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Fターム[2F062FF05]の内容

機械的手段の使用による測定装置 (14,257) | 走査 (1,305) | 走査方向 (1,174) | 検出部が移動するもの (846) | 三次元 (208)

Fターム[2F062FF05]に分類される特許

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【課題】高精度に接触子の交換判定を実行可能な表面性状測定装置、表面性状測定方法、及びプログラムを提供する。
【解決手段】制御部51は、接触子24を基準ワーク4Aの表面に倣うように駆動すると共に接触子24の所定位置の軌跡を第1擬似測定点列P1iとして取得する。制御部51は、第1擬似測定点列P1i、及び基準ワーク4Aの表面を特定する設計面S0に基づき、接触子24の表面形状を示し且つ擬似空間上に配置される接触子モデルM1を算出する。制御部51は、被測定物4Aの表面41Aを特定する参照面S2に接触子モデルM1の表面が接し且つ測定時の接触子24と接触子モデルM1との姿勢を一致させるように接触子モデルM1を配置し、接触子モデルM1の基準位置Oを、第2擬似測定点列P2iとして算出する。制御部51は、第2擬似測定点列P2iに基づき、接触子24を交換すべきか否かを判定する。 (もっと読む)


【課題】精度よく測定しなければならない小さい領域と、精度よく測定しなくてもよい大きな領域とが混在する大きな被測定物を適切に測定することができる安価な三次元測定機の提供。
【解決手段】三次元測定機1は、三次元測定機本体2と、制御装置3とを備える。三次元測定機本体2は、測定子を有するプローブ4と、プローブ4を駆動する駆動機構5とを備える。プローブ4は、測定子を駆動する駆動部43を備える。制御装置3は、第1測定部321と、第2測定部322とを備える。第1測定部321は、駆動部43にて駆動される測定子の移動量を測定する。第2測定部322は、プローブ4の移動量を測定する。また、第2測定部322による測定精度は、第1測定部321による測定精度より低い。 (もっと読む)


【課題】本発明は、測定装置のコストを低減し、且つ測定精度を保障する誤差補正方法及びこれを用いた部品測定方法を提供する。
【解決手段】前記誤差補正方法は、プローブ及びガイドを備える測定装置を提供するステップと、ガイドの真直度誤差を測定して補正するステップと、プローブの取付傾斜角をフィッティングするステップと、プローブの形状誤差を計算するステップと、系統誤差補正プログラムを生成するステップと、を含む。前記部品測定方法は、前記誤差補正方法を通して系統誤差補正プログラムを生成するステップと、曲面又は曲線を有する部品を提供するステップと、前記測定装置を使用して、部品の曲面又は曲線を測定するステップと、ガイドの真直度誤差を測定して補正するステップと、プローブの取付傾斜角による誤差を補正するステップと、プローブの形状誤差を補正するステップと、プログラムにより測定誤差を生成するステップと、を含む。 (もっと読む)


【課題】 軸方向位置によって外径・内径寸法が異なる筒状の回転体であっても、肉厚、偏肉、偏心状態等を簡単に精度良く測定できる回転体の肉厚等測定装置を提供する。
【解決手段】 被測定物支持台装置1で支持した被測定物Wの中心軸Oに直交する方向に移動自在な水平移動台11を有する水平移動テーブル機構10と、水平移動台11にこれと同方向に移動自在にプローブ支持体22を設けた測定テーブル機構20とを備える。被測定物Wの内外周面への測定端子の接触を検出するプローブ30を、プローブ支持体22に設ける。水平移動台11の進退位置を水平位置検出手段40で、水平移動台11に対するプローブ支持体22の変位量を変位量検出手段50で検出する。被測定物内周面と対向位置の外周面へ測定端子を接触させたときの、変位量検出手段50の変位量検出値と水平位置検出手段40の位置検出値から被測定物Wの肉厚を演算する。 (もっと読む)


【課題】被測定物の形状を適切に測定することができる形状測定機、及び形状測定方法の提供。
【解決手段】三次元測定機1は、被測定物に当接する測定子と、測定子を移動させるスライド機構24、及び駆動機構25と、スライド機構24、及び駆動機構25を制御するホストコンピュータ5とを備える。ホストコンピュータ5は、測定子の内部に設定された所定の点を仮測定点として仮測定点の位置を時系列で取得する仮測定点取得手段51と、仮測定点取得手段51にて取得された仮測定点の位置と、測定子の表面形状をモデル化した測定子モデルとに基づいて、測定点の位置を推定して取得する測定点推定手段52とを備える。測定点推定手段52は、対象モデル配置部521と、領域設定部522と、前後モデル配置部523と、範囲設定部524と、測定点取得部525とを備える。 (もっと読む)


