この実験で用いたセンサのWDコイルと、被測定物との関係を示す図である。
【図12】センサと被測定物との距離hを変化させた場合の磁場の検出結果(上段)と、距離による磁場の変化の様子を示したグラフである。
【図13】WDコイルとWコイルとを示す図である。
【図14】コイルの巻数とコイルに流す電流値とを変化させた場合における実験結果を示す図である。
【図15】Wコイル間の距離、コイルの径、および、コイル幅を変化させる状態を示す図である。
【図16】Wコイルの幅を一定としてコイルの径を変化させた場合の測定結果を示す図である。
【図17】Wコイルと被測定物との距離を変化させたときのコイル幅と取得信号との関係を示す図である。
【符号の説明】
【0063】
10 非破壊検査装置、11,51 センサ、24 センサ部、12 SQUID駆動装置、13 ロックインアンプ、14 発信器、15,16 電圧/電流変換器、17 磁場印加コイル、18 パソコン、19 測定装置、20,60 被測定物、21 配管、22 断熱材、23 キャンセリングコイル、25 鉄粉、29 測定装置30 非破壊検査装置、31 センサ部35 交流磁場印加回路、36,37 コイル、41,42 差分回路、49 測定装置、54 WDコイル、58 Wコイル。
【技術分野】
【0001】
この発明は、配管等の内部の腐食、穴などのへこみを測定可能な非破壊検査装置および非破壊検査装置のコイルの設計方法に関し、特に、非接触で配管等の内部の腐食、穴などのへこみを精度良く測定可能な非破壊検査装置および非破壊検査装置のコイルの設計方法に関する。
【背景技術】
【0002】
配管を非破壊で検査する装置が、たとえば、特開2000−329890号公報(特許文献1)に記載されている。同公報によれば、配管の屈曲部近傍に走行レールを設け、その上に超音波探触子を有する走行台車を設置して、配管の屈曲部の肉厚を測定している。
【特許文献1】特開2000−329890号公報(段落番号0011等)
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0003】
従来の配管の肉厚測定は、上記のように行なわれていた。配管に断熱材が巻かれていない屈曲部であれば、接触子を直接配管に接触可能であるため、その肉厚の測定が可能であるが、断熱材が巻かれていると、配管に直接接触できないため、測定ができないという問題があった。
【0004】
この発明は、上記のような問題点に鑑みてなされたもので、断熱材で保温材等が具備されている配管等の被測定物についても、非接触でその内部の腐食、穴等のへこみの寸法を測定できる非破壊検査装置および非破壊検査装置のコイルの設計方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0005】
この発明にかかる非破壊検査装置は、断熱材に覆われた被測定物に対して、断熱材を介して被測定物の上に載置されるSQUID探触子と、SQUID探触子を駆動するSQUID駆動装置とを含み、SQUID探触子は、磁場の変化に基づいて、所定の距離離れた位置にある被測定物の寸法を測定可能であり、SQUID駆動装置は、SQUID探触子からの出力を解析して被測定物の微少な穴等、すなわち、内部の寸法を演算する演算手段を含む。
【0006】
SQUID探触子は、磁場の変化に基づいて、所定の距離離れた位置にある被測定物の内部の寸法を測定可能であるため、たとえば、断熱材で保温等がなされている配管等の被測定物についても、非接触でその内部の腐食、穴等のへこみの寸法を測定できる非破壊検査装置を提供できる。
【0007】
好ましくは、SQUID探触子を断熱材の上で、被測定物に沿って移動する手段をさらに含む。
【0008】
この発明の一実施の形態においては、SQUID探触子は被測定物の上に相互に間隔を開けて複数個載置され、移動手段は、複数のSQUID探触子を相互に間隔を開けて被測定物上を走査する。
【0009】
この発明の他の実施の形態においては、SQUID探触子は複数個準備され、少なくとも1個のSQUID探触子は被測定物の上に載置され、少なくとも他の1個のSQUID探触子は、被測定物の周囲環境の磁場を測定する。
【0010】
