【課題】必要とする測定点の抽出及び可動式ホーム柵の測定が可能となり、信頼性が高く、しかも、安全で高能率な測定作業を行うことができる可動式ホーム柵測定技術を提供する。
【解決手段】離れ測定手段によって測定された測定データの変化量が閾値より大きい場合に、台車上の柵本体頂部及び支障物センサボックス頂部を測定することができる位置に設置された上部非接触位置センサにより、軌道と直交する方向の縦断プロファイルを測定し、上部非接触位置センサによって測定された測定データの変化量から支障物センサボックス設置箇所であると判定した場合に、柵本体頂部の離れと支障物センサボックス頂部の高さと離れ、支障物センサボックス下部の離れをそれぞれ求める。 （もっと読む）

【課題】 スキップ信号が読み込まれない場合であっても、工具の移動を確実に停止させることができる工具長測定方法及び工具測定装置を提供する。
【解決手段】 工具を４所定位置から所定方向に移動させて、前記工具４によりレーザー光６を遮光したときの、前記工具４の前記所定位置からの移動量に基づいて前記工具の長さを測定する工具長測定方法において、前記工具４がレーザー光６を遮光していることを示すスターティック信号Ｂが検知されたとき、前記工具４のレーザー装置本体５へ接近する方向への移動を停止する。 （もっと読む）

【課題】単一ビームや単針を走査する方法と比べて短時間にパターンを検査することができるパターン形成部材の検査方法及び装置、並びにパターン形成部材を提供する。
【解決手段】被転写材料に転写すべきパターン３とプラズモン共鳴構造体４とを有するパターン形成部材１を準備し、プラズモン共鳴構造体４に光を照射してプラズモン共鳴構造体４のプラズモン共鳴の吸収特性を計測し、吸収特性に基づいてパターン３を検査する。 （もっと読む）

【課題】試料中のターゲットの深さ位置を、大容量のメモリを必要とすることなく検出すること。
【解決手段】画像処理装置２０は、ステージ１１をＺ方向へ移動させながら撮像素子３０を露光させることで、蛍光マーカＭを示す第１の輝点を含む試料ＳＰＬの第１の画像を取得し、ステージ１１をＺ方向へ第１の速度で等速移動させるとともにＸ方向へ第２の速度で等速移動させながら撮像素子３０を露光させることで、上記蛍光マーカＭを示す第２の輝点を含む第２の画像を取得し、第１の画像と第２の画像の合成画像内で、第１の輝点と第２の輝点との間の距離Ｄを算出し、当該距離Ｄと、上記第１の速度及び第２の速度とを基に、試料ＳＰＬ中の蛍光マーカＭの高さｈを算出する。 （もっと読む）

【課題】本発明は、エッジの変形、或いはコントラストの変動等に依らず、高精度にパターンマッチングを行うパターンマッチング方法，画像処理装置、及びコンピュータプログラムの提供を目的とする。
【解決手段】上記目的を達成するための一態様として、以下に設計データに基づいて形成されたテンプレートを用いて、画像上でパターンマッチングを実行するパターンマッチング方法、或いは装置であって、パターンの輪郭を定義する線分によって、区分けされる内側領域、及び／又は外側領域について、画像の特徴量を求め、当該特徴量が所定の条件を満たした位置をマッチング位置，マッチング位置候補、或いは誤ったマッチング位置と決定するパターンマッチング方法、及び装置を提案する。 （もっと読む）

【課題】測定対象物の点群データからその特徴を抽出し、対象物の輪郭に係るデータを自動的かつ短時間に生成する技術を提供する。
【解決手段】測定対象物の二次画像と、この二次元画像を構成する複数の点の三次元座標データとを関連付けた点群データの中から、演算の負担の大きい非面領域に係る点群データ除去する非面領域除去部１０１と、非面領域のデータが除去された後の点群データに対して、面を指定するラベルを付与する面ラベリング部１０２と、ラベルが付与された面から連続した局所領域に基づく局所平面を利用して、対象物の輪郭線を算出する輪郭線算出部１０３と、精度を高めるために点群データの再取得の要求を行う点群データ再取得要求処理部１０６を備えている。 （もっと読む）

【課題】効率よく正確に架線の位置を測定することができる架線位置測定装置を提供する。
【解決手段】架線位置測定装置において、架線を撮影する第１のラインセンサカメラ１及び第２のラインセンサカメラ２と、架線までの距離を計測するレーザ距離計３と、第１のラインセンサカメラ及び第２のラインセンサカメラから出力された画像データを基にラインセンサ画像上の架線の位置情報を算出する第１の画像処理部１０及び第２の画像処理部１１と、ラインセンサ画像上の架線の位置情報とレーザ距離計３から出力された距離情報とを記憶する処理メモリ１２と、ラインセンサ画像上の架線の位置情報と距離情報とに基づきステレオ対応点の探索を行うステレオ対応点探索部１３と、探索したステレオ対応点に基づき架線の高さと偏位を算出する高さ・偏位算出部１４とを備えた。 （もっと読む）