【課題】水平面に近い形状を有するときにも高精度かつ低測定力で測定が可能なプローブを提供する。
【解決手段】直動部6は鉛直方向にのみ直動可能に取付部2に支持される。揺動部3は、測定物60の被測定面61に接触するスタイラス121を先端に備えるアーム112を有する。連結機構4は、揺動部3側の支持部材42の尖端を直動部6側の載置台41に形成された溝41aに嵌入することで、揺動部3を直動部6に対して揺動可能に連結する。揺動側磁石51と非揺動側磁石52との間の磁気的吸引力により、アーム112を鉛直方向に向ける付勢力が揺動部3に作用する。可動側磁石71と固定側磁石72との間の磁気力により、直動部3に鉛直方向上向きの付勢力が作用し、直動部3は取付部3に対して鉛直方向に非接触で保持される。 (もっと読む)


【課題】簡便かつ安価の構造で、外乱振動の影響を軽減できる形状測定機および倣いプローブ装置を提供する。
【解決手段】プローブ10は、相対移動機構のZ軸スライダに保持されたケース体11と、このケース体の内部に往復移動可能に設けられたプローブ本体12と、このプローブ本体の先端に設けられた力センサ20と、プローブ本体を往復移動させる駆動アクチュエータ14とを含む。ケース体とプローブ本体との間にはプローブ本体の往復移動方向へ振動可能な振動素子17が設けられている。力センサからの力検出信号を基にプローブ本体に伝わる外乱振動を相殺する振動を振動素子17から発生させる相殺振動発生手段50が設けられている。 (もっと読む)


【課題】先端接触子の呼び半径とスタイラスの実際の移動距離とによって、ワークの寸法計測を正確に行うことができる接触検出装置およびスタイラスの先端接触子の製造方法を提供する。
【解決手段】スタイラス2の先端接触子21の実際の半径をRaとしたとき、先端接触子21の呼び半径Rnに対して、動作遅れ分として、先端接触子21がワーク110に接触した位置から可動接点11,12,13のいずれかが対応する鋼球31と32,33と34,35と36との接触から離れる位置までのスタイラス2の追加移動距離dを足したRa=Rn+dの大きさにする。これにより、先端接触子21がワーク110に接触してから追加移動距離dだけスタイラス2をワーク110側に移動させることができるので、スタイラス2の移動距離と先端接触子21の呼び半径とを足すと、実際の移動距離と同じにすることができ、誤差を解消できる。 (もっと読む)


【課題】支持用部品の取付誤差が大きいS/A部品が次工程に流出することを確実に防止するべく、現状の検査方法の変更を最低限に抑えつつ、支持用部品の取付位置を、容易に短時間で高精度に測定することができる支持用部品の取付位置測定具および取付位置測定方法を提供する。
【解決手段】揺動可能、かつ、その揺動方向が変更可能に支持されるリンク部材11とリンク部材11の変位量を検出する変位計6を備える測定具本体2と、ナット孔50aの位置を代替して示す測定孔3bが形成されるアタッチメント部材3と、からなり、さらにリンク部材11には、プローブ12および検出部13が固設され、プローブ12が測定面3cに当接するときの球面部12aの変位量を、球面部13aの任意の一軸方向に対する変位量として変位計6により測定し、測定面3cの位置を検出して、ナット孔50aの取付位置を検出する取付位置測定具1。 (もっと読む)


【課題】作業者の熟練度に左右されることなく、プローブの角度を能率的かつ高精度に調整することができるプローブのアライメント調整方法および形状測定機を提供。
【解決手段】軸部の先端に接触部を有するプローブと被測定物とを相対移動させるとともに、その相対移動方向に対して直交しかつ軸部と交差する方向からプローブの移動軌跡画像を撮像する工程ST2と、撮像されたプローブの移動軌跡画像から相対移動方向を示す基準直線L1および軸部の傾きを示すプローブ軸線L2を抽出する工程ST3と、抽出された基準直線L1に対するプローブ軸線L2の傾きを演算して求める工程ST4と、求められたプローブ軸線L2の傾きに基づいてプローブの傾きを調整する工程ST6とを備える。 (もっと読む)