さらに好ましくは、被測定物は配管であり、被測定物の内部の寸法は、配管の腐食部の厚さか、または、配管の寸法である。
【0011】
この発明のある実施の形態によれば、非破壊検査装置は、外部から磁場を印加する手段をさらに含む。
【0012】
なお、所定の距離yと、配管の計測可能な配管の穴の寸法dとは、d>(y/1000)で表される。
【0013】
なお、SQUID探触子は、相互に近接して配置された2個のコイルを含むのが好ましい。
【0014】
この発明の他の局面においては、コイルを内蔵したSQUID探触子を用いて被測定物の欠陥を遠隔で検査する非破壊検査装置用のコイルの設計方法は、SQUID探触子と被測定物との間の距離に応じて、コイルに流す電流値と巻数との少なくともいずれか一方を変化させる。
【0015】
この発明のさらに他の局面においては、相互に隣接して配置された一対のコイルを内蔵したSQUID探触子を用いて被測定物の欠陥を遠隔で検査する非破壊検査装置用のコイルの設計方法は、SQUID探触子と被測定物との間の距離に応じて、コイルの径を大きくする。
【0016】
この発明のさらに他の局面においては、相互に隣接して配置された一対のコイルを内蔵したSQUID探触子を用いて被測定物の欠陥を遠隔で検査する非破壊検査装置用のコイルの設計方法は、SQUID探触子と被測定物との間の距離に応じて、一対のコイル間のコイル幅を広げる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0017】
以下、図面を参照して、この発明の一実施形態について説明する。図1は、この発明に係る非破壊検査装置の発明者が、SQUID探触子(以下、「センサ」という)11を用いて鉄粉25がどの程度離れていてもその有無の検出可能であるかを測定する実験を行なった状態を示す図であり、センサ11と、被測定物の一例としての、鉄粉25との位置関係を示す図である。なお、ここでは、SQUID駆動装置や演算装置については図示を省略している。
【0018】
図1を参照して、直径dmmの鉄粉25とセンサ11との距離をyとすると、発明者は、複数回の実験を行ない、計測可能寸法な鉄粉25の直径dはd>(y/1000)とする必要がある、という実験式を得た。
【0019】
このことは、逆に考えると、たとえば、距離yが1m以下であれば、1mmより大きい径の鉄粉25であれば測定可能であることを示している。
【0020】
これを適用すると、断熱材に覆われた配管の内部の腐食、穴などのへこみ等の測定に利用可能になる。次にこの原理について説明する。図2は、断熱材22に覆われた配管21の内径部において、径が約1mmの鉄粉26が脱落した状態を示している。この場合、上記したように、図示のないセンサ11は、配管21の内径および断熱材22の厚さを含めて、d=(y/1000)の寸法まで測定可能であることから、断熱材22と配管21の内径の厚さの和が100mmであれば、d>100/1000として、d=0.1mmより大きい径の鉄粉の脱落(すなわち、配管の穴寸法、または、腐食部の厚さ等)を検出可能であることを意味する。
【0021】
以上の知見に基づいた、センサ11を用いた、断熱材に覆われた配管の、非破壊検査装置の概要について説明する。センサ11を用いた非破壊検査装置には、コイルを用いない無誘導方式と、コイルを用いる誘導方式とが存在する。無誘導方式および誘導方式のいずれにおいても、センサが1つの方式と、センサが2つの方式とが存在する。また、センサが2つの方式においては、それぞれのセンサを、間隔をあけて被測定物上を走査する方式と、一方のセンサで被測定物を走査し、他方のセンサで周囲の環境ノイズを検出する方式とが存在する。以下、具体的に説明する。
【0022】
(1)無誘導方式
図3は、無誘導方式において1つのセンサ11を用いた場合の非破壊検査装置10の概略構成を示すブロック図である。図3を参照して、非破壊検査装置10は、被測定物(ここでは配管21と断熱材22とを含む)20の外面に沿って図中矢印で示すように、配管20の円周方向(図中Bで示す方向)および長さ方向(図中Aで示す方向)に移動可能に設けられ、配管21の内部の肉厚を検出するセンサ11と、SQUID駆動装置として作動する測定装置19とを含む。
【0023】
ここで、センサ11は、図示のない任意の移動手段によって移動されることにより、被測定物上を走査する。
