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Fターム[2F065AA19]の内容

光学的手段による測長装置 (194,290) | 測定内容 (27,691) | 位置;移動量 (12,734) | 特殊なもの (4,038) | 光ビームのスポット位置 (326)

Fターム[2F065AA19]に分類される特許

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【課題】交換可能なクロマティックポイントセンサ構成要素の強度補償を提供する。
【解決手段】クロマティックポイントセンサ(CPS)の光源および波長検出器サブシステムの非均一応答に補償を提供する方法が提供される。光源からの光は、CPS光学ペンを通る測定路を迂回し、迂回光を波長検出器に提供して、検出器のピクセルにわたって分布した未処理強度プロファイルを提供する光路に入力される。結果として生成される未処理強度プロファイル信号のセットが解析されて、未処理強度プロファイル信号内に発生する波長依存強度変動の誤差補償係数のセットが決定される。後に、誤差補償係数を適用して、本発明を使用しない場合にはCPS距離測定プロファイル信号データのピーク領域内の信号の形状に発生する歪みおよび非対称性を低減することができる。開示される方法は、様々な実施形態において、CPS構成要素に強化された精度、ロバスト性、現場でのテスト、および交換可能性を提供することができる。 (もっと読む)


本発明は車両の動きを分析するレーザダイオードを用いたマルチビームレーザスポット画像処理システムに関連する。レーザダイオード(好ましくはVCSEL)を用いた画像処理システムは、車両の運動を分析するために使用される。1つ以上のレーザビームが路面に向けられている。CCDやCMOSカメラのような画像処理マトリクスセンサを含む小型画像処理システムは、個々のレーザスポットの位置又は距離を測定する。車両の積載状況、車両のピッチ及びロール角は、レーザスポットの位置や距離の変化を分析することで判明する。
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【課題】エレベータ昇降路内にレーザ光を遮断する障害物が存在したとしても、正確な昇降路内の位置情報を取得することができるエレベータ昇降路内の位置情報取得装置と、この位置情報取得装置のガイド装置とを提供する。
【解決手段】エレベータの昇降路1内の被測定物の位置情報を取得する装置であって、昇降路1内の被測定物をレーザ光で走査して、走査されたレーザ光の被測定物からの反射光を受光して被測定物までの距離を計測し、計測された被測定物までの距離と被測定物へのレーザ光の照射角度とに基づいて被測定物の位置情報を測定するレーザスキャナ10と、レーザスキャナ10により測定された被測定物の位置情報を記憶する記憶部53と、を有してなり、レーザスキャナ10は、昇降路1内を昇降するかご30に設けられたガイド部材30a,41,42,43に移動可能に支持されている。 (もっと読む)


【課題】校正を完全に自動化して費用効率を向上すると共により精密に行う方法および装置を提供すること。
【解決手段】三次元物体の製造装置の照射装置の校正方法および校正装置に関する。校正には、イメージ変換プレート(12)を製造装置の作業面(6)に、または作業面(6)と平行に配設し、照射装置がイメージ変換プレート(12)の所定の位置にエネルギー放射線(8’)を照射した時に、イメージ変換プレート(12)が検出可能な光(13)を出射するステップと、照射装置によりイメージ変換プレート(12)を走査するステップと、検出可能な光(13)を光検出器(15)により検出するステップと、検出可能な光(13)が検出されると照射装置(7、9)の座標を決定するステップと、決定された座標と所定の基準座標を比較するステップと、座標間の偏差に基づいて照射装置(7、9)を校正するステップとを含む。 (もっと読む)


【課題】正確な計測結果を得ることが可能な光学式変位計を提供する。
【解決手段】時点t21,t22,t23において、X方向における光の走査位置が位置P12に一致し、時点t21a〜t21bの期間、時点t22a〜t22bの期間、時点t23a〜t23bの期間に露光が行われる。この場合、露光の開始時点と終了時点との中間の時点で、投光方向が所定の方向と一致する。すなわち、時点t21a〜t21の期間の長さと時点t21〜t21bの期間の長さとが等しく調整され、時点t22a〜t22の期間の長さと時点t22〜t22bの期間の長さとが等しく調整され、時点t23a〜t23の期間の長さと時点t23〜t23bの期間の長さとが等しく調整される。 (もっと読む)


【課題】知覚される奥行き感の誤差を低減し、観視者の片目の位置の変化に対応させて映像を含む光束を片目に向けて投影する表示装置、表示方法及び車両を提供する。
【解決手段】表示オブジェクトを有する映像を含む光束112を観視者の片目101に向けて投影する映像投影部115と、片目101の位置と光束112の投影領域114の位置とを推定する位置推定部210と、推定された片目の位置と投影領域の位置との差に基づいて、片目の位置と投影領域とが重なるように投影領域の位置を変化させる制御部250と、を備える表示装置を提供する。制御部は、片目の位置が投影領域の内側部に位置するときよりも、片目の位置が投影領域の縁部または前記縁部よりも外側に位置するときの方が、投影領域の位置を大きく変化させる。 (もっと読む)


