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Fターム[2G053BA11]の内容

Fターム[2G053BA11]の下位に属するFターム

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Fターム[2G053BA11]に分類される特許

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【課題】強磁性体を有する球において、製造時に発生する結晶集合組織や相の不均一性による異方性(非球対称性)や使用時に発生する疲労損傷にともなう転位密度の増加を、簡便に測定する方法を提供する。
【解決手段】強磁性材料からなる被測定物を一様磁場下で回転させ、前記被測定物の回転により誘起される磁界変動を、前記被測定物の近傍に配置された磁気センサーで測定することにより、前記強磁性材料の磁気特性を評価する。 (もっと読む)


【課題】被検査体を磁気飽和させる素子を小型化して狭隘部の探傷を容易化するとともに、被検査体間との引力を低減してその表面に対するコイル等の走査性を向上させる渦電流探傷技術を提供することを目的とする。
【解決手段】渦電流探傷装置1は、探傷コイル(第1コイル11)及び磁化コイル(第2コイル21)を被検査体2の表面に走査させる走査部30と、この第1コイル11に交流磁場を発生させ被検査体2に生じた渦電流の誘導磁場を検出する探傷部10と、第2コイル21にパルス磁場を発生させそのパルス周期Tに応じて被検査体2を磁気飽和させる磁化部20と、このパルス周期Tに対応して前記誘導磁場の検出信号Dを取得する解析部14と、を備えている。 (もっと読む)


【課題】フレキシブルなプローブを用いて、曲面の検査をする場合でも、リフトオフ量を精度良く評価できる渦電流探傷方法を提供することにある。
【解決手段】励磁コイル1Aと検出コイル1Bの並び方向が検査面の曲面方向と同じ渦電流探傷プローブを用いる。ステップS60において、検査面に渦電流プローブを設置する前から、設置するまで信号において、X又はY成分のいずれかの最大値信号値V0と設置時点の信号値V1の大小関係を比較する。そして、ステップS70,S80にて、渦電流プローブを検査面に密着させる際に発生する検出のX成分又はY成分の信号値とリフトオフの特性と最大値信号値V0と設置時点の信号値V1のいずれかを用いて、リフトオフ特性からリフトオフ値を求める。 (もっと読む)


【課題】被検査面の曲率半径が不明な場合でも、被検査面にプローブを押付けた際の密着性を確認できる渦電流探傷方法を提供することにある。
【解決手段】演算制御部40は、試験体20Aの平面に渦電流プローブ3を密着させるまでに発生する検出信号と試験体20Bの曲面に渦電流プローブ3を密着させる際に発生する検出信号からリサージュ平面上にリフトオフ許容領域Aを求める。さらに、演算制御部40は、渦電流プローブを被検査体に密着させる過程で発生するリサージュ平面上の信号とリフトオフ許容領域Aを比較して、任意曲面に渦電流プローブを押付けた際のリフトオフ量を評価する。 (もっと読む)


【課題】工作物の加工変質層を高精度に検出することが可能な加工変質層検出装置を提供することを目的とする。
【解決手段】加工変質層検出装置1は、励磁電流により工作物2の内部に渦電流を誘導し、励磁電流の周波数に応じた浸透深さにおける透磁率を測定するセンサ10と、深層部を浸透深さとする第一周波数(0.5[kHz]〜1.0[kHz])と表層部を浸透深さとする第二周波数(50[kHz]〜1.0[MHz])を含む複数の周波数を設定した励磁電流をセンサ10に供給する供給手段31と、第二周波数により測定される第二透磁率が第一周波数により測定される第一透磁率より大きな値である場合に、工作物2に加工変質層が生じているものと判定する判定手段32と、を備える。 (もっと読む)


【課題】検査対象物の表面形状の違いやリフトオフの変動によって検出信号データにノイズ成分が重畳しても、そのノイズ成分を除去し、かつ予め測定している基準検出信号と、材質変化等の特性変化などの検出信号とを正確に比較することが可能な渦電流探傷装置および表示装置を提供する。
【解決手段】渦電流探傷装置において、検出信号が発生する領域を抽出する信号発生領域抽出手段と、検出信号から不要な検出信号の成分を補正する信号補正手段と、検出位置及び検出時間のうち少なくとも一方を座標とする座標系にて信号補正した検出信号データを構成する信号分布合成手段とを備える。 (もっと読む)