【課題】高精度で3次元接触子モデルを生成可能な表面性状測定装置、その接触子モデル生成方法、及びプログラムを提供する。
【解決手段】表面性状測定装置は、被測定物に先端が接触可能な接触子24と、接触子24を互いにX軸、Y軸、Z軸に沿って移動させる制御部41とを備える。制御部41は、接触子24を被測定物の表面に倣うように駆動すると共に接触子24の先端位置を疑似測定点Piとして取得する。制御部41は、基準ワーク4を接触子24で倣い測定して3次元接触子モデルM2を算出する。制御部41は、接触子24を、Z軸を中心として回転駆動する。制御部41は、回転駆動される接触子24の複数の回転位置のそれぞれにおいて、接触子24をX軸方向及びZ軸方向に沿って移動させて基準ワーク4を倣い測定して疑似測定点Piを取得し、取得された疑似測定点Piに基づいて3次元接触子モデルM2を算出する。 (もっと読む)


【課題】測定条件を変更した場合であってもプローブの移動量を適切に補正することができる三次元測定機の提供。
【解決手段】三次元測定機は、一定の範囲内で移動可能に構成される測定子を有するプローブと、プローブを移動させる移動機構と、移動機構を制御する制御装置とを備える。制御装置は、移動機構の移動量、及びプローブの移動量に基づいて測定子の位置を算出する測定値算出部53を備える。測定値算出部53は、被測定物を測定するときの測定条件に基づいて、プローブの移動量を補正するための補正パラメータを算出する補正パラメータ算出部531と、補正パラメータに基づいて、プローブの移動量を補正する補正部532と、移動機構の移動量と、補正部532にて補正されたプローブの移動量とを合成することで測定子の位置を算出する移動量合成部533とを備える。 (もっと読む)


【課題】形状測定に用いる接触式プローブにおいて、自重を補償して接触力を小さくして小型化を図るとともに測定精度を向上させ、さらに、先端球の交換を簡便に行うことができる接触式プローブを提供する。
【解決手段】3次元的に移動可能な移動部材103と、前記移動部材に対して重力の方向に移動可能に設けられたプローブ102と、前記移動部材103に支点を取り付けた天秤111またはプーリー118とを、有している。前記天秤またはプーリーの一端部にプローブ102を吊下げ、他端部には、バランス重り114を連結し、ばね115を前記バランス重りと移動部材との間に設けたことを特徴とする。このように天秤111を介してバランス重り114を設けることにより、バランス重りがプローブにかかる重力のほとんどを受けるので、ばね115が受け持つ力が非常に少なくなる。 (もっと読む)


【課題】補正パラメータの算出にかかる時間を短縮することができ、測定精度を向上させることができる三次元測定機の提供。
【解決手段】三次元測定機は、測定子211Aを有するプローブ21と、駆動機構と、補正パラメータ算出装置とを備える。補正パラメータ算出装置は、測定子211Aの回転変位を拘束することなく測定子211Aの並進変位を拘束する拘束手段6と、プローブ21の移動量が0となる位置を基準位置として設定する基準位置設定部と、拘束手段6にて基準位置に測定子211Aを拘束した状態でプローブ21を複数の測定点に移動させて各測定点における基準位置からのプローブ21の移動量、及び駆動機構の移動量を取得する測定点情報取得部とを備え、測定点情報取得部にて取得される情報に基づいて、プローブ21の座標系を補正するための補正パラメータを算出する。 (もっと読む)


【課題】クリーンな環境以外の環境でも使用できるとともに、接触圧を小さくできる形状測定プローブを提供する。
【解決手段】接触子3を先端に有し、本体13に対し上下に移動可能なスライダ5と、本体とスライダとに接続され、スライダに上向き弾性力を作用させる弾性体7と、本体に設けられた第1磁力作用部9と、第1磁力作用部と上下方向に対向するようにスライダに設けられた第2磁力作用部11と、を備える。第1磁力作用部と第2磁力作用部とは互いに磁力を作用させることで、スライダに下向き磁力が付与されるようになっている。接触子が被測定物1に接触することでスライダが押し戻されると、上向き弾性力が減少し、下向き磁力も減少する。 (もっと読む)