【0024】
センサ11は、上記したように、被測定物20を構成する配管21に直接接触していなくても、配管21の内面までの距離を検出可能であるため、断熱材22で覆われた配管21の内部の、腐食等による肉厚の減少を検出する。
【0025】
測定装置19は、センサ11を駆動するための、SQUID駆動回路12と、SQUID駆動回路12に接続され、配管内部の腐食、穴径などの肉厚減等を演算する演算手段となる、パーソナルコンピュータ(以下、「パソコン」という)18とを含む。
【0026】
この無誘導方式においては、センサ11は、配管の有する磁場のみを用いて磁場の変化を検出する。したがって、断熱材22がアルミのような金属シールドで覆われていても、配管21の内部の、腐食等による肉厚の減少を検出できる。
【0027】
次に無誘導方式において、2つのセンサを用いる測定方法について説明する。図4は、この場合の測定方法を示す図である。図4(A)は2つのセンサ11a,11bを相互に一定間隔aだけあけて、被測定物を走査する場合の例を示す図であり、図4(B)は、2つのセンサ11a,11bのうち、一方のセンサ11aで被測定物の測定を行ない、他方のセンサ11cで周囲の環境ノイズを検出する場合の例を示す図である。なお、図4(A)、(B)においては、センサ11a,11bのみを示し、測定装置については図示を省略している。
【0028】
図4(A)を参照して、2つのセンサ(センサ11a,11b)を相互に一定間隔aだけあけて、所定の速度vで図中矢印方向に移動する。すなわち、センサ11a,11bをΔt=a/vだけずらして移動し、その時得られた両信号の同期を検出して、両信号が同期してかつ異常があれば、その異常が欠陥を表わしているとして、パソコン18で判定する。
【0029】
次に、図4(B)を参照して、この場合は、被測定物20に沿って欠陥を検出するセンサ11aと、これとは別に設けられ、周囲の外乱ノイズのみを検出するセンサ11bとを設け、センサ11aで得られた信号から、センサ11cで得られた信号を差し引いて外乱ノイズをキャンセルする。
【0030】
(2)誘導方式
次に、誘導方式について説明する。図5は誘導方式において、単一のセンサ11を用いた場合の非破壊検査装置30を示す図である。図5を参照して、誘導方式においては、
被測定物にコイルを用いて電流を流し、その電流による磁場を用いて計測を行なう。そのために、外部から磁場を印加する手段(後に説明する磁場印加コイル)と、周辺の環境ノイズを除去する装置(後に説明するキャンセリングコイル)が加えられている。
【0031】
図5を参照して、この実施の形態においては、センサ部24と測定装置29とを含む。センサ部24は、センサ11と、磁場印加コイル17と、キャンセリングコイル23とを含む。測定装置29は、先の実施の形態における要素である、センサ11を駆動するためのSQUID駆動回路12とパソコン18に加えて、SQUID駆動回路12に接続されたロックインアンプ13と、ロックインアンプ13に接続された発信器14と、発信器14に接続された電圧/電流変換器15、16と、電圧/電流変換器15に接続された磁場印加コイル17と、電圧/電流変換器16に接続されたキャンセリングコイル23と、を含む。
【0032】
発信器14からの電圧出力は、電圧/電流変換器15により電流に交換され、センサ11の近傍に設けられた磁場印加コイル17に交流電流を流す。交流電流が流れた磁場印加コイル17は、配管21に磁場を印加する。磁場が印加された配管21には電磁誘導作用により、磁束の通過と垂直方向の渦電流が流れる。センサ11は、磁場印加コイル17からの磁束と渦電流からの磁束との和に相当する磁束信号を検出して、ロックインアンプ13を介してパソコン18へ送信し、そこで、配管等の内部の微少な穴径等の内部寸法を演算する。
【0033】
発信器14からの電圧出力は、電圧/電流変換器16により電流に交換され、センサ11の近傍に設けられたキャンセリングコイル23に交流電流を流す。交流電流が流れたキャンセリングコイル23は、コイル17によるセンサ11への磁場を除去する。したがって、コイル17による磁場が除去された信号がロックインアンプ13を経てパソコン18に入力され、配管21内部の欠陥を検出する。