【課題】
被検査球に非接触で有害なキズをつけることなく検査を実施することができて、光を透過する材質を含む被検査球の全表面及び内部のキズ,異物及び欠陥の有無を判定可能とする。
【解決手段】
球体保持器4と、流体供給装置1を含み、球体保持器4は中心部に流体供給装置1に連通する流体噴出孔2aを有していると共に、上面に半球状のくぼみを形成してなり、かつ半球状のくぼみには中心より放射方向に1本又は非対称複数本の流体流出溝3を設けて被検査球7を流体噴出孔2aよりの噴出流体で球体保持器4上に浮揚させ、非接触で回転させながら検査手段により被検査球7の全表面及び内面を検査する。 (もっと読む)


【課題】鋭利な凸凹や、曲率の小さい被検査体面の検査でも、渦電流プローブにスペーサーとして設置する突起物の密着を安定させた渦電流プローブ及びその製造方法を提供することにある。
【解決手段】突起物5の外径が嵌るほどの径をもつ穴7Aを有する基板7と基板3を接着させ、突起物5の被検査体2と反対の面と、基板3が密着し、かつ、基板7の穴7Aで突起物5を嵌め、突起物5の位置を保持する。突起物5の外径より小さく、突起物5凸部先端部の外径より大きい穴10Aを有する基板10と、基板7と基板3の積層基板とを接着させ、基板3と基板7と基板10に作られた空間に突起物5を収納し、基板10の穴10Aで突起物5を固定する。 (もっと読む)


【課題】検査対象物の特性変化の大きさにかかわらず特性変化の検出を確認することができるとともに、その検出位置を特定することができる渦電流検査装置を提供する。
【解決手段】例えば渦電流プローブ2を用いて金属体1の曲面部1aの探傷検査を実施する渦電流検査装置において、渦電流プローブ2の検出信号の位相角を演算し、検出位置を座標とする座標系にてきず信号の検出範囲(詳細には、検出信号の位相角に基づいてきず信号に相当すると判定された検出信号の範囲)を示すきず識別画像データを生成する検査制御装置5と、きず識別画像データを表示する表示器7とを備える。 (もっと読む)


【課題】測定コイルを移動させる必要がなく、かつ被検査材の焼入れ領域の局部的な深さを検出することができる。
【解決手段】略U字形に成形され、左右の脚部11,12の先端面が被検査材Wの表面に接触ないし近接対向させられた磁性体コア1と、励磁信号を出力するとともにその周波数を一定範囲で変更可能な交流電源と、磁性体コア1の一方の脚部11に巻回され、交流電源に接続されて励磁信号が印加される一次コイル21と、磁性体コア1の他方の脚部12に巻回されて一次コイル21の磁力線Mが通過する二次コイル22と、交流電源の励磁信号の周波数を逐次変更し、二次コイル22の出力信号85aが最大ないし最小を示す周波数より被検査材Wの焼入れ深さを検出する検出回路とを備える。 (もっと読む)


【課題】表面硬化処理が施されているワークの局所における表面硬化深さを非接触で連続的又は断続的に測定し、工数を低減する技術を提供することを課題とする。
【解決手段】検出コイル28は、絶縁性に富む三角形断面のナイロンなどの樹脂体36を介して検出コイル支持体24に支持されている。樹脂体36が三角形断面であるため、検出コイル28をワーク15の表面に接近させることができる。すなわち、ワーク15の局所を測定できる。
【効果】励磁コイルでワークの局所を励磁し、ワークに発生した渦電流を信号検出部で検出する。信号検出部をワークの局所に近づけるので、ワークの形状が複雑であってもワークの局所における表面硬化層深さを測定できる。加えて、渦電流を利用してワークを連続的又は断続的に測定するので、工数を低減できる。 (もっと読む)


【課題】ホール素子表面に固定される磁気微粒子の量を正確に検出する。
【解決手段】ホール素子1001の表面上に磁性粒子1101が固定可能な領域1009が形成されている。領域1009は、この領域1009に固定された磁性粒子1101の個数と、ホール素子1001にDC電源1003より電流を流したときに得られるホール起電力の大きさとが一対一で対応する領域である。 (もっと読む)


【課題】上記の欠点を克服することを可能にすること。
【解決手段】金属部品に形成される直線孔の自動検査のために渦電流を用いる。渦電流プローブ(13)は、検査のための孔と類似の孔を含み、そのオリフィスと整列する較正部品(35)を保持する位置決めベースプレート(25)に関連付けられる駆動システム(17)によって保持される。 (もっと読む)