【課題】円板状の２組の基板を上下に積層して成る貼合わせ基板において、素子形成などにあたって、基板中心位置のズレ量を一括して求められるようにする。
【解決手段】輪郭測定手段３によって、貼合わせ基板２の厚み方向の投影像から２組の基板２１，２２を合わせた輪郭形状を検出する一方、エッジ形状測定手段４によって、周方向の複数点において、貼合わせ基板２の接線方向の投影像から２組の基板２１，２２それぞれのエッジ形状を検出する。そして、演算手段６が、輪郭測定手段３の検出結果から、いずれか一方の組の基板の形状データを検出し、直径および中心位置を求める一方、他方の組の基板については、その一方の組の基板の形状データを基準に、エッジ形状測定手段４で検出された２組の基板間の相対的な位置関係から、形状データを求め、直径および中心位置を求める。その後、２組の基板間の中心位置の距離から、前記ズレ量を求める。 （もっと読む）

【課題】 本発明は、画像処理による位置決め測定方法の安全かつ簡便化と操作容易化を図り、画像位置決め測定装置の小型化・高精度化を図ったものである。
【解決手段】 顕微鏡、オートフォーカスユニット、門型のステージ計測ユニット６、パソコン、防振台、直動基準スケール、直動基準スケール治具、回転用基準スケール、回転用基準スケール治具で構成される画像位置決め測定装置を用いて、計測したい製品を門型のステージ計測ユニットに載置し、基準スケールと基準スケール治具をステージの上に置き、ステージを動かしながら基準スケール治具で基準スケールとステージの平行出しを行ない、基準スケールに記載されている目盛線のメモリーのピッチ間を画像処理により計測して基準寸法を決め、それに基づきステージの「位置決め精度」、「繰り返し位置決め精度」、「バックラッシュ」、「ＸＹ直交度」、「平行度」などの測定をし、測定項目ごとに画像処理により連動もしくは手動操作で計測を行なう画像位置決め測定方法。 （もっと読む）

【課題】車両等にターゲットなどを設けることなく、低価でかつ簡易な処理プログラムによって非接触で車両等の寸法を高精度に測定できるようにする。
【解決手段】車両の左右側面及び上面を含む外周面全体に渡って複数のレーザ光を間断のない線状となるように照射することによって、この照射箇所を線状光として認識することができるようになる。この線状光を光切断線としてカメラ装置などで検出することによって車両の外形寸法を測定するようにした。また、測定された車両の外形寸法が車両限界内にあるのか否かの判定を行なう。さらに、車両限界の超過箇所を視認可能に表示する。 （もっと読む）

【課題】照度比にばらつきが生じている場合でも、肌領域を精度良く検出する。
【解決手段】LED２３−１は、第１の波長の光を検出対象物４１に照射し、LED２３−２は、第２の波長の光を被写体に照射する。そして、撮像部２４は、第１の波長の光が被写体に照射されているときに入射される被写体からの反射光に基づいて第１の画像を生成するとともに、第２の波長の光が被写体に照射されているときに入射される被写体からの反射光に基づいて第２の画像を生成する。画像処理部２７は、補正する際に用いる補正値を用いて、第１の画像の輝度値又は第２の画像の輝度値、若しくは第１の画像と第２の画像の輝度値の差分と比較される閾値の少なくとも一方を補正し、差分と閾値との比較結果に基づいて、肌領域を検出する。本発明は、例えば、人の手の動き等を検出する検出装置に適用できる。 （もっと読む）

【課題】参照画像と光学画像との高精度な位置合わせを行う方法および装置を提供することを目的とする。
【解決手段】パターン検査装置は、残差２乗和演算による光学画像と参照画像との位置ずれ量を取得するＳＳＤアライメント演算部３１０と、最小二乗法により、前記光学画像と前記補正された参照画像との合わせ位置からの位置ずれ量を演算する最小二乗法アライメント演算部３２０と、前記光学画像と前記残差２乗和および前記最小二乗法を用いて補正された参照画像とを比較する比較回路１０８と、を備え、前記ＳＳＤアライメント演算部３１０による演算を最初として、前記ＳＳＤアライメント演算部３１０と前記最小二乗法アライメント演算部３２０は、交互に同回数だけ複数回演算を繰り返し、比較回路１０８は、複数回演算が繰り返された結果得られた位置に補正された参照画像と前記光学画像とを比較することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】被加工物の上面位置を計測する高さ位置計測装置およびレーザー加工機を提供する。
【解決手段】発光源からの光を第１の経路に導き、反射光を第２の経路に導く光分岐手段と、第１の経路に導かれた光を平行光に形成するコリメーションレンズによって平行光に形成された光を被加工物に導く対物レンズと、コリメーションレンズと対物レンズとの間に配設され、対物レンズ側の端面に反射ミラーが形成され、光路長を伸ばす透明体からなる円筒状の基準光路長設定部材と、反射ミラーによって反射し第１の光分岐手段から第２の経路に導かれた反射光と、被加工物で反射し第１の光分岐手段から第２の経路に導かれた反射光との干渉を回折する回折格子と、回折した反射光の所定の波長域における光強度を検出するイメージセンサーからの検出信号に基づいてチャックテーブルの表面から被加工物の上面までの距離を求める制御手段とを具備している。 （もっと読む）