【0034】
この実施の形態による非破壊検査装置30は、無誘導方式に比べて、被測定物20の検出精度は高い。
【0035】
次に誘導方式において、2つのセンサ部を用いる測定方法について説明する。図6は、この場合の測定方法を示す図である。図6(A)は2つの測定装置29a,29bを相互に一定間隔aだけあけて、被測定物を走査する場合の例を示す図であり、無誘導方式における図4(A)に対応する図である。図6(B)は、無誘導方式における図4(B)に対応する図である。図6(A)においては、2つのセンサ部24a,24bで被測定物を走査して測定を行なうのに対し、図6(B)においては、一方のセンサ部24aで被測定物の測定を行ない、他方のセンサ部24cで周囲の環境ノイズを検出する。
【0036】
この場合、測定装置29a,29bで取得した信号の差分をとる差分回路41を設け、その出力をパソコンに入力する。差分信号を取得することで、図6(A)のように、センサを速度vで動かしている場合、差分信号は、表面計測時のノイズを定常的に取り除くとともに、t=a/vの時間で同期する信号のみをとらえることで、精度の高い計測が可能となる。
【0037】
図6(B)では、センサ24cでとらえた環境ノイズをセンサ24aの周囲の環境ノイズと同一視して、差分回路42で環境ノイズを取り除き、計測の精度を上げることができる。
【0038】
ここで、測定装置29a,29bの取得した信号は、図5においてロックインアンプ13からパソコン18に出力される信号であり、この信号がパソコンで処理される。
【0039】
次に、誘導方式の他の実施の形態について説明する。図7は、誘導方式の他の実施の形態を示すブロック図である。図7を参照して、この実施の形態においては被測定物20の内部に存在する配管の腐食部等を検出するためのセンサ部31には測定装置49が接続されている。被測定物20の内部に存在する配管の腐食部等を検出するためのセンサ部31の走査方向(図中矢印で示す方向)の前後にはコイル36a、36bが設けられている。
【0040】
図7を参照して、この測定装置49は測定装置29と同様の構成を有しており、SQUID駆動回路12、ロックインアンプ13、発信器14、図示の無いキャンセリングコイル23を駆動する電圧/電流変換器16およびPC18に加えて、被測定物20に交流磁場を印加するための交流磁場印加回路35を有している。交流磁場印加回路35は、センサ部31の周囲において、被測定物20全体に交流磁場を印加するために被測定物20全体を覆って移動可能に設けられるコイル36a、36bに交流磁場を印加する。
【0041】
なお。この誘導方式における具体的な交流磁場としてたとえば、150Hz以下の周波数の低い磁場を印加する。通常の測定装置においては、測定感度を上げるには、周波数を上げるが、通常、周波数を上げると被測定物の表面しか検出できない。これに対して、SQUIDを用いたセンサにおいては、周波数を下げると、断熱材に覆われた配管の内部等(たとえば、断熱材が10mmで配管厚みが10mm程度の場合)の腐食等を検出可能になる。
【0042】
次に図7に示すセンサ部を2個用いた測定方法について説明する。図8は、この場合の測定方法を示す図である。図8(A)は2つのセンサ部31a,31bを相互に一定間隔aだけあけて、被測定物20を走査する場合の例を示す図であり、先の誘導方式における図6(A)に対応する図である。図8(B)は、先の実施の形態における図6(B)に対応する図である。図8(A)においては、2つのセンサ部31a,31bで被測定物20を走査して測定を行なうのに対し、図8(B)においては、一方のセンサ部31aで被測定物20の測定を行ない、他方のセンサ部31cで周囲の環境ノイズを検出するのは、先の実施の形態と同じである。
【0043】
なお、図8(A)に示すコイルは、センサごとに設けているが、図8(C)に示すように、配管の両端にコイル37a,37bを設けて共通化することも可能である。
【0044】
また、印加する交流磁場の周波数としては、当然、50Hzや60Hzは避けるものとする。また、上記実施の形態においては、非破壊検査装置を断熱材で覆われた配管の内部の腐食部の厚さの測定に適用した場合について説明したが、これに限らず、任意の被測定物について、厚さ等の寸法を非接触で測定可能になる。