【課題】 高い精度で被測定物の変位を測定することが可能な光学式変位計及び光学式変位測定方法を提供すること。
【解決手段】 被測定物40からの反射光の位置変化を検出して被測定物40の変位dを測定する光学式変位計において、光源12から出射した光を第1のレンズ14を介して平行光に近い収束光として円アパーチャ16に照射させ、円アパーチャ16から出射した発散光を第2のレンズ18を介して平行光に近い発散光として被測定物40に投射させるように構成する。 (もっと読む)


【課題】ワークに施された溝または穴の断面形状を高精度に検出することができる断面形状測定装置を提供する。
【解決手段】白色光を発する光源101と、白色光に含まれる各波長をそれぞれ集光して、溝2に向かう光軸上に複数の集光点を形成する色収差レンズ102と、色収差レンズ102とワーク1とを溝2に交差する方向に相対的に移動させる移動手段と、移動手段によって色収差レンズ102とワーク1とを溝2に交差する方向に相対的に移動させながら色収差レンズ102で溝2に光を集光させたときに、溝2の表面で反射した反射光に基づいて溝2の断面形状を測定する測定手段120と、を備える。 (もっと読む)


【課題】取得画像が回転されていても、面内変位の平行移動量と回転量の両方を高精度且つ高速に計測することが可能となる。
【解決手段】投光ビーム114により基準となる位置における測定対象102への照射により得られるスペックルパターンの基準画像Sと、面内変位後における測定対象102への投光ビーム114の照射により得られるスペックルパターンの取得画像Tと、の相関から、面内変位を測定する画像相関変位計100であって、2つの基準画像Sを記憶する記憶部122と、2つの基準画像Sと取得画像Tとの相関演算を行うと共に、相関演算の結果から前記面内変位のうち平行移動量Mをそれぞれの基準画像Sに対して求める移動量処理部124と、2つの基準画像S間の距離Lとそれぞれの平行移動量Mの違いとから面内変位のうちの回転量θを求める回転量処理部126とを備える。 (もっと読む)


【課題】光学系を変更することなく、撮像画像内のスポット中心の位置を確認できるようにする。
【解決手段】膜厚サンプル35を、例えば、X方向に位置をずらして、複数の位置でそれぞれ撮像するとともに、各位置でのスポット光に基づいて膜厚をそれぞれ計測し、撮像した画像を処理して、画像の中心Pと膜厚サンプル35の中心P1との中心位置の差を算出し、この中心位置の差に対する膜厚の変化に基づいて、画像の中心Pに対するスポット光のX方向のずれ量を求め、同様に、画像の中心Pに対するスポット光のY方向のずれ量を求める。 (もっと読む)


【課題】移動する目標物を高精度に追跡できるようにする。
【解決手段】目標物に向けて光を照射するレーザ発生器12と、レーザ発生器12から照射された光による目標物からの反射光を撮像面に結像させることにより目標物を撮像する撮像器11とを備える目標追跡装置において、制御部14は、撮像器11により撮像された画像上での像の慣性主軸を求め、慣性主軸に沿った画素値の分布に基づいて目標物の位置を算出し、算出された位置をもとにレーザ発生器12及び撮像器11の指向方向を駆動部13により制御する。 (もっと読む)


本発明は、配置検出システム内で使用するための、光源によって放出された信号を検出するための光センサであって、この光センサは、ピクセル(21)から構成されるピクセルライン(20)を含む検出ラインを有するラインセンサと、ラインセンサの検出ラインに対して交差方向である光ストリップ上へと光源の光を映し出す光学的画像化手段(17)であり、ラインセンサからある距離で配列され、光ストリップが検出ラインの方向において両端のそれぞれにストリップ境界遷移部を有する、光学的画像化手段(17)とを備える。本発明の光センサは、検出ラインが、隣接するピクセル(21)間にギャップがあるピクセルライン(20)を含み、光センサは、ストリップ境界遷移部のうちの少なくとも一方がピクセル(21)上へと少なくとも部分的に常に当たることを確実にする検出範囲を有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】ハーフミラー等の光学系を使用せずに、高精度な軸倒れ測定を行うことができる、ポリゴンミラー用モータのシャフトの軸倒れを測定する測定装置及び測定方法を提供する。
【解決手段】光源5と、光源5から射出される測定光6を被測定シャフト1で反射させた反射光の一部を直接受光して第1の受光位置を検出する第1の光検出素子3と、反射光の他の一部を直接受光して第2の受光位置を検出する第2の光検出素子4と、第1の光検出素子3と第2の光検出素子4から出力される信号により、被測定シャフト1の軸倒れ角度を測定する。 (もっと読む)