【課題】帯状部材の外観形状が帯状部材の長さ方向にどのように変化しているかを知ることのできる帯状部材の外観形状検査方法及びその装置を提供する。
【解決手段】この帯状部材の外観形状検査装置は、検出された二次元輪郭データを帯状部材の長さ方向に並べて検査用データを作成し、該検査用データから、各二次元輪郭データが示す帯状部材の外観形状の輪郭が帯状部材の長さ方向にどの様に変化するかを示す帯状部材の外観形状の特徴データを抽出する。このため、検査用データから抽出された前記各特徴データは帯状部材の厚さや、帯状部材の幅方向端部位置等が、帯状部材の長さ方向にどの様に変化するかを示すことになるので、帯状部材の外観形状が帯状部材の長さ方向にどの様に変化しているかを知ることができ、タイヤ特性の向上を図る上で極めて有利である。 （もっと読む）

【課題】高精度な被写体シルエット画像を必要とせず、さらに、各視点においては２値のシルエット抽出を行わずに、多視点映像をもとに高精度な被写体の３次元モデルを構築する方法を提供する。
【解決手段】本発明の方法は、複数の背景画像の画素値と複数の被写体画像の画素値とから、ボクセル空間中の各ボクセルの背景尤度を表す連続値を算出し、各ボクセル間の隣接関係を考慮したエネルギー関数を定義し、これを最小化するように、各ボクセルに被写体領域または背景領域のいずれかに割り当てることで、被写体領域を決定し、ボクセルデータを構築する。 （もっと読む）

【課題】平面度が高く高精度なパターンを有する校正用ボードと、この校正用ボードを備えることにより、光学機器を校正するための画像取得が容易で、高精度な校正が可能な校正用装置を提供する。
【解決手段】光学機器の校正用装置１００を、ボード本体１１、このボード本体１１の一面に形成されたチェッカーパターン１２、及び、このチェッカーパターン１２の原点Ｐを挟んで点対称に形成された少なくとも２つ以上の基準部１３を有する校正用ボード１０と、照明装置２０と、校正用ボード１０に対して照明装置２０の反対側に配置する光学機器であるカメラ本体３０を保持し、校正用ボード１０に対してカメラ本体３０を相対移動させる雲台４０と、から構成する。 （もっと読む）

【課題】簡易な構成で素材、板厚、端面の状態等を含めたガラス基板等の状態の検査を行うことが可能なガラス基板検査装置及びガラス基板の製造方法を提供することを目的としている。
【解決手段】画像データを解析する解析手段を有し、前記解析手段は、前記画像データの所定領域内における色に基づき前記ガラス基板の素材を判別する判別手段と、前記ガラス基板の板厚を算出する板厚算出手段と、前記ガラス基板の端面に対する加工が行われているか否かを検出する端面状態検出手段と、を有する。 （もっと読む）

【課題】トータルステーションと比して簡易な装置を用いて、リアルタイムで被計測物の特徴点の位置を計測できる位置計測方法、及び位置計測システムを提供する。
【解決手段】円柱体であるターゲット３０の中心位置を計測する位置計測方法であって、レーザ光をターゲット３０上で走査してターゲット３０上の複数の計測点までの距離を計測するＬＲＦ２０から、ターゲット３０上における複数の計測点の位置情報を取得するステップと、ターゲット３０上における複数の計測点の位置情報と、既知情報であるターゲット３０の円周面３０Ｂ上の円弧部及び中心位置の情報とに基づいて、ターゲット３０の中心位置を推定するステップと、を備える。 （もっと読む）

【課題】ガラス基板の形状測定の精度と測定の作業効率を向上させることができる、ガラス基板の形状測定装置を提供すること。
【解決手段】ガラス基板Ｗを載置可能な載置部１１と、ガラス基板Ｗの被測定部位Ｗａの測定基準となる基準形状１２ａが形成された基部１２と、被測定部位Ｗａと基準形状１２ａを被写体とするカメラ１４と、カメラ１４による被写体の撮像画像に基づいて、基準形状１２ａに対する被測定部位Ｗａの相対位置を検出する相対位置検出部３１と、基準形状１２ａの絶対位置と相対位置検出部３１によって検出された相対位置とに基づいて、被測定部位Ｗａの絶対位置を検出する絶対位置検出部３２とを備える、ガラス基板の形状測定装置。 （もっと読む）

【課題】異なる視点からの撮影画像である左画像と右画像を適用した被写体距離の算出を確実に行うための変換パラメータを算出する装置および方法を実現する。
【解決手段】異なる視点から撮影された左画像と右画像の射影変換を実行する射影変換処理を実行して、射影変換のなされた射影変換左画像と射影変換右画像を適用したステレオマッチングによるエラー評価値を取得する。射影変換左画像と射影変換右画像の画像回転角度情報とエラー評価値の対応情報に基づいてエラー評価値が最小となる画像回転角度を求め、その画像回転角度に対応する射影変換パラメータを算出する。この処理により、ステレオマッチングにおいてエラーの発生可能性が低減された最適な射影変換パラメータを算出することができる。 （もっと読む）