【0045】
また、上記実施の形態においては、2個のセンサを用いて、2個のセンサを相互に間隔を開けて被測定物を走査するか、または1個のセンサで被測定物を走査し、残りのセンサで周囲環境を測定する例について説明したが、これに限らず、3個以上のセンサを用いて被測定物を走査したり、2個のセンサで走査し、かつ、別のセンサで周囲環境を測定するようにしてもよい。
【0046】
また、上記実施の形態においては、配管内の腐食や、異物の当接による脱落等による配管内の寸法減を検出する場合について説明したが、これに限らず、配管内において、異物との衝突によってその部分の性質が変化している部分(たとえば、非磁性体が疲労等によって磁性を得たような、材質の変化部分)の厚さの検出や、異物(配管材料と組成の異なるもの)の検出に適用してもよい。
【0047】
次に、この発明の一実施の形態に係る実験例について説明する。図9(A)は、この実験の基本原理を説明するための図である。図9(A)を参照して、センサ51を被測定物60に近づけると、センサ51のコイルによる磁場52により被測定物60の表面に渦電流53が発生し、それによって渦電流53による誘導磁場59が発生する。センサ51を図中Aで示す方向に移動させることによって、被測定物60上に存在する凹部によって渦電流の歪みが生じて誘導磁場59も変化する。この変化をセンサ51で検出する。なお、センサ51の被測定物60側には交流磁場を印加するためのコイル54が設けられている。
【0048】
このコイル54は、図9(B)に示すように、D型のコイルを2つその直線部が対向するように並べた形状であり、以下、WDコイル54という。WDコイル54に電流を流すと、中心線51a上ではコイルから生じる磁場は打ち消されて、中心線51aでセンサ51の送信信号からの影響を無視できる。なお、図9(B)に示すように、WDコイル54には、図中矢印56で示す方向に電流が流れ、矢印55で示す方向に磁場が形成される。
【0049】
図10はこの実験で用いた測定機器を示す図である。基本的な構成は図5で示したものと同じである。図5および図10を参照して、センサ51は、図5に示したSQUID駆動回路12に接続され、WDコイル54は図5に示した電圧/電流変換器15に接続され、キャンセリングコイル57は図5に示した電圧/電流変換器16に接続されている。ここで、キャンセリングコイル57を設けているのは、センサ51がWDコイル54の中心線51aよりわずかにずれていると、センサ51の送信コイルからの磁場が直接入るため、これをキャンセルするために設けている。
【0050】
図11は、この実験で用いたセンサ51と、WDコイル54と、被測定物60との位置関係を示す図である。図11を参照して、センサ51から5mmの間隔をあけてWDコイル54が設けられている。この測定装置を用いて、直径10mmの貫通孔61を有する厚さ12mmの被測定物60の上に、距離hをあけてWDコイル54を位置させ、その距離hを変化させてそのときに得られる磁場を検出した。なお、ここで用いたWDコイル54の巻数は3、電流は150mA、周波数は200Hz、コイル幅(WDコイル54を構成する2個のコイルの中心間の距離)は約0.1mmである。その結果を図12に示す。
【0051】
図12(A)〜(C)は、それぞれ、距離hを1mm,5mm,10mmと変化させた場合の磁場の検出結果(上段)と、距離による磁場の変化の様子を示したグラフである。図12に示すように、それぞれにおいて、貫通孔による磁場の変化が検出されている。なお、この実験では、hが15mm程度まで貫通孔の存在を検出可能であったが、20mmを超えると測定不能であった。
【0052】
さらに、上記のように、WDコイルでは、hが20mmを超えると測定不能であることから、コイルの形状としては、WDコイル(図13(A))よりも2つの通常のコイル(Wコイル、図13(B))の方が好ましいことがわかる。
【0053】
次に、コイルパラメータを検討した。コイルパラメータとしては、コイルの巻数とコイルに流す電流値とを変化させてその影響を調べた。
【0054】