【課題】簡易な構成で三方向の変位を計測することができる変位計測装置、及び変位計測システムを提供する。
【解決手段】変位計測装置1は、基体としての床2と、当該床2に対向して形成された変位検出対象物としての建物の天井3とで構成される層4間に設置されている。これにより、変位計測装置1は、例えば地震等の災害によって、天井3の水平方向H及び鉛直方向zへの変位を、第1光線L1及び第2光線L2の受光位置のずれに基づいて検出し得るように構成されている。 (もっと読む)


【課題】移動機構部の先端に着脱可能なヘッド部を、空間内の目標位置に高精度に位置決めすることができる作業装置を提供する。
【解決手段】形状測定装置(作業装置)100は、形状センサ部17が内蔵されたプローブ(ヘッド部)12と、所定の空間内でプローブ12を移動させるアーム部(移動機構部)11に、このプローブ12を取り付け可能な取付部16と、空間内における所定の目標位置にプローブ12を位置決めする空間位置決定部30と、を有する。 (もっと読む)


この発明は、光信号に基づく検出器表面に関するものであり、フレキシブルなエンベロープとして本体の周りに配置され、発光器からの光が本体に当ったか否か、本体のどこに当ったかを検出する。検出器表面は、一つあるいは複数の平面型の光導波路(1.1)を具えており、平面型の光導波路の少なくとも一つの層(1.2)は光輝特性を有し、光検出器が平面型の光導波路に取り付けられており、光導波路からの光を取り込んで検出できる。平面型の光導波路(1)は、厚さが30乃至500マイクロメートルの透明なポリマー製膜として作られており、光検出器(2)は、光導波路(1)の全てのエッジ部分から間隔を空けて取り付けられている。 (もっと読む)


【課題】カメラの位置の変化及び環境設定の変化に対して制限のないリアルタイム校正を行う。
【解決手段】カメラは、まず初期校正される。次に、カメラの動作量が計算され、動作量に従い、カメラの複数の動作量推定サンプルが生成される。次に、複数の動作量推定サンプルのそれぞれの重みが計算される。その後、重みに基づき、複数の動作量推定サンプルがリサンプリングされ、カメラは、リサンプリングされた推定動作サンプルによって校正される。 (もっと読む)


【課題】車両に搭載するPCSセンサの取り付け位置を容易に調整でき、その調整作業を行うための作業占有面積の縮小化を図ることができるPCSセンサの電波軸調整装置及びその方法を提供する。
【解決手段】車両7に取り付けたPCSセンサ2の上部に複数のレーザポインタを備えたポインタ照射用治具3を取り付ける。該治具3から照射したレーザポインタ9、12a、12b、13a、13bを上方に配置したポインタ投影用スクリーン4に投影する。該スクリーン4には、正位置に取り付けたPCSセンサの中心点を通る水平方向と垂直方向を示すX軸14とY軸15を予め表示しておく。該スクリーン4の上方に配置されたポインタ測定用カメラ5によりスクリーンの映像を撮影して位置情報を解析し、解析した情報をパソコン6に送信する。調整作業者は、パソコン画面上に表示された取り付けズレ量を観測しながら調整手段によりPCSセンサ2の上下方向および左右方向の向きを調整する。 (もっと読む)


【課題】 センサの高さ位置を簡単に調整できる高さ計測装置を提供する。
【解決手段】
センサ本体1は、光源10を備え、光源ウインド11を通ってプローブ光15を出力し、対象面55にて反射したプローブ光15を計測ウインド12と計測レンズ13を通してラインセンサ14で受光し、対象面55の高さを計測する。 光源ウインド11の下側に、ビームスプリッタ21が設けられており、プローブ光15を直交方向に分岐してガイド光25とし、該ガイド光25を反射ミラー22で反射させて、スクリーン20上に当てる。スクリーン20は、スリガラスなどの光透過性の拡散板であり、下側から当たったガイド光25のガイド光位置26を上面から視認し、センサ本体1の高さ位置を調整する。 (もっと読む)


【課題】作業ミスを防止できるピッキングシステムを提供する。
【解決手段】ピッキングシステム1は、複数の保管部2を設けた保管棚3と、取り出す物品Wを保管した保管部2を指示する指示手段15とを備える。ピッキングシステム1は、指示した保管部2から物品Wを取り出したかどうかを確認する確認手段を備える。確認手段は、保管棚3の近傍位置の2次元領域に向けて検知光を投光する投光部と、作業者の手からの反射光を受光する受光部と、作業者の手の位置までの距離情報とその位置に対応する角度情報とに基づく位置情報を取得する位置情報取得部とを有する。確認手段は、各保管部ごとの検知エリア情報を記憶する記憶部と、取得した位置情報が指示した保管部2に対応する検知エリア情報内のものであるか否かを判断する判断部とを有する。 (もっと読む)


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