【課題】三次元形状測定装置において、単一の位置検出器で複数の複数の測定ミラーの変位を測定可能とする。
【解決手段】互いに平行なレーザービームが偏光ビームスプリッタ204の偏光面Eの異なる位置に入射する。一方のレーザービームは偏光面で2つに分岐して第1の測定ミラー4と参照ミラー6に入射する。他方のレーザービームは偏光面で2つに分岐して測定ミラー5と参照ミラー6に入射する。偏光ビームスプリッタ204と測定ミラー210,211の間には、測定ミラー210に向かうレーザービームを透過させ、測定ミラー211に向かうレーザービームを反射される部分反射ミラー214が配置されている。測定ミラー4,5と参照ミラー6で反射されたレーザービームの干渉から測定ミラー4,5の参照ミラー6に対する相対位置を算出する。 (もっと読む)


【課題】接触子の押し付け力を原子間力に相当する微小力(例えば30mgf以下)に設定でき、被測定物の傷を防止し、面粗さ等の微細な形状測定ができ、測定面のうねりに追従でき、プローブのオーバーランによる接触子等の損傷を防止できる形状測定プローブを提供する。
【解決手段】被測定物の上面に沿って移動可能なプローブ本体10と、下端に設けられた接触子12aと接触子から上方に鉛直に延びる円筒形中間軸12bとその上端に設けられ中間軸より最大径が大きい鍔部12cとを有するスタイラス12と、プローブ本体の下端に取り付けられスタイラス12を鉛直にのみ移動可能にガイドするスタイラスホルダ14と、スタイラスホルダの上面と鍔部の下面の間に挟持され鍔部を上方に付勢する円板状の自重軽減バネ16と、プローブ本体に取り付けられ鍔部上面の変位を検出する位置検出センサ18(レーザーセンサ)とを備える。 (もっと読む)


【課題】制御性への悪影響、精度悪化、機械寿命への懸念といったデメリットを解消しつつ、高加減速仕様に対応できる三次元測定機の昇降装置を提供する。
【解決手段】Yスライダ16およびZスピンドル17の重量を相殺するY軸バランス機構50Yと、Yスライダを昇降駆動させるY軸駆動機構40Yとを備える。Y軸バランス機構は、Yコラム15を挟んでYスライダ16とは反対側面に配置されたカウンタウエイト51と、Yコラムの上部および下部に設けられたプーリ52と、これらプーリに掛け回されYスライダ、カウンタウエイトに連結されたループ状のバランスワイヤ53とを含む。Y軸駆動機構は、Yコラムの上部および下部に設けられたプーリ41Ya〜41Yeと、これらプーリに掛け回されYスライダおよびカウンタウエイトに連結されたループ状の駆動ベルト42Yと、いずれかのプーリに連結されたモータ43Yとを含む。 (もっと読む)


【課題】貫通孔を有するワークを、貫通孔が所定軸方向に平行となるように、短時間で載置可能に構成された形状測定装置を提供する。
【解決手段】形状測定装置は、貫通孔12aを有するワーク12を載置可能に構成され且つX軸及びY軸に回転可能に構成された回転テーブル13a、貫通孔12aの一方側からZ軸に平行に光を照射する光源13b、貫通孔12aの他方側に配置され且つ貫通孔12aを通過した光源13bからの光を受光してその受光した光に基づく輝度を測定するCCDカメラ18a、回転テーブル13aによるワーク12の回転角度をCCDカメラ18aにて測定された輝度に基づき制御する制御部35を備える。制御部35は、回転テーブル13aによりワーク12を所定角度ずつ回転させる毎に、CCDカメラ18aにより輝度を測定させ、その輝度が最大となる角度に回転テーブル13aの回転角度を設定する。 (もっと読む)


【課題】コストダウンや制御性の向上が可能で、全体を小型化できる測定装置を提供する。
【解決手段】Yスライダ16に対して、Zスピンドル17をXスライダ14およびYスライダ16の移動方向に対して直交する方向へ移動可能にガイドするZ軸ガイド機構30Zを有する測定装置。ガイド機構は、Zスピンドルの対向する上下面にZスピンドルの移動方向に沿って平行にかつZスピンドルの軸を中心に対称配置された一対のガイドレール31Zと、Yスライダに配置されガイドレールに摺動可能に係合する複数の係合ブロック32Zとを有する。 (もっと読む)


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