図14は、この場合における実験結果を示す図である。ここでは、コイルの巻数を3回、10回、30回と変化させるとともに、電流値を0.15A、0.3A、0.45Aに変化させたときの、距離hと磁場との関係を示す図である。図14を参照して、■で示した、電流値×巻数が0.45であれば、距離hはせいぜい20mmであるのに対して、黒の菱形で示した電流値×巻数が13.5であれば、距離hは50mmでも検出が可能であることがわかる。また、電流値×巻数が大きくなるほど、信号強度が大きくなる傾向にあることがわかる。
【0055】
以上から、センサ51を構成する一対のコイルの仕様としては、より離れた距離hからの測定を可能にするためには、コイルの巻数を上げ、電流値を上げることによって、励起磁場(巻数×電流値)をあげるのがよいことがわかる。言い換えると、センサ51を設計する場合に使用する一対のコイルの仕様としては、使用する距離hに応じて、コイルの巻数および電流値のいずれか一方を変化させればよいことがわかる。
【0056】
次に、2つの通常のコイル58a、58bとからなるWコイル58を用いた場合の、Wコイルの中心間の距離(コイル幅)dを一定として個々のコイルの径を変更した場合における、コイルの径と取得信号との関係について説明する。図15(A)は、Wコイル58a,58b間のコイル幅dを一定としてコイル58a,58bの径φを変化させる状態を示す図である。
【0057】
図16は、この場合の測定結果を示す図であり、Wコイル58を構成する個々のコイルの58a,58bの径を10mm、20mm,30mmと変化させたときのWコイル58と被測定物60との間の距離hと取得信号(磁場)との関係を示す図である。図16を参照して、コイルの径が大きくなるほど、信号強度が大きくなる傾向にあることがわかる。
【0058】
次に、コイル58a,58bの径φを一定とした場合における、Wコイル間のコイル幅dと取得信号との関係について説明する。この場合の測定状態を図15(B)に示す。図15(B)に示すように、Wコイル58a,58bと被測定物60との間の距離hを変化させるとともに、Wコイル58a,58b間の距離(コイル幅)dを変化させた。
【0059】
この場合の測定結果を図17に示す。図17は、Wコイル58の巻数が30回、電流値が300mA、コイルの径が30mmの場合の、距離hを20mm、30mm,40mmと変化させたときのコイル幅dと取得信号(磁場)との関係を示す図である。
【0060】
図17を参照して、距離hが大きくなれば、Wコイルのコイル幅dを広げると信号強度が大きくなることがわかる。
【0061】
以上、図面を参照してこの発明の実施形態を説明したが、この発明は、図示した実施形態のものに限定されない。図示された実施形態に対して、この発明と同一の範囲内において、あるいは均等の範囲内において、種々の修正や変形を加えることが可能である。
【図面の簡単な説明】
【0062】
【図1】センサと、被測定物である鉄粉との位置関係を示す図である。
【図2】配管の内径において、鉄粉が脱落した状態を示す図である。
【図3】無誘導方式を用いた非破壊検査装置の概略構成を示すブロック図である。
【図4】無誘導方式において、複数のセンサを用いた場合の測定方法を示すブロック図である。
【図5】誘導方式を用いた非破壊検査装置の概略構成を示すブロック図である。
【図6】図5に示した非破壊検査装置を複数用いた場合の測定方法を示すブロック図である。
【図7】誘導コイルを配管に巻いた誘導方式を用いた非破壊検査装置の概略構成を示すブロック図である。
【図8】図7に示した非破壊検査装置を複数用いた場合の測定方法を示すブロック図である。
【図9】この発明の一実施の形態に係る実験例を説明するための図である。
【図10】この実験で用いた測定機器を示す図である。
【図11】この実験で用いたセンサのWDコイルと、被測定物との関係を示す図である。
【図12】センサと被測定物との距離hを変化させた場合の磁場の検出結果(上段)と、距離による磁場の変化の様子を示したグラフである。
【図13】WDコイルとWコイルとを示す図である。
【図14】コイルの巻数とコイルに流す電流値とを変化させた場合における実験結果を示す図である。
【図15】Wコイル間の距離、コイルの径、および、コイル幅を変化させる状態を示す図である。
【図16】Wコイルの幅を一定としてコイルの径を変化させた場合の測定結果を示す図である。