【課題】金属検出機の検出性能を高精度に測定するためのテストピースを提供する。
【解決手段】金属検出機40の性能検査に用いる金属片5と、金属片5を保持する保持部材20と、を備える金属検出機用の試験体10であって、保持部材20を形成する複数の面の形状が多角形の形状をなし、複数の面のうち少なくとも2つの面が検査時に金属検出機40に載置されるための基準面(B1、B2)とされ、金属片5が、基準面(B1、B2)から相互に異なる高さ(h1、h2)に保持されていることを特徴とする金属検出機用の試験体。 (もっと読む)


【課題】複雑な幾何学形状を有する部品における小さな亀裂及び他の異常を検出する。
【解決手段】多周波渦電流信号からデータを収集することを含めた渦電流検査を含む。生検査画像の信号対雑音比を向上するために、位相解析を使用して多周波データが組合わされる。その後、通常はエッジ効果信号により隠蔽されると考えられる縁部34の亀裂及び他のきずと関連する信号を分離することを目的として、渦電流きず信号の周波数成分と相関するために、時空間フィルタを使用して画像が再処理される。 (もっと読む)


【課題】水等の液体を用いること無く、金属部品の表面及び内部に存在する欠陥を検査することが可能な金属部品の欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供する。
【解決手段】励磁手段22から交流電流ACを供給された励磁コイル4によって、テーブル2の上面に載置されたトロイダル型無段変速機部品18に交流磁界を付与してトロイダル型無段変速機部品18の周辺に磁場が発生させた後に、この磁場内に配置された検出コイル6に発生したインダクタンスの変化に基づいて、トロイダル型無段変速機部品18の表面及び内部に存在する欠陥の大きさを計算して、トロイダル型無段変速機部品18の表面及び内部に存在する欠陥を検査する。 (もっと読む)


【課題】インサート成形により製造された転動装置部品に製品欠陥があるか否かを切断などの破壊を伴わずに精度よく検査することのできる転動装置部品の製品欠陥検査方法及び製品欠陥検査装置を提供する。
【解決手段】インサート成形により製造された転動装置部品に製品欠陥があるか否かを検査する際に、転動装置部品に交流磁界を付与する励磁コイル16aと、励磁コイル16aから転動装置部品に付与された交流磁界の磁束密度の変化を検出するための誘導コイル16bと、誘導コイル16bに発生した誘導起電力を検出するインダクタンス変化検出回路17と、インダクタンス変化検出回路17で検出された誘導起電力の大きさを閾値と比較して製品欠陥の有無を判定する比較判定回路18とを備えてなる検査装置を用いて製品欠陥の有無を判定する。 (もっと読む)


【課題】 高速、連続で被検査物の探傷を行う。
【解決手段】 長軸状の検査筒の周囲の一部に高周波電圧を印加するコイルを巻回し、被検査物を検査筒に挿入してコイルの内部を通過させ、リサージュ波形を描く。予め無傷であることがわかっている被検査物のリサージュ波形を基準波形として設定しておき、被検査物の描くリサージュ波形と、基準波形とが一定の誤差内に収まっているか否かで有傷又は無傷を判定する。複数の被検査物に対して連続的に探傷検査を行う場合には、無傷と判定された直近の被検査物のリサージュ波形を基準波形としたり、無傷と判定された直近の複数個の被検査物のリサージュ波形の平均波形を基準波形とすることにより、周囲環境や製造ロットの変化等による波形の変化にも柔軟に対応可能となる。 (もっと読む)


真珠核の交差2軸での異方性を検出することにより材質に異方性のある真珠核と異方性の無い真珠核とを判別する。異方性の検出は、真珠核の液中での浮力による回転、又は真珠核の磁化率、又は真珠核の光透過率、又は真珠核の光反射率を用いた。従って、球形状の核の交差2軸での異方性を確実且つ迅速に検出し、核の材質を検査することを特徴とする。
(もっと読む)


【課題】 磁性体の内部構造を正確に測定する。
【解決手段】 本発明の磁性体の内部構造を測定する方法においては、以下のような処理を行う。まず、被測定物を測定するためのセンサを、所定の位置に配する(S2)。そして、センサで被測定物に静磁場を印加して(S4)、被測定物の複数の測定位置について磁束密度を測定する(S6)。複数の測定位置のうちの少なくとも一部の測定位置における磁束密度に基づいて、センサと被測定物との相対位置に関する第1の特性値θ1を決定する(S42)。その後、第1の特性値θ1が所定の範囲内にある場合に(S44)、複数の測定位置における磁束密度に基づいて、被測定物の表面の構造に関する第2の特性値を求めて(S14)、処理を終了する。また、第1の特性値θ1が所定の範囲内にない場合に、センサと被測定物との相対位置を変えて(S50)、再び磁束密度を測定する(S6)。 (もっと読む)


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