【図17】Wコイルと被測定物との距離を変化させたときのコイル幅と取得信号との関係を示す図である。
【符号の説明】
【0063】
10 非破壊検査装置、11,51 センサ、24 センサ部、12 SQUID駆動装置、13 ロックインアンプ、14 発信器、15,16 電圧/電流変換器、17 磁場印加コイル、18 パソコン、19 測定装置、20,60 被測定物、21 配管、22 断熱材、23 キャンセリングコイル、25 鉄粉、29 測定装置30 非破壊検査装置、31 センサ部35 交流磁場印加回路、36,37 コイル、41,42 差分回路、49 測定装置、54 WDコイル、58 Wコイル。
【特許請求の範囲】
【請求項1】
断熱材に覆われた被測定物に対して、前記断熱材を介して前記被測定物の上に載置されるSQUID探触子と、
前記SQUID探触子を駆動するSQUID駆動装置とを含み、
前記SQUID探触子は、磁場の変化に基づいて、所定の距離離れた位置にある前記被測定物の寸法を測定可能であり、
前記SQUID駆動装置は、前記SQUID探触子からの出力を解析して前記被測定物の内部の寸法を演算する演算手段を含む、非破壊検査装置。
【請求項2】
前記SQUID探触子を前記断熱材の上で、前記被測定物に沿って移動する移動手段をさらに含む、請求項1に記載の非破壊検査装置。
【請求項3】
前記SQUID探触子は前記被測定物の上に相互に間隔を開けて複数個載置され、前記移動手段は、前記複数のSQUID探触子を相互に間隔を開けて前記被測定物上を走査する、請求項1または2に記載の非破壊検査装置。
【請求項4】
前記SQUID探触子は複数個準備され、
少なくとも1個のSQUID探触子は前記被測定物の上に載置され、
少なくとも他の1個のSQUID探触子は、前記被測定物の周囲環境の磁場を測定する、請求項1または2に記載の非破壊検査装置。
【請求項5】
前記被測定物は配管であり、前記被測定物の内部の寸法は、前記配管の腐食部の厚さである、請求項1から4のいずれかに記載の非破壊検査装置。
【請求項6】
前記被測定物は配管であり、前記被測定物の内部の寸法は、前記配管の穴の寸法である、請求項1から4のいずれかに記載の非破壊検査装置。
【請求項7】
外部から磁場を印加する手段をさらに含む、請求項1から6のいずれかに記載の非破壊検査装置。
【請求項8】
前記所定の距離yと、前記配管の計測可能な配管の穴の寸法は、
d>y/1000で表される、請求項6または7に記載の非破壊検査装置。
【請求項9】
前記SQUID探触子は、相互に近接して配置された2個のコイルを含む、請求項1から8のいずれかに記載の非破壊検査装置。
【請求項10】
相互に隣接して配置された一対のコイルを内蔵したSQUID探触子を用いて被測定物の欠陥を遠隔で検査する非破壊検査装置用のコイルの設計方法であって、
前記SQUID探触子と前記被測定物との間の距離に応じて、前記コイルに流す電流値と巻数との少なくともいずれか一方を変化させる、非破壊検査装置のコイルの設計方法。
【請求項11】
相互に隣接して配置された一対のコイルを内蔵したSQUID探触子を用いて被測定物の欠陥を遠隔で検査する非破壊検査装置用のコイルの設計方法であって、
前記SQUID探触子と前記被測定物との間の距離に応じて、前記コイルの径を大きくする、非破壊検査装置のコイルの設計方法。
【請求項12】
相互に隣接して配置された一対のコイルを内蔵したSQUID探触子を用いて被測定物の欠陥を遠隔で検査する非破壊検査装置用のコイルの設計方法であって、
前記SQUID探触子と前記被測定物との間の距離に応じて、前記一対のコイル間のコイル幅を広げる、非破壊検査装置のコイルの設計方法。
【請求項1】
断熱材に覆われた被測定物に対して、前記断熱材を介して前記被測定物の上に載置されるSQUID探触子と、
前記SQUID探触子を駆動するSQUID駆動装置とを含み、
前記SQUID探触子は、磁場の変化に基づいて、所定の距離離れた位置にある前記被測定物の寸法を測定可能であり、
前記SQUID駆動装置は、前記SQUID探触子からの出力を解析して前記被測定物の内部の寸法を演算する演算手段を含む、非破壊検査装置。
【請求項2】
前記SQUID探触子を前記断熱材の上で、前記被測定物に沿って移動する移動手段をさらに含む、請求項1に記載の非破壊検査装置。
【請求項3】
前記SQUID探触子は前記被測定物の上に相互に間隔を開けて複数個載置され、前記移動手段は、前記複数のSQUID探触子を相互に間隔を開けて前記被測定物上を走査する、請求項1または2に記載の非破壊検査装置。
【請求項4】
前記SQUID探触子は複数個準備され、
少なくとも1個のSQUID探触子は前記被測定物の上に載置され、
少なくとも他の1個のSQUID探触子は、前記被測定物の周囲環境の磁場を測定する、請求項1または2に記載の非破壊検査装置。
【請求項5】
前記被測定物は配管であり、前記被測定物の内部の寸法は、前記配管の腐食部の厚さである、請求項1から4のいずれかに記載の非破壊検査装置。
【請求項6】
前記被測定物は配管であり、前記被測定物の内部の寸法は、前記配管の穴の寸法である、請求項1から4のいずれかに記載の非破壊検査装置。
【請求項7】
外部から磁場を印加する手段をさらに含む、請求項1から6のいずれかに記載の非破壊検査装置。
【請求項8】
前記所定の距離yと、前記配管の計測可能な配管の穴の寸法は、
d>y/1000で表される、請求項6または7に記載の非破壊検査装置。
【請求項9】
前記SQUID探触子は、相互に近接して配置された2個のコイルを含む、請求項1から8のいずれかに記載の非破壊検査装置。
【請求項10】
相互に隣接して配置された一対のコイルを内蔵したSQUID探触子を用いて被測定物の欠陥を遠隔で検査する非破壊検査装置用のコイルの設計方法であって、
前記SQUID探触子と前記被測定物との間の距離に応じて、前記コイルに流す電流値と巻数との少なくともいずれか一方を変化させる、非破壊検査装置のコイルの設計方法。
【請求項11】
相互に隣接して配置された一対のコイルを内蔵したSQUID探触子を用いて被測定物の欠陥を遠隔で検査する非破壊検査装置用のコイルの設計方法であって、
前記SQUID探触子と前記被測定物との間の距離に応じて、前記コイルの径を大きくする、非破壊検査装置のコイルの設計方法。
【請求項12】
相互に隣接して配置された一対のコイルを内蔵したSQUID探触子を用いて被測定物の欠陥を遠隔で検査する非破壊検査装置用のコイルの設計方法であって、
前記SQUID探触子と前記被測定物との間の距離に応じて、前記一対のコイル間のコイル幅を広げる、非破壊検査装置のコイルの設計方法。
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図13】
【図14】
【図15】
【図16】
【図17】
【図12】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図13】
【図14】
【図15】
【図16】
【図17】
【図12】
【公開番号】特開2007−132923(P2007−132923A)
【公開日】平成19年5月31日(2007.5.31)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2006−240323(P2006−240323)
【出願日】平成18年9月5日(2006.9.5)
【新規性喪失の例外の表示】特許法第30条第1項適用申請有り 2006年6月29日 社団法人電子情報通信学会発行の「電子情報通信学会技術研究報告 信学技報Vol.106 No.139」に発表
【出願人】(504176911)国立大学法人大阪大学 (1,536)
【出願人】(000134925)株式会社ニチゾウテック (22)
【Fターム(参考)】
【公開日】平成19年5月31日(2007.5.31)
【国際特許分類】
【出願日】平成18年9月5日(2006.9.5)
【新規性喪失の例外の表示】特許法第30条第1項適用申請有り 2006年6月29日 社団法人電子情報通信学会発行の「電子情報通信学会技術研究報告 信学技報Vol.106 No.139」に発表
【出願人】(504176911)国立大学法人大阪大学 (1,536)
【出願人】(000134925)株式会社ニチゾウテック (22)
【Fターム(参考)】
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